CN105740117B - 芯片调试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片调试方法和装置。其中，该方法包括：接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片。本发明解决了相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题。

Description

芯片调试方法和装置

技术领域

本发明涉及电子芯片领域，具体而言，涉及一种芯片调试方法和装置。

背景技术

随着电子技术的快速发展，电子芯片的应用越来越广泛。为了提高芯片的性能，在芯片出厂时需要对芯片性能进行调试。现有技术对芯片性能进行调试大多基于串口终端，通过手动输入调试命令至芯片，芯片在调试命令的作用下输出返回值，测试者可以根据返回值对芯片的性能进行检测和调试。这种芯片调试方式效率较低，调试时间较长，不适用于大批量芯片的调试，且采用人工分析返回值检测芯片性能，无法保证芯片调试结果的准确度。

针对相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种芯片调试方法和装置，以至少解决相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种芯片调试方法，包括：接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片。

进一步地，在接收调试命令选择信号之前，方法还包括：预先建立至少一个宏命令，宏命令中包括至少一个自定义命令和/或至少一个调试命令；以及在客户端界面分配宏命令选择区域，其中，宏命令选择区域中设置有至少一个宏命令触控区，每个宏命令触控区对应一个宏命令，其中，调试命令选择信号为触控宏命令选择区域中任意一个宏命令触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将被触控的宏命令触控区对应的宏命令发送至待调试芯片。

进一步地，在客户端界面分配宏命令选择区域之后，方法还包括：检测是否存在第一触控信号，其中，第一触控信号为在宏命令选择区域中选中任意一个宏命令进行再处理时触发的信号；在检测到存在第一触控信号时，接收对被选中的宏命令进行再处理的信息；以及根据接收到的对被选中的宏命令进行再处理的信息更新被选中的宏命令。

进一步地，在接收调试命令选择信号之前，方法还包括：在客户端界面分配命令一键发送区域，其中，在命令一键发送区域中设置有至少一个调试命令触控区，每个调试命令触控区对应一个调试命令，其中，调试命令选择信号为触控命令一键发送区域中任意一个调试命令触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将被触控的调试命令触控区对应的调试命令发送至待调试芯片。

进一步地，在接收调试命令选择信号之前，方法还包括：在客户端界面分配定时发送命令区域，其中，在定时发送命令区域设置有命令编辑区、定时时间设置区以及定时发送触控区，其中，调试命令选择信号为触控定时发送触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将用户在命令编辑区编辑的命令按照定时时间设置区设置的定时时间发送至待调试芯片。

进一步地，在接收调试命令选择信号之前，方法还包括：在客户端界面分配寄存器地址编辑区域，其中，寄存器地址编辑区域设置有至少一个寄存器的地址可编辑区；检测是否存在第二触控信号，其中，第二触控信号为在寄存器地址编辑区域中选中任意一个寄存器的地址可编辑区进行编辑时触发的信号；以及在检测到存在第二触控信号时，接收对被选中的寄存器的地址可编辑区进行编辑的信息。

进一步地，在接收调试命令选择信号之前，方法还包括：在客户端界面分配芯片调试方式选择区域，其中，芯片调试方式选择区域可供选择的调试方式包括：串口调试方式和Aux通道调试方式；接收用户在芯片调试方式选择区域选择的调试方式；以及按照用户选择的调试方式对调试命令进行格式切换。

进一步地，在将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片之后，方法还包括：将被选中的一个或者多个调试命令作为历史命令进行存储；检测客户端界面的历史命令调用区域是否存在历史命令；在检测到历史命令调用区域不存在历史命令时，将历史命令添加至历史命令调用区域。

进一步地，在利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片之后，方法还包括：输出待调试芯片按照从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令进行调试后的返回值以及返回值表示的含义；以及记录待调试芯片在预设时间段内的调试记录，其中，调试记录包括与待调试芯片相连接的串口终端的信息，输入到待调试芯片的调试命令，待调试芯片输出的返回值以及返回值表示的含义。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种芯片调试装置，包括：第一接收模块，用于接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；选择模块，用于将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及调试模块，用于利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片。

