KR20070046834A - 산란계 속도 성분의 선택적 검출에 의한 라디오그래피 - Google Patents

산란계 속도 성분의 선택적 검출에 의한 라디오그래피 Download PDF

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KR20070046834A
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알란 엠. 제이콥스
에드워드 티. 듀간
다니엘 셰들록
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유니버시티 오브 플로리다 리서치 파운데이션, 인크.
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    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
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Abstract

재구성가능한 조준된 방사 검출기, 시스템 및 관련된 방법은 적어도 하나의 조준된 방사 검출기를 포함한다. 검출기는 그에 광학적으로 결합된 핀과 같은 적어도 하나의 특징부를 포함하는 조절가능한 조준기 조립체를 구비한다.
조절가능한 조준기의 조절은 검출기에 도달하는 방사된 물체로부터 방출된 산란된 방사의 진행의 특정 방향을 선택한다. 조준된 검출기는 바람직하게는 조준된 검출기 어레이이고, 여기서 조준기는 독립적으로 조절가능하다. 독립적인 운동 능력은 원하는 산란계 성분의 선택에 의해 화상을 포커스하는 능력을 제공한다. 재구성가능한 조준된 검출기의 어레이가 제공될 대, 분리 화상 데이터는 향상된 화상을 형성하도록 결합되고 상호관련된 각각의 화상 및 각각의 검출기로부터 달성될 수 있다.
데이터, 조준기, 검출기, 산란, 조립체, 라디오그래피

Description

산란계 속도 성분의 선택적 검출에 의한 라디오그래피{RADIOGRAPHY BY SELECTIVE DETECTION OF SCATTER FIELD VELOCITY COMPONENTS}
본 발명은 라디오그래피(radiography)에 관한 것으로서, 특히 측면 산란, 관통 산란 및 후방산란을 포함하는 산란계 성분의 선택적 검출을 제공하는 라디오그래피 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
각종 산업, 군사, 보안 또는 의학 응용에서, 물체의 내부 구조의 화상이 요구된다. 라디오그래피는 종종 화상용으로 사용된다. 라디오그래피는 일반적으로 종래의 투과 라디오그래피 또는 후방산란 라디오그래피를 포함한다.
수신받는 물체 뒤의 접근이 불가능할 때, 후방산란 라디오그래피만이 가능하다. 후방산란 화상화의 방법은 콤튼 산란(Comptom scattering)을 기초로 하는 콤튼 후방산란 화상(Comptom Backscattering Imaging; CBI)이다. 콤튼 산란은 전자에 의한 광자의 탄성 산란의 현상이다.
종래 CBI는 제1 산란 공간 분배 및 그에 따라 물체 내부 구조의 화상을 형성하도록 단일 산란 검출된 x-레이를 이용하는 것을 기초로 한다. 수신받는 물체로부터 나오기 전에 하나 이상의 산란 현상을 겪는 고차원수 산란 성분은 노이즈로 고려되고 종래 CBI 시스템은 이러한 성분에 반응을 최소화하도록 설계된다. 종래 CBI 스캔 시스템은 일반적으로 x-레이 조명을 사용하고 고동의 선형 비임(beam)을 이용하는 두 개 분류로 분할될 수 있다.
분류1. 단일 물체 내부 "3D 화소(voxel)"에서 조명 비임을 교차하는 시야를 가진 고도의 조준된 검출기.
분류2. 조준되지 않은 큰 영역의 검출기.
분류1의 장치는 산란계를 감지할 때 매우 불충분하고 따라서 매우 느린 화상 습득을 생성한다. 이러한 장치는 임의의 내부 상세함에 민감하지 않을 수 있다. 분류2의 장치는 신속한 화상 습득을 갖지만, 종종 모든 차수의 산란의 원하지 않은 검출이 일반적으로 습득된 화상으로 요구되는 내부 구조의 상세함을 전체적으로 불명료하게 한다.
x-레이 콤튼 후방산란을 기초로 한 비교적 새로운 형태의 화상 시스템은 분류1 또는 분류2 시스템이 아니다. 측방향 이동 라디오그래피(Lateral Migration Radiography; LMR) 개념 및 관련된 시스템은 본 발명의 발명자 중 일 인에 의해 공동 저술된 논문에 먼저 개시되었다.(1992년 110, 417, Nucl Sci & Engr의 콤튼 후방산란 화상에 의한 파묻힌 지뢰, Campbell & Jacobs) 이 구성은 모든 플라스틱 지뢰를 포함해서 묻힌 지뢰의 검출에 효율적인 것을 증명하였다.
캠벨과 자코브에 의해 개시된 LMR 시스템은 조준된 검출기 및 비조준된 검출기 모두를 포함하는 검출기의 어레이를 포함한다. 개시된 조준된 검출기는 단순한 강성 쉐도우 실드이다. 개시된 방법은 화상 공제 방법에 의해 다중 산란 검출로부터 제1 산란 검출의 분리를 기초로 한다. 따라서, 캠벨과 자코브에 의해 개시된 LMR 검출기는 제1 산란 분배에 의해 다소 영향을 받는 단일 산란(비조준된) 또는 다중 산란 광자(조준된)를 계산한다. 주로 소정의(다수의) 산란 성분을 달성하거나 특정(다수) 산란 성분을 제거하도록 개시되거나 또는 제안된 구조 또는 방법이 없다.
재구성가능한 조준된 방사 검출기는 적어도 하나의 조준된 방사 검출기를 포함한다. 상기 검출기는 그에 광학적으로 결합된 적어도 하나의 특징부를 포함하는 조절가능한 조준기를 구비하고, 상기 조절가능한 조준기의 조절은 상기 검출기에 도달하는 방사된 물체로부터 방출된 산란된 방사의 진행의 특정 방향을 선택한다. 상기 조준기는 바람직하게는 복수의 특징부 및 이에 따라 다중 개구를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 조준기는 검출기의 방사 수용 측면 상에 배치된 그에 고정된 특징부를 포함하는 오목 구조물을 포함하고, 여기서 검출기는 상기 오목 구조물 내측에 배치된다. 이 장치에서, 캡핑(capping) 구조물은 오목 구조물에 활주식으로 장착된다. 오목 구조물은 원통형 조준기일 수 있다. 활주가능식 장착은 상기 오목 구조물에 대해 상기 캡핑 구조물의 내외로 이동 및 회전하는 것을 제공할 수 있고 따라서 특징부가 연장되거나 수축되는 것을 초래한다.
조준된 검출기는 바람직하게는 조준된 검출기의 어레이를 포함한다. 이러한 실시예에서, 어레이에서 적어도 하나의 조준된 검출기는 선택된 제1 산란 광자 및 선택된 다중 산란 광자 모두를 검출할 수 있다. 검출기 어레이의 검출기는 바람직하게는 각각 독립적으로 조절가능하다.
라디오그래피 시스템은 수신되는 물체를 방사하기 위한 관통 방사 공급원과, 적어도 하나의 재구성가능한 조준된 방사 검출기를 포함하고, 상기 검출기는 그에 광학적으로 결합된 적어도 하나의 특징부를 포함하는 조절가능한 조준기를 구비하고, 상기 조절가능한 조준기의 조절은 상기 검출기에 도달하는 상기 방사된 물체로부터 방출된 산란된 방사의 진행의 특정 방향을 선택한다. 관통 방사 공급원은 x-레이, 감마 레이, 중성자 또는 전자 비임 공급원을 포함할 수 있다. 관통 방사 공급원은 상기 관통 방사의 에너지를 조절하는 조절기를 포함할 수 있다. 조준기는 상기 검출기의 방사 수용 측면 상에 배치된 그에 고정된 특징부를 포함하는 캡핑 구조물과, 오목 구조물을 포함할 수 있고, 상기 검출기는 상기 오목 구조물 내측에 배치된다. 캡핑 구조물은 상기 오목 구조물에 활주식으로 장착된다. 활주가능식 장착은 상기 오목 구조물에 대해 상기 캡핑 구조물의 내외로 이동 및 회전하는 것을 제공한다. 적어도 하나의 조준된 검출기는 바람직하게는 조준된 검출기의 어레이를 포함한다.
관통 방사 공급원 및 조준된 방사 검출기 또는 검출기 어레이는 물체의 동일한 측면 또는 물체의 대향 측면 상에 배치될 수 있다. 다른 실시예에서, 조준된 방사 검출기는 상기 물체와 상기 관통 방사 공급원 사이에 개재되고, 상기 방사 검출기는 관통 방사의 일부를 상기 물체에 투과시키고, 상기 산란된 방사의 일부는 상기 조준된 방사 검출기에 의해 검출된다.
라디오그래픽 화상형성 방법은 적어도 하나의 재구성가능한 조준된 검출기에 제1 산란 성분과 다중 산란 성분을 구비한 관통 방사 비임으로 방사된 물체로부터 나오는 광자 플럭스(photon flux)를 수신하는 단계와, 상기 제1 산란 및 상기 다중 산란 광자로부터 상기 광자 플럭스의 일부를 선택적으로 검출하는 단계와, 선택적으로 검출된 부분으로부터 선택된 단일 화소 검출기 반응 비율 또는 화상을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 일부는 제한된 범위의 궤도 및/또는 에너지를 가진 광자이다. 적어도 하나의 조준된 검출기가 조준된 검출기의 어레이를 포함할 때, 상기 방법은 상기 어레이에서 상기 조준된 검출기를 독립적으로 조절하는 단계를 더 포함할 수 있다. 독립적으로 조절가능한 단계는 상기 수신 단계동안 발생될 수 있다. 조절은 신호-대-노이즈(signal-to-noise) 정보의 피드백을 기초로 자동화될 수 있다. 방법은 화상을 처리하는 단계를 더 포함할 수 있고, 상기 처리 단계는 패턴 인지 또는 신경 네트워크를 포함한다. 다른 실시예에서, 방법은 물체를 진동하는 단계와 상기 물체와 상기 조준된 검출기 또는 검출기 어레이의 이동을 좌표화하는 단계를 포함할 수 있다.
관통 방사 비임의 에너지는 상기 방법 동안 가변될 수 있다. 결과적으로, 얻어진 화상은 3D 화상일 수 있다.
방법은 관통 방사 비임에 대해 상기 물체를 스캐닝하는 단계를 더 포함할 수 있다. 하나의 장치에서, 관통 방사 비임의 공급원과 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체의 동일 측면 상에 배치된다. 변형 장치에서, 관통 방사 비임의 공급원과 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체의 대향 측면 상에 배치된다. 다른 장치에서, 방법은 관통 방사 비임과 상기 조준된 검출기의 이동을 좌표화하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 더 완전한 이해 및 그 특징과 장점은 첨부된 도면과 함께 다음의 상세한 설명을 참조하여 수행된다.
도 1은 다양한 구성으로 본 발명의 실시예에 따라 선택적 검출(RSD) 검출기 시스템에 의한 예시적 라디오그래피에서 각각의 조준기 조립체를 도시한 근접 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 시스템으로 테스트하기 위한 석고로 덮히기 전에 벽에 배열된 물체의 배열을 도시한다.
도 3은 석고에 의해 덮힌 벽으로도 달성된 도 2에 도시된 각각의 물체의 화상을 명료하게 도시한 본 발명에 따른 예시적 x-레이 후방산란 RSD 시스템으로부터 달성된 화상이다.
도 4는 석고를 통해 플로피 드라이브 및 라디오의 전자 구조를 나타내는 도 3에 도시된 화상의 회색 등급 화상이다.
도 5는 샘플의 얇은 조각(delamination) 및 복수의 원형의 빈 구역을 증명하는 본 발명에 따른 예시적 x-레이 후방산란 RSD 시스템으로부터 달성된 발포 테스트 패널의 화상이다.
본 발명에 따른 재구성가능한 조준된 검출기는 물체에 간단한 다중 산란 이외의 화상 반응을 강조한다. 이러한 선택적 광자 검출은 물체의 내부 구조 상세함의 명료함 및 콘트라스트를 상당히 증가시키는 것이 발견된다. 더욱이, 재구성가 능한 조준된 검출기의 어레이가 구비될 때, 분리 화상 및 반응은 각각의 검출기로부터 동시에 달성될 수 있다. 본 실시예에서, 반응 화상은 상호관련되고 물체의 향상된 화상을 형성하도록 결합될 수 있다. 검출된 방사 에너지 분석 장치가 후술되는 바와 같이 제공될 때, 조준기 설정의 최적화 및 방사 에너지 제한의 선택은 조준기 시스템 초점의 용이성 및 화상의 향상을 야기한다.
본 명세서에서 사용되는 바와 같이, "재구성가능한 조준된 검출기"라는 용어는 검출기의 검출기 평면과 같이 그 관련된 검출기 요소에 대해 이동될 수 있는 조절가능한 조준기를 언급한다. 조절가능한 조준기는 일반적으로 검출기 요소에 대해 이동될 수 있는 하나 이상의 핀(fins)과 같은 특징부를 포함한다. 이러한 특징부는 바람직하게는 서로에 대해 이동가능하다. 이러한 장치는 조준기가 관련된 검출기 요소를 갖고서 고정된 공간 관계(예로써, 각도 방향, 거리)에 있고, (응용가능하면) 조준기의 각각의 성분이 서로에 대해 고정된 위치를 갖는 종래의 강성이고 비이동성인 장치와 대비될 수 있다.
본 발명에 따른 시스템을 사용한 습득된 화상은 다양한 조건하에 도시되고, 적절한 조준기 조절 및 산란계 성분의 그 결과적인 향상된 선택은 화상 특성 및 콘트라스트에서의 상당한 향상을 가져온다. 이러한 향상은 일부 경우에 종래의 CBI 시스템을 사용한 검출가능하지 않은 물체가 용이하게 식별할 수 있다는 점에서 중요할 수 있다. 이하 설명되는 선택적 변화의 광자 에너지 스펙트럼 검출 및 조명, 화상 콘트라스트와 내용물에서의 향상을 이용하는 것이 가능하고, 깊이 민감도 추가 및 이에 따른 물체에 대한 직접 3D 화상 및 관심 대상의 체적을 포함한다.
선택적 검출(RSD) 시스템에 의한 라디오그래피 및 본 명세서에 설명된 관련된 방법은 나타내는 검출된 x-레이의 산란 이력 또는 다양한 형태의 물체 내부 구조 상세함의 화상 콘트라스트를 향상시키도록 다른 관통 방사 필드를 사용한다. 개발되고 테스트된 본 발명에 따른 시스템은 적절하게 신속한 화상 습득(예를 들어, 2mm 대 33mm 화소에 대해 화소당 0.05초)과 다양한 응용물에 대해 분류1 또는 분류2 CBI 시스템으로부터 이용불가능한 내부 구조 화상 상세함을 증명한다. 이러한 응용물은 지뢰 검출, 항공기 샘플에서의 흠과 결점 검출과 발포 열절연물에서의 얇은 조각을 포함한다.
재구성가능한 조준된 방사 검출기는 적어도 하나의 조준된 방사 검출기를 포함한다. 검출기는 그에 광학적으로 결합된 적어도 하나의 특징부를 포함하는 조절가능한 조준기를 구비하고, 상기 조절가능한 조준기의 조절은 검출기에 도달하는 방사된 물체로부터 방출된 산란된 방사의 진행의 특정 방향을 변경한다. 이러한 조절은 따라서 검출 시스템에 의해 검출되고 따라서 화상을 형성하는 산란된 방사의 진행 방향을 선택하는데 사용될 수 있다.
조준기 특징부는 종래의 핀과 같은 선형(평면형), 곡률 반경을 갖는 곡선일 수 있고, 또는 임의 형태의 쉐도우 실드일 수 있다. 일반적으로 납과 같은 방사 흡수 재료로 형성되지만, 조준기 특징부는 또한 고밀도 플라스틱 또는 알루미늄과 같은 방사 반사 재료로 형성될 수 있다. 이 장치는 임의의 산란 성분(들)의 제거보다 다소 향상이 바람직할 때 유용하다.
조준된 검출기는 복수의 조준된 검출기를 구비한 조준된 검출기 어레이의 바 람직한 부분이다. 이 어레이에 조준된 검출기의 수는 1 내지 약 100의 범위일 수 있지만, 일반적으로 4 내지 10 조준된 검출기를 포함한다. 조절가능한 조준기는 광학적으로 결합되어 조준기에 의해 통과된 방사가 검출기에 도달하고 따라서 계산된다. 조준기는 일반적으로 반드시 필요하지 않지만, 검출기에 물리적으로 부착될 수 있다. 상술된 바와 같이, 관련된 검출기에 대해 조절가능한 조준기의 조절은 검출기에 의해 검출되는 입사 방사의 진행의 특정 방향을 선택한다.
방사 검출 시스템은 관통 방사 공급원 및 본 발명에 따른 적어도 하나의 재구성가능한 조준된 방사 검출기를 포함한다. 관통 방사 공급원은 x-레이 공급원, 감마 공급원, 중성자 공급원 또는 전자 비임 공급원을 포함할 수 있다. 방사 공급원은 수신되는 원하는 깊이의 영역을 조명한다. 후방산란 라디오그래피의 경우에, 방사 공급원은 약 1(unity)(즉, 1 x-레이 평균-자유-경로)이 되도록 화상에서 원하는 가장 깊은 구조물 상세함에 도달하도록 물체의 평균 광학 깊이를 가진 광자 조명(에너지) 스펙트럼을 제공하도록 제어된다. 투과 라디오그래피의 경우에, 방사 공급원 에너지는 0.318cm(1/8인치) 두께의 Fe 시트에 대해 적어도 약 10MeV와 같이 수신되는 물체의 두께를 통해 진행하도록 선택된다. 발생기 전압은 원하는 광자 조명(에너지) 스펙트럼을 제공하도록 선택된다.
일반적으로 CBI에 대해 본 명세서에 설명되었지만, 본 발명은 CBI에 제한되지 않는다. 예를 들어, 본 발명은 산란된 광자 물체 경로 이력을 선택적으로 검출할 수 있는 것에 장점이 있을 수 있는 임의의 라디오그래피 시스템에 응용될 수 있다. 따라서, 본 발명은 후방산란 라디오그래피 뿐만 아니라 다중 뷰 투과(CT) 시 스템을 포함하는 투과(투영) 라디오그래피 시스템에 대한 개선된 화상을 생성할 수 있다.
본 발명은 또한 본 출원의 동일한 발명자 중 두명의 미국 특허 제6,735,279호에 개시된 스냅샷 라디오그래피를 포함하는 하이브리드 시스템에 응용가능하다. 미국 특허 제6,735,279호는 "스냅샷 후방산란 라디오그래피 시스템 및 프로토콜"이라는 발명의 명칭이고 방사 검출기가 수신되는 물체와 방사 공급원 사이에 개재된 장치를 개시한다. 본 장치에서, 방사 검출기는 방사 공급원으로부터 물체까지 전방 방사의 일부를 투과시킨다.
도 1은 본 발명에 따른 RSD 조준된 검출기 어레이 기반 시스템(100)의 도면이다. 시스템(100)은 4개의 조준된 검출기(101-104)를 포함한다. 조준된 검출기(101-104)는 각각 광학적 및 물리적으로 결합된 조절가능한 조준기 조립체(130)를 가진 캡슐식 검출기(111)를 포함한다. 도 1에 도시된 시스템(100)의 경우, 캡슐식 검출기 구역은 조준기 조립체(130)가 후술되는 바와 같이 완전히 후퇴될 때 조준기 특징부(116) 뒤의 약 2.54cm(1인치)에서 시작하고 약 5.08cm(2인치) 길이로 연장되고 캡슐식 광전 증폭관(112)의 전방에서 종료된다.
검출기(111)는 계산 모드에서 작동되는 NaI 신틸레이터 결정(scintillator crystal)을 포함할 수 있다. 검출기 설계의 많은 변화가 가능하다. 이는 더 고속을 위해 NaI 대신에 플라스틱 신틸레이터를 사용하고, 펄스 모드 대신에 집적 모드를 사용하고, 검출기 형상의 변화 및 검출기를 세그멘팅하는 것을 포함한다.
조준기 조립체(130)는 내부 조준기 튜브(117) 상에 배치된 외부 캡핑 구조 물(118)을 포함한다. 내부 튜브(117)는 (내부 튜브(117)에 의해 제공된 경계 조준기 특징부를 제외한) 4개의 핀(116)을 포함한다. 각각의 조준기(130)에서 4개의 핀(116)은 5개의 결과적인 개구를 제공한다. 조준된 검출기(102)의 내부 튜브(117)는 그 측면 윈도우(119)를 노출하는 형상으로 있고, 그 기능은 이하 설명된다.
(도시되지 않은) x-레이 튜브는 4개의 조준된 검출기(101-104)로부터 사실상 등거리에 있고 그 사이에 배치된 조준기 슬릿 또는 개구(135)로부터 나오는 x-레이를 제공한다. 시스템(100)에서 각각의 조준된 검출기 및 x-레이 튜브(120)는 지지 플레이트(140) 및 관련 하드웨어에 의해 견고하게 유지된다.
캡핑 구조물(118)은 활주식으로 장착되고 조준기 튜브(117) 및 검출기(111)에 대해 회전 운동뿐 아니라 내외부의 운동을 허용하도록 조준기 튜브(117)에 결합된다. 조준기 튜브(117)는 바람직하게는 Pb 라인식 Al 튜브이지만, 핀(116)은 또한 바람직하게는 Pb로 형성된다.
조준기 조립체(130)가 원통형 조준기로 도시되지만, 본 발명은 이제 제한되지 않는다. 예를 들어, 단면적은 (비원형의) 타원형 및 (예로써, 정방형인) 직사각형을 포함하는 다양한 형상일 수 있다.
도 1에 도시된 시스템(100)이 다중 조준된 검출기(101-104)를 포함하지만, 단일 재구성가능한 조준된 검출기가 사용될 수 있다. 그러나, 스캐너형 시스템으로 시스템(100)과 같은 다중 검출기를 구비한 시스템과 같이 효율적이거나 유용하지 않다. 그러나, 단일 검출기가 실용적일 수 있는 상황이 있다. 예를 들어, 매 우 작거나 소형의 시스템인 경우에 매우 중요하다. 이러한 경우에, 단일 검출기 또는 단일 세그멘트식 검출기가 사용될 수 있다.
도 1에 도시된 조준된 검출기(101-104)는 동일하게 도시된다. 그러나, 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 응용예에 따라, 원하는 속도/산란 성분을 선택적으로 추출하는 더 효율적 업무를 수행하기 위해 동일하지 않은 검출기를 채용하는 것이 효율적일 수 있다. 이러한 장치는 상이한 산란/속도 성분에 대해 고유의 향상된 검출 성능을 제공할 수 있다.
시스템(100)이 대칭적으로 위치된 조준기(130)를 갖게 도시되지만, 조준기는 대칭일 필요는 없다. 몇몇 응용예에서, 모든 검출기가 동일성(또는 대칭)을 갖는 것이 바람직하지 않을 수 있는 이유와 유사한 이유로 대칭적이지 않는 것이 바람직할 수 있다.
본 발명의 중요한 특징은 조준기(130)의 조절성에 관한 것이다. 예를 들어, 본 발명이 적층의 검출 및 다중 핀 조준된 검출기 어레이를 사용한 저밀도 재료(예를 들어, 발포)의 빈 결점에 응용될 때, 검출기 핀 평면의 90도 회전은 향상된 콘트라스트를 생성하였다. 이 검출기 방향은 검출기를 향해 더 제한된 각도(방위 각도의 약 60도)로 x-레이 측방향 이동의 감지를 향상시킨다.
검출기는 바람직하게는 독립적으로 조절가능하다. 따라서, 하나의 조준된 검출기(101-104)로부터 핀(116)은 회전되거나 각각의 검출기(111)로부터 내부 또는 외부로 이동될 수 있지만, 다른 조준된 검출기는 고정되어 유지된다. 도 1에 도시된 조준기 조립체(130)는 캡핑 구조물(118)만의 회전, 내외부 이동 및 일체로 조준 기 조립체(130)의 내외부 이동을 포함하는 상이한 방향으로의 독립적 이동을 제공한다. 이러한 독립적 이동 능력은 원하는 산란계 성분의 선택에 의해 화상을 집중시키는 능력을 제공한다. 조준기(130)의 조절은 Pb 라인식 조준기 튜브(130)를 하방으로 진행하는 입사 방사의 진행의 특정 방향을 선택하고 검출기(111)에 의해 검출된다.
도 1의 조준기 조립체(130)는 일부 구성을 설명하기 위해 다양한 구성으로 도시된다. 다양한 조준기 조립체는 도 1에 도시된 바와 같이 독립적으로 조절가능하다. 조준된 검출기(103)와 관련하여, 조준기(130)는 오목하고 x-레이 공급원 비임으로부터 수직 또는 측방향으로 이동하는 x-레이에 대해 수직인 핀(116)으로 완전히 캡핑 구조물(118)을 갖게 도시된다. 조준된 검출기(104)와 관련하여, 조준기(130)는 캡핑 구조물(118)이 연장되게 도시되고, 그 핀(116)은 평행하고 오목하게 도시된다. 조준된 검출기(103, 104)에서 조준기(130)를 위해 도시된 2cm 연장은 가요성을 위치시키는 범위를 증명하도록 일반적으로 사용되는 것보다 더 연장된다.
조준된 검출기(101)와 관련하여, 조준기(130)는 캡핑 구조물(118)이 (x-레이 공급원 비임으로부터 측방향 또는 수직으로 이동하는 x-레이에 대해) 평행하게 그 핀(116)으로 완전히 수축되고 연장되어 도시된다. 조준된 검출기(102)와 관련하여, 조준기(130)는 캡핑 구조물(118)이 그 핀(116)으로 수축되고 연장되게 도시된다. 조준기 검출기(102)에 대한 이 조준기 형상은 조준된 검출기(102)의 입구에 수직 또는 거의 수직으로 입사하는 방사가 검출되게 하는 윈도우(119)에 노출된다.
도 1에 도시된 RSD 검출기 어레이 기반 시스템은 스캔 사이에 조준기의 자동 또는 수동 조절을 위해 제공된다. 수동 조절과 관련하여, 예시적 시스템(100)의 경우, 포커싱에 대한 두 개의 방법이 후술된다. 제1 방법은 거친 초점으로 본 명세서에서 언급되고, 제2 방법은 미세 초점으로 본 명세서에서 언급된다. 거친 방법은 자연적으로 기하학적이고 검출기와 물체의 표면과, 원하는 스캔 깊이 사이의 조준기 높이, 거리에 의존한다. 제2 방법 또는 미세 초점은 후방산란된 방사의 특정 에너지 범위와 같이 후방산란(또는 투과) 스펙트럼의 일부를 선택하도록 초점 미세조정을 포함한다.
거친 초점은 x-레이 프로브 비임과 검출기 사이의 거리와, 검출기와 스캔되는 물체의 표면 사이의 거리를 결정하는 것을 포함한다. 결점의 대략적인 깊이 도는 관심 대상의 다른 특징이 또한 결정된다. 단순한 기하학적 계산은 그 후 조준기의 길이를 결정하도록 수행된다. 만약 광자가 원하는 스캐닝 깊이로 관통하면, 그 깊이는 단일 산란 현상을 겪고 검출기를 향해 후방으로 반사되게 되고, 광자는 이하 도면에 도시된 조준기의 연장된 테두리 근처에서 통과한다.
Figure 112007009513830-PCT00001
이러한 초점은 원하는 깊이에 관통하지 않고 원하는 속도 성분을 갖지 않는 산란 현상을 제거한다. 이 초점은 또한 조준기 특징부가 없는 타겟 목표 이벤트와 프로브 비임에 대해 검출기의 적절한 기하학적 위치설정을 이용하여 효율적으로 달성될 수 있다.
거친 초점은 또한 고정된 조준기 길이로 수행될 수 있다. 검출기와 스캔되는 물체의 표면 사이의 거리는 거친 초점에서 상술된 바와 같은 요구조건을 충족하도록 조절될 수 있다. x-레이 비임과 검출기 사이의 거리가 또한 변경될 수 있다.
거친 초점을 수행한 후에, 특정 에너지 범위에서 후방산란된(또는 투과된) 광자를 선택하거나 미세 초점을 수행하는 것이 필요할 수 있다. 미세 초점은 보통 다중 채널 분석기(MCA)의 사용 또는 후방산란 또는 투과된 스펙트럼을 검사하기 위해 다른 적절한 장치를 요구한다. 미세 초점은 관통 방사 공급원의 에너지, 조준기 조절, 단일 채널 분석기(SAC)의 사용, MCA의 사용 또는 임의의 조합을 변경함으 로써 수행될 수 있다. 미세 초점은 원하는 특성 정보를 수행하는 소정의 에너지 범위에서 소정의 속도 성분으로 선택적으로 광자를 검출한다.
추가적 초점이 수행될 수 있다. 상술된 초점 절차는 화상을 얻도록 시작점으로서만 제공된다. 당업자에게 명확한 상기 절차의 많은 변경이 화상 콘트라스트, 습득 시간 또는 다른 인자를 최적화하는데 사용될 수 있다. 예를 들어, 조준기 효율은 화상 습득 시간을 감소시키고 및/또는 동시에 에너지 스펙트럼 분석을 기초로 후에 분리되는 제1 및 다중 산란 화상을 습득하는 관심 대상에 희생될 수 있다. 또한 MCA는 거친 초점 절차를 최적화하도록 조준기 위치(연장 및 회전)의 원거리 조작에 가이드로서 화상화되는 영역에 단일 중심 위치에서 검출된 회전 에너지 스펙트럼을 결정하는데 사용될 수 있다.
도 1에 도시되지 않았지만, 조준기 조립체(130)의 조절은 작은 모터에 의해 구동되는 바와 같이 자동으로 형성될 수 있다. 자동화된 조절은 스캔 사이에 또는 몇몇 소정의 최적 기준을 기초로 스캔 동안 수행될 수 있다.
예를 들어, 최적 기준은 화상의 물체가 더 명확하게 보여질 때를 기초로 하는 것과 같이 단순한 시각적일 수 있다. 더 높은 수준에서, 최적화는 보여지는 원하는 물체의 콘트라스트를 증가시키는 것과 같이 신호 대 노이즈 정보를 기초로 계산을 사용하는 피드백에 기초할 수 있다. 공지된 화상 절차 루틴의 다양한 수준은 패턴 인지, 저패스 노이즈 필터 및 상이한 검출기 어레이 출력의 상호관련과 같이 화상의 콘트라스트와 명료성을 증가시키는데 사용될 수 있다. 더 고도의 수준에서, 신경 네트워크는 최적화를 위한 데이터베이스를 제공하도록 채용될 수 있다.
투과 라디오그래피의 응용예와 관련하여, 종래 투과 라디오그래피는 물체와 관련없는 물체를 관통하는 구름없는 방사를 감지하는 것을 (이상적으로) 기초로 한다는 것을 이해해야 한다. 이는 단일 투영 및 다중 투영(CT) 경우 모두에 사실이다. 종래의 "버키 플레이트(Bucky plate)"는 검출(특히 단일의 0 내지 90도 산란)로부터 산란된 관통 방사를 제거하는데 일반적으로 사용된다. 만약 본 발명에 따른 조준된 검출기(130)가 물체의 관통 측면(즉, 조명에 대해 대향 측면) 상에 위치되고 검출기(111) 또는 검출기 어레이가 조명 비임 스캔으로 완전 위치식 좌표화되도록 스캔되면, 그 시스템은 단일 산란 및 다중 산란된 광자 모두를 포함하는 산란된 관통 방사 필드 성분을 선택적으로 검출할 수 있다. 그러나, 이 장치는 만약 이 물체가 공급원 비임과 검출기 조립체 사이의 요크 연결을 허용하도록 크기에서 충분히 작지 않으면 검출기 조립체와 조명 비임의 이동을 좌표화하도록 아주 복잡한 스캐닝 시스템을 (RSD의 스캐닝 모드에서) 요구한다.
본 발명에 따른 투과 라디오그래피를 사용하는 물체 내부 구조 상세함(예를 들어, 공간 셔틀 외부 탱크 발포의 측방향 얇은 조각)의 임의 분류의 화상에서의 콘트라스트는 상술된 후방산란 라디오그래피에 유사한 종래의 투과 라디오그래피와 비교해서 향상된다. 이러한 모드의 화상의 유용성이 증명되었지만, 후방산란계에 대한 분석용으로 증명되는 성공은, 보통 투영 라디오그래피로 볼 수 없는 몇몇 구조물이 본 발명에 따른 투과 라디오그래피를 사용하여 화상화되는 것을 강하게 제안한다.
투과 RSD의 스냅샷 모드에서, 화상 처리는 종래 투영 라디오그래피에서 버키 플레이트의 사용보다 더 복잡하지 않다. 후방산란 RSD의 경우에서와 같이, 가시성 화상으로 방사 에너지를 추가하는 것은 3D 화상의 형성을 포함하여 화상에서의 유도 정보 및 콘트라스트를 선택적으로 증가시킬 수 있다.
시스템(100)은 고정된 관통 방사 에너지를 사용한 조준기 조립체(130) 방향 조작에 의해 검출기(111)에 도달하는 방사 속도/방향 성분의 제한에 의해 선택적으로 산란계를 사용하여 설명된다. 그러나, 방사 에너지는 검출된 방사 에너지가 또한 물체에서 상호작용 경로 이력의 표시기이기 때문에 추가된 시스템 성능을 제공하도록 변경될 수 있고, 이와 같이, 습득된 화상에서 물체 내부 콘트라스트를 강조하기 위해 허용된 간격으로 제한될 수 있다. 더욱이, 선택적 검출과 결합된 조명 방사 에너지 스펙트럼의 변조는 다른 화상 콘트라스트 제어를 허용하고 그에 따라 습득된 화상 세트로부터 물체 내부 상세함과 관련된 더 많은 정보를 제공한다.
예로서, 만약 한 세트의 입사 x-레이 에너지 스펙트럼이 E1, E2, E3, E4와 같은 몇몇 상이한 kVp 에너지를 통한 x-레이 발생기를 변조하고 그 후 I1, I2, I3, I4에 의한 후방산란 화상의 상응하는 습득된 세트를 나타냄으로써 채용되면, 화상 세트의 적절한 강도의 표준화된 멤버의 시스템적 제외를 통해 물체 내부 깊이 설명의 개선을 허용한다. 예를 들어, 만약 E4>E3이면, E4는 E3보다 큰 표면으로부터의 깊이에서 수신되는 물체를 샘플화한다. 따라서, 제외 화상 I43=I4-I3은 저에너지(E3)에 대해 큰 에너지(E4)의 향상된 관통의 깊이 밴드 내에 물체 내부 분배를 나타낸다.
동일한 정보는 만약 I4 및 I3를 형성하는데 사용되는 주요 에너지 밴드에 상응하는 적절한 화상(즉, i4, i3)이 발생되면 E4와 같은 소정의 kip에서 단일 스캔만을 사용한 검출된 에너지 스펙트럼으로부터 수집될 수 있다. 관통 방사 공급원이 일반적으로 공칭 kVp 에너지에 대해 에너지의 넓은 스펙트럼을 제공하기 때문에, 본 발명에 따른 조준기는 윈도우 또는 후방산란의 밴드 또는 투과된 방사를 검출하도록 구성될 수 있다. 원하는 에너지 밴드는 MCA를 사용함으로써 예를 들어, 달성된 검출기 출력 신호 스펙트럼을 검사함으로써 결정될 수 있다. 상이한 에너지 저장소로 후방산란 또는 투과된 방사를 분류하는 것은 상술된 바와 같은 상이한 kVp 에너지의 사용에 상응될 수 있다.
다양한 제품은 상술된 바와 같은 개선된 화상 속도 및 더 소형의 화상 시스템, 상당히 개선된 화상 특성 및 콘트라스트로 인해 본 발명으로부터 이익을 얻을 수 있다. 예를 들어, 적층 제품, 복합물, 플라스틱, 절연체 및 다양한 다른 저밀도 재료를 포함하여 구조와 재료에서의 흠과 결점을 검출하는 향상된 스캐너 시스템이 제조될 수 있다. 보안 목응용의 스캐너 장치는 입구 스캐닝과 개별적으로 및 용기, 벽의 숨겨진 물체를 식별하는데 사용될 수 있다. 법 집행 및 집 보안 응용물은 폭탄과 같은 무기의 검출을 포함한다. 본 발명의 몇몇 장점은 이하 설명되는 예시적 화상 데이터를 기초로 명확해진다.
예
본 발명은 임의 방식으로 본 발명의 범위 또는 내용을 제한하지 않는 다음의 특정 예에 의해 더 설명된다.
도 1에 도시된 본 발명에 따른 RSD 어레이 기반 시스템은 CBI를 사용하여 석고(시트록(sheetrock)) 벽 내측의 물체의 화상을 얻는데 사용된다. 이하 설명되는 도 3 및 도4에 도시된 화상은 필터링 또는 다른 화상 처리의 장점없이 원래 데이터 화상이다.
벽은 5.08cm(2인치)x10.16cm(4인치) 소나무 스터드로 프레임된 전형적인 구성이다. 벽의 전방은 전체 1.5"에 대해 세 개 시트의 0.5"두께 석고로 덮혀있다. 이 장치는 대부분의 파이어 코드를 만족시키도록 두 개 시트의 5/8"를 사용하는 상업적인 구성을 모의실험하기 위한 것이다. 다음의 물체는 벽 내측에 위치된다. 8"폭 라디오, 5.25" 플로피 드라이브, 12 위치 단자 스트립, 유리 커피잔, 0.75" 직경 회로 칩, 1/8" 폭 플라스틱 타이, 덕트 테이프, 나무 블록 및 알루미늄 C-채널. 상기 품목은 전방 벽이 덮이기 전에 취해진 도 2에 도시된 바와 같이 벽에 배열된다. 회로 보드는 벽의 내면에 덕트 테이프된다. 벽은 그 후 60kVp x-레이를 사용하여 도 1에 도시된 본 발명에 따른 x-레이 후방산란 시스템으로 스캔된다. 도 1에 도시된 바와 같이, 두 개의 조준된 검출기(101, 102)는 평행하게 지향된 조준기를 갖고 두 개는 평행하게 방향지어진 조준기(103, 104)에 수직으로 지향된 조준기를 갖는다. 이러한 장치의 지향은 우수한 화상 콘트라스트 또는 특성을 제공하는 것이 발견되었다.
도 3은 석고 전방벽을 통해 취해진 벽의 RSD 화상을 도시한다. 상술된 각각 의 물체는 본래의 컬러 화상으로 벽 내측을 명확하게 가시화하고 제공되는 블랙과 화이트 화상을 식별가능하다. 회로 보드는 쉐도우를 투사하기 때문에 석고의 결점으로부터 구별될 수 있다. 플로피로부터 고정된 와이어는 직접적으로 보일 수 없지만, 도 3에 도시된 바와 같이 또한 쉐도우를 투사한다. 단자 스트립과 상기 플로피 드라이브에 수직인 플라스틱 타이는 도 3 및 도4 모두에서 가시성이 있다. 화상을 그레이-스케일로 간단한 변경은 도4에 도시된 바와 같이 라디오 및 플로피 드라이브의 전자 구조를 나타낸다.
도 5는 도 1에 도시된 검출기 중 하나에 의해 얻은 발포 열절연 테스트 패널의 스캔으로부터의 그레이-스케일 화상이다. 도시된 테스트 패널은 스프레이식 발포 절연체(SOFI)가 도포된 알루미늄 플레이트로 구성된다. 도시된 구조적 특징은 베이스 플레이트에 볼트결합된 세 개의 수직 금속 스트링거를 포함한다. 스트링거는 약 y=260mm에서 중심이 맞춰진 수평 금속 플랜지에 의해 분할된다. 스트링거를 베이스 플레이트에 체결하는 볼트 헤드는 검은 원으로서 도시된다. 또한, 볼트 헤드로 수평 금속 플랜지를 관통하는 세 개의 큰 볼트 및 플랜지의 대향 측면 상에 보여지는 상응하는 너트가 있다.
SOFI는 수 십 mm에서 수 백 mm까지 변하는 두께를 가진 구조물 및 베이스 플레이트에 대해 하방으로 놓여있다. 테스트 패널은 SOFI에 모의실험식 얇은 조각 및 기공을 포함한다.
적어도 8개의 기공은 도 5에 도시된 화상으로 아주 명확하다. 기공1은 바닥부 좌측 스트링거의 입부에서 약 x=100mm 및 y=190mm에서 발생된다. 기공2는 약 x=170mm 및 y=170mm에서 바닥부 좌측 스트링거의 우측에 발생된다. 기공3은 약 x=360 및 y=40mm에서 바닥부 중심 스트링거의 우측에 발생된다. 기공4 및 기공5는 기공4가 x=290mm 및 y=250mm에서 및 기공5가 x=520mm 및 y=260mm에서 금속 프랜지 상에 발생된다. 기공6은 x=100 및 y=10mm에서 바닥부 좌측 스트링거의 상부 상에 발생된다. 기공7은 x=475 및 y=20mm에서 바닥부 우측 스트링거의 상부 상에 발생된다. 기공8은 x=470 및 y=180mm에서 바닥부 우측 스트링거의 입부에 발생된다. 기공은 약 25mm의 직경 및 10mm 차수의 높이를 갖는다.
세 개의 모의실험식 얇은 조각은 (델람1으로 도시된) 약 x=50 및 y=260mm, (델람2으로 도시된) x=170 및 y=260mm, (델람3으로 도시된) x=360 및 y=260mm에서 금속 플랜지 상에 발생된다. 이 얇은 조각은 약 5내지 10밀(mils)의 높이를 가진 약 25mm x 25mm 단면적이다. y=115mm 및 y=395mm에서의 얇고 밝은 수평 라인은 발포의 상이한 구역 사이에 아교 라인에 상응한다.
본 발명이 양호한 특정 실시예와 관련되어 설명되고 이후 예와 상술한 설명이 도시되지만 이는 본 발명을 제한하는 것이 아니라는 것을 이해해야 한다. 본 발명의 범위 내에서 다른 태양, 장점 및 변경은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 자명한 것이다.

Claims (31)

  1. 재구성가능한 조준된 방사 검출기로서,
    적어도 하나의 조준된 방사 검출기를 포함하고, 상기 검출기는 그에 광학적으로 결합된 적어도 하나의 특징부를 포함하는 조절가능한 조준기를 구비하고, 상기 조절가능한 조준기의 조절은 상기 검출기에 도달하는 방사된 물체로부터 방출된 산란된 방사의 진행의 특정 방향을 선택하는 방사 검출기.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 조준기는 복수의 특징부 및 다중 개구를 포함하는 방사 검출기.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 조준기는, 상기 검출기의 방사 수용 측면 상에 배치된 그에 고정된 특징부를 포함하는 오목 구조물과, 상기 오목 구조물에 활주식으로 장착되는 캡핑 구조물을 포함하고,
    상기 검출기는 상기 오목 구조물 내측에 배치되는 방사 검출기.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 오목 구조물은 원통형 조준기인 방사 검출기.
