CN106100640A - 数据同步方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种数据同步方法和系统。该方法包括：在第一时刻，采样控制器控制第一模数转换器芯片对第一组通道的模拟信号进行采样，得到第一组通道在第一时刻的采样值；经过预设时间间隔，控制第二模数转换器芯片对第二组通道的模拟信号进行采样，得到第二组通道在第二时刻的采样值；再经过预设时间间隔，控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到第一组通道在第三时刻的采样值；采样控制器计算第一组通道在第一时刻的采样值与第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为第一组通道在第二时刻的采样值，保证了2片模数转换器芯片采集的两组通道数据的同步性。

Description

数据同步方法和系统

技术领域

本发明实施例涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种数据同步方法和系统。

背景技术

随着数字化变电站技术的不断发展，对模拟信号采集装置采集模拟信号的幅值和相位精度的要求越来越高，尤其是对三相交流电的相位同步性要求特别严格。

现有的数据同步技术中，通常需要采集的模拟信号的通道数比较多，且有些通道还需要考虑冗余采样，1片模数转换器芯片不能实现所有通道的同时采样，通常需要多片模数转换器芯片对所有通道同时采样。多片模数转换器芯片均由采样控制器控制。由于采样控制器的引脚有限，多片模数转换器芯片的采样数据总线是复用的，这样多片模数转换器芯片的采样控制就存在先后顺序，无法在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样，也即无法实现各组通道之间的模拟量采集数据的同步。

发明内容

本发明实施例提供一种数据同步方法和系统，以实现各组通道之间的模拟量采集数据的同步。

第一方面，本发明实施例提供了一种数据同步方法，包括：

在第一时刻，采样控制器控制第一模数转换器芯片对与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第一时刻的采样值；

在与所述第一时刻间隔为预设时间间隔的第二时刻，所述采样控制器控制第二模数转换器芯片对与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道的模拟信号进行采样，得到所述第二组通道在第二时刻的采样值；

在与所述第二时刻间隔为所述预设时间间隔的第三时刻，所述采样控制器控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第三时刻的采样值；

所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值；

其中，所述第一组通道的模拟信号与所述第二组通道的模拟信号为具有一定相关性的同一或不同模拟信号；

所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均与所述采样控制器连接。

第二方面，本发明实施例提供了一种数据同步系统，包括：

第一模数转换器芯片、第二模数转换器芯片和采样控制器；所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均与所述采样控制器连接；

所述采样控制器用于在第一时刻，控制第一模数转换器芯片对与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第一时刻的采样值；

在与所述第一时刻间隔为预设时间间隔的第二时刻，控制第二模数转换器芯片对与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道的模拟信号进行采样，得到所述第二组通道在第二时刻的采样值；

在与所述第二时刻间隔为所述预设时间间隔的第三时刻，控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第三时刻的采样值；

计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值；

其中，所述第一组通道的模拟信号与所述第二组通道的模拟信号为具有一定相关性的同一或不同模拟信号。

对于第一模数转换器芯片的采样数据总线与第二模数转换器芯片的采样数据总线复用，这样两片模数转换器芯片的采样控制就存在先后顺序，或者其他原因导致的无法在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样的情况，本实施例的技术方案，一方面，利用采样控制的先后顺序，分别得到与第一模数转换器芯片对应的第一组通道在第一时刻的采样值、与第二模数转换器芯片对应的第二组通道在第二时刻的采样值，以及与第一模数转换器芯片对应的第一组通道在第三时刻的采样值；另一方面，通过采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值，实现了在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样，保证了2片模数转换器芯片采集的两组通道数据的同步性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明，下面将对本发明中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种数据同步方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的一种数据同步系统的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种采样示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例中的技术方案作进一步详细描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明，而非对本发明的限定，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。

实施例一

请参阅图1，为本发明实施例一提供的一种数据同步方法的流程图。本发明实施例的方法可以由以硬件和/或软件实现的数据同步装置来执行，该实现装置典型的是配置于采样控制器中，并配合第一模数转换器芯片和第二模数转换器芯片实现。结合图2所示的数据同步系统对该方法进行说明。该系统包括：第一模数转换器芯片、第二模数转换器芯片和采样控制器。

