CN106124792B - 一种色轮转速测量方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种色轮转速测量方法及装置，包括：通过传感器分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光，并获取传感器在接收到色轮反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；色轮中包括高反射区域和低反射区域，每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；针对N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；从N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；将传感器移动至最优电平对比值对应的位置并通过传感器测量色轮的转速。
Description
技术领域
本申请涉及投影技术领域，尤其涉及一种色轮转速测量方法及装置。
背景技术
目前，在投影设备中，主要采用双色轮光源架构来进行投影。其中双色轮是指荧光轮和滤色轮。在双色轮光源架构中，最重要的是需要使得荧光轮和滤色轮同步旋转。如果荧光轮和滤色轮之间旋转不同步，会导致获得的画面模糊、色彩混乱等现象。为了实现荧光轮和滤色轮的旋转同步，需要分别对荧光轮和滤色轮的转速进行检测，从而实现调整荧光轮和滤色轮的转速，从而控制荧光轮和滤色轮同步旋转。
对色轮转速的检测，现有技术中一种实现方式是通过红外传感器对色轮马达上的位置参考标记进行检测，从而实现测速。如图1所示，位置参考标记贴于色轮马达轮轴上，可以随着轮轴旋转，红外传感器垂直于轮轴上侧切平面方向，在位置参考标记转到此切平面处时可以被红外传感器探测到。红外传感器分为两部分，一部分是发射装置，可以发射红外光，另一部分是接收装置，用以接收被反射回来的红外光。理论上，当红外传感器正常工作，发射装置持续发射红外光，轮轴带动位置参考标记旋转，当位置参考标记旋转于正对红外传感器的位置时，红外光被吸收，接收装置无输入，传感器输出高电平信号，当轮轴转动到其他位置时，由于轮轴材质为光滑金属面，红外光会被轮轴表面反射至接收装置，红外传感器输出低电平信号。当轮轴持续转动时，红外传感器也会周期性输出高电平信号和低电平信号，从而可以通过信号频率从而获知色轮转速。即在实际应用中，红外传感器通过对发射光的吸收和反射情形的对比程度来输出高低电平信号，如果这两种信号处理的对比程度不明显，则无法有效判断电平信号的高低，从而无法获知参考位置标记所对应的脉冲电平信号位置和周期，无法完成色轮的测速工作。
位置参考标记也可以不设置在色轮马达上，但设置在轮体其他位置仍然存在上述类似问题。
发明内容
本申请实施例提供一种色轮转速测量方法及其装置，用以实现自适应调整色轮定位传感器的工作距离。
本申请实施例提供一种色轮转速测量方法，该方法包括：
通过传感器分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光，并获取所述传感器在接收到所述色轮反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；所述色轮中包括高反射区域和低反射区域，每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；
针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；
从所述N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；其中，M小于N；
将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器测量所述色轮的转速。
可选的，所述低反射区域为所述色轮中覆盖了一层吸光材料的区域；所述高反射区域为所述色轮中除所述低反射区域之外的区域。
可选的，所述针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值，包括：
将该组电平信号划分为第一子组和第二子组；其中，所述第一子组中所有电平信号的电平值均大于阈值，所述第二子组中所有电平信号的电平值均小于或等于所述阈值；
将所述第一子组中最小的电平值减去所述第二子组中最大的电平值，获得该组电平信号的电平对比值。
可选的，从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值，包括：
从所述最大的M个电平对比值中选择一个最大的电平对比值作为所述最优电平对比值。
可选的，将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置之后，还包括：
将所述最优电平对比值与预设权重值相除，获得判定电平值；所述预设权重值大于1；
根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型。
可选的，根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型，包括：
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值大于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的低反射区域；或者
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值小于或等于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的高反射区域。
