CN106093089A - 安检设备和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种安检设备和方法，涉及辐射技术领域。其中，本发明的安检设备包括：射线发射装置；背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离；方位调节装置，用于根据尺寸距离检测装置检测的待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置。这样的安检设备能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而能够减少或避免产生探测死角，提高探测的准确度。

Description

安检设备和方法

技术领域

本发明涉及辐射技术领域，特别是一种安检设备和方法。

背景技术

X射线背散射成像在安检中得到了越来越多的重视，该技术能够很好的检查出低原子序数物品的物质。具体实施方式是：飞轮绕射线源靶心旋转，形成笔行束，笔行束和被检物品相互作用，通过康普顿散射形成飞点。背散射探测器收集任一时刻飞点的X射线背散射射线，经处理，得到该飞点时刻的物质信息，即形成背散射图像。连续扫描后，就能处理并得到整个被检物品的内部信息，可以突出显示隐藏在车门夹层，车底等隐蔽位置的原子序数较低的物品，比如炸药、毒品等违禁品。

现有飞点装置是辐射源产生扇形X射线，扇形X射线穿过带有多准直孔的旋转屏蔽体，连续产生笔行束，实现第一维的扫描，通过旋转或者平移射线扫描扇面实现第二维的扫描。

但是，对于一排不同大小的物品，现有背散射装置在竖直和水平扫描位置和扫描角度固定不动，可能会导致出图视角不好，使待测物体内部结构形成遮挡或重叠，可疑物品在该角度下辨识度不高。

发明内容

本发明的一个目的在于提出一种根据待测物体情况灵活调节射线源位置的安检方案。

根据本发明的一个方面，提出一种安检设备，包括：射线发射装置；背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离；和，方位调节装置，用于根据尺寸距离检测装置检测的待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置。

进一步地，方位调节装置还用于根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度。

进一步地，尺寸距离检测装置包括多个传感器，用于通过判断面前障碍物的高度确定待测物体的高度。

进一步地，尺寸距离检测装置还包括：摄像机，位于水平面上安检设备与待测物体的中垂线上的一点，且向安检设备与待测物体的中垂线方向拍摄；计算装置，用于获取待测物体在视频图像中的图像距离和图像高度，根据图像距离和图像高度的比值，以及传感器确定的待测物体的高度，确定待测物体与尺寸距离检测装置的距离。

进一步地，方位调节装置还用于根据待测物体的高度和/或与尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整射线发射装置的高度和射线发射角度。

进一步地，方位调节装置还用于根据待测物体的高度和/或与尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整射线发射装置与待测物体的距离。

进一步地，方位调节装置还用于根据待测物体的高度和/或与尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度，根据射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度调整射线发射装置的高度和射线发射角度。

进一步地，方位调节装置还用于根据待测物体的高度和/或与尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定射线发射装置与待测物体的理想距离，根据射线发射装置与待测物的理想距离调整射线发射装置与待测物体的距离。

进一步地，还包括：方位调节装置还用于根据射线发射装置的高度和射线发射角度按照档位调节背散射探测器的角度；或，根据射线发射装置的高度和射线发射角度确定背散射探测器的理想角度，根据理想角度调节背散射探测器的角度。

进一步地，背散射探测器为弧面形。

进一步地，射线发射装置包括：射线源，位于射线发射装置的中央；空间调制器，位于射线源与背散射探测器之间，包括固定屏蔽板，和位于待测物体与固定屏蔽板之间的旋转屏蔽板；旋转屏蔽板上包括一个以上通孔。

进一步地，还包括运输工具，用于承载和移动安检设备。

进一步地，还包括：控制装置，用于根据探测需要手动控制方位调节装置执行调节操作。

进一步地，还包括处理器，用于接收来自背散射探测器的探测信号，分析待测物体。

这样的安检设备能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而能够减少或避免产生探测死角，提高探测的准确度。

根据本发明的另一个方面，提出一种安检方法，包括：获取待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离；根据待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置；通过背散射探测器获取背散射探测数据；根据背散射探测数据获取探测结果。

进一步地，还包括：根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度。

进一步地，获取待测物体的高度包括：利用多个传感器通过判断面前障碍物的高度确定待测物体的高度。

进一步地，获取待测物体与尺寸距离检测装置的距离包括：利用位于水平面上安检设备与待测物体的中垂线上一点的摄像机向安检设备与待测物体的中垂线方向拍摄，获取视频图像；获取待测物体在视频图像中的图像距离和图像高度；根据图像距离和图像高度的比值，以及待测物体的高度，确定待测物体与尺寸距离检测装置的距离。

