CN106154136A - 一种运算放大器集成电路的检测治具 - Google Patents

一种运算放大器集成电路的检测治具 Download PDF

Info

Publication number
CN106154136A
CN106154136A CN201610457201.3A CN201610457201A CN106154136A CN 106154136 A CN106154136 A CN 106154136A CN 201610457201 A CN201610457201 A CN 201610457201A CN 106154136 A CN106154136 A CN 106154136A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
guide groove
seat
extension board
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610457201.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106154136B (zh
Inventor
王文庆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Quanzhou Hongfeng Agricultural Technology Co., Ltd.
Original Assignee
Dongguan Lianzhou Intellectual Property Operation and Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dongguan Lianzhou Intellectual Property Operation and Management Co Ltd filed Critical Dongguan Lianzhou Intellectual Property Operation and Management Co Ltd
Priority to CN201610457201.3A priority Critical patent/CN106154136B/zh
Publication of CN106154136A publication Critical patent/CN106154136A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106154136B publication Critical patent/CN106154136B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06722—Spring-loaded

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本发明公开了一种运算放大器集成电路的检测治具，其检测座的上端面上成型有凹台，凹台内安置有电压表，检测座的下端面上固定连接有磁力吸盘，检测座的前侧壁的上端成型有向前的延伸板，延伸板前端的两侧成型有相对的弧形导向槽，弧形导向槽之间的延伸板上成型有直线型的导槽；弧形导向槽四周的延伸板上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈，导电圈上固定连接有导线，导线和电压表的电极柱固定连接在一起；所述检测座的弧形导向槽内设置有检测探针，检测座的导槽内设置有触发器。它为辅助手工运算放大器集成电路检测的检测装置，相比纯手工的检测，其检测更加方便快捷。

Description

一种运算放大器集成电路的检测治具
技术领域：
本发明涉及集成电路检测装置的技术领域，更具体地说涉及一种运算放大器集成电路的检测治具。
背景技术：
运算放大器集成电路，又称为集成运算放大器，简称为集成运放，是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。现有的运算放大器集成电路的检测一般人工使用万用表直流电压档，测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)，同时用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号)，若万用表表针有较大幅度的摆动，则说明该运算放大器完好；若万用表表针不动，则说明运算放大器已损坏，但此检测操作既要在测量电压值的同时敲击，通过单人实现检测较为困难。
发明内容：
本发明的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种运算放大器集成电路的检测治具，其方便用于运算放大器集成电路。
为实现上述目的，本发明的技术方案如下：
一种运算放大器集成电路的检测治具，包括检测座，检测座的上端面上成型有凹台，凹台内安置有电压表，检测座的下端面上固定连接有磁力吸盘，检测座的前侧壁的上端成型有向前的延伸板，延伸板前端的两侧成型有相对的弧形导向槽，弧形导向槽之间的延伸板上成型有直线型的导槽；弧形导向槽四周的延伸板上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈，导电圈上固定连接有导线，导线和电压表的电极柱固定连接在一起；所述检测座的弧形导向槽内设置有检测探针，检测座的导槽内设置有触发器；
检测探针包括倒置的T型插套，T型插套的下端抵靠在延伸板的下端面上，T型插套的上端穿过弧形导向槽螺接有导电螺套，导电螺套压靠在导电圈上，所述的T型插套内插接有探针，探针的下端成型有环台，环台上侧的探针上插套有压簧，压簧的两端分别压靠在环台和T型插套上，探针的上端穿过T型插套固定连接有提手；
所述的触发器包括铰接座，铰接座铰接在延伸板上，铰接座上插接有斜置的触发杆，触发杆的上端螺接有螺母，螺母和铰接座之间的触发杆上插套有弹簧，弹簧的两端分别压靠在螺母和铰接座上，触发杆的下端伸出铰接座成型有挡板，挡板抵靠在铰接座的下端面上。
所述触发器的铰接座呈‘工’字形，铰接座由中部的连接部和位于连接部两端的斜砌块与挡盘组成，斜砌块与挡盘分别抵靠在延伸板的上下端面上。
所述触发器上触发杆的底端呈型有球形，触发杆的顶端成型有提块。
所述检测探针的导电螺套的上端固定连接有绝缘套。
本发明的有益效果在于：
它为辅助手工运算放大器集成电路检测的检测装置，相比纯手工的检测，其检测更加方便快捷。
附图说明：
图1为发明立体的结构示意图；
图2为发明俯视的结构示意图；
图3为发明检测探针的结构示意图；
图4为发明触发器的结构示意图。
图中：1、检测座；11、凹台；12、延伸板；121、弧形导向槽；122、导槽；2、电压表；3、磁力吸盘；4、导电圈；5、检测探针；51、T型插套；52、导电螺套；53、探针；531、环台；54、压簧；55、提手；56、绝缘套；6、触发器；61、铰接座；611、连接部；612、挡盘；613、斜砌块；62、触发杆；621、挡板；622、提块；63、弹簧；64、螺母。
具体实施方式：
实施例：见图1至4所示，一种运算放大器集成电路的检测治具，包括检测座1，检测座1的上端面上成型有凹台11，凹台11内安置有电压表2，检测座1的下端面上固定连接有磁力吸盘3，检测座1的前侧壁的上端成型有向前的延伸板12，延伸板12前端的两侧成型有相对的弧形导向槽121，弧形导向槽121之间的延伸板12上成型有直线型的导槽122；弧形导向槽121四周的延伸板12上嵌置有与弧形导向槽121相同弧形的导电圈4，导电圈4上固定连接有导线7，导线7和电压表2的电极柱固定连接在一起；所述检测座1的弧形导向槽121内设置有检测探针5，检测座1的导槽122内设置有触发器6；
检测探针5包括倒置的T型插套51，T型插套51的下端抵靠在延伸板12的下端面上，T型插套51的上端穿过弧形导向槽121螺接有导电螺套52，导电螺套52压靠在导电圈4上，所述的T型插套51内插接有探针53，探针53的下端成型有环台531，环台531上侧的探针53上插套有压簧54，压簧54的两端分别压靠在环台531和T型插套51上，探针53的上端穿过T型插套51固定连接有提手55；
所述的触发器6包括铰接座61，铰接座61铰接在延伸板12上，铰接座61上插接有斜置的触发杆62，触发杆62的上端螺接有螺母64，螺母64和铰接座61之间的触发杆62上插套有弹簧63，弹簧63的两端分别压靠在螺母64和铰接座61上，触发杆62的下端伸出铰接座61成型有挡板621，挡板621抵靠在铰接座61的下端面上。
所述触发器6的铰接座61呈‘工’字形，铰接座61由中部的连接部611和位于连接部611两端的斜砌块613与挡盘612组成，斜砌块613与挡盘612分别抵靠在延伸板12的上下端面上。
所述触发器6上触发杆62的底端呈型有球形，触发杆62的顶端成型有提块622。
所述检测探针5的导电螺套52的上端固定连接有绝缘套56。
工作原理：本发明为辅助手工运算放大器集成电路检测的检测装置，其检测时通过磁力吸盘3将检测座1定位到待检测的工位，然后通过在检测座1的弧形导向槽121移动检测探针5至运算放大器输出端与负电源端，再紧固导电螺套52，使用检测探针5的探针接触检测点，然后转动触发器6，触发器6定位后，通过下压触发杆62，使触发杆62点触运算放大器的两个输入端，观测检测座1上的电压表2即可，则不会因为只有双手而操作不过来的问题，而触发杆62的与运算放大器的两个输入端距离可以通过调节螺母64进行调节。