本申请实施例提供一种色轮转速测量装置，该装置包括：传感器，色轮，处理器，传动装置，检测装置；
所述处理器，用于指示所述传动装置将所述传感器分别移动到N个位置中每个位置上；
所述传感器，用于分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光；所述色轮中包括高反射区域和低反射区域；
所述检测装置，用于获取所述传感器在N个位置中的每个位置上接收到所述色轮反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；
所述处理器，用于针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；从所述N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；其中，M小于N；指示所述传动装置将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器测量所述色轮的转速。
可选的，所述低反射区域为所述色轮中覆盖了一层吸光材料的区域；所述高反射区域为所述色轮中除所述低反射区域之外的区域。
可选的，所述处理器具体用于：
将该组电平信号划分为第一子组和第二子组；其中，所述第一子组中所有电平信号的电平值均大于阈值，所述第二子组中所有电平信号的电平值均小于或等于所述阈值；
将所述第一子组中最小的电平值减去所述第二子组中最大的电平值，获得该组电平信号的电平对比值。
可选的，所述处理器具体用于：
从所述最大的M个电平对比值中选择一个最大的电平对比值作为所述最优电平对比值。
可选的，所述处理器还用于：
将所述最优电平对比值与预设权重值相除，获得判定电平值；所述预设权重值大于1；
根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型。
可选的，所述处理器具体用于：
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值大于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的低反射区域；或者
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值小于或等于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的高反射区域。
根据本申请实施例提供的方法及装置，通过传感器分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光，从而获得传感器输出的N组电平信号，其中，每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号。随后，根据所述N组电平信号中每一组电平信号中每个电平信号的电平值确定所述N组电平信号中每一组电平信号的电平对比值。由于每一组电平信号的电平对比值指示出了每一组电平信号中高电平信号与低电平信号的差异程度，从而可以从N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值。然后从所述M个电平对比值中选择一个较大的电平对比值作为最优电平对比值，从而可以将最优电平对比值对应的位置作为所述传感器工作时最佳的位置。最后将传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器测量所述色轮的转速。由于在最优电平对比值对应的位置中采集到的电平信号的电平差异程度高，从而可以区分出传感器在色轮的高反射区域和低反射区域上接收到的反射信号输出的电平信号，从而可以获得清晰的脉冲信号，从而可以根据脉冲信号的周期判断色轮的转速。通过上述方法，可以使用相同结构件和红外传感器应用在不同色轮探测中，因此对于色轮表面材质存在误差时(如铝基板表面不平整)，可以实现一定程度的较正。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中色轮转速测速装置结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种色轮结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种色轮转速测量装置结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种色轮转速测量方法流程示意图；
图5为本申请实施例提供的一种色轮转速测量装置结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请实施例中，色轮可以是指荧光轮，也可以是指滤色轮。为了使得传感器发射的探测光被吸收，将色轮的激光透射区(即透明玻璃材质)中非激光透射区域的表面设置吸光材料，从而使得色轮中设置了吸光材料的区域变为低反射区域。激光透射区中，靠近色轮边缘的区域为实际透射激光的区域，其他区域为不需要透射激光的区域，因此可以在激光透射区中实际不需要透射激光的区域的表面设置吸光材料。吸光材料可以为碳化标记等材料。由于色轮中，激光透射区以外的区域为具有高反射系数的铝基板，因此，色轮中覆盖铝基板的区域为高反射区域。
具体的，如图2所示，为本申请实施例提供的一种色轮结构示意图。
图2中，在色轮的激光透射区中实际不需要透射激光的区域的表面设置吸光材料，形成低反射区域；而实际透射激光的区域的表面不需要设置吸光材料。同时，色轮中的铝基板的区域可以作为高反射区域。