进一步地，根据待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置还包括：根据待测物体的高度、与尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整射线发射装置的高度和射线发射角度。

进一步地，根据待测物体的高度、与尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整射线发射装置与待测物体的距离。

进一步地，根据待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置还包括：根据待测物体的高度和/或与尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度，根据射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度调整射线发射装置的高度和射线发射角度。

进一步地，根据待测物体的高度和/或与尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定射线发射装置与待测物体的理想距离，根据射线发射装置与待测物体的理想距离调整射线发射装置与待测物体的距离。

进一步地，根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度还包括：根据射线发射装置的高度和射线发射角度按照档位调节背散射探测器的角度。

进一步地，根据射线发射装置的高度和射线发射角度确定背散射探测器的理想角度，根据理想角度调节背散射探测器的角度。

进一步地，还包括：根据探测需要手动调节射线发射装置的位置和/或背散射探测器的角度。

进一步地，根据探测需要手动调节射线发射装置的位置和/或背散射探测器的角度为：根据探测需要多次手动调节射线发射装置的位置和/或背散射探测器的角度；通过背散射探测器获取背散射探测数据为：获取每次调节射线发射装置的位置、背散射探测器的角度后的背散射探测数据；根据背散射探测数据获取探测结果为：综合分析每次背散射探测数据，确定探测结果。

通过这样的方法，能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而能够减少或避免产生探测死角，提高探测的准确度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的安检设备的一个实施例的示意图。

图2为本发明的安检设备的另一个实施例的示意图。

图3为本发明的安检设备的射线发射装置的一个实施例的示意图。

图4为本发明的安检设备确定待测物体与尺寸距离检测装置的距离的一个实施例的原理图。

图5为本发明的安检设备的又一个实施例的示意图。

图6为本发明的安检设备的再一个实施例的示意图。

图7为本发明的安检方法的一个实施例的流程图。

图8为本发明的安检方法的另一个实施例的流程图。

图9为本发明的安检方法中确定待测物体高度和与尺寸距离检测装置距离的一个实施例的流程图。

图10为本发明的安检方法的又一个实施例的流程图。

图11为本发明的安检方法的再一个实施例的流程图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

现有的X射线检查设备各部分的位置相对固定，不能根据待测物体的尺寸、位置实时调整，很可能使背散射扫描结果图像效果差：比如射线出射位置固定，导致出图视角不好，使内部结构形成遮挡或重叠，可疑物品在该角度下辨识度不高。

本发明的安检设备的一个实施例的示意图如图1所示。其中，1为射线发射装置，能够向待测物体4发射出射线3。背散射探测器能够获取背散射射线，生成背散射数据。安检设备还包括尺寸距离检测装置5，位于射线发射装置1与待测物体4之间，能够检查待测物体4的尺寸，以及待测物体4与尺寸距离检测装置的距离。方位调节装置6能够根据尺寸距离检测装置检测到的待测物体的尺寸、待测物体与尺寸距离检测装置之间的距离调节射线发射装置的位置。如图1中虚线所示，方位调节装置可以调整射线发射装置的高度、发射角度等。例如，当检查到待测物体高度较高时，降低射线发射装置的位置，向水平偏上的角度发射射线束；当检测到待测物体高度较低时，提高射线发射装置的位置，向水平偏下的角度发射射线束；当检测到待测物体与尺寸距离检测装置的距离较远时，缩小射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离；当检测到待测物体与尺寸距离检测装置的距离较近时，增加射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离。

这样的安检设备能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而能够减少或避免产生探测死角，更好的分辨隐藏在待测物体内部的如炸药、毒品等违禁品，提高探测的准确度。

在一个实施例中，背散射探测器可以为弧面形，这样的安检设备能够更好的接收背散射射线，从而生成更好的背散射数据。

在一个实施例中，方位调节装置还能够根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度。如图2所示，当射线发射装置1调整到图中上部虚线的射线探测器1的位置时，调整背散射探测器到背散射探测器2下部虚线的角度；当射线发射装置1调整到图中下部虚线的射线探测器1的位置时，调整背散射探测器到背散射探测器2上部虚线的角度；当射线发射装置1位于中间实线位置时，调整背散射探测器位于中间实线所绘背散射探测器2的角度。

这样的安检设备中，能够根据待测物体的位置、尺寸调整射线发射装置的位置，根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度，从而更好的接收背散射射线，获取更加准确、完整的背散射数据。

