CN105828361A - 一种杂散干扰分析方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种杂散干扰分析方法及装置，涉及无线技术领域。该方法包括：获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。本发明的方案，解决了现有杂散干扰分析方法中存在的只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低以及成本高等问题。

Description

一种杂散干扰分析方法及装置

技术领域

本发明涉及无线技术领域，特别是指一种杂散干扰分析方法及装置。

背景技术

杂散干扰是一个系统的发射频段外的杂散发射落入到另外一个系统接收频段内造成的干扰。杂散干扰直接影响了系统的接收灵敏度。若杂散落入某个系统接收频段内的幅度较高，被干扰系统接收机系统是无法滤除该杂散信号的，因此必须在发信机的输出口加滤波器来控制杂散干扰，或者增加系统间隔离度以满足对受扰系统灵敏度的要求。

目前主要使用扫频仪(或便携式频谱仪)和受扰/施扰频段的带通滤波器进行分布式控制系统DCS杂散干扰分析。扫频仪(或便携式频谱仪)分析：主要用来测量各个系统在频域上的信号强度，例如共站或邻站1800MHz数字蜂窝系统DCS1800系统、全球移动通讯系统GSM900系统和个人手持式电话系统PFS系统的发射信号频点和功率强度，以及F频段时分长期演进TD-LTE系统关闭时的本频段内的干扰信号强度，从而初步判断是否存在某些干扰风险。当想要测试某个频段的信号，尤其是功率很低的信号时，如F频段内微弱的干扰信号，一定要在天线和扫频仪接口之间串入一个目标频段(如F频段)的滤波器，充分抑制来自其他频段(如GSN900和DCS1800)的强信号，以免使扫频仪过载，自身产生互调、谐波等信号掩盖真实的干扰信号而影响测试准确度。需要说明的是，只有将扫频仪接在已有的F频段智能天线的一个端口上时，测量的结果才能准确反映真正馈入基站的干扰信号大小。如果将扫频仪接在另外的八木天线或鞭状天线上进行探测，则只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低。受扰/施扰频段的带通滤波器分析：包括DCS1800频段单或双通道滤波器(通带涵盖DCS1800上下行频段)和F频段八通道滤波器，分别用于抑制DCS1800基站对F频段的杂散干扰以及提高F频段基站抵抗DCS1800频段阻塞干扰的能力。在测试中可依次在DCS1800基站和TD-LTE基站天线口串接这些滤波器，对比串接前后的干扰程度变化，从而定位出本站存在的干扰类型。

通过上述内容了解到，在现有的杂散干扰分析方法中，均具有一定的局限性：1.通过扫频仪(或便携式频谱仪)分析，只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低；2.通过受扰/施扰频段的带通滤波器分析，测试中需依次在DCS1800基站和TD-LTE基站天线口串接这些滤波器，对比串接前后的干扰程度变化，从而定位出本站存在的干扰类型，而且如果每站点排查，人力成本和时间成本巨大。

发明内容

本发明的目的是提供一种杂散干扰分析方法及装置，通过模拟干扰电平进行杂散干扰分析，定位杂散干扰，避免了现有杂散干扰分析方法中存在的只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低以及成本高等问题。

为达到上述目的，本发明的实施例提供一种杂散干扰分析方法，包括：

获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；

根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；

根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；

在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。

其中，根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线，包括：

根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率；

获取在所述第一预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第一点的一坐标值，所述第一平均上行接收干扰功率作为所述第一点的另一坐标值；

获取在所述第二预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第二点的一坐标值，所述第二平均上行接收干扰功率作为所述第二点的另一坐标值；

根据所述第一点和所述第二点的坐标值，确定模拟干扰电平曲线的斜率和截距，得到模拟干扰电平曲线。

其中，根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，包括：

根据所述模拟干扰电平曲线的斜率和截距，在所述斜率小于等于第二阈值且截距大于等于第三阈值时，判断所述小区可能存在杂散干扰，反之，则不存在杂散干扰。

其中，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数，包括：

获取所述模拟干扰电平曲线中,物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平；

通过公式获得可决系数R²；其中，S_i是物理资源块号为i时的仿真干扰电平；F_i是物理资源块号为i时的干扰电平；是物理资源块号为i时的干扰电平平均值；i按照第三预设范围取值。

