CN105868064A - 一种服务器memory电源自动化测试的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种服务器memory电源自动化测试的方法，属于服务器内存测试技术领域。本发明的服务器memory电源自动化测试的方法包括以下步骤：S1：将函数发生器和示波器通过GPIB连接，示波器和PC通过GPIB‑UB‑HS连接；S2：控制示波器和函数发生器，通过读取测试条件，设置函数发生器并发送output指令；S3：根据采集的示波器波形和数据生成transient 3D图像；S4：根据transient测试的结果，提取最worst情况下的测试条件。该发明的服务器memory电源自动化测试的方法能减少设置测试条件的繁琐计算与校正，直观显示采集的所有测试数据及3D图像，具有很好的推广应用价值。
Description
技术领域
本发明涉及服务器内存测试技术领域，具体提供一种服务器memory电源自动化测试的方法。
背景技术
随着社会经济的飞速发展，计算机得到越来越广泛的应用。同时，IT领域技术的不断发展，传统信息化服务以及日趋强大的云计算服务，对服务器的安全可靠性要求越来越高。服务器memory是服务器重要的组成部分，内存是否稳定运行直接影响到服务器的可靠安全性，因此在生产以及使用过程中对服务器的memory测试是不可或缺的。在服务器的memory电源测试中，transient测试是最重要也是最繁琐的部分。现有技术中，在intel VR_TEST_TOOL和DDR_TEST_TOOL互联的基础上，需要将transient电流范围换算成电压范围并通过示波器进行校正，根据示波器的显示调整slew rate条件，通过PDT设置测试条件run 3D APP，测试出最worst情况，然后重新设定测试条件，抓取测试波形及数据。该方法中，测试条件的设置需要繁琐的计算与校正，并且不能直观的显示采集的所有数据。
发明内容
本发明的技术任务是针对上述存在的问题，提供一种能有效的减少设置测试条件的繁琐计算与校正，同时可以直观的显示采集的所有测试数据及3D图像，并自动抓取最worst情况下的波形和数据与SPEC（Standard Performance Evaluation
Corporation）即系统性能评估测试进行对比的服务器memory电源自动化测试的方法。
为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：
一种服务器memory电源自动化测试的方法，该测试的方法建立在intel DDR_TEST_TOOL基础上，具体包括以下步骤：
S1：将函数发生器和示波器通过GPIB相连接，示波器和PC通过GPIB-UB-HS相连接；
S2：控制示波器和函数发生器，通过读取测试条件，设置函数发生器并发送output指令给memory，采集示波器测试波形及数据；
S3：根据采集的示波器波形和数据生成transient电压-频率-占空比3D图像；
S4：根据transient测试的结果，提取最worst情况下的测试条件，重新设置函数发生器并发送output指令，抓取示波器的波形及数据到测试表格中，并与测试表格的SPEC值进行比较。
所述方法能够实现PC、示波器和函数发生器的互联。自动化测试在设计初期，通过控制示波器和函数发生器，读取表格测试条件，计算和实际调整设定好函数发生器，在测试过程中，只需读取测试条件就可自动设置函数发生器并发送output指令，同时采集示波器波形和数据生成transient电压-频率-占空比3D图像，提取最worst情况下的测试条件，再重新自动设定函数发生器，抓取示波器测试波形及数据，与SPEC值进行比较，即可完成服务器memory电源自动化测试。减少了设置测试条件的繁琐计算与校正，并可以直观显示采集的所有测试数据及3D图像。
作为优选，所述步骤S2基于LabVIEW控制示波器和函数发生器。
作为优选，步骤S4所述抓取的最worst情况下的测试条件为worst MAX电压值和worst MIX电压值所对应的频率和占空比。根据提取的worst MAX电压值和worst MIX电压值所对应的频率和占空比，设定函数发生器并发送output指令，抓取此时对应的示波器波形及数据，同时与SPEC值进行比较。
与现有技术相比，本发明具有以下突出的有益效果：
（一）本发明所述方法的测试建立在intel
