CN106198399A - 一种清晰度测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种清晰度测量装置，包括第一光源系统，成像系统和第一探测器；被测样品设置于成像系统和第一探测器之间或者成像系统的成像元件之间，第一光源系统的发光光源或出光口通过成像系统后成像在第一探测器的探测面上；第一探测器为一维线型阵列或二维面阵阵列探测器。本发明不仅在紧凑的体积内实现了光源以及探测像素相对样品的小对边角，实现清晰度的标准测量，而且阵列探测器还可以对被测样品入射光以及透射光光分布进行测试比对，更加详细地测量被测样品的角度散射特性，具有精度高、速度快、体积紧凑的优点，适用于散射特性各异的各类样品清晰度测量比较。

Description

一种清晰度测量装置

【技术领域】

本发明涉及光学测量装置，具体涉及一种清晰度测量装置。

【背景技术】

半透明以及透明产品应用十分广泛，相关产品包括玻璃、塑料薄膜、塑料瓶等。不同的应用需求对产品的光学性能要求不同；如用来包装产品所采用的透明薄膜需要良好的透明度，以便清晰地辨认包装内的物品。目前业内一般采用透光率、清晰度(Clarity)或透明度、雾度(Haze)等参数来评价半透明或透明物品的光学性能。清晰度越高、雾度越小，说明物品的透明度越好。因此，实现半透明以及透明产品雾度和清晰度等参数的准确测量对于研究以及市场应用都具有重要意义。

雾度，根据GB/T 2410，定义为透过被测样品而偏离入射光光轴2.5°以外的散射光通量与透射总光通量之比。清晰度(透明度)用于评价被测样品的透光性，根据标准ASTMD1746规定，在清晰度测量中测量所用光源相对于被测样品平面的对边角必须在0.025±0.005°以内；同时，在接收端探测器的接收面相对于被测样品平面的对边角要限制在0.1±0.025°以内，清晰度被定义为样品在上述几何条件下测量的规则透光率。为了实现如此小的对边角，现有技术中，一般通过长距离来实现，因而，此类测量设备体积一般非常大，运输不便，也无法进行在线测量。为此，BYK公开专利号为US8749791B2的透明材料光学参数测量装置，该方案中对清晰度的测量是通过设置中心探测器和环形探测器来分别测量直接透过样品的透射光以及偏离入射光光轴方向2.5°以内的散射光，并通过对比分析中心和环形探测器的读数来实现清晰度的评价。该发明装置虽然为清晰度的测量提供了一种解决方案，但是该方案不能完整的反映整个2.5°以内的散射光分布信息，而且很难实现标准要求的清晰度测量条件，以被测样品到探测器的距离为50cm为例，测量规则透射的中心探测器受光面尺寸应在0.87mm以内，而环形探测器的外径需在21.8mm以内，现有单通道探测器技术几乎不能达到该要求；更重要的是，由于清晰度测量中收集测量的光束角度很小，对于光束对准的要求也非常高；如果机械振动或者光路调校不够，极小的对准偏差也会对最终的测量结果产生影响。而且对于散射性能与标准样不同的被测样品，该方法测量误差将会非常大，进而影响对样品清晰度的评价和比较。此外，在传统的清晰度以及样品散透射测量中，一般需要切换接收光阑的位置或者转动接收器来实现分布测量，相对测量时间较长、效率不高，同时接收器的转动精度对测量结果的准确度也有着极大的影响。

【发明内容】

针对现有技术的不足，本发明提供一种符合标准几何条件、体积紧凑的清晰度测量装置，既确保入射光源相对样品表面对边角，以及探测器接收面相对样品表面对边角在标准要求范围内，以测量被测样品的规则透光率，同时又可以精确测量被测样品特定角度范围内的透射光分布，不仅实现清晰度的准确评价，而且透射光分布信息还可以用于被测样品的其他光学性能研究。

本发明通过以下技术方案实现：一种清晰度测量装置，其特征在于：包括第一光源系统，成像系统和第一探测器，所述的成像系统位于第一光源系统和第一探测器之间的测量光路上，并且成像系统将第一光源系统的发光光源或出光口成像至第一探测器的探测面上；被测样品设置于成像系统与第一探测器之间、或者成像系统的成像元件之间的测量光路上；所述的第一探测器为阵列探测器，且阵列探测器的探测单元成一维线型阵列排列或二维面阵排列。

