CN106093595A - 大电容组件放电时间检测装置 - Google Patents

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郑健民
胡帆
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance

Abstract

本发明公开了一种大电容组件放电时间检测装置，包括输入/输出接口电路、供电电源控制电路、电压检测比较电路和放电时间测量电路，输入/输出接口电路与大电容组件连接；该装置还包括均与该放电时间测量电路连接的显示电路、按钮电路和电源稳压电路；电压检测比较电路与输入/输出接口电路、放电时间测量电路连接。本发明使用方便，操作简单，实用性较好，经济价值高。

Description

大电容组件放电时间检测装置
技术领域
本发明涉及电子测试技术领域，尤其是涉及一种大电容组件放电时间检测装置。
背景技术
目前新研制的电子程序控制器采用组件维持产品正常供电，对大电容组件维持产品正常供电时间应不小于0.6s。为了确保电子程序控制器提供不间断供电，该大容量电容器组件的技术指标应满足某型技术规范要求，入所进行复验，产品总装完成后，必须对大容量电容器放电时间进行检测，要求放电时间应大于2秒。目前采用示波器记录两测试点的电压变化波形方法进行检测，操作困难，使用很不方便，检测效率低，为了提高工作效率，降低成本，需要研制一种大电容组件放电时间检测装置，解决产品生产过程中的对电子程序控制器大电容放电时间进行检测。
发明内容
本发明的主要目的，在于提供一种检测效率高的大电容组件的放电时间检测装置。
本发明为实现上述目的所采用的技术方案是：
提供一种大电容组件放电时间检测装置，包括输入/输出接口电路、供电电源控制电路、电压检测比较电路和放电时间测量电路，输入/输出接口电路与大电容组件连接；
该装置还包括均与该放电时间测量电路连接的显示电路、按钮电路和电源稳压电路；电压检测比较电路与输入/输出接口电路、放电时间测量电路连接。
本发明所述的大电容组件放电时间检测装置中，供电电源控制电路包括晶体管、继电器和光电耦合器，当按下按钮电路中的检测按钮后，放电时间测量电路输出高电平送入晶体管的基极，驱动继电器工作，电源经继电器送入大电容组件，对电容进行充电。
本发明所述的大电容组件放电时间检测装置中，电压检测比较电路包括集成电路LM339。
本发明所述的大电容组件放电时间检测装置中，放电时间测量电路包括单片机系统电路和上电自动复位电路。
本发明所述的大电容组件放电时间检测装置中，显示电路为数字显示电路，包括多个数码管。
本发明所述的大电容组件放电时间检测装置中，电源稳压电路包括28v直流电源、限流保护电阻和电容滤波电路。
本发明产生的有益效果是：本发明的大电容组件放电时间检测装置，使用方便，操作简单，放电时间测量电路采用定时器中断计数方法实现大电容组件放电时间检测，使用时只要按动测量按键，便可对大电容组件放电时间进行检测，因此实用性较好，经济价值高。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1 为本发明大电容组件放电时间检测装置的结构框图；
图2为本发明实施例单片机系统电路图；
图3为本发明实施例电源供电控制电路；
图4为本发明实施例电压检测比较电路；
图5为本发明实施例数码管显示电路图；
图6为本发明实施例电源稳压电路图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1所示，本发明实施例大电容组件放电时间检测装置包括输入/输出接口电路、供电电源控制电路、电压检测比较电路和放电时间测量电路，输入/输出接口电路与大电容组件连接。
该装置还包括均与该放电时间测量电路连接的显示电路、按钮电路和电源稳压电路；电压检测比较电路与输入/输出接口电路、放电时间测量电路连接。
如图2所示，放电时间测量电路包括单片机系统电路，具体采用AT89C52单片机I/O口控制和定时器中断计时实现大电容组件放电时间的检测，单片机采用12MHz晶振，工作周期为1us，由Y1、C2和C3组成，R1和C1为上电自动复位电路。单片机I/O口P0.0为计时启动控制，当按下检测按钮后，P0.0口由低“0”变高“1”启动单片机内部计时器工作，当单片机检测到P0.2口由高“1”变低“0”终止计时，单片机自动对数据进行计算处理后并存入单片机内部RAM。