其中，获取小区上报的干扰功率的测量报告，包括：

发送测量指令；

接收小区根据所述测量指令上报的物理资源块级别的干扰功率的测量报告。

为达到上述目的，本发明的实施例还提供了一种杂散干扰分析装置，包括：

获取模块，用于获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；

第一确定模块，用于根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；

处理模块，用于根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；

第二确定模块，用于在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。

其中，所述第一确定模块包括：

第一获取子模块，用于根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率；

第二获取子模块，用于选取在所述第一预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第一点的坐标值，所述第一平均上行接收干扰功率作为所述第一点的另一坐标值；

第三获取子模块，用于选取在所述第二预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第二点的坐标值，所述第二平均上行接收干扰功率作为所述第二点的另一坐标值；

确定子模块，用于根据所述第一点和所述第二点的坐标值，确定模拟干扰电平曲线的斜率和截距，得到模拟干扰电平曲线。

其中，所述处理模块包括：

判断子模块，用于根据所述模拟干扰电平曲线的斜率和截距，在所述斜率小于等于第二阈值且截距大于等于第三阈值时，判断所述小区可能存在杂散干扰，反之，则不存在杂散干扰。

其中，所述处理模块包括：

第四获取子模块，用于获取所述模拟干扰电平曲线中,物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平；

处理子模块，用于通过公式获得可决系数R²；其中，S_i是物理资源块号为i时的仿真干扰电平；F_i是物理资源块号为i时的干扰电平；是物理资源块号为i时的干扰电平平均值；i按照第三预设范围取值。

其中，所述获取模块包括：

发送子模块，用于发送测量指令；

接收子模块，用于接收小区根据所述测量指令上报的物理资源块级别的干扰功率的测量报告。

本发明的上述技术方案的有益效果如下：

本发明实施例的杂散干扰分析方法，首先会获取小区上报的干扰功率的测量报告MR。之后，可根据从测量报告中获取到的每个PRB的上行接收干扰功率，来确定模拟干扰电平曲线。而后，根据该模拟干扰电平曲线即可判断小区是否可能存在杂散干扰，并且在可能存在杂散干扰时，获取模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数，最终根据该可决系数和第一阈值的比较，在可决系数大于第一阈值时，确定该小区存在杂散干扰。这样，按照上述方法，根据PRB粒度接收干扰功率，通过模拟干扰电平和实际干扰电平的分析定位杂散干扰，具有高准确性和低成本的优势，有效避免了现有分析方法存在的只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低以及成本高等问题。

附图说明

图1表示本发明实施例的杂散干扰分析方法的流程示意图；

图2表示本发明实施例的杂散干扰分析方法的具体步骤示意图；

图3表示本发明实施例的杂散干扰分析装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

本发明针对现有的杂散干扰分析方法中存在的只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低以及成本高等问题，提供一种杂散干扰分析方法及装置，通过模拟干扰电平进行杂散干扰分析，定位杂散干扰，准确性高且实现成本低。

如图1所示，本发明实施例的一种杂散干扰分析方法，包括：

步骤11，获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；

步骤12，根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；

步骤13，根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；

步骤14，在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。

应该知道的是，物理资源块即PRB，对应的是频域上12个连续的载波(在15K载波间隔的情况下是180K)，时域上是一个时系(半个子帧，0.5ms)的资源。本发明实施例的杂散干扰分析方法，主要是应用于DCS1800系统对LTEF频段的杂散干扰进行分析的，PRB号为1-100。首先按照步骤11，获取小区上报的干扰功率的测量报告MR。测量报告至少包括小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平，其中上行接收干扰功率是一个PRB带宽上的干扰功率。测量报告的数据是以一定的预设周期测量得到的，对于每个PRB可以获取到实际的上行接收干扰功率和干扰电平，知道干扰功率就可以知道对应的干扰电平，当然也可以是在一段时间内的平均值。

之后，按照步骤12，可根据从测量报告中获取到的每个PRB的上行接收干扰功率，来确定模拟干扰电平曲线。而如步骤13，确定了该模拟干扰电平曲线后，根据该模拟干扰电平曲线即可判断小区是否可能存在杂散干扰，并且在可能存在杂散干扰时，获取模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数，那么在步骤14中，根据该可决系数和第一阈值的比较，在可决系数大于第一阈值时，确定该小区存在杂散干扰。这样，通过上述步骤之后，根据PRB粒度接收干扰功率，通过模拟干扰电平和实际干扰电平的分析定位杂散干扰，具有高准确性和低成本的优势，有效避免了现有分析方法存在的问题。