通常需要采集的模拟信号的通道数比较多，且有些通道还需要考虑冗余采样，1片模数转换器芯片不能实现所有通道的同时采样，通常需要多片模数转换器芯片对所有通道同时采样。多片模数转换器芯片均由采样控制器控制。由于采样控制器的引脚有限，多片模数转换器芯片的采样数据总线是复用的。

在本实施例中，所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均与所述采样控制器连接，且所述第一模数转换器芯片的采样数据总线与所述第二模数转换器芯片的采样数据总线复用，这样两片模数转换器芯片的采样控制就存在先后顺序。

需要说明的是，除了所述第一模数转换器芯片的采样数据总线与所述第二模数转换器芯片的采样数据总线复用，这样两片模数转换器芯片的采样控制就存在先后顺序，导致无法在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样的情况，本实施例的方法同样适用于由其他原因导致的无法在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样的情况。

该方法包括：

步骤110、在第一时刻，采样控制器控制第一模数转换器芯片对与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第一时刻的采样值。

其中，第一模数转换器芯片内部具有设定数量的采样/保持放大器，可对与该设定数量相同的通道的模拟信号同时采样，该设定数量相同的通道即构成与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道。

示例性地，所述第一模数转换器芯片可包括MAX125芯片，MAX125芯片是MAXIM公司生产的高速2*4通道同步采样14位逐次比较型模数转换器芯片。MAX125芯片内部具有4个采样/保持放大器，可对4个通道的模拟信号同时采样，该4个通道即构成与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道。

下面对具体的采样过程进行简单介绍。

采样控制器对第一模数转换器芯片片选(也即，向所述第一模数转换器芯片发送片选信号CS1)后，采样控制器输出转换信号CVT1，第一模数转换器芯片接收到转换信号CVT1并判断其满足时序要求后返回中断信号INT1，采样控制器收到中断信号INT1后到采样数据总线上获取采样数据。

步骤120、在与所述第一时刻间隔为预设时间间隔的第二时刻，所述采样控制器控制第二模数转换器芯片对与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道的模拟信号进行采样，得到所述第二组通道在第二时刻的采样值。

其中，第二模数转换器芯片内部具有设定数量的采样/保持放大器，可对与该设定数量相同的通道的模拟信号同时采样，该设定数量相同的通道即构成与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道。

示例性地，所述第二模数转换器芯片可包括MAX125芯片。MAX125芯片内部具有4个采样/保持放大器，可对4个通道的模拟信号同时采样，该4个通道即构成与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道。

下面对具体的采样过程进行简单介绍。

采样控制器对第二模数转换器芯片片选(也即，向所述第二模数转换器芯片发送片选信号CS2)后，采样控制器输出转换信号CVT2，第二模数转换器芯片接收到转换信号CVT2并判断其满足时序要求后返回中断信号INT2，采样控制器收到中断信号INT2后到采样数据总线上获取采样数据。

其中，所述第一组通道的模拟信号与所述第二组通道的模拟信号为具有一定相关性的同一或不同模拟信号。

所述第一组通道的模拟信号可包括：线性信号、电力系统中的三相电压信号或三相电流信号(即，频率为50Hz正弦信号)。

下面对所述预设时间间隔的选取进行介绍。

所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片相同，所述第一模数转换器芯片的最高采样率与所述第二模数转换器芯片的最高采样率相同。

所述预设时间间隔不小于1/该相同的最高采样率。

示例性地，在所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均采用MAX125芯片时，所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片的最高采样率均为76ksp，所述预设时间间隔不小于1/76ksp。

所述预设时间间隔的最大值可以根据所述第一组通道的模拟信号的波形以及实际的采样需求进行确定。

步骤130、在与所述第二时刻间隔为所述预设时间间隔的第三时刻，所述采样控制器控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第三时刻的采样值。

示例性地，在所述第一组通道的模拟信号包括电力系统中的三相电压信号或三相电流信号，所述第二组通道的模拟信号为与所述第一通道的模拟信号具有一定相关性的不同模拟信号时，对应的采样示意图如图3所示。t-Ts/2、t和t+Ts/2分别为第一时刻、第二时刻和第三时刻，Ts/2为预设时间间隔。

