CN106124969A - 一种ptc芯片测试治具 - Google Patents

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Abstract

本发明提出了一种PTC芯片测试治具，包括安装底板、导电底座、上盖板、多个电流探针，导电底座安装在安装底板上，第一底板挡块、第二底板挡块沿导电底座长度方向设置，导电底座上沿其长度方向设有多个第一插孔；上盖板位于导电底座上方，上盖板上设有多个卡接孔，卡接孔的数量与第一插孔的数量一致且各卡接孔与各第一插孔一一对应；沿导电底座的长度方向，多个电流探针间隔布置，电流探针的数量与第一插孔的数量一致且各电流探针与各第一插孔一一对应，各电流探针的顶端卡接在卡接孔内且各电流探针可沿着卡接孔轴向移动。本发明可一次对多个PTC芯片进行测试，结构简单，能够快速安全方便的测试PTC芯片的表面温度，工作效率高。

Description

一种PTC芯片测试治具
技术领域
本发明涉及PTC芯片测试技术领域，尤其涉及一种PTC芯片测试治具。
背景技术
PTC产品的核心是PTC芯片，所以PTC芯片的性能直接决定了PTC暖风机的性能，为此芯片的测试便是重中之重。目前现有技术中并没有针对PTC芯片的表面温度的测试设备，亟需解决。
发明内容
基于背景技术中存在的技术问题，本发明提出了一种PTC芯片测试治具。
本发明提出的一种PTC芯片测试治具，包括安装底板、导电底座、上盖板、多个电流探针，导电底座安装在安装底板上，安装底板上位于导电底座两侧位置分别设有第一底板挡块和第二底板挡块，第一底板挡块、第二底板挡块沿导电底座长度方向设置，导电底座上沿其长度方向设有多个第一插孔；上盖板位于导电底座上方，上盖板两端分别与第一底板挡块、第二底板挡块抵靠且上盖板与导电底座之间预留有间隙，上盖板上设有多个卡接孔，卡接孔的数量与第一插孔的数量一致且各卡接孔与各第一插孔一一对应；沿导电底座的长度方向，多个电流探针间隔布置，电流探针的数量与第一插孔的数量一致且各电流探针与各第一插孔一一对应，各电流探针的顶端卡接在卡接孔内且各电流探针可沿着卡接孔轴向移动。
优选的，安装底板上设有安装槽，导电底座安装在安装槽内。
优选的，导电底座与安装底板之间设有第一云母板，导电底座、第一云母板均安装在安装槽内。
优选的，第一云母板上设有数量与第一插孔数量一致的第二插孔，第二插孔与第一插孔一一对应。
优选的，第一底板挡块、第二底板挡块上分别设有用于夹紧上盖板的第一夹钳、第二夹钳。
优选的，上盖板靠近导电底板一侧设有第二云母板。
优选的，上盖板远离导电底板一侧设有绝缘罩。
优选的，还包括安装箱体，安装箱体为一端开口的框体结构，安装底板安装在安装箱体敞开口一端。
本发明中，在安装底板上安装有导电底座，导电底座上方设置上盖板，电流探针顶端卡接在上盖板的卡接孔内，电流探针底端可深入导电底座的第一插孔内。在对PTC芯片进行检测时，拿下上盖板，将多个PTC芯片放置在导电底座上后放回上盖板，电流探针与PTC芯片抵靠形成回路，下方没有放置芯片的电流探针则伸入与之对应的第一插孔内，按下开关通电，通过温度测试器、电压电流表读出芯片表面温度和电流电压。本发明可一次对多个PTC芯片进行测试，结构简单，PTC芯片的温度、电流、电压都能够直接读出，能够快速安全方便的测试PTC芯片的表面温度，工作效率高。
附图说明
图1为本发明提出的一种PTC芯片测试治具结构示意图；
图2为本发明提出的一种PTC芯片测试治具结构分解示意图。
具体实施方式
参照图1、图2，本发明提出一种PTC芯片测试治具，包括安装底板1、导电底座2、上盖板3、多个电流探针4、安装箱体12，其中：
安装箱体12为一端开口的框体结构，安装底板1安装在安装箱体12敞开口一端，安装底板1上设有安装槽101。
导电底座2安装在安装底板1上的安装槽101内，导电底座2与安装底板1之间设有第一云母板7，导电底座2上沿其长度方向设有多个第一插孔，第一云母板7上设有数量与第一插孔数量一致的第二插孔，第二插孔与第一插孔一一对应，安装底板1上位于导电底座2两侧位置分别设有第一底板挡块5和第二底板挡块6，第一底板挡块5、第二底板挡块6沿导电底座2长度方向设置，第一底板挡块5、第二底板挡块6上分别设有用于夹紧上盖板3的第一夹钳8、第二夹钳9。
上盖板3位于导电底座2上方，上盖板3两端分别与第一底板挡块5、第二底板挡块6抵靠且上盖板3与导电底座2之间预留有间隙，上盖板3上设有多个卡接孔，卡接孔的数量与第一插孔的数量一致且各卡接孔与各第一插孔一一对应。上盖板3靠近导电底板一侧设有第二云母板10。上盖板3远离导电底板一侧设有绝缘罩11。
沿导电底座2的长度方向，多个电流探针4间隔布置，电流探针4的数量与第一插孔的数量一致且各电流探针4与各第一插孔一一对应，各电流探针4的顶端卡接在卡接孔内且各电流探针4可沿着卡接孔轴向移动。
本发明提出的一种PTC芯片测试治具，在安装底板1上安装有导电底座2，导电底座2上方设置上盖板3，电流探针4顶端卡接在上盖板3的卡接孔内，电流探针4底端可深入导电底座2的第一插孔内。在对PTC芯片进行检测时，拿下上盖板3，将多个PTC芯片放置在导电底座2上后放回上盖板3，通过第一夹钳8、第二夹钳9夹紧上盖板3，电流探针4与PTC芯片抵靠形成回路，此时该电流探针4顶端伸入卡接孔内，下方没有放置芯片的电流探针4则伸入与之对应的第一插孔内，按下开关通电，通过温度测试器、电压电流表读出芯片表面温度和电流电压。本发明可一次对多个PTC芯片进行测试，结构简单，PTC芯片的温度、电流、电压都能够直接读出，能够快速安全方便的测试PTC芯片的表面温度，工作效率高。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种PTC芯片测试治具，其特征在于，包括安装底板(1)、导电底座(2)、上盖板(3)、多个电流探针(4)，导电底座(2)安装在安装底板(1)上，安装底板(1)上位于导电底座(2)两侧位置分别设有第一底板挡块(5)和第二底板挡块(6)，第一底板挡块(5)、第二底板挡块(6)沿导电底座(2)长度方向设置，导电底座(2)上沿其长度方向设有多个第一插孔；上盖板(3)位于导电底座(2)上方，上盖板(3)两端分别与第一底板挡块(5)、第二底板挡块(6)抵靠且上盖板(3)与导电底座(2)之间预留有间隙，上盖板(3)上设有多个卡接孔，卡接孔的数量与第一插孔的数量一致且各卡接孔与各第一插孔一一对应；沿导电底座(2)的长度方向，多个电流探针(4)间隔布置，电流探针(4)的数量与第一插孔的数量一致且各电流探针(4)与各第一插孔一一对应，各电流探针(4)的顶端卡接在卡接孔内且各电流探针(4)可沿着卡接孔轴向移动。
2.根据权利要求1所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，安装底板(1)上设有安装槽(101)，导电底座(2)安装在安装槽(101)内。
3.根据权利要求2所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，导电底座(2)与安装底板(1)之间设有第一云母板(7)，导电底座(2)、第一云母板(7)均安装在安装槽(101)内。
4.根据权利要求3所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，第一云母板(7)上设有数量与第一插孔数量一致的第二插孔，第二插孔与第一插孔一一对应。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，第一底板挡块(5)、第二底板挡块(6)上分别设有用于夹紧上盖板(3)的第一夹钳(8)、第二夹钳(9)。
6.根据权利要求1-4中任一项所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，上盖板(3)靠近导电底板一侧设有第二云母板(10)。
7.根据权利要求1-4中任一项所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，上盖板(3)远离导电底板一侧设有绝缘罩(11)。
8.根据权利要求1-4中任一项所述的PTC芯片测试治具，其特征在于，还包括安装箱体(12)，安装箱体(12)为一端开口的框体结构，安装底板(1)安装在安装箱体(12)敞开口一端。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108204861A (zh) * 2016-12-16 2018-06-26 比亚迪股份有限公司 用于检测ptc芯体的测温装置和具有其的检测设备
CN108204867A (zh) * 2016-12-16 2018-06-26 比亚迪股份有限公司 用于ptc芯体测温的治具
CN110045185A (zh) * 2019-04-17 2019-07-23 深圳振华富电子有限公司 贴片产品直流电阻测试治具
CN110632432A (zh) * 2019-10-28 2019-12-31 上海帕克热敏陶瓷有限公司 Ptc元件全自动电性能综合检验设备
CN112197797A (zh) * 2020-09-03 2021-01-08 杭州长川科技股份有限公司 电子元件测试自动密封装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060181291A1 (en) * 2005-02-14 2006-08-17 International Business Machines Corporation Method and apparatus for locating and testing a chip
CN103076555A (zh) * 2013-02-07 2013-05-01 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 一种芯片测试针架
CN205982546U (zh) * 2016-08-25 2017-02-22 安徽汇展热交换系统股份有限公司 一种ptc芯片测试治具