然而测量报告往往是由基站接收的，因此，本发明实施例的杂散干扰分析方法可以通过基站后台获取MR数据，分析PRB粒度的干扰，定位DCS落在LTEF频段的杂散干扰。

当然，需要了解的是，本发明实施例的杂散干扰分析方法主要是一种DCS1800系统对LTEF频段的杂散干扰分析方法，PRB号为1-100。根据已了解的杂散干扰特征可知，1.小区级干扰平均干扰电平曲线一般较为平直；干扰源基站天线与TD-LTE小区天线隔离度越小，干扰越严重；PRB级干扰呈现的特点是频率靠近干扰源发射频段的PRB更容易受到干扰。因此，在上述实施例的基础上，本发明实施例的杂散干扰分析方法中，如图2所示，步骤12包括：

步骤121，根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率；

步骤122，获取在所述第一预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第一点的一坐标值，所述第一平均上行接收干扰功率作为所述第一点的另一坐标值；

步骤123，获取在所述第二预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第二点的一坐标值，所述第二平均上行接收干扰功率作为所述第二点的另一坐标值；

步骤124，根据所述第一点和所述第二点的坐标值，确定模拟干扰电平曲线的斜率和截距，得到模拟干扰电平曲线。

由杂散干扰特征，模拟干扰电平曲线可为一条直线如：S_i＝aX_i+b。其中，a是该直线的斜率，b是该直线的截距，X_i是PRB号，S_i是PRB对应的上行接收干扰功率(上行接收干扰电平)，只要确定了斜率和截距就能确定该直线。根据两点确定一条直线，按照步骤121-124所示，首先根据每个物理资源块PRB的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率。同样根据杂散干扰特征，在1-100号PRB中获取第一预设范围内物理资源块号优选是1-20号PRB的上行接收干扰功率，并取其平均值A1作为第一平均上行接收干扰功率，获取第二预设范围内物理资源块号优选是31-50号PRB的上行接收干扰功率，并取其平均值A2作为第二平均上行接收干扰功率。第一平均上行接收干扰功率做第一点的纵坐标，那么可在第一预设范围内物理资源块号1-20号中任一序号作为第一点的横坐标，同样第二平均上行接收干扰功率做第二点的纵坐标，就在第二预设范围内物理资源块号31-50号中任一序号作为第二点的横坐标，而为了保证模拟的PRB干扰电平曲线具有更高的可靠性，第一点的横坐标取1号第二点的横坐标取50号，这样确定了两点(1，A1)和(50，A2)。最终将这两点坐标代入S_i＝aX_i+b中就能够得到斜率截距确定了模拟干扰电平曲线。

当然，上述实现仅是一较佳的实现方式，第一预设范围、第二预设范围以及两点的横坐标取值可以是规定原则内的其他取值，也应视为本发明的保护范围，在此不一一列举。而且由于干扰功率和干扰电平的对应存在，模拟干扰电平曲线可以如上述由干扰功率确定，当然也可以直接由干扰电平确定，而，模拟干扰电平曲线也可以是模拟干扰功率曲线，与实际干扰功率进行杂散干扰分析等等。

在上述实施例中已知模拟干扰电平曲线为直线后，根据杂散干扰特征，为了确保模拟干扰电平直线具有较明显的前高后低的特点，在上述实施例的基础上，步骤13包括：

步骤131，根据所述模拟干扰电平曲线的斜率和截距，在所述斜率小于等于第二阈值且截距大于等于第三阈值时，判断所述小区可能存在杂散干扰，反之，则不存在杂散干扰。

如第二阈值为-0.25，第三阈值为-100，在斜率a≤-0.25截距b≥-100时，保证了模拟干扰电平直线是负斜率且具有一定的梯度，小区就可能存在杂散干扰，反之，不满足上述条件，则可知小区不存在杂散干扰。当然，第二阈值、第三阈值是由多种因素共同确定的，不仅限定为本实施例中的具体数值，其他能够达到上述目的的取值，也应视为本发明的保护范围。