步骤140、所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值。

对于第一模数转换器芯片的采样数据总线与第二模数转换器芯片的采样数据总线复用，这样两片模数转换器芯片的采样控制就存在先后顺序，或者其他原因导致的无法在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样的情况，本实施例的技术方案，一方面，利用采样控制的先后顺序，分别得到与第一模数转换器芯片对应的第一组通道在第一时刻的采样值、与第二模数转换器芯片对应的第二组通道在第二时刻的采样值，以及与第一模数转换器芯片对应的第一组通道在第三时刻的采样值；另一方面，通过采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值，实现了在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样，保证了2片模数转换器芯片采集的两组通道数据的同步性。

在上述方案中，所述采样控制器可包括：FPGA(Field－Programmable GateArray，现场可编程门阵列)。

实施例二

本实施例提供一种数据同步方法。本实施例在上述实施例的基础上，提供了在所述第一组通道的模拟信号包括电力系统中的三相电压信号或三相电流信号时，在所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值之后，对所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值进行误差补偿的优选方案。

该优选方法包括：

所述采样控制器确定所述第一组通道在第一时刻、第二时刻和第三时刻各自的理论采样值；

所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的理论采样值与所述第一组通道在第三时刻的理论采样值的理论平均值；

所述采样控制器根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数；

所述采样控制器根据所述误差系数对所述实际平均值进行补偿，将补偿结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值。

具体的，所述采样控制器利用下述公式，根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数：

x₀(t-Ts/2)＝X_mSin[ω(t-Ts/2)+α]

x₀(t)＝X_mSin[ωt+α]

$\begin{array}{c}{x}_0(t+Ts/2)=X_{m}Sim\[\mathrm{\ω}(t+Ts/2)+\mathrm{\α}\]\\ \frac{x_0(t-Ts/2)+x_0(t+Ts/2)}{2}=\frac{1}{2}\{X_{m}Sim\[\mathrm{\ω}(t-Ts/2)+\mathrm{\α}\]+X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}(t+Ts/2)+\mathrm{\α}\]\}\\ =X_{m}Sin(\mathrm{\ω}t+\mathrm{\α})\·Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)\end{array}$

其中，t为第二时刻，Ts/2为所述预设时间间隔，t-Ts/2为第一时刻，t+Ts/2为第三时刻；X_m、ω和α分别为电力系统中的三相电压信号或三相电流信号的振幅、角频率和初始相位；x₀(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的理论采样值，x₀(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的理论采样值，为所述理论平均值，x₀(t)为所述第一通道在第二时刻的理论采样值，为误差系数；

相应的，所述补偿结果为：

$x\left(t\right)=\frac{1}{Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)}\·\frac{x(t-Ts/2)+x(t+Ts/2)}{2}$

x(t)为所述补偿结果，x(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的采样值，x(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的采样值，为所述实际平均值。

本实施例的技术方案，通过确定误差系数，并利用误差系数对第一组通道在第一时刻的采样值与第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值进行误差补偿，在实现在同一时刻通过不同的模数转换器芯片对各自对应的各组通道的模拟信号进行同步采样的同时，使得第一组通道在第二时刻的采样值更精确。

实施例三

请参阅图2，为本发明实施例提供的一种数据同步系统的结构示意图。该系统包括：第一模数转换器芯片、第二模数转换器芯片和采样控制器。

所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均与所述采样控制器连接。

所述采样控制器用于在第一时刻，控制第一模数转换器芯片对与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第一时刻的采样值；

在与所述第一时刻间隔为预设时间间隔的第二时刻，控制第二模数转换器芯片对与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道的模拟信号进行采样，得到所述第二组通道在第二时刻的采样值；

在与所述第二时刻间隔为所述预设时间间隔的第三时刻，控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第三时刻的采样值；

计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值；

其中，所述第一组通道的模拟信号与所述第二组通道的模拟信号为具有一定相关性的同一或不同模拟信号。

在上述方案中，所述第一组通道的模拟信号可包括：线性信号、电力系统中的三相电压信号或三相电流信号。

在上述方案中，所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片相同，所述第一模数转换器芯片的最高采样率与所述第二模数转换器芯片的最高采样率相同；

