CN105843205A - 一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法、装置及自动化设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，用以检测一突跳式温控器的脱跳情况，依次执行以下步骤，a）提供一所述温控器；b）将所述温控器加热至一第一温度，并感测所述温控器的双金属片是否发生跳变及所述温控器的导通状态是否变化；c）判断是否合格；d）将所述温控器冷却至一第二温度，其中，所述第二温度小于所述第一温度，并感测所述温控器的双金属片是否发生跳变及所述温控器的导通状态是否变化；e）判断是否合格。本发明的优点在于，1、检测方法简便可靠，便于实施。2、通过自动化操作，以替代传统的人工检测，大大提高检测效率，并降低人工使用成本和劳动强度。3、判断结果准确，改善检测精度。
Description
技术领域
本发明涉及温控器领域，特别是一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法及应用该方法的装置。
背景技术
请参见图1，突变式温控器1是一种常用的控制器件，其由顶部的双金属片11、中间的配杆12、动片13、静片14及底部的金属脚位15构成。其中，双金属片具有随温度变化发生形变的特性。当双金属片被加热至一第一温度时，所述双金属片11会迅速发生形变，发生跳变。而冷却至一第二温度时，所述双金属片11形变迅速恢复。所述双金属片11的跳变与恢复对所述配杆12产生作用力，并通过所述配杆12上下移动控制底部所述金属脚位15的断开与闭合。
目前，成品温控器是否满足设计要求主要以人工检测为主，具体地说是，通过检测人员的听音来判断决定产品是否合格。不难看出，上述方式具有检测过程繁琐，检测时间长效率低，而且对产品的合格性判断会有较大误差等缺点。
发明内容
本发明的目的是提供一种新型的突跳式温控器脱跳同步性检测方法，用以解决现有技术中人工检测的问题。
为了实现上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，用以检测一突跳式温控器的脱跳情况，其特征在于，依次执行以下步骤，
a）提供一所述温控器；
b）将所述温控器加热至一第一温度，并感测所述温控器的双金属片是否发生跳变及所述温控器的导通状态是否变化；
c）判断是否合格；
d）将所述温控器冷却至一第二温度，其中，所述第二温度小于所述第一温度，并感测所述温控器的双金属片是否发生跳变及所述温控器的导通状态是否变化；
e）判断是否合格。
作为一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法的优选方案，感测所述温控器是否导通的方法为电流测量。进一步地，所述电流测量，是施加一直流高压于所述温控器的金属脚位间，使得所述温控器的动片与静片间形成有一电弧，通过量测所述电弧的电流变化，以判断所述温控器是否导通。
作为一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法的优选方案，感测所述双金属片是否跳变的方法为磁感应测量。进一步地，所述磁感应测量，是施加一磁场于所述双金属片，通过量测所述磁场的磁场变化，以判断所述双金属片是否发生跳变。
作为一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法的优选方案，所述步骤c）或步骤e）至少包含以下步骤之一：
i）若所述温控器的双金属片未发生跳变，而所述温控器的导通状态也未发生变化，则表明所述温控器的配杆过长；
ii）若所述温控器的双金属片发生跳变，而所述温控器的导通状态始终未发生变化，则表明所述温控器的配杆过短；
iii）若所述温控器的双金属片先发生跳变，而后所述温控器的导通状态发生变化，且两者的时间差大于一杆短预定值，则表明所述温控器的配杆偏短；
iv）若所述温控器的导通状态先发生变化，而后所述温控器的双金属片发生跳变，且两者的时间差大于一杆长预定值，则表明所述温控器的配杆偏长。
进一步地，所述子步骤iii）及iv)中，若所述电弧的电流连续跳动且变化时间大于一设定的时间，则表明为“断电不干脆”，即，所述温控器开关性能不佳。
作为一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法的优选方案，所述步骤b）与所述步骤d）互换。