经步骤131后，能够筛选出不存在杂散干扰的小区，对于这些不存在杂散干扰的小区就不需再进行后续的判断，减少了资源占用，而其余可能存在杂散干扰的小区就需要再次进行确认。因此，步骤13包括：

步骤132，获取所述模拟干扰电平曲线中,物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平；

步骤133，通过公式获得可决系数R²；其中，S_i是物理资源块号为i时的仿真干扰电平；F_i是物理资源块号为i时的干扰电平；是物理资源块号为i时的干扰电平平均值；i按照第三预设范围取值。在上述模拟干扰电平曲线的确定实现方式中，模拟干扰电平曲线S_i＝aX_i+b，S_i是PRB号为i时对应的上行接收干扰功率，由于干扰功率和干扰电平之间的关系，S_i也可以表示是PRB号为i时的仿真干扰电平。确定了模拟干扰电平曲线后，只需知道PRB号即i的取值，就可以知道其对应的仿真干扰电平。按照步骤133，在公式中代入i按照第三预设范围取值如(1-30)时，仿真干扰电平S_i、干扰电平F_i以及干扰电平平均值得到可决系数R²的值。根据步骤14可决系数R²能够对杂散干扰做最终的定位，将可决系数R²和第一阈值比较，在可决系数R²大于第一阈值(第一阈值为1)时，确定当前小区存在杂散干扰。而且在可决系数R²越大时，说明波形拟合度越高即干扰越明显。

在本发明实施例中，为了实现PRB粒度，步骤11包括：

步骤111，发送测量指令；

步骤112，接收小区根据所述测量指令上报的物理资源块级别的干扰功率的测量报告。

步骤111发送的测量指令要求小区以物理资源块级别粒度上报其干扰功率的测量报告，从而接收到满足要求的测量报告。当然也可以在接收到小区上报的测量报告后，再获取其中物理资源块级别粒度干扰功率。

综上所述，本发明实施例的杂散干扰分析方法，获取MR数据，通过模拟干扰电平和实际干扰电平的拟合分析PRB的上行接收干扰功率(底噪)来定位杂散干扰，准确性高成本低，避免了扫频仪(或便携式频谱仪)分析，只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低的问题；以及受扰/施扰频段的带通滤波器分析，人力成本和时间成本巨大的问题。

如图3所示，本发明的实施例还提供了一种杂散干扰分析装置，包括：

获取模块10，用于获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；

第一确定模块20，用于根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；

处理模块30，用于根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；

第二确定模块40，用于在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。

其中，所述第一确定模块20包括：

第一获取子模块201，用于根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率；

第二获取子模块202，用于选取在所述第一预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第一点的坐标值，所述第一平均上行接收干扰功率作为所述第一点的另一坐标值；

第三获取子模块203，用于选取在所述第二预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第二点的坐标值，所述第二平均上行接收干扰功率作为所述第二点的另一坐标值；

确定子模块204，用于根据所述第一点和所述第二点的坐标值，确定模拟干扰电平曲线的斜率和截距，得到模拟干扰电平曲线。

其中，所述处理模块30包括：

判断子模块301，用于根据所述模拟干扰电平曲线的斜率和截距，在所述斜率小于等于第二阈值且截距大于等于第三阈值时，判断所述小区可能存在杂散干扰，反之，则不存在杂散干扰。

其中，所述处理模块30包括：

第四获取子模块302，用于获取所述模拟干扰电平曲线中,物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平；

处理子模块303，用于通过公式获得可决系数R²；其中，S_i是物理资源块号为i时的仿真干扰电平；F_i是物理资源块号为i时的干扰电平；是物理资源块号为i时的干扰电平平均值；i按照第三预设范围取值。

其中，所述获取模块10包括：

发送子模块101，用于发送测量指令；

接收子模块102，用于接收小区根据所述测量指令上报的物理资源块级别的干扰功率的测量报告。

本发明实施例的杂散干扰分析装置，获取模块获取小区上报的干扰功率的测量报告MR后，第一确定模块可根据从测量报告中获取到的每个PRB的上行接收干扰功率，来确定模拟干扰电平曲线。那么处理模块确定了该模拟干扰电平曲线后，根据该模拟干扰电平曲线即可判断小区是否可能存在杂散干扰，并且在可能存在杂散干扰时，获取模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数，最后由第二确定模块根据该可决系数和第一阈值的比较，在可决系数大于第一阈值时，确定该小区存在杂散干扰。获取PRB粒度的MR数据，通过模拟干扰电平和实际干扰电平的拟合分析PRB的上行接收干扰功率(底噪)来定位杂散干扰，准确性高成本低，避免了扫频仪(或便携式频谱仪)分析，只能定性的反映干扰信号特征，信号强度准确度较低的问题；以及受扰/施扰频段的带通滤波器分析，人力成本和时间成本巨大的问题。