所述预设时间间隔不小于1/该相同的最高采样率。

在上述方案中，在所述第一组通道的模拟信号包括电力系统中的三相电压信号或三相电流信号时，所述采样控制器还可用于：

在计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值之后，确定所述第一组通道在第一时刻、第二时刻和第三时刻各自的理论采样值；

计算所述第一组通道在第一时刻的理论采样值与所述第一组通道在第三时刻的理论采样值的理论平均值；

根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数；

根据所述误差系数对所述实际平均值进行补偿，将补偿结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值。

进一步地，所述采样控制器具体可用于利用下述公式，根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数：

x₀(t-Ts/2)＝X_mSin[ω(t-Ts/2)+α]

x₀(t)＝X_mSin[ωt+α]

$x_0(t+Ts/2)=X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}(t+Ts/2)+\mathrm{\α}\]$

$\begin{array}{c}\frac{x_0(t-Ts/2)+x_0(t+Ts/2)}{2}=\frac{1}{2}\{X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}(t-Ts/2)+\mathrm{\α}\]+X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}(t+Ts/2)+\mathrm{\α}\]\}\\ =X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}t+\mathrm{\α}\]\·Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)\end{array}$

其中，t为第二时刻，Ts/2为所述预设时间间隔，t-Ts/2为第一时刻，t+Ts/2为第三时刻；X_m、ω和α分别为电力系统中的三相电压信号或三相电流信号的振幅、角频率和初始相位；x₀(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的理论采样值，x₀(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的理论采样值，为所述理论平均值，x₀(t)为所述第一通道在第二时刻的理论采样值，为误差系数；

相应的，所述补偿结果为：

$x\left(t\right)=\frac{1}{Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)}\·\frac{x(t-Ts/2)+x(t+Ts/2)}{2}$

x(t)为所述补偿结果，x(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的采样值，x(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的采样值，为所述实际平均值。

本发明实施例提供的数据同步系统可执行本发明任意实施例所提供的数据同步方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

最后应说明的是：以上各实施例仅用于说明本发明的技术方案，而非对其进行限制；实施例中优选的实施方式，并非对其进行限制，对于本领域技术人员而言，本发明可以有各种改动和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种数据同步方法，其特征在于，包括：

在第一时刻，采样控制器控制第一模数转换器芯片对与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第一时刻的采样值；

在与所述第一时刻间隔为预设时间间隔的第二时刻，所述采样控制器控制第二模数转换器芯片对与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道的模拟信号进行采样，得到所述第二组通道在第二时刻的采样值；

在与所述第二时刻间隔为所述预设时间间隔的第三时刻，所述采样控制器控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第三时刻的采样值；

所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值；

其中，所述第一组通道的模拟信号与所述第二组通道的模拟信号为具有一定相关性的同一或不同模拟信号；

所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均与所述采样控制器连接。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一组通道的模拟信号包括：线性信号、电力系统中的三相电压信号或三相电流信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片相同，所述第一模数转换器芯片的最高采样率与所述第二模数转换器芯片的最高采样率相同；

所述预设时间间隔不小于1/该相同的最高采样率。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述第一组通道的模拟信号包括电力系统中的三相电压信号或三相电流信号时，在所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值之后，所述方法还包括：

所述采样控制器确定所述第一组通道在第一时刻、第二时刻和第三时刻各自的理论采样值；

所述采样控制器计算所述第一组通道在第一时刻的理论采样值与所述第一组通道在第三时刻的理论采样值的理论平均值；

所述采样控制器根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数；

所述采样控制器根据所述误差系数对所述实际平均值进行补偿，将补偿结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述采样控制器利用下述公式，根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数：

x₀(t-Ts/2)＝X_mSin[ω(t-Ts/2)+α]

x₀(t)＝X_mSin[ωt+α]

x₀(t+Ts/2)＝X_mSin[ω(t+Ts/2)+α]

$\begin{array}{c}\frac{x_0\left(t-Ts/2\right)+x_0\left(t+Ts/2\right)}{2}=\frac{1}{2}\left\{X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}\left(t-Ts/2\right)+\mathrm{\α}\]+X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}\left(t+Ts/2\right)+\mathrm{\α}\]\right\}\\ =X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}t+\mathrm{\α}\]\·Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)\end{array}$