本申请实施例中，色轮定位传感器工作距离调整装置可以包括以下部件：传感器，色轮，处理器，传动装置，检测装置。具体的，结合图2，如图3所示，为本申请实施例提供的一种色轮转速测量装置结构示意图。结合图3，本申请实施例中，传感器用于发射探测光并接收探测光的反射光，传感器发射探测光的光路与色轮表面垂直。传感器位于传动装置之上。
传动装置，可以接收处理器发送的指令，从而驱动传感器远离或靠近色轮。传动装置驱动传感器移动的方向与传感器发射探测光的光路平行。
检测装置可以检测传感器输出的电平信号，并将检测到的电平信号发送给处理器。
处理器，可以驱动传动装置工作，同时可以根据检测装置检测到的电平信号计算传感器工作时距离色轮的最佳工作距离。
可选的，传感器与色轮之间、位于传感器发射的探测光的光路上还可以包括滤光片，用于滤除除了传感器发射的探测光之外的光。
结合上面的描述，如图4所示，为本申请实施例提供的一种色轮转速测量方法流程示意图。
参见图4，该方法包括：
步骤401：通过传感器分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光，并获取所述传感器在接收到所述色轮反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；所述色轮中包括高反射区域和低反射区域，每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；
步骤402：针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；
步骤403：从所述N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；其中，M小于N；
步骤404：将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器测量所述色轮的转速。
步骤401中，传感器发射探测光的光路与所述色轮表面垂直。同时，色轮按照预设速度旋转，预设速度可以根据实际情况确定，本申请实施例对此并不限定。
结合图3，本申请实施例中，可以通过检测装置获取传感器在N个位置输出的N组电平信号。传感器在N个位置的每个位置上可以驻留预设时长，在该预设时长内能够输出一组电平信号，从而可以获得N组电平信号。其中，每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号，即每组信号中，至少有一个电平信号为传感器接收到低反射区域的反射光输出的电平信号、至少有一个电平信号为传感器接收到高反射区域的反射光输出的电平信号。预设时长可以根据实际情况确定，在此不再赘述。
结合图3，传感器在N个位置之间移动，可以通过传动装置实现。传动装置可以根据处理器的指令移动传感器，也可以每隔预设时长将传感器移动到N个位置中的一个位置中。需要说明的是，本申请实施例中，N个位置是传感器工作时，可以距离色轮最近的位置至距离色轮最远的位置之间的位置。N个位置中的每个位置之间的间隔大小可以相同，也可以不同。
可选的，N个位置中的每个位置之间的间隔至少大于0.5mm。当然，以上只是示例，N个位置中的每个位置之间的间隔可以根据实际情况确定，在此不再赘述。
需要说明的是，本申请实施例中，传感器接收到的反射光的光强度越大，则输出的电平信号越小；接收到的反射光的光强度越小，则输出的电平信号越大。
本申请实施例中，传感器输出端的集电极电流IC可由下述公式进行描述：
IC＝B×f(IF)×F(d)…………………………(1)
其中：B为材料对红外光的反射率，常量，单位为％，此数值由高反射率区域或低反射率区域材料决定，需要具有较大差异才能保证后续处理电路稳定可靠工作；f(IF)为传感器输入电流关于输出电流的函数，单位为mA，该函数为正比线型函数，输出随输入的增加而增大；F(d)为传感器的工作距离关于输出效率的函数，单位为％，此函数根据工作距离不同分为两部分，既
当传感器距工作表面距离(以下简称工作距离)小于等于最佳工作距离d0时，输出效率与工作距离成正比线型关系，最大值约为100％,，当大于最佳工作距离d0时，输出效率与工作距离成指数衰减关系，公式(2)中系数k,a,b以及最佳工作距离d0与传感器自身设计有关，不同型号传感器系数不同。
在确定了高低反射材料以及两者反射率差异之后，就可以确定传感器的工作距离的区间。根据后端接收电路需要的输入高、低电平值，可以获得如下不等式：
ICH/(BH×f(IF))<F(d)<ICL/(BL×f(IF))………………………(3)
其中，BH为高反射材料对红外光的反射率；BL为低反射材料对红外光的反射率；ICH为工作面为高反射材料时，传感器输出端的集电极电流值，此时传感器输出电压为后端接收电路可接收的最高的低电平值(既最差情况)；ICL为工作面为低反射率材料时，传感器输出端的集电极电流值，此时传感器输出电压为后端接收电路可接收的最低的高电平值(最差情况)。
传感器在此区间内虽然可以工作，但在整个区间内输出波形并不相同。如果传感器与色轮之间的距离过近，则可能在本应不收到反射光的时段内受到反射杂散光的干扰，从而在本该输出高电平信号的时刻输出低电平信号；如果传感器与色轮之间的距离过远，则无法有效收到应接收的反射光，从而在本该输出低电平信号的时刻输出高电平信号，从而导致对色轮的测速失败。因此存在最优工作位置和最差工作位置，若在最差位置，则可靠性较差，容易出现偶发性故障，因此可以通过检测传感器在区间内不同工作距离输出的电平信号，确定传感器的最佳工作距离。
步骤402中，在获取了N组电平信号中每一组电平信号的同时，还可以确定每一组电平信号的电平对比值。每一组电平信号的电平对比值指示出了每一组电平信号中高电平信号与低电平信号的差异程度。电平对比值越大，则每一组电平信号中高电平信号与低电平信号的差异越大；电平对比值越小，则每一组电平信号中高电平信号与低电平信号的差异越小。