在一个实施例中，射线发射装置1的一个实施例的示意图如图3所示。其中11为射线源，能够发射出X射线3。12为固定屏蔽板，能够限制射线3以固定的角度向固定方向发射。13为旋转屏蔽体，旋转屏蔽体13上具有至少一个通孔14。旋转屏蔽体13不停旋转，当通孔14到达固定屏蔽板12限制射线3的发射范围时，射线通过通孔14发射出，形成飞点束。

这样的安检设备中，射线发射装置能够以预定的频率、角度发射出射线，易于根据需要进行调整、控制。

在一个实施例中，尺寸距离检测装置包括多个传感器，能够通过判断面前障碍物高度的方式确定待测物体的高度。在一个实施例中，尺寸距离检测装置具有一列传感器，能够通过判断哪几个传感器面前有障碍物的方式判断待测物体的高度。

这样的安检设备能够通过现有的、易于装配的设备实现待测物体尺寸的确定，成本低，易于推广运用。

在一个实施例中，位于水平面上安检设备与待测物体的中垂线上的一点具有摄像机，且向安检设备与待测物体的中垂线方向拍摄，能够获取待测物体的视频图像。视频图像的视角可以如图4中所示。基于该视频图像，能够获取在图像中待测物体与尺寸距离检测装置的图像距离d，以及待测物体在图像中的图像高度h。由于利用传感器能够获取待测物体的实际高度H，如图4中所示，图中，左侧物体为安检设备，右侧物体为待测物体。待测物体与尺寸距离检测装置的实际距离为D。根据公式

D＝(dH)/h

确定待测物体与摄像机的实际距离，即为待测物体与尺寸距离检测装置之间的距离。

这样的安检设备能够通过巧妙的应用传感器、摄像机，以及配合数据分析，获取待测物体的尺寸、与尺寸距离检测装置的距离，从而为调节射线发射装置的位置、背散射探测器的角度提供了数据基础。

在一个实施例中，传感器附近设置有三维摄像机，能够直接获取待测物体与摄像机之间的距离信息。这样的设备构成更加简单，且省略了计算的操作，提高了设备的反应速度。

在一个实施例中，根据待测物体的实际尺寸大小需求，可以设置多个档位，每个档位用于检测对应预定尺寸范围内的待测物体。在一个实施例中，待测物体可以为待测车辆。由于车辆的尺寸相对固定，具体可分为大型车、中型车、小型车三种，可以根据车辆尺寸的大小设定射线发射装置1和背散射探测器2的档位。如图5中所示，可以设置a、b、c三个档位，其中，b档位为基准档位，射线发射装置位于中部，朝水平方向拍摄；a档位的射线发射装置位于基准位置向上60cm左右，朝水平偏下30度角方向发射射线；c档位的射线发射装置位于基准位置向下60cm左右，朝水平偏上30度较的方向发射射线。

针对小型车可以采用a档位，中型车采用b档位，大型车采用c档位。根据待测车辆的大小，调整射线发射装置1和背散射探测器2处于对应档位的位置和角度。这样的安检设备能够预定的档位调整射线发射装置的位置和背散射探测器的角度，对设备的要求低，反应速度快，便于推广应用。

在一个实施例中，可以在获取待测物体的高度、与尺寸距离检测装置的距离后，基于预定的策略计算出射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度，调整射线发射装置位于理想高度，按照理想角度发射射线。这样的安检设备适用于检测各种尺寸的待测物体，能够根据检测待测物体的最优的射线发射装置的高度、角度调整射线发射装置，从而获取更准确的探测数据，达到更好的探测效果。

在一个实施例中，还可以为射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离也设置多个档位，调整射线发射装置的水平位置。由于从背散射探测的原理来看，射线发射装置与待测物体距离越近效果越好，但由于射线发射装置的辐射角度有限，因此要在保证辐射角度覆盖待测区域的前提下拉近射线发射装置与待测物体的距离，该距离即为射线发射装置与待测物体的理想探测距离。

若射线发射装置与待测物体的理想探测距离为D1，尺寸距离检测装置与待测物体的距离为D，则射线发射装置与尺寸距离检测装置的理想距离为D1-D，因此，选择射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离最接近D1-D的档位，将射线发射装置调整到对应的档位。如设置射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离有a、b、c三个档位，射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离分别为45cm、60cm、75cm。根据待测物体的尺寸，确定待测物体与射线发射装置的理想距离为2m，待测物体与尺寸距离检测装置的距离为1.5m，因此需要调整尺寸距离检测装置与射线发射装置之间为50cm，则调整射线发射装置位于档位a的位置。

