CN105871458A - 一种用于测试光模块参数的测试板 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于测试光模块参数的测试板，能够实现快速稳定的对光模块待测参数的检测，以便提供一致性良好的光模块，避免光模块在实际应用中出现使用故障，影响所加载的系统的使用，其卓越的测试性能，能够方便的对光模块高低告警值进行测试，亦可准确的对光模块工作电流进行采集，包括光模块、电流检测电路、AD转换电路、单片机电路、计算机接口电路及运算放大电路，所述电流检测电路连接AD转换电路，所述AD转换电路连接单片机电路，所述单片机电路连接运放电路，进数据接口电路连接单片机电路；光模块分别连接电流检测电路和运算放大电路；电流检测电路包括电流检测芯片UO、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5。

Description

一种用于测试光模块参数的测试板

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，具体的说，是一种用于测试光模块参数的测试板。

背景技术

1966年英籍华裔学者高锟（C.K.KA）和霍克哈母（C.K.HOCKHAM）发表了关于传输介质新概念的论文，指出了利用光纤（Optical Fiber）进行信息传输的可能性和技术途径，奠定了现代光通信——光纤通信的基础。1970年，光纤研制取得了重大突破，同时作为光纤通信用的光源也取得了实质性的进展。由于光纤和半导体激光器的技术进步，是1970年成为光纤通信发展的一个重要里程碑。1976年，美国在亚特兰大（ATLANTA ）进行了世界上第一个实用光纤通信系统的现场实验，系统采用GAALAS激光器作为光源，多模光纤做传输介质，速率为44.7Mb/s，传输距离约10km。1976年美国亚特兰大进行的现场实验，标志着光纤通信从基础发展到了商业应用的阶段。此后，光纤通信技术不断发展：光纤从多模发展到单模，工作波长从0.85um发展到1.31和1.55um，传输速率从几十发展到几十。另一方面，随着技术的进步和大规模产业的形成，光纤价格不断下降，应用范围不断扩大：从初期的市话局间中继到长途干线进一步延伸到用户接入网，从数字电话到有线电视（CATV），从单一类型信息的传输到多种业务的传输。目前光纤已成为信息宽带的主要媒质，光纤通信系统将成为未来国家基础设施的支柱。

光纤通信的诞生和发展是电信史上的一次重要革命与卫星通信、移动通信并列为20世纪90年代的技术。进入21世纪后，由于因特网业务的迅速发展和音频、视频、数据、多媒体应用的增长，对大容量（超高速和超长距离）光波传输系统和网络有了更为迫切的需求。

光纤通信就是利用光波作为载波来传送信息，而以光纤作为传输介质实现信息传输，达到通信目的的一种最新通信技术。

通信的发展过程是以不断提高载波频率来扩大通信容量的过程，光频作为载频已达通信载波的上限，因为光是一种频率极高的电磁波 ，因此用光作为载波进行通信容量极大，是过去通信方式的千百倍，具有极大的吸引力，光通信是人们早就追求的目标，也是通信发展的必然方向。

光纤通信与以往的电气通信相比，主要区别在于有很多优点：它传输频带宽、通信容量大；传输损耗低、中继距离长；线径细、重量轻，原料为石英，节省金属材料，有利于资源合理使用；绝缘、抗电磁干扰性能强；还具有抗腐蚀能力强、抗辐射能力强、可绕性好、无电火花、泄露小、保密性强等优点，可在特殊环境或军事上使用。

光纤通信的应用领域是很广泛的，主要用于市话中继线，光纤通信的优点在这里可以充分发挥，逐步取代电缆，得到广泛应用。还用于长途干线通信过去主要靠电缆、微波、卫星通信，现以逐步使用光纤通信并形成了占全球优势的比特传输方法；用于全球通信网、各国的公共电信网（如我国的国家一级干线、各省二级干线和县以下的支线）；它还用于高质量彩色的电视传输、工业生产现场监视和调度、交通监视控制指挥、城镇有线电视网、共用天线（CATV）系统，用于光纤局域网和其他如在飞机内、飞船内、舰艇内、矿井下、电力部门、军事及有腐蚀和有辐射等中使用。

在光纤模拟通信系统中，电信号处理是指对基带信号进行放大、预调制等处理，而电信号反处理则是发端处理的逆过程，即解调、放大等处理。在光纤数字通信系统中，电信号处理是指对基带信号进行放大、取样、量化，即脉冲编码调制（PCM ）和线路码型编码处理等，而电信号反处理也是发端的逆过程。对数据光纤通信，电信号处理主要包括对信号进行放大，和数字通信系统不同的是它不需要码型变换。