本发明还提供了一种实现上述温控器脱跳同步性检测方法的装置，其特征在于，包括，
一加热圈，所述加热圈用以加热所述温控器；
一磁感线圈，所述磁感线圈环绕于所述温控器的所述双金属片，用以提供一检测磁场；以及，
一探针，所述探针对应于所述磁感线圈，用以量测所述检测磁场的变化。
本发明另外还提供了一种实现上述突跳式温控器脱跳同步性检测方法的自动化设备，其特征在于，包括，
一第一工位，所述第一工位用以上料；
一第二工位，所述第二工位用以预热；
一第三工位，所述第三工位用以实现步骤b；
一第四工位，所述第四工位用以实现步骤d；
一第五工位，所述第五工位用以冷却；
一第六工位，所述第六工位用以取料。
与现有技术相比，本发明至少具有以下优点：1、检测方法简便可靠，便于实施。2、通过自动化操作，以替代传统的人工检测，大大提高检测效率，并降低人工使用成本和劳动强度。3、判断结果准确，改善检测精度。
附图说明
图1是温控器的结构示意图。
图2是本发明中的结构示意图。
图3是本发明中涉及的装置的结构示意图。
图4是本发明中涉及的自动化设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作详细说明。
请参见图1，图中所示的是一种突变式温控器1，其由顶部的双金属片11、中间的配杆12、动片13、静片14及底部的金属脚位15构成。
本发明涉及的一种突跳式温控器1脱跳同步性检测方法，用以检测一突跳式温控器1的脱跳情况，依次执行以下步骤，
a）提供一所述温控器1。
b） 将所述温控器1加热至一第一温度，并感测所述温控器1的双金属片11是否发生跳变及所述温控器1的导通状态是否变化。
本实施例中，感测所述温控器1是否导通的方法为电流测量。进一步地，所述电流测量，是施加一直流高压于所述温控器1的金属脚位15间，使得所述温控器1的动片13与静片14间形成有一电弧，通过量测所述电弧的电流变化，以判断所述温控器1是否导通。
又，感测所述双金属片11是否跳变的方法为磁感应测量。进一步地，所述磁感应测量，是施加一磁场于所述双金属片11，通过量测所述磁场的磁场变化，以判断所述双金属片11是否发生跳变。
c）判断是否合格。
d）将所述温控器1冷却至一第二温度，其中，所述第二温度小于所述第一温度，并感测所述温控器1的双金属片11是否发生跳变及所述温控器1的导通状态是否变化。
本实施例中，感测所述温控器1是否导通的方法为电流测量。进一步地，所述电流测量，是施加一直流高压于所述温控器1的金属脚位15间，使得所述温控器1的动片13与静片14间形成有一电弧，通过量测所述电弧的电流变化，以判断所述温控器1是否导通。
又，感测所述双金属片11是否跳变的方法为磁感应测量。进一步地，所述磁感应测量，是施加一磁场于所述双金属片11，通过量测所述磁场的磁场变化，以判断所述双金属片11是否发生跳变。
e）判断是否合格。
其中，所述步骤c）或步骤e）至少包含以下步骤之一：
i）若所述温控器1的双金属片11未发生跳变，而所述温控器1的导通状态也未发生变化，则表明所述温控器1的配杆12过长；
ii）若所述温控器1的双金属片11发生跳变，而所述温控器1的导通状态始终未发生变化，则表明所述温控器1的配杆12过短；
iii）若所述温控器1的双金属片11先发生跳变，而后所述温控器1的导通状态发生变化，且两者的时间差大于一杆短预定值，则表明所述温控器1的配杆12偏短；
iv）若所述温控器1的导通状态先发生变化，而后所述温控器1的双金属片11发生跳变，且两者的时间差大于一杆长预定值，则表明所述温控器1的配杆12偏长。
进一步地，所述子步骤iii）及iv)中，若所述电弧的电流连续跳动且变化时间大于一设定的时间，则表明为“断电不干脆”，即，所述温控器1开关性能不佳。
上述提到的所述第一温度、所述第二温度、所述杆短预定值、所述杆长预定值、不干脆的时间等参数根据待检测的温控器1的具体参数设计，此为熟知技术，不多赘述。
本发明还提供了一种实现上述温控器1脱跳同步性检测方法的装置，包括，
一加热圈4，所述加热圈4用以加热所述温控器1；
一磁感线圈2，所述磁感线圈2（励磁线圈21及信号线圈22）环绕于所述温控器1的所述双金属片11，用以提供一检测磁场；以及，
一探针3，所述探针3对应于所述磁感线圈2，用以量测所述检测磁场的变化。
当所述双金属片11发生跳变，所述检测磁场进而发生变化，由所述探针3感测。
另外，本发明还提供了一种实现上述突跳式温控器1脱跳同步性检测方法的自动化设备，主要由一第一工位101，一第二工位102，一第三工位103，一第四工位104，一第五工位105及一第六工位106组成。