这样的安检设备能够根据待测物体与尺寸距离检测装置的距离调整射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离，实现调整射线发射装置与待测物体之间的距离，一方面优化了探测效果；另一方面按照档位调整降低了对安检设备与待测物体距离的要求，使安检过程更加方便易行。

在一个实施例中，可以根据射线发射装置与待测物体的理想探测距离D1、尺寸距离检测装置与待测物体的距离D计算出射线发射装置与尺寸距离检测装置的理想距离为D1-D，调整射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离为理想距离。如根据待测物体的尺寸，确定待测物体与射线发射装置的理想距离为2m，待测物体与尺寸距离检测装置的距离为1.5m，因此需要调整尺寸距离检测装置与射线发射装置之间为50cm，则调整射线发射装置位于与尺寸距离检测装置相距50cm的位置。

这样的安检设备能够根据理想的待测物体射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置，进一步优化了探测效果。

本发明的安检设备的再一个实施例的示意图如图6所示。安检设备还包括运载工具7，能够承载和移动安检设备，能够针对突发事件灵活调度，便于运输；占地面积小，且能够在待测物体不方便移动的情况下通过移动安检设备来实现连续多个待测物体的检测，使用方便，便于推广应用。

在一个实施例中，安检设备还包括处理器，能够接收来自背散射探测器的探测信号，生成背散射探测图像，分析待测物体，生成探测结果。这样的安检设备能够实时获得探测图像和探测结果，提高了检测效率

在一个实施例中，安检设备还包括控制装置，工作人员能够通过控制装置手动调整射线探测装置的位置以及背散射探测器的角度。使用这样的安检设备，工作人员可以根据探测需要，多角度、位置调节射线探测设备和背散射探测器，帮助辨别可疑物体，提高探测的准确性。

本发明的安检方法的一个实施例的流程图如图7所示。

在步骤701中，利用尺寸距离检测装置获取待测物体的高度和待测物体与尺寸距离检测装置的距离。

在步骤702中，根据待测物体的高度和待测物体与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置。例如，当检查到待测物体高度较高时，降低射线发射装置的位置，向水平偏上的角度发射射线束；当检测到待测物体高度较低时，提高射线发射装置的位置，向水平偏下的角度发射射线束；当检测到待测物体与尺寸距离检测装置的距离较远时，缩小射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离；当检测到待测物体与尺寸距离检测装置的距离较近时，增加射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离。

在步骤703中，通过背散射探测器获取背散射探测数据。

在步骤704中，根据背散射探测数据获取探测结果。

通过这样的方法，能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而减少或避免产生探测死角，提高探测的准确度。

本发明的安检方法的另一个实施例的流程图如图8所示。

在步骤801中，利用尺寸距离检测装置获取待测物体的高度和待测物体与尺寸距离检测装置的距离。

在步骤802中，根据待测物体的高度和待测物体与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置。

在步骤803中，根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度。如图2所示，当射线发射装置1调整到图中上部虚线的射线探测器1的位置时，调整背散射探测器到背散射探测器2下部虚线的角度；当射线发射装置1调整到图中下部虚线的射线探测器1的位置时，调整背散射探测器到背散射探测器2上部虚线的角度；当射线发射装置1位于中间实线位置时，调整背散射探测器位于中间实线所绘背散射探测器2的角度。

在步骤804中，通过背散射探测器获取背散射探测数据。

在步骤805中，根据背散射探测数据获取探测结果。

通过这样的方法，能够根据待测物体的位置、尺寸调整射线发射装置的位置，根据射线发射装置的位置调节背散射探测器的角度，从而更好的接收背散射射线，获取更加准确、完整的背散射数据。

在一个实施例中，可以利用多个传感器判断面前障碍物高度，从而确定待测物体的高度。在一个实施例中，尺寸距离检测装置具有一列传感器，能够通过判断哪几个传感器面前有障碍物的方式判断待测物体的高度。这样的方法能够通过现有的、易于装配的设备实现待测物体尺寸的确定，成本低，易于推广运用。

在一个实施例中，可以利用靠近传感器的位置的摄像机向待测物体的方向拍摄，获取待测物体的视频图像，根据视频图像和利用传感器确定的待测物体的高度确定待测物体与摄像机的距离。如图9所示。