被测样品设置于成像系统和阵列探测器之间的测量光路上，此时，第一光源系统的发光光源或出光口在阵列探测器探测面上的像相对被测样品表面的张角即为光源相对被测样品的张角，通过调整阵列探测器与被测样品之间的距离，可实现光源入射对边角的准确控制。阵列探测器为CCD或者二极管阵列，其单个像素的尺寸都能够达到微米级，并且多个像素的测量值能够相互累计计算(也成为宏模式)，因此阵列探测面相对被测样品的对边角可通过阵列探测器微小的像素单元实现小角度控制，且不需要过长的距离，同时对散射光的分布测量也非常精细。更重要的是，即使测量光束的光路对准精度不高，通过阵列探测器上的相对光分布信息也能够精确计算得到被测样品的清晰度。

与传统清晰度测量方案相比，本发明创新性的采用阵列探测器作为清晰度测量的探测元件，一次测量，不仅实现标准规定的规则透射光的准确测量，而且对整个阵列探测器探测面所在接收角度范围内的小角度散射光进行了完整的测量，因而在获得标准规定的清晰度同时，对于标准规定以外的样品光学散射性能也给出了具体数据，对被测样品光学散射性能的研究和应用具有十分重要的意义，并且测量结果更客观、准确，也使得光学性能不同的被测样品之间的清晰度比较具有更加实际的指导意义。

本发明可以通过以下技术措施进一步加以限定和完善：

作为一种技术方案，所述的第一光源系统和第一探测器分别设置在成像系统的物面和像面上，形成光学共轭关系。

作为一种技术方案，所述的第一光源系统为光源与出光口的组合，且所述的出光口是但不限于针孔或狭缝；或者所述的第一光源系统为激光。第一光源系统是为清晰度测量提供照明条件，为了实现清晰度测量中入射光源小对边角的设置，第一光源系统可以为光源与针孔或者光源与狭缝的组合，通过尺寸极小的针孔或狭缝，可以产生所需的点光源或者线度极小的光源；此外，由于激光具有发散角小的优点也可以作为第一光源系统。

作为一种技术方案，所述的第一探测器的探测面与测量光束的光轴垂直面相倾斜，倾角为1°～15°之间的一个角度。本发明中为了防止第一探测器器对被测样品的规则透射光进一步反射到被测样品上从而造成清晰度测量的不准确性，将第一探测器与测量光束的光轴成1～15°倾斜设置。测量光束是指从第一光源系统发出、最终到达第一探测器的光束。

作为一种技术方案，所述的成像系统由一个或者一个以上的成像元件组成。作为优选，成像系统由前置透镜和后置透镜组成；成像系统由两个透镜组合而成，通过两个透镜综合作用最终将第一光源系统的发光光源或者出光口成像至阵列探测器的探测面处，而这种透镜组合的方式有助于减小测量系统的尺寸。

作为一种技术方案，还包括分光器和用于监测光源稳定性的参考探测器，所述第一光源系统的发射光束经分光器分光形成参考光束和测量光束，所述参考光束由参考探测器直接接收和测量，而所述测量光束则进入被测样品的测量光路中。通过分光器的分光作用，可以将第一光源系统的发射光束分成测量光束和参考光束，并通过参考探测器对参考光束测量来监测第一光源系统发光的稳定性；而测量光束则在透过被测样品后由阵列探测器接收测量。本方案中，分光器可以为部分透射部分反射的反射镜或棱镜、光纤或者混光器等。作为优选，所述的参考探测器为硅光电池。

作为一种技术方案，还包括用于被测样品散射光测量的积分球和第二探测器；所述积分球沿测量光束的光轴方向设置在成像系统和第一探测器之间，且所述积分球上设有入射窗口、第一测量窗口和第二测量窗口，其中入射窗口和第一测量窗口位于光轴上，且第一探测器设置在第一测量窗口的出射光路上用来接收第一测量窗口的出射光；第二测量窗口设置于测量光束光轴以外的积分球球壁上，且第二探测器设置于第二测量窗口的出射光路上，用来实现积分球内漫射光的测量，进而可分析计算得到被测样品的雾度信息。

上述方案中的第一探测器设置在积分球第一测量窗口的出射光路上，由第一光源系统发出的光线经过成像系统和待测样品后通过积分球的入射窗口进入积分球内部，并通过积分球的第一测量窗口最终成像至第一探测器的探测面上。被测样品可放置于成像系统与积分球入射窗口之间的位置，第一探测器可实现待测样品清晰度以及探测面内的小角度散射光分布测量。而在积分球光轴以外的球壁上开设第二测量窗口，并在第二测量窗口的出射光路上设置第二探测器，被测样品紧贴积分球入射窗口时，积分球收集了被测样品半球面内、除第一测量窗口出射光以外的大角度散射光，并由第二探测器接收和测量。作为优选，本方案中的第二探测器为硅光电池。