Claims (4)

1.一种运算放大器集成电路的检测治具，包括检测座(1)，其特征在于：检测座(1)的上端面上成型有凹台(11)，凹台(11)内安置有电压表(2)，检测座(1)的下端面上固定连接有磁力吸盘(3)，检测座(1)的前侧壁的上端成型有向前的延伸板(12)，延伸板(12)前端的两侧成型有相对的弧形导向槽(121)，弧形导向槽(121)之间的延伸板(12)上成型有直线型的导槽(122)；弧形导向槽(121)四周的延伸板(12)上嵌置有与弧形导向槽(121)相同弧形的导电圈(4)，导电圈(4)上固定连接有导线(7)，导线(7)和电压表(2)的电极柱固定连接在一起；所述检测座(1)的弧形导向槽(121)内设置有检测探针(5)，检测座(1)的导槽(122)内设置有触发器(6)；
检测探针(5)包括倒置的T型插套(51)，T型插套(51)的下端抵靠在延伸板(12)的下端面上，T型插套(51)的上端穿过弧形导向槽(121)螺接有导电螺套(52)，导电螺套(52)压靠在导电圈(4)上，所述的T型插套(51)内插接有探针(53)，探针(53)的下端成型有环台(531)，环台(531)上侧的探针(53)上插套有压簧(54)，压簧(54)的两端分别压靠在环台(531)和T型插套(51)上，探针(53)的上端穿过T型插套(51)固定连接有提手(55)；
所述的触发器(6)包括铰接座(61)，铰接座(61)铰接在延伸板(12)上，铰接座(61)上插接有斜置的触发杆(62)，触发杆(62)的上端螺接有螺母(64)，螺母(64)和铰接座(61)之间的触发杆(62)上插套有弹簧(63)，弹簧(63)的两端分别压靠在螺母(64)和铰接座(61)上，触发杆(62)的下端伸出铰接座(61)成型有挡板(621)，挡板(621)抵靠在铰接座(61)的下端面上。
2.根据权利要求1所述的一种运算放大器集成电路的检测治具，其特征在于：所述触发器(6)的铰接座(61)呈‘工’字形，铰接座(61)由中部的连接部(611)和位于连接部(611)两端的斜砌块(613)与挡盘(612)组成，斜砌块(613)与挡盘(612)分别抵靠在延伸板(12)的上下端面上。
3.根据权利要求1所述的一种运算放大器集成电路的检测治具，其特征在于：所述触发器(6)上触发杆(62)的底端呈型有球形，触发杆(62)的顶端成型有提块(622)。
4.根据权利要求1所述的一种运算放大器集成电路的检测治具，其特征在于：所述检测探针(5)的导电螺套(52)的上端固定连接有绝缘套(56)。
CN201610457201.3A 2016-06-20 2016-06-20 一种运算放大器集成电路的检测治具 Active CN106154136B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610457201.3A CN106154136B (zh) 2016-06-20 2016-06-20 一种运算放大器集成电路的检测治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610457201.3A CN106154136B (zh) 2016-06-20 2016-06-20 一种运算放大器集成电路的检测治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106154136A true CN106154136A (zh) 2016-11-23
CN106154136B CN106154136B (zh) 2018-11-16