所述第一工位101用以上料。
所述第二工位102用以预热。对温控器1进行预加热，使其升高至一定的温度（小于第一温度），以便于后续的测试能够节省时间。
所述第三工位103用以实现步骤b。对温控器1进行加热，同时高压产生装置自底部上升将高压信号施加给温控器1的金属脚位15。经短暂的时间后启动检测仪进行加热模式下的测试，继而进行结果判定输出判定信号1给PLC。
所述第四工位104用以实现步骤d。动作方式与所述第三工位相同，不同的是对产品进行冷却模式下的检测。测试完成后进行结果判定并输出判定信号2给PLC。
所述第五工位105用以冷却。测试完成后的产品仍有一定的余温，需要在取出组前进行冷却，以防止损坏取出组的吸盘。冷却时间可根据不同产品进行设定。
所述第六工位106用以取料。冷却至合适温度后，进入此工位。
PLC根据判定信号1、判定信号2经过一定的逻辑判断进行取出，并将良品不良品进行分类放置。
以上仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，用以检测一突跳式温控器的脱跳情况，其特征在于，依次执行以下步骤，
a）提供一所述温控器；
b）将所述温控器加热至一第一温度，并感测所述温控器的双金属片是否发生跳变及所述温控器的导通状态是否变化；
c）判断是否合格；
d）将所述温控器冷却至一第二温度，其中，所述第二温度小于所述第一温度，并感测所述温控器的双金属片是否发生跳变及所述温控器的导通状态是否变化；
e）判断是否合格。
2.根据权利要求1所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，感测所述温控器是否导通的方法为电流测量。
3.根据权利要求2所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，所述电流测量，是施加一直流高压于所述温控器的金属脚位间，优选地，2kV电压，使得所述温控器的动片与静片间形成有一电弧，通过量测所述电弧的电流变化，以判断所述温控器是否导通。
4.根据权利要求1、2或3所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，感测所述双金属片是否跳变的方法为磁感应测量。
5.根据权利要求4所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，所述磁感应测量，是施加一磁场于所述双金属片，通过量测所述磁场的磁场变化，以判断所述双金属片是否发生跳变。
6.根据权利要求1所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，所述步骤c）或步骤e）至少包含以下步骤之一：
i）若所述温控器的双金属片未发生跳变，而所述温控器的导通状态也未发生变化，则表明所述温控器的配杆过长；
ii）若所述温控器的双金属片发生跳变，而所述温控器的导通状态始终未发生变化，则表明所述温控器的配杆过短；
iii）若所述温控器的双金属片先发生跳变，而后所述温控器的导通状态发生变化，且两者的时间差大于一杆短预定值，则表明所述温控器的配杆偏短；
iv）若所述温控器的导通状态先发生变化，而后所述温控器的双金属片发生跳变，且两者的时间差大于一杆长预定值，则表明所述温控器的配杆偏长。
7.根据权利要求6所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，所述子步骤iii）及iv)中，若所述电弧的电流连续跳动且变化时间大于一设定的时间，则表明为“断电不干脆”，即，所述温控器开关性能不佳。
8.根据权利要求1、2或4所述的一种突跳式温控器脱跳同步性检测方法，其特征在于，所述步骤b）与所述步骤d）互换。
9.一种实现权利要求1所述的温控器脱跳同步性检测方法的装置，其特征在于，包括，
一加热圈，所述加热圈用以加热所述温控器；
一磁感线圈，所述磁感线圈环绕于所述温控器的所述双金属片，用以提供一检测磁场；以及，
一探针，所述探针对应于所述磁感线圈，用以量测所述检测磁场的变化。
10.一种实现权利要求1所述的突跳式温控器脱跳同步性检测方法的自动化设备，其特征在于，包括，
一第一工位，所述第一工位用以上料；
一第二工位，所述第二工位用以预热；
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