在步骤901中，通过判断面前障碍物高度确定待测物体的高度H。

在步骤902中，利用位于水平面上安检设备与待测物体的中垂线上一点的摄像机向安检设备与待测物体的中垂线方向拍摄。

在步骤903中，获取视频图像中待测物体的图像高度h，以及视频图像中待测物体与尺寸距离检测装置的图像距离d。

在步骤904中，待测物体与尺寸距离检测装置的实际距离为D。根据公式

D＝(dH)/h

确定待测物体与尺寸距离检测装置之间的距离。

通过这样的方法，能够通过巧妙的应用传感器、摄像机，以及配合数据分析，获取待测物体的尺寸、与尺寸距离检测装置的距离，从而为调节射线发射装置的位置、背散射探测器的角度提供了数据基础。

在一个实施例中，根据待测物体的实际尺寸大小需求，可以设置多个档位，每个档位用于检测对应预定尺寸范围内的待测物体。利用尺寸距离检测装置确定待测物体的尺寸；根据待测物体的尺寸确定对应的档位，将射线发射装置的位置、角度调整到对应档位。

在一个实施例中，确定待测物体与尺寸距离检测装置之间的距离D；根据待测物体的尺寸确定待测物体与射线发射装置之间的理想距离D1；确定射线发射装置与尺寸距离检测装置的理想距离为D1-D。选择射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离最接近D1-D的档位，调整射线发射装置的位置对应的档位。通过这样的方法，能够根据待测物体与尺寸距离检测装置的距离调整射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离，实现调整射线发射装置与待测物体之间的距离，一方面优化了探测效果；另一方面按照预定档位进行调整减低了对安检设备与待测物体距离的要求，使安检过程更加方便易行。

在一个实施例中，可以在获取待测物体的高度、与尺寸距离检测装置的距离后，基于预定的策略计算出射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度，调整射线发射装置位于理想高度，调整按照理想角度发射射线。通过这样的方法，能够针对检测待测物体的最优的射线发射装置的高度、角度调整射线发射装置的位置，从而获取更准确的探测数据，达到更好的探测效果。

在一个实施例中，可以根据射线发射装置与待测物体的理想探测距离D1、尺寸距离检测装置与待测物体的距离为D计算出射线发射装置与尺寸距离检测装置的理想距离为D1-D，调整射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离为理想距离。

通过这样的方法，能够根据理想的待测物体射线发射装置与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置，进一步优化了探测效果。

本发明的安检方法的又一个实施例的流程图如图10所示。

在步骤1001中，待测物体经过安检设备的探测区域。

在步骤1002中，安检设备的尺寸距离检测装置检测待测物体的尺寸，以及待测物体与尺寸距离检测装置的距离。

在步骤1003中，安检设备根据待测物体的尺寸，以及待测物体与尺寸距离检测装置的距离实时调整射线发射装置的位置、角度和背散射探测器的角度。射线发射装置向待测物体发出飞点束射线，背散射探测器接收背散射射线。

在步骤1004中，通过背散射探测器获取探测数据。可以根据背散射数据显示探测图像，确定探测结果。

通过这样的方法，能够实现根据待测物体的尺寸、距离实时调整射线发射装置的位置和背散射探测器的角度，实现对待测物体的快速检测，在优化检测效果的同时，可以连续扫描多个待测物体，待测物体的通过量高，检测速度快，保证了检测的效率。

本发明的安检方法的再一个实施例的流程图如图11所示。

在步骤1101中，可以采用图10所示实施例中的方式获取探测数据。

在步骤1102中，根据获取的探测数据确定可疑区域。可疑区域可以包括无法辨别的区域、探测死角或疑似违禁物品区域。

在步骤1103中，工作人员可以针对可疑区域重点探测。在一个实施例中，调整射线发射装置的位置、角度以及背散射探测器的角度，对可疑区域多次扫描。

在步骤1104中，通过对可疑区域的多次扫描，获取多次的探测数据。

在步骤1105中，根据多次探测的探测数据确定探测结果。

通过这样的方法，能够根据单次快速探测的数据确定待测物体的可疑区域，再调整射线发射装置的位置、角度以及背散射探测器的角度重点探测可疑区域，从而进一步优化探测结果。

最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制；尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换；而不脱离本发明技术方案的精神，其均应涵盖在本发明请求保护的技术方案范围当中。

Claims (21)

1.一种安检设备，其特征在于，包括：

射线发射装置；

背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；

尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测所述待测物体的尺寸和/或与所述尺寸距离检测装置的距离；和，