请参阅图3，供电电源控制电路主要由晶体管Q1、继电器JK1和光电耦合器A1等器件组成，当按下按钮电路的检测按钮后，单片机P0.7口输出高电平送入晶体管Q1基极，驱动继电器JK1工作，+28V电源经JK1送入大电容组件，对电容进行充电，充电一分钟后自动切断充电电源，终止对大电容组件充电。光电耦合器A1和电阻R18组成大电容放电计时启动控制，当大电容终止充电后，光电耦合器A1输入为低电平，控制单片机口P0.0口由低变高，启动单片机内部定时间工作，开始放电计时，电路中所述光电耦合器为PC817。
请参阅图4，电压检测比较电路主要采用集成电路LM339，由D1、U3、C10和电阻R13、R14、R15、R16、R20、R21、R22、R23组成，大电容组件+5V输出电压经电阻R13送入U3集成电路，当+5V电压正常时，U3正输入端小于负输入端约0.2V，U3输出为低电平，送入光电耦合器A2输入为低，A2输出开路，单片机P0.2口为高电平，当大电容组件+5V输出电压变小时，U3正极输入端接有电容器C10，使U3输入正极维持不变，而U3负极输入端没有接电容器，+5V电压变化直接影响U3负极输入端，当U3的正极输入高于负极输入，U3输出端由低变高，控制光电耦合器A2输入变高，输出变低，使单片机P0.2为低，停止单片机内部计时器计时。单片机进行数据处理后将数据自动存入内部RAM，实现大电容组件放电时间检测。
请参阅图5，显示电路为数字显示电路，包括多个数码管。具体采用动态工作方式，由于所用DS1数码管的工作电流较小，采用单片机P0口和P2口直接驱动，这样电路简单，工作可靠，P0口为高电平，P2口低电平数码管显示，所述6位一体数码管型号为3361BS。
电源稳压电路包括直流电源、第一电容滤波电路、LM7805集成电路和第二电容滤波电路，直流电源的28V电压经第一电容滤波电路，送入LM7805集成电路稳压，再由第二电容滤波电路滤波，输出5V直流电源给单片机。请参阅图6，本发明实施例中，电源稳压电路采用28v直流供电，电阻R12为限流保护电阻，28V电压经C4、C5 、C7和C8电容滤波电路，送入LM7805集成电路稳压，再由C6和C9电容滤波，提供单片机的5V直流电源，确保单片机时序控制可靠。
应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (6)

1.一种大电容组件放电时间检测装置，其特征在于，包括输入/输出接口电路、供电电源控制电路、电压检测比较电路和放电时间测量电路，输入/输出接口电路与大电容组件连接；
该装置还包括均与该放电时间测量电路连接的显示电路、按钮电路和电源稳压电路；电压检测比较电路与输入/输出接口电路、放电时间测量电路连接。
2.根据权利要求1所述的大电容组件放电时间检测装置，其特征在于，供电电源控制电路包括晶体管、继电器和光电耦合器，当按下按钮电路中的检测按钮后，放电时间测量电路输出高电平送入晶体管的基极，驱动继电器工作，电源经继电器送入大电容组件，对电容进行充电。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，电压检测比较电路包括集成电路LM339。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，放电时间测量电路包括单片机系统电路和上电自动复位电路。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，显示电路为数字显示电路，包括多个数码管。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，电源稳压电路包括直流电源、第一电容滤波电路、LM7805集成电路和第二电容滤波电路，直流电源的28V电压经第一电容滤波电路，送入LM7805集成电路稳压，再由第二电容滤波电路滤波，输出5V直流电源给单片机。
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