具体的，本申请实施例中可以通过以下方式确定每一组电平信号的电平对比值。
步骤一，针对所述N组电平信号中每一组电平信号，将该组电平信号划分为第一子组和第二子组；其中，所述第一子组中所有电平信号的电平值均大于阈值，所述第二子组中所有电平信号的电平值均小于或等于所述阈值；
步骤二，将所述第一子组中最小的电平值减去所述第二子组中最大的电平值，获得该组电平信号的电平对比值。其中，阈值可以根据实际情况确定，本申请实施例中，阈值可以为传感器输出的最高电平与最低电平的均值。
步骤403中，确定了N组电平信号中每一组电平信号的电平对比值之后，获得N个电平对比值。然后，可以从N个电平对比值中最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值。
本申请实施例中，可以从所述最大的M个电平对比值中选择一个最大的电平对比值作为所述最优电平对比值。当然，也可以从M个电平对比值任意选择一个电平对比值作为所述最优电平对比值。
最后，在步骤404中，将最优电平对比值对应的位置确定为传感器工作时的位置。此时，传感器工作在该位置上是距离色轮的最佳位置。
确定了传感器工作时的位置之后，还可以将所述最优电平对比值与预设权重值相除，获得判定电平值；所述预设权重值大于1。当传感器工作时，每次检测到传感器输出的电平信号后，可以根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型。
具体的，结合前面的描述，若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值大于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的低反射区域；若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值小于或等于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的高反射区域。
如图5所示，本申请实施例还提供一种色轮转速测量装置，该装置包括：传感器501，色轮502，处理器503，传动装置504，检测装置505；
所述处理器503，用于指示所述传动装置504将所述传感器501分别移动到N个位置中每个位置上；
所述传感器501，用于分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮502发射探测光；所述色轮502中包括高反射区域和低反射区域；
所述检测装置505，用于获取所述传感器501在N个位置中的每个位置上接收到所述色轮502反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；
所述处理器503，用于针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；从所述N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；其中，M小于N；将所述最优电平对比值对应的位置作为所述传感器501工作时的位置，并指示所述传动装置504将所述传感器501移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器501测量所述色轮502的转速。
可选的，所述低反射区域为所述色轮502中覆盖了一层吸光材料的区域；所述高反射区域为所述色轮502中除所述低反射区域之外的区域。
可选的，所述处理器503具体用于：
将该组电平信号划分为第一子组和第二子组；其中，所述第一子组中所有电平信号的电平值均大于阈值，所述第二子组中所有电平信号的电平值均小于或等于所述阈值；
将所述第一子组中最小的电平值减去所述第二子组中最大的电平值，获得该组电平信号的电平对比值。
可选的，所述处理器503具体用于：
从所述最大的M个电平对比值中选择一个最大的电平对比值作为所述最优电平对比值。
可选的，所述处理器503还用于：
将所述最优电平对比值与预设权重值相除，获得判定电平值；所述预设权重值大于1；
根据所述判定电平值确定所述传感器501检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型。
可选的，所述处理器503具体用于：
若所述传感器501在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值大于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮502中的低反射区域；或者
若所述传感器501在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值小于或等于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮502中的高反射区域。
根据本申请实施例提供的方法及装置，由于在最优电平对比值对应的位置中采集到的电平信号的电平差异程度高，从而可以区分出传感器在色轮的高反射区域和低反射区域上接收到的反射信号输出的电平信号，从而可以获得清晰的脉冲信号，从而可以根据脉冲信号的周期判断色轮的转速。通过上述方法，可以使用相同结构件和红外传感器应用在不同色轮探测中，因此对于色轮表面材质存在误差时(如铝基板表面不平整)，可以实现一定程度的较正。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (12)
1.一种色轮转速测量方法，其特征在于，该方法包括：