需要说明是，本发明实施例的杂散干扰分析装置是应用了上述杂散干扰分析方法的装置，上述杂散干扰分析方法的实现方式适用于该装置，也能达到相同的技术效果。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种杂散干扰分析方法，其特征在于，包括：

获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；

根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；

根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；

在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。

2.根据权利要求1所述的杂散干扰分析方法，其特征在于，根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线，包括：

根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率；

获取在所述第一预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第一点的一坐标值，所述第一平均上行接收干扰功率作为所述第一点的另一坐标值；

获取在所述第二预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第二点的一坐标值，所述第二平均上行接收干扰功率作为所述第二点的另一坐标值；

根据所述第一点和所述第二点的坐标值，确定模拟干扰电平曲线的斜率和截距，得到模拟干扰电平曲线。

3.根据权利要求2所述的杂散干扰分析方法，其特征在于，根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，包括：

根据所述模拟干扰电平曲线的斜率和截距，在所述斜率小于等于第二阈值且截距大于等于第三阈值时，判断所述小区可能存在杂散干扰，反之，则不存在杂散干扰。

4.根据权利要求1所述的杂散干扰分析方法，其特征在于，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数，包括：

获取所述模拟干扰电平曲线中,物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平；

通过公式获得可决系数R²；其中，S_i是物理资源块号为i时的仿真干扰电平；F_i是物理资源块号为i时的干扰电平；是物理资源块号。

5.根据权利要求1所述的杂散干扰分析方法，其特征在于，获取小区上报的干扰功率的测量报告，包括：

发送测量指令；

接收小区根据所述测量指令上报的物理资源块级别的干扰功率的测量报告。

6.一种杂散干扰分析装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取小区上报的干扰功率的测量报告；其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平；

第一确定模块，用于根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，确定模拟干扰电平曲线；

处理模块，用于根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰，在可能存在杂散干扰时，获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平，得到可决系数；

第二确定模块，用于在所述可决系数大于第一阈值时，确定所述小区存在杂散干扰。

7.根据权利要求6所述的杂散干扰分析装置，其特征在于，所述第一确定模块包括：

第一获取子模块，用于根据每个物理资源块的上行接收干扰功率，获取具有在第一预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第一平均上行接收干扰功率，获取具有在第二预设范围内物理资源块号的物理资源块的上行接收干扰功率的平均值作为第二平均上行接收干扰功率；

第二获取子模块，用于选取在所述第一预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第一点的坐标值，所述第一平均上行接收干扰功率作为所述第一点的另一坐标值；

第三获取子模块，用于选取在所述第二预设范围内的任一物理资源块号作为模拟干扰电平曲线的第二点的坐标值，所述第二平均上行接收干扰功率作为所述第二点的另一坐标值；

确定子模块，用于根据所述第一点和所述第二点的坐标值，确定模拟干扰电平曲线的斜率和截距，得到模拟干扰电平曲线。

8.根据权利要求7所述的杂散干扰分析装置，其特征在于，所述处理模块包括：

判断子模块，用于根据所述模拟干扰电平曲线的斜率和截距，在所述斜率小于等于第二阈值且截距大于等于第三阈值时，判断所述小区可能存在杂散干扰，反之，则不存在杂散干扰。

9.根据权利要求6所述的杂散干扰分析装置，其特征在于，所述处理模块包括：

第四获取子模块，用于获取所述模拟干扰电平曲线中,物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平；

处理子模块，用于通过公式获得可决系数R²；其中，S_i是物理资源块号为i时的仿真干扰电平；F_i是物理资源块号为i时的干扰电平；是物理资源块号为i时的干扰电平平均值；i按照第三预设范围取值。

10.根据权利要求6所述的杂散干扰分析装置，其特征在于，所述获取模块包括：

发送子模块，用于发送测量指令；

接收子模块，用于接收小区根据所述测量指令上报的物理资源块级别的干扰功率的测量报告。