在本发明实施例中，采用接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片的方式，通过预先将至少一个调试命令集成在一起，在接收到调试命令选择信号时从中选择一个或者多个调试命令发送至待调试芯片，达到了无需手动编辑调试命令，自动从预先集成的调试命令集合中选择所需的调试命令进行发送的目的，从而实现了提高芯片调试效率的技术效果，进而解决了相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的芯片调试方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的调试应用软件的应用界面的示意图；

图3是根据本发明实施例的调试应用软件中的宏命令窗口的示意图；

图4是根据本发明实施例的调试应用软件中的宏命令循环运行的示意图；

图5是根据本发明实施例的调试应用软件中的命令一键发送区域的示意图；

图6是根据本发明实施例的调试应用软件中的定时发送命令区域的示意图；

图7是根据本发明实施例的调试应用软件中的寄存器地址编辑区域的示意图；

图8是根据本发明实施例的调试应用软件中的寄存器操作区域的示意图；

图9是根据本发明实施例的调试应用软件中的调试方式切换功能的示意图；

图10是根据本发明实施例的调试应用软件中的历史命令调用区域的示意图；

图11是根据本发明实施例的调试应用软件中的返回值及其含义的显示区域的示意图；以及

图12是根据本发明实施例的芯片调试装置的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

根据本发明实施例，提供了一种芯片调试方法的方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1是根据本发明实施例的芯片调试方法的流程图，如图1所示，该方法包括如下步骤：

步骤S102，接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令。

步骤S104，将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片。

步骤S106，利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片。

需要说明的是，该实施例的芯片调试方法可以在服务器中执行，通过预先将至少一个调试命令集成在一起，在接收到调试命令选择信号时从中选择一个或者多个调试命令发送至待调试芯片，达到了无需手动编辑调试命令，自动从预先集成的调试命令集合中选择所需的调试命令发送至待调试芯片进行调试的目的，解决了相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题，达到了提高芯片调试效率的技术效果。

在步骤S102提供的方案中，调试命令为用于调试芯片的命令，为了调试芯片的性能，会需要一个或者多个调试命令，调试芯片不同的性能，需要用到的调试命令不同，可能会需要一个调试命令就可以对芯片的某个性能进行调试，也有可能会需要多个调试命令一起才能完成对芯片某个性能的调试。该实施例预先将一个或者多个调试命令进行整理，将其集成在调试命令集合中，即调试命令集合中可以包括一个或者多个调试命令，该调试命令集合可以存在服务器中。该实施例预先将一个或者多个调试命令进行整理和存储，有利于在芯片调试过程中直接从中选择调用，而不需要手动编辑命令，极大地缩短了芯片调试时长，提高了芯片调试效率。

调试命令集合中可以包括多个调试命令，在实际芯片调试过程中，该实施例可以根据调试命令选择信号从调试命令集合中选择所需的调试命令对芯片进行调试，其中，调试命令选择信号可以为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号。该实施例实时监测是否接收到调试命令选择信号，以达到及时快速地从调试命令集合中选择调试命令对芯片进行调试。可选地，调试命令选择信号可以由用户在客户终端上的操作触发生成，其中，客户终端上可以安装有利用本发明实施例的芯片调试方法设计的调试应用软件，用户可以通过在客户终端的调试应用软件显示界面上执行命令操作触发生成调试命令选择信号，比如，点击调试应用软件显示界面上的已经编辑好的调试命令对应的命令一键发送按钮，或者点击调试应用软件显示界面上的已经编辑好的宏命令对应的文件夹等。本发明对生成调试命令选择信号的触发方式并不作限定，本发明实施例还可以通过其他方式触发生成调试命令选择信号，此处不再一一举例说明。