目前，国内企业在光通信产品的参数测试过程中主要还是使用国内外的先进测试设备，各种测试仪器之间大多是孤立的，而且主要是用手调仪器控制面板上的各种旋钮、按钮，用人眼观看仪器上的波形或数据；这样不仅测试过程操作繁杂，容易出错，而且重要的是测试效率太低。因此提高生产率、降低成本、实现光通信模块测试自动化成为提高光电企业市场竞争力的关键之一。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于测试光模块参数的测试板，能够实现快速稳定的对光模块待测参数的检测，以便提供 一致性良好的光模块，避免光模块在实际应用中出现使用故障，影响所加载的系统的使用，其卓越的测试性能，能够方便的对光模块高低告警值进行测试，亦可准确的对光模块工作电流进行采集。

本发明通过下述技术方案实现：一种用于测试光模块参数的测试板，包括光模块、电流检测电路、AD转换电路、单片机电路、计算机接口电路及运算放大电路，所述电流检测电路连接AD转换电路，所述AD转换电路连接单片机电路，所述单片机电路连接运放电路，所述进数据接口电路连接单片机电路；所述光模块分别连接电流检测电路和运算放大电路。

进一步的为更好的实现本发明，特别采用下述设置结构：所述电流检测电路包括电流检测芯片UO、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5，所述电流检测芯片UO的RG1脚连接电阻R1的第二端，所述光模块的VCCT脚连接电阻R3的第一端，所述电阻R3的第二端分别连接电阻R1的第一端和电阻R4的第一端，所述电阻R4的第二端连接电阻R2的第一端，所述电阻R2的第二端连接电流检测芯片U0的RG2脚，所述电流检测芯片U0的OUT脚通过电阻R5接地且电流检测芯片U0的OUT脚连接AD转换电路。

进一步的为更好的实现本发明，特别采用下述设置结构：所述AD转换电路内设置有AD转换芯片U3、8D锁存器U4，所述电流检测芯片U0的OUT脚连接AD转换芯片U3，所述AD转换芯片U3连接单片机电路和8D锁存器U4。

进一步的为更好的实现本发明，特别采用下述设置结构：所述单片机电路包括单片机U2和光开关，所述AD转换芯片U3通过总线连接单片机U2的P0系列引脚，且总线还连接8D锁存器U4；所述单片机U2的P2.1引脚还连接在AD转换芯片U3上，所述单片机U2的P1.5和P1.6引脚皆连接在光开关上，所述单片机U2的TxD和RxD引脚皆连接在计算机接口电路上。

进一步的为更好的实现本发明，特别采用下述设置结构：所述运算放大电路包括也是放大器芯片U1，所述运算放大器U1的OUT1脚连接单片机U2的P1.0引脚，所述光模块的SD脚连接运算放大器U1的+IN1脚。

进一步的为更好的实现本发明，特别采用下述设置结构：所述计算机接口电路包括计算机串口和接口芯片U5，所述计算机串口连接接口芯片U5，所述接口芯片U5连接单片机U2的TxD和RxD引脚。

进一步的为更好的实现本发明，特别采用下述设置结构：还包括电源VCC，所述电源VCC分别连接电阻R2的第一端和运算放大器U1的-IN1脚。

本发明与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：

本发明能够实现快速稳定的对光模块待测参数的检测，以便提供 一致性良好的光模块，避免光模块在实际应用中出现使用故障，影响所加载的系统的使用，其卓越的测试性能，能够方便的对光模块高低告警值进行测试，亦可准确的对光模块工作电流进行采集。

附图说明

图1为本发明的工作原理图。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步地详细说明，但本发明的实施方式不限于此。

实施例1：

一种用于测试光模块参数的测试板，能够实现快速稳定的对光模块待测参数的检测，以便提供 一致性良好的光模块，避免光模块在实际应用中出现使用故障，影响所加载的系统的使用，其卓越的测试性能，能够方便的对光模块高低告警值进行测试，亦可准确的对光模块工作电流进行采集，如图1所示，特别设置有下述结构：包括光模块、电流检测电路、AD转换电路、单片机电路、计算机接口电路及运算放大电路，所述电流检测电路连接AD转换电路，所述AD转换电路连接单片机电路，所述单片机电路连接运放电路，所述进数据接口电路连接单片机电路；所述光模块分别连接电流检测电路和运算放大电路。

实施例2：

本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，进一步的为更好的实现本发明，如图1所示，特别采用下述设置结构：所述电流检测电路包括电流检测芯片UO、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5，所述电流检测芯片UO的RG1脚连接电阻R1的第二端，所述光模块的VCCT脚连接电阻R3的第一端，所述电阻R3的第二端分别连接电阻R1的第一端和电阻R4的第一端，所述电阻R4的第二端连接电阻R2的第一端，所述电阻R2的第二端连接电流检测芯片U0的RG2脚，所述电流检测芯片U0的OUT脚通过电阻R5接地且电流检测芯片U0的OUT脚连接AD转换电路。

