CN105807143A - 一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法，采用TEAM P21基准模型代替实际电力变压器进行测量与仿真计算。该方法具体为负载测量值减去负载计算值中的线圈损耗值，得到结构件（铜板）中的损耗值。解决目前在实验测量中用模型的负载损耗减去空载损耗得到铜板中的损耗值与实际值偏差太大的问题。采用本方法可以有效减小该误差值。

Description

一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法

技术领域

本发明涉及变压器结构件测量技术领域，具体是一种变压器结构件杂散损耗测量方法。

背景技术

传统测量变压器结构件损耗的方法，采用负载测量损耗值减去空载测量损耗值，得到结构件的杂散损耗值。但现实存在的问题是，如果将被测试结构件从测试装置中移走，则线圈漏磁场分别将发生改变，从而导致线圈中的涡流损耗发生变化。传统测量方法忽略了引入结构件后磁场分布变化对线圈损耗值的影响，造成最终的结构件的损耗测量值误差较大。

发明内容

本发明解决变压器结构件损耗测量误差较大的问题，提供一种减小测量误差的测量方法。

本发明采用如下技术方案实现的：一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法，其步骤如下：

一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法，其步骤如下：

1)测量变压器模型负载变压器结构件时的损耗值P1；

2)利用仿真软件建立变压器负载时的精确模型，进行仿真计算，得到线圈的损耗计算值P2；

3)将步骤1)中的测量负载损耗值P1减去步骤2)中的线圈损耗计算值P2，得到铜板的损耗值P。

本发明与现有技术相比，其有益效果在于，本方法测得变压器结构件的损耗误差较小。

附图说明

图1为本发明方法一种实施例的电路图。

图2为本发明方法一种实施例的仿真建模图(其中a为线圈，b为结构件)。

具体实施方案

一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法，其步骤如下：

1)测量变压器模型负载变压器结构件时的损耗值P1；

2)利用仿真软件建立变压器负载时的精确模型，进行仿真计算，得到线圈的损耗计算值P2；

3)将步骤1)中的测量负载损耗值P1减去步骤2)中的线圈损耗计算值P2，得到铜板的损耗值P。

采用上述方法对当变压器结构件为铜板时的情况进行验证。

具体方法如下：

1)根据图1所示的电路图，利用TEAMP21基准模型建立变压器模型，并测量变压器模型负载铜板时的损耗值P1；

2)利用仿真软件magnet建立步骤1)中的变压器模型的精确模型，进行仿真计算，计算得到线圈损耗P2，建模图参见图2。

3)将步骤1)中的测量负载损耗值P1减去步骤2)中的线圈损耗计算值P2，得到铜板的损耗值P。

另根据常规的测试方法，在相同条件下，测量上述方法中的变压器模型在空载线圈时的损耗P0，除了取下铜板，其它条件同上述方法中的步骤1)所述。将步骤1)中的负载损耗测量值P1减去变压器模型在空载线圈时的损耗测量值P0，即得到传统方法测量的铜板的损耗值P′。两种测试方法所得结果见表1。实验所采用的铜板为标准件，其实际损耗值P3为已知。将本发明方法所得的铜板损耗值P及传统方法测量的铜板损耗值P′与其实际损耗值P3进行比较，即可知道两种方法的误差大小。

表1本发明方法和传统方法损耗测量

备注：室温20°

根据表1数据可知，本发明方法在变压器结构件为铜板时测量损耗的误差较传统测量方法小很多，尤其在激励为高频率时的优势更明显，证明了该方法较传统方法更加准确可靠。本次验证变压器结构为铜板，但并不应限制该方法的应用场合，需要测量变压器结构件杂散损耗的应用场合而应用本发明方法的情况，均属于本发明的保护范围之内。

在电流激励方式下，模型在空载(没有铜板)和负载(有铜板)时的磁通分布没有明显差异，这是因为铜板的导磁性能和空气非常接近。但是，因为铜板的导电性能良好，漏磁通在铜板中感应的涡流效应较强，涡流对磁场的反作用也是真实存在的。特别是当激励电流较大或者是激励电流频率较高时，这种反作用表现的更为明显，传统负载时线圈的损耗值与空载时线圈的损耗值不等，最终造成传统测量结构件的杂散损耗的误差更大。采用本方法可以有效减小该误差值。

本发明未述及之处适用于现有技术。

Claims (2)

1.一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法，其特征在于其步骤如下：

1）测量变压器模型负载变压器结构件时的损耗值；

2）利用仿真软件建立变压器负载时的精确模型，进行仿真计算，得到线圈的损耗计算值；

3）将步骤1）中的测量负载损耗值减去步骤2）中的线圈损耗计算值，得到铜板的损耗值。

2.根据权利要求1所述的一种精确测量变压器结构件杂散损耗的方法，其特征在于，所述步骤2）中的仿真软件为magnet。