通过传感器分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光，并获取所述传感器在接收到所述色轮反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；所述色轮中包括高反射区域和低反射区域，每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；其中，所述N个位置是所述传感器工作时，距离所述色轮最近的位置至距离所述色轮最远的位置之间的N个位置；
针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；
从所述N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；其中，M小于N；
将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器测量所述色轮的转速。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述低反射区域为所述色轮中覆盖了一层吸光材料的区域；所述高反射区域为所述色轮中除所述低反射区域之外的区域。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值，包括：
将该组电平信号划分为第一子组和第二子组；其中，所述第一子组中所有电平信号的电平值均大于阈值，所述第二子组中所有电平信号的电平值均小于或等于所述阈值；
将所述第一子组中最小的电平值减去所述第二子组中最大的电平值，获得该组电平信号的电平对比值。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值，包括：
从所述最大的M个电平对比值中选择一个最大的电平对比值作为所述最优电平对比值。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置之后，还包括：
将所述最优电平对比值与预设权重值相除，获得判定电平值；所述预设权重值大于1；
根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型，包括：
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值大于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的低反射区域；或者
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值小于或等于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的高反射区域。
7.一种色轮转速测量装置，其特征在于，该装置包括：传感器，色轮，处理器，传动装置，检测装置；
所述处理器，用于指示所述传动装置将所述传感器分别移动到N个位置中每个位置上；其中，所述N个位置是所述传感器工作时，距离所述色轮最近的位置至距离所述色轮最远的位置之间的N个位置；
所述传感器，用于分别在N个位置中的每个位置上向按照预设速度旋转的色轮发射探测光；所述色轮中包括高反射区域和低反射区域；
所述检测装置，用于获取所述传感器在N个位置中的每个位置上接收到所述色轮反射的探测光时输出的电平信号，获得N组电平信号；每组电平信号至少包括一个对应高反射区域的电平信号以及一个对应低反射区域的电平信号；
所述处理器，用于针对所述N组电平信号中每一组电平信号，根据该组电平信号中每个电平信号的电平值确定该组电平信号的电平对比值；从所述N组电平信号的N个电平对比值中确定出最大的M个电平对比值，并从所述最大的M个电平对比值中选择一个电平对比值作为最优电平对比值；其中，M小于N；指示所述传动装置将所述传感器移动至所述最优电平对比值对应的位置，并通过所述传感器测量所述色轮的转速。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述低反射区域为所述色轮中覆盖了一层吸光材料的区域；所述高反射区域为所述色轮中除所述低反射区域之外的区域。
9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述处理器具体用于：
将该组电平信号划分为第一子组和第二子组；其中，所述第一子组中所有电平信号的电平值均大于阈值，所述第二子组中所有电平信号的电平值均小于或等于所述阈值；
将所述第一子组中最小的电平值减去所述第二子组中最大的电平值，获得该组电平信号的电平对比值。
10.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述处理器具体用于：
从所述最大的M个电平对比值中选择一个最大的电平对比值作为所述最优电平对比值。
11.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于：
将所述最优电平对比值与预设权重值相除，获得判定电平值；所述预设权重值大于1；
根据所述判定电平值确定所述传感器检测到的所述色轮中的目标区域的区域类型。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述处理器具体用于：
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值大于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的低反射区域；或者
若所述传感器在检测到所述目标区域时输出的电平信号的电平值小于或等于所述判定电平值，则确定所述目标区域为所述色轮中的高反射区域。
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