其中，t为第二时刻，Ts/2为所述预设时间间隔，t-Ts/2为第一时刻，t+Ts/2为第三时刻；X_m、ω和α分别为电力系统中的三相电压信号或三相电流信号的振幅、角频率和初始相位；x₀(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的理论采样值，x₀(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的理论采样值，为所述理论平均值，x₀(t)为所述第一通道在第二时刻的理论采样值，为误差系数；

相应的，所述补偿结果为：

$x\left(t\right)=\frac{1}{Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)}\·\frac{x(t-Ts/2)+x(t+Ts/2)}{2}$

x(t)为所述补偿结果，x(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的采样值，x(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的采样值，为所述实际平均值。

6.一种数据同步系统，其特征在于，包括：

第一模数转换器芯片、第二模数转换器芯片和采样控制器；所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片均与所述采样控制器连接；

所述采样控制器用于在第一时刻，控制第一模数转换器芯片对与所述第一模数转换器芯片对应的第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第一时刻的采样值；

在与所述第一时刻间隔为预设时间间隔的第二时刻，控制第二模数转换器芯片对与所述第二模数转换器芯片对应的第二组通道的模拟信号进行采样，得到所述第二组通道在第二时刻的采样值；

在与所述第二时刻间隔为所述预设时间间隔的第三时刻，控制第一模数转换器芯片对所述第一组通道的模拟信号进行采样，得到所述第一组通道在第三时刻的采样值；

计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值，将计算结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值；

其中，所述第一组通道的模拟信号与所述第二组通道的模拟信号为具有一定相关性的同一或不同模拟信号。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述第一组通道的模拟信号包括：线性信号、电力系统中的三相电压或三相电流信号。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第一模数转换器芯片与所述第二模数转换器芯片相同，所述第一模数转换器芯片的最高采样率与所述第二模数转换器芯片的最高采样率相同；

所述预设时间间隔不小于1/该相同的最高采样率。

9.根据权利要求7或8所述的系统，其特征在于，在所述第一组通道的模拟信号包括电力系统中的三相电压信号或三相电流信号时，所述采样控制器还用于：

在计算所述第一组通道在第一时刻的采样值与所述第一组通道在第三时刻的采样值的实际平均值之后，确定所述第一组通道在第一时刻、第二时刻和第三时刻各自的理论采样值；

计算所述第一组通道在第一时刻的理论采样值与所述第一组通道在第三时刻的理论采样值的理论平均值；

根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数；

根据所述误差系数对所述实际平均值进行补偿，将补偿结果作为所述第一组通道在第二时刻的采样值。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述采样控制器具体用于利用下述公式，根据所述理论平均值和所述第一通道在第二时刻的理论采样值，确定误差系数：

x₀(t-Ts/2)＝X_mSin[ω(t-Ts/2)+α]

x₀(t)＝X_mSin[ωt+α]

x₀(t+Ts/2)＝X_mSin[ω(t+Ts/2)+α]

$\begin{array}{c}\frac{x_0\left(t-Ts/2\right)+x_0\left(t+Ts/2\right)}{2}=\frac{1}{2}\left\{X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}\left(t-Ts/2\right)+\mathrm{\α}\]+X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}\left(t+Ts/2\right)+\mathrm{\α}\]\right\}\\ =X_{m}Sin\[\mathrm{\ω}t+\mathrm{\α}\]\·Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)\end{array}$

其中，t为第二时刻，Ts/2为所述预设时间间隔，t-Ts/2为第一时刻，t+Ts/2为第三时刻；X_m、ω和α分别为电力系统中的三相电压信号或三相电流信号的振幅、角频率和初始相位；x₀(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的理论采样值，x₀(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的理论采样值，为所述理论平均值，x₀(t)为所述第一通道在第二时刻的理论采样值，为误差系数；

相应的，所述补偿结果为：

$x\left(t\right)=\frac{1}{Cos\left(\frac{\mathrm{\ω}Ts}{2}\right)}\·\frac{x(t-Ts/2)+x(t+Ts/2)}{2}$

x(t)为所述补偿结果，x(t-Ts/2)为所述第一组通道在第一时刻的采样值，x(t+Ts/2)为所述第一组通道在第三时刻的采样值，为所述实际平均值。