在步骤S104提供的方案中，服务器在接收到调试命令选择信号之后，可以从服务器中存储的调试命令集合中选择与该条调试命令选择信号对应的一个或者多个调试命令。可选地，服务器中存储的调试命令集合中的每个调试命令均存在一个唯一的命令标识，即一条调试命令对应一个命令标识，该命令标识主要用于标识不同的调试命令，以达到区分不同调试命令的目的。其中，命令标识可以是由至少一位数字组成的数字ID，也可以是由至少一个字符组成的字符串等。调试命令集合中按照命令标识存储调试命令。可选地，调试命令选择信号中可以携带有所选调试命令的命令标识，在服务器接收到该调试命令选择信号之后，对该调试命令选择信号进行解析，从中获取到所选调试命令的命令标识，其中，所述调试命令的命令标识可以是一个，也可以是多个。服务器依据该解析获取到的所选调试命令的命令标识从调试命令集合中查找与该命令标识匹配的调试命令，并将查找到的一个或者调试命令通过串口终端发送至待调试芯片。其中，待调试芯片可以为任意种类或者型号的电子芯片，待调试芯片可以通过串口终端与服务器相连接。

在步骤S106提供的方案中，待调试芯片在接收到服务器通过串口终端发送的一个或者多个调试命令之后，执行该一个或者多个调试命令，并将执行该一个或者多个调试命令得到的返回值反馈给服务器，服务器可以通过读取并分析返回值的含义对待调试芯片进行分析和调试。需要说明的是，服务器中存储的调试命令集合中除了存储有调试命令和调试命令对应的命令标识之外，还可以存储有该调试命令的至少一个返回值及每个返回值的含义，此处返回值的含义可以理解为待调试芯片执行调试命令之后所反映待调试芯片的状态或者存在的问题等。服务器在接收到待调试芯片反馈的返回值后，根据调试命令集合中存储的各个调试命令的返回值的含义分析该待调试芯片的状态以及存在的问题等。

需要说明的是，利用本发明实施例的芯片调试方法可以设计用于调试芯片的调试应用软件，该调试应用软件可以安装在终端设备中，比如电脑、智能手机等。如图2所示，在终端设备上可以显示有该调试应用软件的应用界面，用户可以通过该调试应用软件的应用界面进行相应的操作，可以包括选择调试命令，编辑调试命令，设置命令定时发送等。下面将结合调试应用软件所具备的功能和特点对本发明实施例的芯片调试方法进行详细的介绍：

作为一种可选的实施例，在接收调试命令选择信号之前，该实施例还可以包括：预先建立至少一个宏命令，宏命令中可以包括至少一个自定义命令和/或至少一个调试命令；在客户端界面分配宏命令选择区域，其中，宏命令选择区域中设置有至少一个宏命令触控区，每个宏命令触控区对应一个宏命令，其中，调试命令选择信号为触控宏命令选择区域中任意一个宏命令触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将被触控的宏命令触控区对应的宏命令发送至待调试芯片。

可选地，在客户端界面分配宏命令选择区域之后，该实施例还可以包括：检测是否存在第一触控信号，其中，第一触控信号为在宏命令选择区域中选中任意一个宏命令进行再处理时触发的信号；在检测到存在第一触控信号时，接收对被选中的宏命令进行再处理的信息；以及根据接收到的对被选中的宏命令进行再处理的信息更新被选中的宏命令。需要说明的是，对宏命令进行再处理包括新建宏命令、删除宏命令、编辑宏命令等。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持宏命令的功能，利用该功能可以通过编辑宏命令实现绝大多数需要单片机等控制器编程才能实现的功能。宏命令是本调试应用软件中的特色功能，对应平时经常要按照固定流程进行的操作，之前都是靠人工输入命令或是单片机编写程序的方法实现的，利用该调试应用软件只要将需要的宏命令写入文本文件，然后在宏命令窗口中双击就可以自动执行宏命令，为用户提供了极大地便利，达到了提高用户使用体验的效果。通过该调试应用软件的宏命令功能可以实现无需手动编辑亦可以将自定义的调试命令直接发送至待调试芯片的目的，极大地提高了芯片调试效率。

图3是根据本发明实施例的调试应用软件中的宏命令窗口的示意图，如图3所示，在宏命令窗口的右键菜单中还可以实现新建空白宏，复制为新的宏，删除宏，编辑宏等命令。另外还有一个重要的功能就是循环运行n次，这样可以实现对某个操作的循环操作，配合宏命令中的返回值检查功能，可以返回宏循环运行情况的报告。关于宏命令文件的编辑说明如下：

宏命令文件是一个包含了很多命令的文本文件，最简单的宏文件只要写入命令即可，比如：

\rd d 0 d

\wr d 0 a 12

其中，每个命令固定格式都以#开头，命令后加空格然后再加内容，比如：

#delay 1000，表示延时1000ms；

#echo回显内容，后边写的内容会显示在串口窗口内，不会对串口有任何操作；

#note注释，用于宏命令文件内注释使用；

#cmp，对返回值进行判断，并打印判断结果是正确还是错误，后边可以加16进制数字；

#and，对返回值进行与操作，将不需要的位屏蔽掉，仅用于#cmp命令前一句，后边加16进制数字；

#wait，比较返回值直到正确为止，默认100ms重新读取一次，100次后认为超时，后边加16进制数字。

宏命令文件中还可以包括一些特殊命令，比如：

[]可选参数，在某个参数后边加个中括号，这个参数就会变成可选参数，在运行这条命令时会弹出对话框要求输入一个参数才会继续运行，括号内可以写入说明，括号前的值就是默认值。比如，\wr a 0 2 48[请输入SSC值，SSC范围为(0xxx1000)->08-78，默认值为48]。

宏命令文件中还可以包括一些可选命令，比如：

#setting_retry_time，用于修改wait命令的超时次数，默认为100；

#setting_interval_time，用于修改超时重新读取的间隔时间，默认为100ms；

#setting_err_msg，用于修改wait或cmp发生错误后的提示信息，默认为“错错错错错错错错错错！”；

#setting_ok_msg，用于修改wait或cmp正确的提示信息，默认为"读取结果正确！"；

#setting_wait_msg，可以修改wait命令重试的提示信息，默认为"等待结果，重试中..."；

#msg或者#msgbox，对话框语句可以弹出一个对话框，用于提示信息。

宏命令文件循环运行功能的截图如图4所示，宏命令文件循环运行时会提示正在循环运行的次数，返回值错误总数等信息。

作为一种可选的实施例，在接收调试命令选择信号之前，该实施例还可以包括：在客户端界面分配命令一键发送区域，其中，在命令一键发送区域中设置有至少一个调试命令触控区，每个调试命令触控区对应一个调试命令，其中，调试命令选择信号为触控命令一键发送区域中任意一个调试命令触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将被触控的调试命令触控区对应的调试命令发送至待调试芯片。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持命令一键发送的功能，图5是根据本发明实施例的调试应用软件中的命令一键发送区域的示意图，如图5所示，该区域内可以包括至少一个命令一键发送按钮，每个按钮都包含有一个描述和一条命令，按下按钮后会自动通过串口中断将该按钮对应的调试命令发送至待调试芯片。该区域内的按钮为可编辑按钮，用户可以根据自己的需求自行编辑内容，增加按钮数量，按钮编辑方法如下：

首先，打开Button_config.ini，然后定义该按钮，其定义的内容如下：

#new芯片状态

#cmd\rd d 0 d

#bit[7:5]

0＝SYSTEM_IDLE

1＝CONFIG_LOAD

2＝WAIT_POWER_UP

3＝WAIT_CONFIG_RESET

4＝TCON_ACTIVE

5＝SYSTEM_FAIL

#bit[4:0]

0＝TCON_IDLE

7＝BIST0_MODE

b＝NORMAL_MODE

12＝BIST1_MODE

需要说明的是，#new空格后面的名字为按钮的名字，可以写中文，这是一个按钮定义的开始标志，#cmd代表按下这个按钮会执行的命令，以上两项为必要选项。以下内容为按钮返回值含义判断需要的，可选项。#bit[7:5]表明判断的值为bit7到bit5，下面几句为值，等号后边为返回值的含义。需要说明的是，还可以继续写其他部分的含义，此处不再一一举例说明。该调试应用软件中命令一键发送区域内定义的调试命令的返回值的长度没有限制，定义的命令一键发送按钮的数量也没有限制。

作为一种可选的实施例，在接收调试命令选择信号之前，该实施例还可以包括：在客户端界面分配定时发送命令区域，其中，在定时发送命令区域设置有命令编辑区、定时时间设置区以及定时发送触控区，其中，调试命令选择信号为触控定时发送触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将用户在命令编辑区编辑的命令按照定时时间设置区设置的定时时间发送至待调试芯片。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持定时发送命令的功能，图6是根据本发明实施例的调试应用软件中的定时发送命令区域的示意图，如图6所示，该区域内可以包括命令编辑区，在命令编辑区内可以输入需要定时发送的调试命令；定时时间设置区，以时间轴形式设置，可以拖动选择定时时间，也可以通过加减设置；以及定时发送触控区，点击该定时发送触控区可以进行命令的定时发送。可选地，该调试应用软件还可以支持多个调试命令的定时发送，只需要将多个调试命令写入命令编辑区即可。

作为一种可选的实施例，在接收调试命令选择信号之前，该实施例还可以包括：在客户端界面分配寄存器地址编辑区域，其中，寄存器地址编辑区域设置有至少一个寄存器的地址可编辑区；检测是否存在第二触控信号，其中，第二触控信号为在寄存器地址编辑区域中选中任意一个寄存器的地址可编辑区进行编辑时触发的信号；以及在检测到存在第二触控信号时，接收对被选中的寄存器的地址可编辑区进行编辑的信息。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持定时发送命令的功能。系统调试过程中会经常性的对某些寄存器地址进行连续的调整工作，如果用手工输入的方式费时费力。该调试应用软件支持多地址栏地址自动读写，按钮加减寄存器值操作的功能。图7是根据本发明实施例的调试应用软件中的寄存器地址编辑区域的示意图，如图7所示，该调试应用软件提供了8个地址栏位，可以将芯片调试过程中用到的寄存器地址写入地址栏，然后一键读取，一键写入。另外，该调试应用软件设置有加一和减一操作按钮，方便逐渐调整寄存器值。

芯片调试过程中可能需要对一些特殊寄存器进行位操作，或是仅修改其中固定的几位，该调试应用软件可以支持两个寄存器位操作，可以自动分bit显示返回值，支持单击修改bit位操作，并支持对指定的中间位进行加减一的操作的功能。图8是根据本发明实施例的调试应用软件中的寄存器操作区域的示意图，如图8所示，该调试应用软件提供了两个寄存器位，可以自动将读取到的寄存器值按bit显示，并且支持单击修改bit位操作，对应仅修改中间位的情况，提供了高位地位输入栏，加一减一操作仅针对高地位之间的情况，该调试应用软件会自动计算修改后的值并自动写入寄存器中。

作为一种可选的实施例，在接收调试命令选择信号之前，该实施例还可以包括：在客户端界面分配芯片调试方式选择区域，其中，芯片调试方式选择区域可供选择的调试方式包括：串口调试方式和Aux通道调试方式；接收用户在芯片调试方式选择区域选择的调试方式；以及按照用户选择的调试方式对调试命令进行格式切换。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持Aux通道方式和串口方式的命令自动替换的功能。在实际使用中，有串口和AUX通道两种调试方式，两种调试方式的区别在于调试路径不同，调试的平台不同，但是命令中仅仅命令部分有区别，命令操作的参数是完全相同的。针对这种情况该调试应用软件提供了功能选项框，如图9所示，用户利用该功能选项框可以选择采用串口方式还是Aux通道方式，该功能选项框支持串口方式和Aux通道方式的一键切换，而宏命令中的命令是不需要修改的，该调试应用软件会自动替换，以达到两个调试平台宏命令和调试软件的统一。

作为一种可选的实施例，在将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片之后，该实施例还可以包括：将被选中的一个或者多个调试命令作为历史命令进行存储；检测客户端界面的历史命令调用区域是否存在历史命令；在检测到历史命令调用区域不存在历史命令时，将历史命令添加至历史命令调用区域。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持命令历史记录操作的功能，可通过上下键调用出历史命令并支持修改发送，在需要手动输入命令的过程中，通用的串口终端是无法像linux终端一样保存历史命令的，该调试应用软件中实现了此功能，在输入有效命令后该调试应用软件会自动记录，然后再按上下键即可自动显示之前输入的上或者下一条命令，然后可以修改并发送，大大提高了命令输入的效率。如图10所示，该调试应用软件带有历史命令下拉框，其中记录了之前输入的所有历史命令，并且自动过滤掉了相同的命令，对应之前输入的命令，可以通过此历史命令栏选择一条历史命令，此命令会自动发送至待调试芯片执行。

作为一种可选的实施例，在利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片之后，该实施例还可以包括：输出待调试芯片按照从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令进行调试后的返回值以及返回值表示的含义；以及记录待调试芯片在预设时间段内的调试记录，其中，调试记录包括与待调试芯片相连接的串口终端的信息，输入到待调试芯片的调试命令，待调试芯片输出的返回值以及返回值表示的含义。

需要说明的是，该可选实施例对应调试应用软件的支持自动判断返回值，并根据列表自动查找返回值含义的功能，命令发送之后串口终端会显示返回值，软件可以自动捕获这个数值，并且显示在左边窗口中，然后根据与定义命令文件中的内容，软件可以自动显示出返回值的含义，如图11所示。

该调试应用软件还可以支持动检测串口插拔，自动记忆上次使用串口及其参数；支持串口终端log文件记录，可以将串口终端的返回内容记录到一个文件中，方便无人值守运行；支持剪贴板命令的解释和运行，可以从剪贴板复制一部分命令，粘贴到串口终端，自动分析剪贴板内容并执行等功能。该调试应用软件还可以支持其他功能，此处不再一一举例说明。需要说明的是，上述实施例中的各种触发信号与调试命令选择信号均可以通过用户在该调试应用软件的应用界面上执行类似与点击、长按等操作触发的信号，本发明并未对触发信号与调试命令选择信号的触发操作做限定。利用该本发明实施例的芯片调试方法设计的芯片调试软件能够达到无需手动编辑调试命令，自动从预先集成的调试命令集合中选择所需的调试命令进行发送的目的，从而实现了提高芯片调试效率的技术效果，进而解决了相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题。

根据本发明实施例，还提供了一种芯片调试装置的装置实施例，需要说明的是，该芯片调试装置可以用于执行本发明实施例中的芯片调试方法，本发明实施例中的芯片调试方法可以在该芯片调试装置中执行。

图12是根据本发明实施例的芯片调试装置的示意图，如图12所示，该装置可以包括：

第一接收模块22，用于接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；选择模块24，用于将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及调试模块26，用于利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片。