Family

ID=57353396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610457201.3A Active CN106154136B (zh) 2016-06-20 2016-06-20 一种运算放大器集成电路的检测治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106154136B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2146716Y (zh) * 1993-01-12 1993-11-17 孙克忠 电压检测交流数字仪表
WO2000079293A1 (en) * 1999-06-22 2000-12-28 International Test Solutions, Inc. Probe device using superelastic probe elements
CN101082646A (zh) * 2006-05-29 2007-12-05 北京飞腾三环电子科技有限公司 两端电子元件特性综合测试仪
CN103149417A (zh) * 2013-01-30 2013-06-12 北京信诺达泰思特科技股份有限公司 一种测量电路模块及电源器件电压差的测量方法
CN203324439U (zh) * 2013-06-18 2013-12-04 滁州学院 集成运算放大器的测试仪
CN204116481U (zh) * 2014-09-04 2015-01-21 中国电子科技集团公司第十六研究所 一种低温放大器工作状态检测电路

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2146716Y (zh) * 1993-01-12 1993-11-17 孙克忠 电压检测交流数字仪表
WO2000079293A1 (en) * 1999-06-22 2000-12-28 International Test Solutions, Inc. Probe device using superelastic probe elements
CN101082646A (zh) * 2006-05-29 2007-12-05 北京飞腾三环电子科技有限公司 两端电子元件特性综合测试仪
CN103149417A (zh) * 2013-01-30 2013-06-12 北京信诺达泰思特科技股份有限公司 一种测量电路模块及电源器件电压差的测量方法
CN203324439U (zh) * 2013-06-18 2013-12-04 滁州学院 集成运算放大器的测试仪
CN204116481U (zh) * 2014-09-04 2015-01-21 中国电子科技集团公司第十六研究所 一种低温放大器工作状态检测电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN106154136B (zh) 2018-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN205027304U (zh) 一种平行度检测仪
CN106154136A (zh) 一种运算放大器集成电路的检测治具
CN106154137B (zh) 一种运算放大器集成电路的定点检测装置
CN207866902U (zh) 一种10kVKYN开关柜手车回路电阻测量辅助工具
CN208125009U (zh) 一种工件内孔检测装置
CN102590742A (zh) 小车式开关回路电阻测量钳
CN205403757U (zh) 墙面平整度检测装置
CN205027262U (zh) 一种杠杆百分表连接装置
CN217085016U (zh) 一种三极管测试夹具
CN102095919B (zh) 手持式电动工具泄漏电流测试系统
CN202041601U (zh) 手持式电动工具泄漏电流测试系统
CN106154138B (zh) 一种应用于集成电路检测的定位连接装置
CN208984746U (zh) 一种pcb耐压测试治具
CN208012792U (zh) 一种针脚保持力测试治具
CN106556727A (zh) 万用表操作辅助工具
CN207881607U (zh) 一种检测螺栓孔背窝直径的检具
CN113154997A (zh) 汽车左后侧三角窗围检具
CN206556560U (zh) 长条形部件孔径检测组件
CN110716066A (zh) 一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置
CN201463824U (zh) 一种组合探头及应用该探头的裂纹尺寸监测装置
CN206725738U (zh) 便携式永久磁场检测仪
CN214749960U (zh) 一种可调节式磁探仪
CN106291327A (zh) 一种运算放大器集成电路的检测机构
CN103673823A (zh) 一种凸台零件测量仪
CN202453472U (zh) 小车式开关回路电阻测量钳

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20180914

Address after: 362000 Cai Feng 1121-1, Dongfeng Town, Dongyuan Town, Huian County, Quanzhou, Fujian

Applicant after: Quanzhou Hongfeng Agricultural Technology Co., Ltd.

Address before: 523000 productivity building 406, high tech Industrial Development Zone, Songshan Lake, Dongguan, Guangdong

Applicant before: Dongguan Lianzhou Intellectual Property Operation Management Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant