CN106092401B - 一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统，其系统包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块。恒流信号模块提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；电参数检测模块检测在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi和在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；应力施加模块在待测样品上施加可调的应力；主控制模块绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi,并在变化曲线VHi～εi中读取高频电压值VH'对应的应力值ε'。本发明实现了对铁磁性导体材料应力的无损检测，检测方便、简单，对外界环境要求比较低，灵敏度较高。适于对钢缆、钢梁、钢轨等钢铁构件的应力及分布测量。
Description
技术领域
本发明涉及电磁无损检测技术领域，尤其涉及一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统。
背景技术
对钢缆、钢梁、钢轨等钢铁构件的应力及分布测量关系到生命财产安全、产品质量、使用寿命和成本；应力测量也能用于评价或改进热处理、精密机械加工等工艺、评估安全风险、预防事故，并可辅助精密机械调校。因此准确可靠地测量应力具有重要意义。
常规的应力检测方法主要有：
(1)盲孔法：需要钻小孔，对工件有损，麻烦；
(2)磁法：探头与待测样之间必须密切耦合，因为钢铁样品和探头都较硬，表面形状和清洁程度各异，难以满足测试条件，误差大；
(3)X射线法，只能测量钢铁表面很浅的表层应力，且受表面损伤和污染等干扰，仪器较贵，使用不便；
(4)应变片法，需要在待测处粘贴应变片，通过检测应变片电阻的变化间接测量工件的应力，操作麻烦，应变片的变化也未必能真实反映应力变化。
为此，需要开发一种能够克服上述技术缺陷的应力无损检测方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：
依据本发明的一个方面，提供了一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，包括如下步骤：
步骤1：在半径为r的圆柱形待测样品上任意选取相距为L的两个检测点；
步骤2：在两个所述检测点外侧加上高频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的高频电压值VHi；
步骤3：根据不同预设应力εi下的高频电压值VHi绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；
步骤4：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；
步骤5：在变化曲线VHi～εi中读取所述高频电压值VH'对应应力值ε'。
依据本发明的另一个方面，提供了一种基于趋肤效应的铁磁质材料应力测量系统，包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块。
所述恒流信号模块用于为待测样品两端提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；所述应力施加模块用于在待测样品上施加不同预设应力εi；所述电参数检测模块用于检测待测样品上两个检测点之间在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi；以及检测待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；所述主控制模块用于根据不同预设应力εi下的高频电压值VHi绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；还用于在变化曲线VHi～εi中读取所述高频电压值VH'对应的应力值ε'。
本发明的有益效果是：本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统，通过对待测样品的受到应力时的高频电压随应力的变化实现了对钢铁材料应力的无损检测，并且通过转化为相对电压与应力之间的变化关系避免了测量受两端长度的限制和由于受到应力引起样品长度变化导致的误差，灵敏度较高，检测方便、简单，几乎不受外界环境干扰，还克服了待测样品表面的损伤及洁净度对检测结果的影响，对外界环境要求比较低，可应用于对钢缆、钢梁、钢轨等钢铁构件的应力及分布测量。
附图说明
图1为本发明实施例一的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法流程示意图；
图2为本发明实施例二中高低频激励信号下电阻随应力的变化曲线；
图3为本发明实施例二中不同检测长度下相对电阻对应力的变化曲线；
图4为本发明实施例四的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
本发明中，以圆柱形导体为例进行说明，但是并非限定只能检测圆柱形样品，其它长条状样品，如实心或空心方形柱、圆管等也可采用本专利的精神进行应力测量。权利要求所述电压-应力曲线完全可由数据表格或数组等替代。
实施例一、一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，下面将结合图1对本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法进行详细介绍。
如图1所示，一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法流程示意图，包括如下步骤：
步骤1：在半径为r的圆柱形待测样品上任意选取相距为L的两个检测点；
步骤2：在两个所述检测点外侧加上高频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的高频电压值VHi；
步骤3：根据不同预设应力εi下的高频电压值VHi绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；
步骤4：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；
步骤5：在变化曲线VHi～εi中读取所述高频电压值VH'对应应力值ε'。
在高频恒流信号的激励作用下，通过改变待测样品两端施加的应力εi可以准确的检测出待测样品上两个所述检测点之间的高频电压值VHi随应力εi的变化关系，然后根据高频电压值VHi随应力εi的变化关系即可比较方便的读取在任意未知应力ε'时的高频电压值VH'对应的应力值ε'。
实施例二、一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，下面将对本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法进行详细介绍。
一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，与实施例一所不同的是，本实施例中，所述步骤2和步骤3之间还包括步骤21a：
步骤21a:在待测样品两端加上低频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的低频电压值VLi；
步骤3:根据在不同预设应力εi下的低频电压值VLi和高频电压值VHi计算待测样品的相对电压值V相对1i，并绘制待测样品的相对电压值V相对1i随应力εi的变化曲线V相对1i～εi；
所述步骤4与步骤5之间还包括步骤41a：
步骤41a：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的低频电压值VL'与高频电压值VH'；
步骤5：根据高频电压值VH'与低频电压值VL'计算待测样品在任意未知应力ε'时的相对电压值V相对1'，并根据变化曲线V相对1i～εi读取所述相对电压值V相对1'对应的应力值ε'。
如图2所示，两条曲线分别为长度为400mm的钢丝高低频电阻与拉力关系，其中，高频频率采用2MHz的交流激励信号，低频频率采用110Hz的交流激励信号，横坐标表示外部施加的拉力(单位为kg)，纵坐标表示两个检测点之间的电阻值(单位为Ω)，由此可见：
低频应变导致的电阻变化效应较平坦，2MHz时灵敏度和线性度都比较好。灵敏度比应变效应(低频曲线)高约10倍。
这里，需要指出的是，在实际的检测过程中，我们在应力范围内等间隔选取i个应力εi，并检测待测样品上两个所述检测点之间的低频电压值VLi和高频电压值VHi随着应力εi均匀改变的变化规律，比较方便的可以得出待测样品上两个所述检测点之间的低频电压值VLi和高频电压值VHi随应力εi的变化关系，这些关系可以是比较直观的曲线，也可以是方便MCU处理的数据表格或数组。
其中，所述步骤3中相对电压值V相对1i的具体计算为：将相同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi依次除以低频电压值VLi，得到相对电压值V相对1i；
所述步骤5中相对电压值V相对1'的具体计算为：将相同未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VL'相除，得到相对电压值V相对1'。
需要指出的是，这里我们通过将高频电压值VHi和低频电压值VLi转化为相对电压值V相对1i，是为了通过相对电压值V相对1i随应力εi的变化曲线V相对1i～εi来避免对样品检测两端长度的控制并修正应变导致的待测样品上两个所述检测点之间的长度变化引起低频电压值VLi产生误差，方便检测。如图3所示，两条曲线分别为长度为400mm和200mm相同钢丝在2MHz交流激励信号的电压与110Hz交流激励信号的电压的比值随应力的关系曲线，可见长度变化200mm(1倍)时电阻变化率曲线仍然比较接近，若变化不大(工程测量时长度误差容易控制在10mm以内)则曲线几乎重合，降低对长度误差的敏感程度，方便工程测量。
实施例三、一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，下面将对本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法进行详细介绍。
一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法流程示意图，与实施例一所不同的是，所述步骤2和步骤3之间还包括步骤21b：
步骤21b:在待测样品两端加上低频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在预设应力εmid下的低频电压值VLmid；
其中，预设应力εmid为预设应力范围的中间值；
步骤3:根据低频电压值VLmid和不同应力εi对应的高频电压值VHi计算待测样品的相对电压值V相对2i，并绘制待测样品的相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi；
所述步骤4与步骤5之间还包括步骤41b：
步骤41b：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的高频电压值VH'；
步骤5：根据高频电压值VH'与低频电压值VLmid计算待测样品在任意未知应力ε'时的相对电压值V相对2'，并根据变化曲线V相对2i～εi读取所述相对电压值V相对2'对应的应力值ε'。
其中，所述步骤3中相对电压值V相对2i的具体计算为：
将不同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi和预设应力εmid下的低频电压值VLmid依次相除，得到相对电压值V相对2i。
所述步骤5中相对电压值V相对2'的具体计算为：将未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VLmid相除，得到相对电压值V相对2'。
这里，选取预设应力范围的中间值εmid下的低频电压值VLmid来作为两个所述检测点之间的部分的低频电压值，并通过高频电压值VHi和低频电压值VLmid转化为相对电压值V相对2i，也是为了通过相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi来避免对样品检测两端长度的控制并修正应变导致的待测样品上两个所述检测点之间的长度变化引起低频电压值VLi产生误差，方便检测。
当然，由于应力变化不特别大时，低频下样品电压变化不大，这里也可以选取预设应力范围内的任何应力ε任意来作为两个所述检测点之间的部分的低频电压值，最简单的方式就是选取应力ε为零时的低频电压值来作为两个所述检测点之间的部分的低频电压值。这样也可以转化为相对电压值随应力ε的变化关系，来避免对样品检测两端长度的控制并修正应变导致的待测样品形状变化引起的误差。
特别地，在实施例一至实施例三中，所述步骤2至步骤5中，由于采用的是恒流信号，在检测出所有电压参数后，通过电压除以流过两个所述检测点之间的电流即为对应的电阻，因此所有的电压量都可以用电阻量替代，可通过电阻测量方法代替电压测量方法计算应力值ε'。
实施例四、一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，下面将结合图4对本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法进行详细介绍。
如图4所示，一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量系统结构示意图，包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块。
其中，所述恒流信号模块用于为待测样品两端提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；所述应力施加模块用于在待测样品上施加不同的预设应力εi；所述电参数检测模块用于检测待测样品上两个检测点之间在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi；以及检测待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'。
所述主控制模块用于根据不同预设应力εi下的高频电压值VHi绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；还用于在变化曲线VHi～εi中读取所述高频电压值VH'对应的应力值ε'。
实施例五、一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，下面将对本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法进行详细介绍。
一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量系统，与实施例四不同的是，本实施例中，所述电参数检测模块还用于检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的低频电压值VLi，以及获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的低频电压值VL'。
对应地，所述主控制模块根据在不同预设应力εi下的低频电压值VLi和高频电压值VHi绘制待测样品的相对电压值V相对1i随应力εi的变化曲线V相对1i～εi；且计算待测样品的相对电压值V相对1'，并读取所述相对电压值V相对1'对应的应力值ε'。
其中，所述主控制模块包括第一曲线绘制单元、第一计算单元和第一MCU。
所述第一曲线绘制单元用于根据待测样品的相对电压值V相对1i绘制待测样品的相对电压值V相对1i随应力εi的变化曲线V相对1i～εi；所述第一计算单元用于将相同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi和低频电压值VLi依次相除，得到相对电压值V相对1i；还用于将相同未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VL'相除，得到相对电压值V相对1'；所述MCU用于根据所述相对电压值V相对1i随应力ε的变化曲线V相对1i～εi读取所述相对电阻值V相对1'对应的应力值ε'。
实施例六、一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，下面将对本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法进行详细介绍。
一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量系统，与实施例四不同的是，本实施例中，所述电参数检测模块还用于检测两个所述检测点之间的部分在预设应力εmid下的低频电压值VLmid，其中，预设应力εmid为预设应力范围的中间值；还用于检测待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的低频电压值VL'。
对应地，所述主控制模块用于根据低频电压值VLmid和不同应力εi对应的高频电压值VHi计算待测样品的相对电压值V相对2i，并绘制待测样品的相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi；还用于且计算待测样品的相对电压值V相对2'，并读取所述相对电压值V相对2'对应的应力值ε'。
优选地，所述主控制模块还包括第二曲线绘制单元、第二计算单元和第二MCU。
所述第二计算单元用于将不同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi和预设应力εmid下的低频电压值VLmid依次相除，得到相对电压值V相对2i；还用于将未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VLmid相除，得到相对电压值V相对2'。
所述第二曲线绘制单元用于根据待测样品的相对电压值V相对2i绘制待测样品的相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi。
所述第二MCU用于根据所述相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi读取所述相对电阻值V相对2'对应的应力值ε'。
需要指出的是，本发明中，所述低频恒流信号的频率范围为0Hz-120Hz；所述高频恒流信号的频率范围为
其中，ρ为待测样品的电阻率，μr为待测样品的平均相对磁导率，r为圆柱形待测样品的半径。
这里对高频频率的范围之所以需要如此限定，其依据是：
根据趋肤深度ds公式：
当恒流信号为高频频率f时，若趋肤深度ds远小于待测样品的半径r，则有近似公式：
由于待测样品在不同频率的激励信号时，其趋肤深度不同，随着激励信号的频率的增加，趋肤深度会减小，如果激励信号的频率太小，趋肤深度相对会比较大，此时不满足趋肤深度ds远小于待测样品的半径r的条件，待测样品的截面积不能用2πr·ds来表示，即上述电阻表达(1-3)式不成立；如果激励信号的频率太大，趋肤深度相对会很小，此时，待测样品表面损伤的影响不能忽略，而且频率过高时磁导率和电阻率都会变化。
当趋肤深度ds的范围为如下表达式时，检测结果较为准确；
根据式(1-4)可以计算得出高频频率的范围为式(1-1)所示。
优选地，实施例四至实施例六中，所述电参数检测模块检测出所有电压参数后，再通过电压参数除以流过两个所述检测点之间的电流转化为对应的电阻参数，通过电阻参数代替电压参数计算应力值ε'，其计算结果与按照电压参数计算的完全一致，具体的这里不再赘述。
本发明的一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统，通过对待测样品的受到应力时高频电压或电阻随应力的变化实现了对钢铁等铁磁性导体材料应力的无损检测，并且通过转化为相对电压或相对电阻与应力之间的变化关系避免了检测受样品两端长度的制约，并减小由于受到应力引起样品长度变化导致的误差，灵敏度较高，检测方便、简单，几乎不受外界环境干扰，克服了待测样品表面的损伤及洁净度对检测结果的影响，对外界环境要求比较低，可适用于对钢缆、钢梁、钢轨等铁磁性导体构件的应力及分布测量。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1：在半径为r的圆柱形待测样品上任意选取相距为L的两个检测点；
步骤2：在两个所述检测点外侧加上高频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的高频电压值VHi；
步骤3：根据不同预设应力εi下的高频电压值VHi绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；
步骤4：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；
步骤5：在变化曲线VHi～εi中读取所述高频电压值VH'对应应力值ε'。
2.根据权利要求1所述一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，其特征在于，所述步骤2和步骤3之间还包括步骤21a：
步骤21a:在待测样品两端加上低频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的低频电压值VLi；
步骤3:根据在不同预设应力εi下的低频电压值VLi和高频电压值VHi计算待测样品的相对电压值V相对1i，并绘制待测样品的相对电压值V相对1i随应力εi的变化曲线V相对1i～εi；
所述步骤4与步骤5之间还包括步骤41a：
步骤41a：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的低频电压值VL'与高频电压值VH'；
步骤5：根据高频电压值VH'与低频电压值VL'计算待测样品在任意未知应力ε'时的相对电压值V相对1'，并根据变化曲线V相对1i～εi读取所述相对电压值V相对1'对应的应力值ε'。
3.根据权利要求2所述一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，其特征在于，所述步骤3中相对电压值V相对1i的具体计算为：将相同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi依次除以低频电压值VLi，得到相对电压值V相对1i；所述步骤5中相对电压值V相对1'的具体计算为：将相同未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VL'相除，得到相对电压值V相对1'。
4.根据权利要求1所述一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，其特征在于，所述步骤2和步骤3之间还包括步骤21b：
步骤21b:在待测样品两端加上低频恒流信号，检测两个所述检测点之间的部分在预设应力εmid下的低频电压值VLmid；
其中，预设应力εmid为预设应力范围的中间值；
步骤3:根据低频电压值VLmid和不同应力εi对应的高频电压值VHi计算待测样品的相对电压值V相对2i，并绘制待测样品的相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi；
所述步骤4与步骤5之间还包括步骤41b：
步骤41b：获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的高频电压值VH'；
步骤5：根据高频电压值VH'与低频电压值VLmid计算待测样品在任意未知应力ε'时的相对电压值V相对2'，并根据变化曲线V相对2i～εi读取所述相对电压值V相对2'对应的应力值ε'。
5.根据权利要求4所述一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，其特征在于，所述步骤3中相对电压值V相对2i的具体计算为：
将不同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi和预设应力εmid下的低频电压值VLmid依次相除，得到相对电压值V相对2i；
所述步骤5中相对电压值V相对2'的具体计算为：将未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VLmid相除，得到相对电压值V相对2'；
6.根据权利要求2至5任一项所述一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法，其特征在于，所述低频恒流信号的频率范围为0Hz-120Hz；所述高频恒流信号的频率范围为
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其中，ρ为待测样品的电阻率，μr为待测样品的平均相对磁导率，r为圆柱形待测样品的半径。
7.一种基于趋肤效应的铁磁质材料应力测量系统，其特征在于：包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块；
所述恒流信号模块用于为待测样品两端提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；
所述应力施加模块用于在待测样品上施加不同的预设应力εi；
所述电参数检测模块用于检测待测样品上两个检测点之间在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi；以及检测待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；
所述主控制模块用于根据不同预设应力εi下的高频电压值VHi绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；还用于在变化曲线VHi～εi中读取所述高频电压值VH'对应的应力值ε'。
8.根据权利要求7所述一种基于趋肤效应的铁磁质材料应力测量系统，其特征在于，所述电参数检测模块还用于检测两个所述检测点之间的部分在不同预设应力εi下的低频电压值VLi，以及获取待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的低频电压值VL'；
所述主控制模块包括第一曲线绘制单元、第一计算单元和第一MCU；
其中，所述第一曲线绘制单元用于根据待测样品的相对电压值V相对1i绘制待测样品的相对电压值V相对1i随应力ε的变化曲线V相对1i～εi；
所述第一计算单元用于将相同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi和低频电压值VLi依次相除，得到相对电压值V相对1i；还用于将相同未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VL'相除，得到相对电压值V相对1'；
所述MCU用于根据所述相对电压值V相对1i随应力ε的变化曲线V相对1i～εi读取所述相对电阻值V相对1'对应的应力值ε'。
9.根据权利要求7所述一种基于趋肤效应的铁磁质材料应力测量系统，其特征在于，所述电参数检测模块还用于检测两个所述检测点之间的部分在预设应力εmid下的低频电压值VLmid，其中，预设应力εmid为预设应力范围的中间值；还用于检测待测样品上两个所述检测点之间的部分在任意未知应力ε'时的低频电压值VL'；
所述主控制模块用于根据低频电压值VLmid和不同应力εi对应的高频电压值VHi计算待测样品的相对电压值V相对2i，并绘制待测样品的相对电压值V相对2i随应力ε的变化曲线V相对2i～εi；还用于且计算待测样品的相对电压值V相对2'，并读取所述相对电压值V相对2'对应的应力值ε'。
10.根据权利要求9所述一种基于趋肤效应的铁磁质材料应力测量系统，其特征在于，所述主控制模块还包括第二曲线绘制单元、第二计算单元和第二MCU；
所述第二计算单元用于将不同预设应力εi下两个所述检测点之间的高频电压值VHi和预设应力εmid下的低频电压值VLmid依次相除，得到相对电压值V相对2i；还用于将相同未知应力ε'下两个所述检测点之间的高频电压值VH'和低频电压值VLmid相除，得到相对电压值V相对2'；
所述第二曲线绘制单元用于根据待测样品的相对电压值V相对2i绘制待测样品的相对电压值V相对2i随应力ε的变化曲线V相对2i～ε；
所述第二MCU用于根据所述相对电压值V相对2i随应力εi的变化曲线V相对2i～εi读取所述相对电阻值V相对2'对应的应力值ε'。
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