  5. 청구항 3에 있어서,
    상기 활주가능식 장착은 상기 오목 구조물에 대해 상기 캡핑 구조물의 내외로 이동 및 회전하는 것을 제공하는 방사 검출기.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 적어도 하나의 조준된 검출기는 조준된 검출기의 어레이를 포함하는 방사 검출기.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 어레이에서 적어도 하나의 조준된 검출기는 선택된 제1 산란 광자 및 선택된 다중 산란 광자 모두를 검출하는 방사 검출기.
  8. 청구항 6에 있어서,
    상기 검출기 어레이에서 상기 검출기는 독립적으로 조절가능한 방사 검출기.
  9. 라디오그래피 시스템으로서,
    수신되는 물체를 방사하기 위한 관통 방사 공급원과,
    적어도 하나의 재구성가능한 조준된 방사 검출기를 포함하고,
    상기 검출기는 그에 광학적으로 결합된 적어도 하나의 특징부를 포함하는 조절가능한 조준기를 구비하고, 상기 조절가능한 조준기의 조절은 상기 검출기에 도 달하는 상기 방사된 물체로부터 방출된 산란된 방사의 진행의 특정 방향을 선택하는 라디오그래피 시스템.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 관통 방사 공급원은 x-레이, 가마 레이, 중성자 또는 전자 비임 공급원을 포함하는 라디오그래피 시스템.
  11. 청구항 9에 있어서,
    상기 관통 방사 공급원은 조절기를 포함하고, 상기 조절기는 상기 관통 방사의 에너지를 조절하는 라디오그래피 시스템.
  12. 청구항 9에 있어서,
    상기 조준기는, 상기 검출기의 방사 수용 측면 상에 배치된 그에 고정된 특징부를 포함하는 오목 구조물과, 상기 오목 구조물에 활주식으로 장착되는 캡핑 구조물을 포함하고,
    상기 검출기는 상기 오목 구조물 내측에 배치되는 라디오그래피 시스템.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 활주가능식 장착은 상기 오목 구조물에 대해 상기 캡핑 구조물의 내외로 이동 및 회전하는 것을 제공하는 라디오그래피 시스템.
  14. 청구항 9에 있어서,
    상기 적어도 하나의 조준된 검출기는 조준된 검출기의 어레이를 포함하는 라디오그래피 시스템.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 어레이에서 상기 적어도 하나의 조준된 검출기는 선택된 제1 산란 광자 및 선택된 다중 산란 광자 모두를 검출하는 라디오그래피 시스템.
  16. 청구항 14에 있어서,
    상기 검출기 어레이의 검출기는 독립적으로 조절가능한 라디오그래피 시스템.
  17. 청구항 9에 있어서,
    상기 관통 방사 공급원 및 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체의 동일한 측면 상에 배치되는 라디오그래피 시스템.
  18. 청구항 9에 있어서,
    상기 관통 방사 공급원 및 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체의 대향 측면 상에 배치되는 라디오그래피 시스템.
  19. 청구항 9에 있어서, 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체와 상기 관통 방사 공급원 사이에 개재되고, 상기 방사 검출기는 관통 방사의 일부를 상기 물체에 투과시키고, 상기 산란된 방사의 일부는 상기 조준된 방사 검출기에 의해 검출되는 라디오그래피 시스템.
  20. 라디오그래피 화상형성 방법으로서,
    적어도 하나의 재구성가능한 조준된 검출기에 제1 산란 성분과 다중 산란 성분을 구비한 관통 방사 비임으로 방사된 물체로부터 나오는 광자 플럭스를 수신하는 단계와,
    상기 제1 산란 및 상기 다중 산란 광자로부터 상기 광자 플럭스의 일부를 선택적으로 검출하는 단계와,
    상기 선택적으로 검출된 부분으로부터 화상을 형성하는 단계를 포함하고,
    상기 일부는 제한된 범위의 궤도를 가진 광자인 라디오그래피 화상형성 방법.
  21. 청구항 20에 있어서,
    상기 적어도 하나의 조준된 검출기는 조준된 검출기의 어레이를 포함하고, 상기 어레이에서 상기 조준된 검출기를 독립적으로 조절하는 단계를 더 포함하는 라디오그래피 화상형성 방법.
  22. 청구항 20에 있어서,
    상기 독립적으로 조절가능한 단계는 상기 수신 단계동안 발생되는 라디오그래피 화상형성 방법.
  23. 청구항 21에 있어서,
    상기 조절은 신호 대 노이즈 정보의 피드백을 기초로 자동적인 라디오그래피 화상형성 방법.
  24. 청구항 20에 있어서,
    상기 화상을 처리하는 단계를 더 포함하고, 상기 처리 단계는 패턴 인지 또는 신경 네트워크를 포함하는 라디오그래피 화상형성 방법.
  25. 청구항 20에 있어서,
    상기 물체를 진동하는 단계와 상기 물체와 상기 조준된 검출기의 이동을 좌표화하는 단계를 더 포함하는 라디오그래피 화상형성 방법.
  26. 청구항 20에 있어서,
    상기 관통 방사 비임의 에너지는 상기 방법 동안 가변되는 라디오그래피 화상형성 방법.
  27. 청구항 26에 있어서,
    상기 화상은 3D 화상인 라디오그래피 화상형성 방법.
  28. 청구항 20에 있어서,
    상기 관통 방사 비임에 대해 상기 물체를 스캐닝하는 단계를 더 포함하는 라디오그래피 화상형성 방법.
  29. 청구항 20에 있어서,
    상기 관통 방사 비임의 공급원과 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체의 동일 측면 상에 배치되는 라디오그래피 화상형성 방법.
  30. 청구항 20에 있어서,
    상기 관통 방사 비임의 공급원과 상기 조준된 방사 검출기는 상기 물체의 대향 측면 상에 배치되는 라디오그래피 화상형성 방법.
  31. 청구항 30에 있어서,
    상기 관통 방사 비임과 상기 조준된 검출기의 이동을 좌표화하는 단계를 더 포함하는 라디오그래피 화상형성 방법.
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