作为上述技术方案的优选，还包括一个可与第一探测器相切换的陷阱探测器。根据标准要求，雾度测量中需要测量入射光光轴2.5°以外的被测样品散射光以及被测样品所有透射光，为了实现该测量，本方案中加入一个陷阱探测器，并可通过切换装置与第一探测器进行切换；在进行雾度测量时，将陷阱探测器切入积分球第一测量窗口位置，此时，陷阱探测器测量得到入射光光轴2.5°以内的散射光，由第二探测器测量得到入射光光轴2.5°以外的散射光，进而分析和计算，得到被测样品的雾度值；

作为上述方案的另一个方案，所述的积分球还包括白板，切换装置和光陷阱，且根据实际测试需要所述的白板或光陷阱由切换装置切入到第一测量窗口位置或从第一测量窗口位置切出。当将白板切入到第一测量窗口时，可以由第二测量窗口处的第二探测器测得积分球内经被测样品的总透射光，当将光陷阱切入第一测量窗口时，第二探测器测得入射光光轴2.5°以外的散射光；本方案中，所述第一探测器与光陷阱可以独立设置，也可以将第一探测器设置于光陷阱内部。所述的光陷阱可以吸收掉入射到光陷阱处的所有光线，可以为内壁涂黑的黑盒子，或者为黑色绒布等。作为优选，本方案中的光陷阱为内壁涂黑的黑盒子。作为优选，第一探测器位于光陷阱中，通过切换装置切入第一测量窗口，实现清晰度的测量，通过切换装置切出第一测量窗口，实现雾度测量。

作为一种技术方案，还包括专用于被测样品雾度测量的第二光源系统。本方案中设置了专门用于雾度测量的第二光源系统，所述第二光源系统可以是光源与透镜或光阑的组合，也可以是单独的光源。

作为上述方案的一种实施方法，所述的第一光源系统和第二光源系统可由独立的驱动装置进行开关切换，也可由同一驱动装置来控制两者的切换；第一光源系统与第二光源系统具有相似的光学特性，比如类似的光谱特性等。所述第一光源系统和第二光源系统发出的光由分光器进行分光后，分别形成对应的测量光束，并通过分光器控制，使对应的测量光束分别透过被测样品后进入积分球内部，并由第一探测器和第二探测器分别接收，进而测量被测样品的清晰度以及雾度。

作为一种技术方案，还包括第三光源，第三光源设置于积分球球壁上。在测量雾度时，被测样品需紧贴积分球的入射窗口，被测样品的透射光进入积分球后，在被测样品面向积分球的表面会发生反射，且反射光与透射光一起被第二探测器接收。因此，在第一光源系统和第二光源系统处于关闭的情况下，开启第三光源，积分球入射窗口不放被测样品和放置被测样品的情况下，获得第二探测器读数，从而修正被测样品表面反射对测量的影响，提高积分球效率。

本发明中还公布了一种清晰度测量方法，第一光源或第一光源的出光口经过光学成像系统成像至阵列探测器的探测面上，被测样品放置于成像系统和阵列探测器之间或者成像系统的成像元件之间的光路中，第一光源或第一光源的出光口相对被测样品的张角在指定的小角度范围内，阵列探测器测量得到经过被测样品的透射光空间分布，通过分析透射光空间分布信息，计算被测样品的清晰度。

清晰度的测量关键在于对被测样品规则透射光测量，通过对第一光源出光口的控制以及阵列探测器的像素单元实现标准要求的小对边角，且本方法中阵列探测器不仅可以测量得到被测样品的规则透射光，还可以进一步获得探测面内散射光的光分布，进而通过对被测样品规则透射光和阵列探测器接收面内的散射光分布进行分析比较得到被测样品的清晰度，以及其散射特性。

作为一种清晰度测量的分析方法，其特征在于，包括以下步骤得到被测样品的清晰度：(1)在不放置被测样品时，阵列探测器测量获得第一光源入射光在探测面上的光分布信息；(2)将被测样品放置在测量光路中，由阵列探测器测得被测样品透射光在探测面上的光分布信息；(3)通过对前后两次测量中阵列探测器的读数进行对比分析得到被测样品的清晰度。