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060181291A1 (en) * 2005-02-14 2006-08-17 International Business Machines Corporation Method and apparatus for locating and testing a chip
CN103076555A (zh) * 2013-02-07 2013-05-01 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 一种芯片测试针架
CN205982546U (zh) * 2016-08-25 2017-02-22 安徽汇展热交换系统股份有限公司 一种ptc芯片测试治具

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈后鹏;林争辉;: "多芯片组件(MCM)测试方法的研究" *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108204861A (zh) * 2016-12-16 2018-06-26 比亚迪股份有限公司 用于检测ptc芯体的测温装置和具有其的检测设备
CN108204867A (zh) * 2016-12-16 2018-06-26 比亚迪股份有限公司 用于ptc芯体测温的治具
CN108204861B (zh) * 2016-12-16 2019-11-08 比亚迪股份有限公司 用于检测ptc芯体的测温装置和具有其的检测设备
CN108204867B (zh) * 2016-12-16 2020-02-07 比亚迪股份有限公司 用于ptc芯体测温的治具
CN110045185A (zh) * 2019-04-17 2019-07-23 深圳振华富电子有限公司 贴片产品直流电阻测试治具
CN110632432A (zh) * 2019-10-28 2019-12-31 上海帕克热敏陶瓷有限公司 Ptc元件全自动电性能综合检验设备
CN112197797A (zh) * 2020-09-03 2021-01-08 杭州长川科技股份有限公司 电子元件测试自动密封装置

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