DDR_TEST_TOOL的基础上，通过GPIB连接示波器和函数发生器，再通过GPIB-USB-HS连接示波器和PC，实现PC、示波器和函数发生器的互联；
（二）基于LabVIEW控制示波器和函数发生器，读取测试表格中的测试条件，设置函数发生器并发送output指令，并采集示波器的波形及数据生成transient电压-频率-占空比3D图像，可以直观显示采集到的所有测试数据；
（三）该方法能够减少设置测试条件的繁琐计算与校正，同时可以直观的显示采集的所有测试数据及其3D图像，并能自动抓取最worst情况下的波形和数据与SPEC进行对比，能够最大程度上简化服务器memory电源测试。
附图说明
图1是本发明所述服务器memory电源自动化测试的方法的测试架构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图和实施例，对本发明的一种服务器memory电源自动化测试的方法作进一步详细说明。
实施例
如图1所示，本发明的一种服务器memory电源自动化测试的方法，该测试的方法建立在intel
DDR_TEST_TOOL基础上，具体包括以下步骤：
S1：将函数发生器和示波器通过GPIB相连接，示波器和PC通过GPIB-UB-HS相连接。
S2：控制示波器和函数发生器，通过读取测试条件，设置函数发生器并发送output指令给memory，采集示波器测试波形及数据。基于LabVIEW控制示波器和函数发生器，读取测试条件设置函数发生器并发送output指令，采集示波器波形及数据。
S3：根据采集的示波器波形和数据生成transient电压-频率-占空比3D图像，可以直观的显示采集到的所有测试数据。
S4：根据transient测试的结果，提取最worst情况下的测试条件，重新设置函数发生器并发送output指令，抓取示波器的波形及数据到测试表格中，并与测试表格的SPEC值进行比较。提取的最worst情况下的测试条件为worst MAX电压值和worst MIX电压值所对应的频率和占空比。根据提取的worst MAX电压值和worst MIX电压值所对应的频率和占空比，设定函数发生器并发送output指令，抓取此时对应的示波器波形及数据，同时与SPEC值进行比较。
本发明所述服务器memory电源自动化测试的方法的具体过程为：
（1）测试建立在intel DDR_TEST_TOOL基础上，通过GPIB连接示波器和函数发生器，再经由GPIB-USB-HS连接示波器和PC；
（2）基于LabVIEW控制示波器和函数发生器，根据读取的测试条件设置函数发生器并发送output指令，采集示波器测试的波形及数据；
（3）根据采集的示波器的数据生成transient电压-频率-占空比3D图像，提取worst MAX电压值和worst MIN电压值所对应的频率和占空比；
（4）重新设置函数发生器并发送output指令，抓取示波器的波形及数据到测试表格中，并与表格SPEC进行比较。
以上所述的实施例，只是本发明较优选的具体实施方式，本领域的技术人员在本发明技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本发明的保护范围内。
Claims (3)
1.一种服务器memory电源自动化测试的方法，其特征在于：该测试的方法建立在intel DDR_TEST_TOOL基础上，具体包括以下步骤：
S1：将函数发生器和示波器通过GPIB相连接，示波器和PC通过GPIB-UB-HS相连接；
S2：控制示波器和函数发生器，通过读取测试条件，设置函数发生器并发送output指令给memory，采集示波器测试波形及数据；
S3：根据采集的示波器波形和数据生成transient电压-频率-占空比3D图像；
S4：根据transient测试的结果，提取最worst情况下的测试条件，重新设置函数发生器并发送output指令，抓取示波器的波形及数据到测试表格中，并与测试表格的SPEC值进行比较。
2.根据权利要求1所述的服务器memory电源自动化测试的方法，其特征在于：所述步骤S2基于LabVIEW控制示波器和函数发生器。
3.根据权利要求1或2所述的服务器memory电源自动化测试的方法，其特征在于：步骤S4所述抓取的最worst情况下的测试条件为worst MAX电压值和worst MIX电压值所对应的频率和占空比。
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