上述方法可以对阵列探测器接收范围内任一像素点处的光信号进行比较，进而得到被测样品该像素点对应角度范围内的被测样品光透射性能，或者通过对任意指定像素区域内的光信号进行积分比较，得到指定角度范围内被测样品的透射光，例如ASTM D1746所规定的角度范围，从而得到清晰度。此外，还可以对阵列探测器探测面内各像素两次测量的光信号进行比对，得到被测样品在阵列探测器探测面内的透射光分布特性，不仅有助于清晰度比较，还可以进一步分析影响被测样品清晰度的因素，对产品的改进具有重要意义。

作为一种清晰度分析方法，在获得经由样品散射后特定角度内的光分布后，获得被测样品透射光的空间光分布前提下，通过阵列探测器接收面上所测得被测样品规则透射光和周围散射光进行比例分析进而得到被测样品的清晰度。

作为上述方法的一种清晰度测量方法实施方案，可以通过公式来评价被测样品的清晰度好坏，C值越大，清晰度越好；C值越小，清晰度越差；其中，C为清晰度；Ir为阵列探测器测得的规则透射光光度值；Is为阵列探测器探测面内、非规则透射的散射光的最大光度值。分析结果中，如果C值为1，则表明被测样品的透过率非常好，几近于空气的透射率，这种情况为理想状态。

上述方案中，Ir也可以为探测面上、以光轴为中心的指定像素区域的透射光强度，此时，C值越大，清晰度越好。

本发明中还公布了一种雾度测量方法，其特征在于还包括第二光源、第二探测器和积分球，所述积分球沿测量光束的光轴方向设置在成像系统和阵列探测器之间，且所述积分球上设有入射窗口、第一测量窗口和第二测量窗口，其中入射窗口和第一测量窗口位于光轴上，第二测量窗口设置于光轴以外的积分球球壁上；将被测样品贴近积分球的入射窗口，第二光源发出的光经过被测样品后，入射积分球内，第二测量窗口采集被测样品的散射光，而第一测量窗口采集被测样品的直透光，通过计算获得被测样品的雾度。将被测样品贴近积分球的入射窗口，第二光源发出的光经光学成像系统和被测样品后，入射积分球内，位于第一测量窗口的第一探测器测量被测样品的直透光，所述的直透光为第一测量窗口所在角度范围内、被第一探测器接收测量的透射光。第二探测器测量获得偏离入射光光轴方向2.5°以外的被测样品散射光，结合阵列探测器测量得到的直透光获得总透射光，并根据国标GB/T 2410中雾度计算公式haze＝T_d/T_t×100，其中haze为雾度，Td为偏离入射光光轴方向2.5°以外的散射光，Tt为被测样品总透射光，可计算获得被测样品的雾度。

【附图说明】

附图1为实施例1中本发明装置示意图

附图2为实施例2中本发明装置示意图

附图3为实施例3中本发明装置示意图

附图4为实施例3中清晰度测量光路示意图

附图5为实施例3中雾度测量光路示意图

1—第一光源系统；2—成像系统，2-1—前置透镜；2-2—后置透镜，3—第一探测器；4—分光器；5—参考探测器；6—积分球；6-1—入射窗口；6-2—第一测量窗口；6-3—第二测量窗口；7—第二探测器；8—第二光源系统。

【具体实施方式】

实施例1

如图1所示，本实施例公开一种清晰度测量装置，包括第一光源系统1，成像系统2，第一探测器3，分光器4和参考探测器5，其中所述的第一光源系统1为卤钨灯和针孔的组合；所述的成像系统2由前置透镜2-1和后置透镜2-2组成，被测样品放置于成像系统2和第一探测器3之间，其中第一探测器3的探测面与测量光束光轴的垂直面的成2°倾斜角设置；所述分光器4设置于前置透镜2-1和后置透镜2-1之间，且第一光源系统1发出的光首先通过前置透镜2-1到达分光器4处，并经过分光器4分光形成测量光束和参考光束，其中测量光束经过后置透镜2-2和被测样品后最终到达第一探测器3的探测面上，同时成像系统2以及第一探测器3的设置使得第一光源系统1的出光口针孔成像至探测面上；而所述参考光束则直接入射参考探测器5，实现第一光源系统1稳定性的监测。本方案中所述的第一探测器3为阵列探测器，分光器4为部分透射部分反射的反射镜，参考探测器5为硅光电池。