方位调节装置，用于根据所述尺寸距离检测装置检测的所述待测物体的尺寸和/或与所述尺寸距离检测装置的距离调节所述射线发射装置的位置。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述方位调节装置还用于根据所述射线发射装置的位置调节所述背散射探测器的角度。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述尺寸距离检测装置包括多个传感器，用于通过判断面前障碍物的高度确定所述待测物体的高度。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述尺寸距离检测装置还包括：

摄像机，位于水平面上所述安检设备与所述待测物体的中垂线上的一点，且向安检设备与所述待测物体的中垂线方向拍摄；

计算装置，用于获取待测物体在视频图像中的图像距离和图像高度，根据所述图像距离和图像高度的比值，以及所述传感器确定的待测物体的高度，确定所述待测物体与所述尺寸距离检测装置的距离。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述方位调节装置还用于根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整所述射线发射装置的高度和射线发射角度；

和/或，

所述方位调节装置还用于根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整所述射线发射装置与所述待测物体的距离。

6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述方位调节装置还用于根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定所述射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度，根据所述射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度调整所述射线发射装置的高度和射线发射角度；

和/或，

所述方位调节装置还用于根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定所述射线发射装置与所述待测物体的理想距离，根据所述射线发射装置与所述待测物体的理想距离调整所述射线发射装置与所述待测物体的距离。

7.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，还包括：所述方位调节装置还用于根据所述射线发射装置的高度和射线发射角度按照档位调节所述背散射探测器的角度；或，

根据所述射线发射装置的高度和射线发射角度确定所述背散射探测器的理想角度，根据所述理想角度调节所述背散射探测器的角度。

8.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述背散射探测器为弧面形。

9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述射线发射装置包括：

射线源，位于所述射线发射装置的中央；

空间调制器，位于所述射线源与所述背散射探测器之间，包括固定屏蔽板，和位于所述待测物体与所述固定屏蔽板之间的旋转屏蔽板；所述旋转屏蔽板上包括一个以上通孔。

10.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还包括运输工具，用于承载和移动所述安检设备。

11.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还包括：控制装置，用于根据探测需要手动控制所述方位调节装置执行调节操作。

12.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还包括处理器，用于接收来自所述背散射探测器的探测信号，分析待测物体。

13.一种安检方法，其特征在于，包括：

获取待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离；

根据所述待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置；

通过背散射探测器获取背散射探测数据；

根据所述背散射探测数据获取探测结果。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述射线发射装置的位置调节所述背散射探测器的角度。

15.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述获取待测物体的高度包括：

利用多个传感器通过判断面前障碍物的高度确定所述待测物体的高度。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述获取待测物体与尺寸距离检测装置的距离包括：

利用位于水平面上所述安检设备与所述待测物体的中垂线上的一点的摄像机向安检设备与所述待测物体的中垂线方向拍摄，获取视频图像；

获取待测物体在视频图像中的图像距离和图像高度；

根据所述图像距离和图像高度的比值，以及所述待测物体的高度，确定所述待测物体与所述尺寸距离检测装置的距离。

17.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置还包括：

根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整所述射线发射装置的高度和射线发射角度；

和/或，

根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定档位调整所述射线发射装置与所述待测物体的距离。

18.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测物体的高度与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置还包括：

根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定所述射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度，根据所述射线发射装置的理想高度和射线发射理想角度调整所述射线发射装置的高度和射线发射角度；

和/或，

根据所述待测物体的高度和/或与所述尺寸距离检测装置的距离，按照预定策略确定所述射线发射装置与所述待测物体的理想距离，根据所述射线发射装置与所述待测物体的理想距离调整所述射线发射装置与所述待测物体的距离。

19.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述根据所述射线发射装置的位置调节所述背散射探测器的角度还包括：

根据所述射线发射装置的高度和射线发射角度按照档位调节所述背散射探测器的角度；或，

根据所述射线发射装置的高度和射线发射角度确定所述背散射探测器的理想角度，根据所述理想角度调节所述背散射探测器的角度。

20.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，还包括：

根据探测需要手动调节所述射线发射装置的位置和/或所述背散射探测器的角度。

21.根据权利要求20所述的方法，其特征在于，所述根据探测需要手动调节所述射线发射装置的位置和/或所述背散射探测器的角度为：根据探测需要多次手动调节所述射线发射装置的位置和/或所述背散射探测器的角度；

所述通过背散射探测器获取背散射探测数据为：获取每次调节所述射线发射装置的位置和/或所述背散射探测器的角度后的背散射探测数据；

所述根据所述背散射探测数据获取探测结果为：

综合分析每次所述背散射探测数据，确定探测结果。