实施例3：

本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，进一步的为更好的实现本发明，如图1所示，特别采用下述设置结构：所述AD转换电路内设置有AD转换芯片U3、8D锁存器U4，所述电流检测芯片U0的OUT脚连接AD转换芯片U3，所述AD转换芯片U3连接单片机电路和8D锁存器U4。

实施例4：

本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，进一步的为更好的实现本发明，如图1所示，特别采用下述设置结构：所述单片机电路包括单片机U2和光开关，所述AD转换芯片U3通过总线连接单片机U2的P0系列引脚，且总线还连接8D锁存器U4；所述单片机U2的P2.1引脚还连接在AD转换芯片U3上，所述单片机U2的P1.5和P1.6引脚皆连接在光开关上，所述单片机U2的TxD和RxD引脚皆连接在计算机接口电路上。

实施例5：

本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，进一步的为更好的实现本发明，如图1所示，特别采用下述设置结构：所述运算放大电路包括也是放大器芯片U1，所述运算放大器U1的OUT1脚连接单片机U2的P1.0引脚，所述光模块的SD脚连接运算放大器U1的+IN1脚。

实施例6：

本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，进一步的为更好的实现本发明，如图1所示，特别采用下述设置结构：所述计算机接口电路包括计算机串口和接口芯片U5，所述计算机串口连接接口芯片U5，所述接口芯片U5连接单片机U2的TxD和RxD引脚。

实施例7：

本实施例是在上述实施例的基础上进一步优化，进一步的为更好的实现本发明，如图1所示，特别采用下述设置结构：还包括电源VCC，所述电源VCC分别连接电阻R2的第一端和运算放大器U1的-IN1脚，所述电源VCC采用5V电源。

当单片机U2的P1.0引脚端口线采集到光模块的SD信号由高电平变为低电平时，则单片机向计算机串口发送命令0xaa，计算机接收到此命令后即可记录高告警值；当SD信号由低电平变为高电平时，则单片机向计算机串口发送命令0x05，计算机接收到命令后即可记录低告警值。

所述测试板采用MAXIM公司的MAX472电流检测放大器芯片（电流检测芯片U0）来采集光模块发射端与接收端的工作电流大小。MAX472芯片可以实现电流/电压的转换，并利用电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5可以把光模块发射端与接收端的工作电流转换成适合于AD转换芯片U3（ADC0809）的单端电压信号，然后把此电压信号接到ADC0809的模拟输入采集通道。ADC0809将采集到的信号传给单片机U2（89C51单片机）的P0系列引脚端口，然后再由单片机U2通过RxD与TxD引脚与计算机接口电路进行通信。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明做任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：包括光模块、电流检测电路、AD转换电路、单片机电路、计算机接口电路及运算放大电路，所述电流检测电路连接AD转换电路，所述AD转换电路连接单片机电路，所述单片机电路连接运放电路，所述进数据接口电路连接单片机电路；所述光模块分别连接电流检测电路和运算放大电路。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：所述电流检测电路包括电流检测芯片UO、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5，所述电流检测芯片UO的RG1脚连接电阻R1的第二端，所述光模块的VCCT脚连接电阻R3的第一端，所述电阻R3的第二端分别连接电阻R1的第一端和电阻R4的第一端，所述电阻R4的第二端连接电阻R2的第一端，所述电阻R2的第二端连接电流检测芯片U0的RG2脚，所述电流检测芯片U0的OUT脚通过电阻R5接地且电流检测芯片U0的OUT脚连接AD转换电路。

3.根据权利要求2所述的一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：所述AD转换电路内设置有AD转换芯片U3、8D锁存器U4，所述电流检测芯片U0的OUT脚连接AD转换芯片U3，所述AD转换芯片U3连接单片机电路和8D锁存器U4。

4.根据权利要求3所述的一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：所述单片机电路包括单片机U2和光开关，所述AD转换芯片U3通过总线连接单片机U2的P0系列引脚，且总线还连接8D锁存器U4；所述单片机U2的P2.1引脚还连接在AD转换芯片U3上，所述单片机U2的P1.5和P1.6引脚皆连接在光开关上，所述单片机U2的TxD和RxD引脚皆连接在计算机接口电路上。

5.根据权利要求4所述的一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：所述运算放大电路包括也是放大器芯片U1，所述运算放大器U1的OUT1脚连接单片机U2的P1.0引脚，所述光模块的SD脚连接运算放大器U1的+IN1脚。

6.根据权利要求5所述的一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：所述计算机接口电路包括计算机串口和接口芯片U5，所述计算机串口连接接口芯片U5，所述接口芯片U5连接单片机U2的TxD和RxD引脚。

7.根据权利要求6所述的一种用于测试光模块参数的测试板，其特征在于：还包括电源VCC，所述电源VCC分别连接电阻R2的第一端和运算放大器U1的-IN1脚。