清晰度测量方法：第一光源系统的出光口针孔通过成像系统成像至阵列探测器的探测面上，由阵列探测器的中心像素点测量得到被测样品的规则透射光，阵列探测器的周围像素点实现被测样品散射光的测量，且本实施例中的阵列探测器的像素尺寸为微米级，可以保证被测样品规则透射光的接收角β满足标准要求，得到标准要求的清晰度或透明度数据。

实施例2

如图2所示，本实施例公开一种清晰度测量装置，本实施例的清晰度测量装置基本一致，唯一不同的是在清晰度的测量中被测样品放置在成像系统2内部；基本光路为：由第一光源系统1发出的光经过成像系统2的前置透镜2-1和分光器4后，进而依次透过被测样品和后置透镜2-2最终成像至第一探测器3处被接收测量。

清晰度测量方法与实施例1不同的是：过对规则透射光和周围散射光的比例进行分析进而得到被测样品的清晰度，具体的分析方法为：

通过公式来评价被测样品的清晰度好坏，C值越大，清晰度越好；C值越小，清晰度越差；其中，C为清晰度；Ir为阵列探测器测得的规则透射光光度值；Is为阵列探测器测探测面内散射光的最大光度值。

实施例3

如图3，4，5所示，本实施例公开了一种清晰度测量装置，该装置可以综合实现被测样品清晰度和雾度的测量；包括第一光源系统1，成像系统2，第一探测器3，分光器4，参考探测器5，积分球6，第二探测器7，第二光源系统8和与第一探测器3相切换的陷阱探测器；其中所述的第一光源系统1为白光LED与狭缝的组合，所述的成像系统2由前置透镜2-1和后置透镜2-2组成；分光器4设置于前置透镜2-1和后置透镜2-2之间，且第一光源系统1(或第二光源系统8)发出的光首先通过前置透镜2-1到达分光器4处，并经过分光器4分光形成相应的测量光束和参考光束，此处所述的分光器4为部分透射部分反射的反射镜；所述的积分球6沿光轴设置，且在积分球6在测量光束的光轴上开有入射窗口6-1和第一测量窗口6-2，第一测量窗口6-2对应于第一探测器3，第一探测器3接收来自第一测量窗口6-2的出射光并进行测量；且在积分球6测量光束光轴以外的球壁还设有第二测量窗口6-3，并且在第二测量窗口6-3的出射光路中设有第二探测器7。本方案中，第二光源系统8为卤钨灯与透镜的组合，所述的第一探测器3为阵列探测器，参考探测器5为硅光电池；第二探测器7为硅光电池；以下就清晰度和雾度测量的光路和方法分别给予介绍：

清晰度测量光路以及方法：

在清晰度测量中，首先将被测样品放置在后置透镜2-2与积分球6之间光路中；开启第一光源系统1的光源，其发出的光经过狭缝后进而进入前置透镜2-1中，经过前置透镜2-1作用的光线到达分光器4处，由分光器4分光形成的参考光束到达参考探测器5中进而实现第一光源系统1的监测，而由分光器4分光形成的测量光束则经过后置透镜2-2后经过被测样品并从积分球6的入射窗口6-1进入到积分球6中，并通过积分球6的第一测量窗口6-2最终成像至第一探测器3的探测面上被接收和测量；具体的清晰度测量方法与实施例1类似。

雾度测量光路以及方法：

首先将被测样品紧贴积分球6的入射窗口6-1放置，开启第二光源系统8，其发出的光线经过分光器4分光后形成的参考光束直接到达参考探测器5中进而实现第二光源系统8稳定性的监测，而经过分光器4分光后形成的测量光束则经后置透镜2-2后透过被测样品后进入积分球6内部并充分混光后由设置在积分球6第二测量窗口6-3出射光路上的第二探测器7所测量，此处的第二探测器7为硅光电池。将陷阱探测器切入第一测量窗口6-2，陷阱探测器测量获得光轴2.5°以内的直透光，第二探测器7测量获得光轴2.5°以外的散射光，综合分析陷阱测器和第二探测器7的测试结果，根据GB/T 2410中雾度测量公式haze＝T_d/T_t×100计算被测样品的雾度，其中Td为偏离入射光轴2.5°以外的散射光；Tt为被测样品总透射光。

以上结合附图对本发明的具体实施方式作了说明，但这些说明不能被理解为限制了本发明的范围，本发明的保护范围是由随附的权利要求书还限定，任何在本发明权利要求基础上的改动都是本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种清晰度测量装置，其特征在于：包括第一光源系统（1），成像系统（2）和第一探测器（3），所述的成像系统（2）位于第一光源系统（1）和第一探测器（3）之间的测量光路上，并且成像系统（2）将第一光源系统（1）的发光光源或出光口成像至第一探测器（3）的探测面上；被测样品设置于成像系统（2）与第一探测器（3）之间、或者成像系统（2）的成像元件之间的测量光路上；所述的第一探测器（3）为阵列探测器，且阵列探测器的探测单元成一维线型阵列排列或二维面阵排列。

2.如权利要求1或2所述的清晰度测量装置，其特征在于，所述的第一光源系统（1）为光源与出光口的组合，且所述出光口为针孔或狭缝；或者所述的第一光源系统（1）为激光光源。

3.如权利要求1或2或3所述的清晰度测量装置，其特征在于，所述的第一探测器（3）的探测面与测量光束的光轴垂直面相倾斜，倾角为1°~15°之间的一个角度。

4.如权利要求1或2或3所述的清晰度测量装置，其特征在于，还包括将第一光源系统（1）的发射光束分光形成参考光束和测量光束的分光器（4）和用于监测光源稳定性的参考探测器（5），所述参考探测器（5）接收测量参考光束。

5.如权利要求1或2或3或4所述的清晰度测量装置，其特征在于，还包括用于被测样品散射光测量的积分球（6）和第二探测器（7）；所述积分球（6）沿测量光束的光轴方向设置在成像系统（2）和第一探测器（3）之间，且所述积分球（6）上设有入射窗口（6-1）、第一测量窗口（6-2）和第二测量窗口（6-3），其中入射窗口（6-1）和第一测量窗口（6-2）位于测量光束的光轴上，且第一探测器（3）设置于第一测量窗口（6-2）的出射光路上；第二测量窗口（6-3）设置于测量光束光轴以外的积分球（6）球壁上，且第二探测器（7）位于第二测量窗口（6-3）的出射光路上。

6.如权利要求5所述的清晰度测量装置，其特征在于，还包括一个可与第一探测器（3）相切换的陷阱探测器。

7.如权利要求5所述的清晰度测量装置，其特征在于，还包括专用于被测样品雾度测量的第二光源系统（8），所述第二光源系统（8）的出射光通过入射窗口（6-1）进入积分球（6）内部。

8.如权利要求7所述的清晰度测量装置，其特征在于，所述第二光源系统（8）通过分光器（4）将测量光束导入积分球（6）内，所述的分光器（4）为部分透射部分反射的反射镜或棱镜。

9.一种清晰度测量方法，其特征在于，第一光源或第一光源的出光口经过光学成像系统成像至阵列探测器的探测面上，被测样品放置于成像系统和阵列探测器之间或者成像系统的成像元件之间的测量光路中，第一光源或第一光源的出光口相对被测样品的张角在指定的小角度范围内，阵列探测器测量得到经过被测样品的透射光的空间分布，通过分析透射光的空间分布信息，计算被测样品的清晰度。

10.如权利要求9所述的清晰度测量方法，其特征在于，包括以下步骤得到被测样品的清晰度：（1）在不放置被测样品时，阵列探测器测量获得第一光源入射光在探测面上的光分布信息；（2）将被测样品放置在测量光路中，由阵列探测器测得被测样品透射光在探测面上的光分布信息；（3）通过对前后两次测量中阵列探测器的读数结果进行对比分析得到被测样品的清晰度。

11.如权利要求9所述的清晰度测量方法，其特征在于，包括以下步骤得到被测样品的清晰度：将被测样品放置在测量光路中，由阵列探测器测得的透射光分布信息，通过比较计算被测样品规则透射光和周围散射光，得到被测样品的清晰度。

12.如权利要求9所述的清晰度测量方法，其特征在于，还包括第二探测器和积分球，所述积分球沿测量光束光轴方向设置在成像系统和阵列探测器之间，且所述积分球上设有入射窗口、第一测量窗口和第二测量窗口，其中入射窗口和第一测量窗口位于测量光束光轴上，第二测量窗口设置于测量光束光轴以外的积分球球壁上；将被测样品贴近积分球的入射窗口，测量光束经过被测样品后进入积分球内，第二测量窗口采集被测样品的散射光，而第一测量窗口采集被测样品的直透光，通过计算获得被测样品的雾度。