需要说明的是，该实施例中的第一接收模块22可以用于执行本申请实施例中的步骤S102，该实施例中的选择模块24可以用于执行本申请实施例中的步骤S104，该实施例中的调试模块26可以用于执行本申请实施例中的步骤S106。上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例所公开的内容。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：建立模块，用于在接收调试命令选择信号之前，预先建立至少一个宏命令，宏命令中包括至少一个自定义命令和/或至少一个调试命令；以及第一分配模块，用于在客户端界面分配宏命令选择区域，其中，宏命令选择区域中设置有至少一个宏命令触控区，每个宏命令触控区对应一个宏命令，其中，调试命令选择信号为触控宏命令选择区域中任意一个宏命令触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将被触控的宏命令触控区对应的宏命令发送至待调试芯片。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：第一检测模块，用于在客户端界面分配宏命令选择区域之后，检测是否存在第一触控信号，其中，第一触控信号为在宏命令选择区域中选中任意一个宏命令进行再处理时触发的信号；第二接收模块，用于在检测到存在第一触控信号时，接收对被选中的宏命令进行再处理的信息；以及更新模块，用于根据接收到的对被选中的宏命令进行再处理的信息更新被选中的宏命令。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：第二分配模块，用于在接收调试命令选择信号之前，在客户端界面分配命令一键发送区域，其中，在命令一键发送区域中设置有至少一个调试命令触控区，每个调试命令触控区对应一个调试命令，其中，调试命令选择信号为触控命令一键发送区域中任意一个调试命令触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将被触控的调试命令触控区对应的调试命令发送至待调试芯片。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：第三分配模块，用于在接收调试命令选择信号之前，在客户端界面分配定时发送命令区域，其中，在定时发送命令区域设置有命令编辑区、定时时间设置区以及定时发送触控区，其中，调试命令选择信号为触控定时发送触控区触发的信号，在接收到调试命令选择信号时，将用户在命令编辑区编辑的命令按照定时时间设置区设置的定时时间发送至待调试芯片。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：第四分配模块，用于在接收调试命令选择信号之前，在客户端界面分配寄存器地址编辑区域，其中，寄存器地址编辑区域设置有至少一个寄存器的地址可编辑区；第二检测模块，用于检测是否存在第二触控信号，其中，第二触控信号为在寄存器地址编辑区域中选中任意一个寄存器的地址可编辑区进行编辑时触发的信号；以及第三接收模块，用于在检测到存在第二触控信号时，接收对被选中的寄存器的地址可编辑区进行编辑的信息。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：第五分配模块，用于在接收调试命令选择信号之前，在客户端界面分配芯片调试方式选择区域，其中，芯片调试方式选择区域可供选择的调试方式包括：串口调试方式和Aux通道调试方式；第四接收模块，用于接收用户在芯片调试方式选择区域选择的调试方式；以及切换模块，用于按照用户选择的调试方式对调试命令进行格式切换。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：确定模块，用于在将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片之后，将被选中的一个或者多个调试命令作为历史命令进行存储；第三检测模块，用于检测客户端界面的历史命令调用区域是否存在历史命令；添加模块，用于在检测到历史命令调用区域不存在历史命令时，将历史命令添加至历史命令调用区域。

可选地，该实施例的芯片调试装置还可以包括：输出模块，用于在利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片之后，输出待调试芯片按照从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令进行调试后的返回值以及返回值表示的含义；以及记录模块，用于记录待调试芯片在预设时间段内的调试记录，其中，调试记录包括与待调试芯片相连接的串口终端的信息，输入到待调试芯片的调试命令，待调试芯片输出的返回值以及返回值表示的含义。

通过上述模块，该实施例的芯片调试装置第一接收模块接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；通过选择模块将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；通过调试模块利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片，达到了无需手动编辑调试命令，自动从预先集成的调试命令集合中选择所需的调试命令发送至待调试芯片进行调试的目的，解决了相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题，达到了提高芯片调试效率的技术效果。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种芯片调试方法，其特征在于，包括：

接收调试命令选择信号，其中，所述调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，所述调试命令为用于调试芯片的命令；

将按照所述调试命令选择信号从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及

利用从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试所述待调试芯片,

在接收调试命令选择信号之前，所述方法还包括：

预先建立至少一个宏命令，所述宏命令中包括至少一个自定义命令和/或至少一个所述调试命令；以及

在客户端界面分配宏命令选择区域，其中，所述宏命令选择区域中设置有至少一个所述宏命令触控区，每个宏命令触控区对应一个宏命令，其中，所述调试命令选择信号为触控所述宏命令选择区域中任意一个宏命令触控区触发的信号，在接收到所述调试命令选择信号时，将被触控的宏命令触控区对应的宏命令发送至所述待调试芯片。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在客户端界面分配宏命令选择区域之后，所述方法还包括：

检测是否存在第一触控信号，其中，所述第一触控信号为在所述宏命令选择区域中选中任意一个宏命令进行再处理时触发的信号；

在检测到存在所述第一触控信号时，接收对被选中的宏命令进行再处理的信息；以及

根据接收到的对被选中的宏命令进行再处理的信息更新所述被选中的宏命令。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在接收调试命令选择信号之前，所述方法还包括：

在客户端界面分配命令一键发送区域，其中，在所述命令一键发送区域中设置有至少一个调试命令触控区，每个调试命令触控区对应一个调试命令，其中，所述调试命令选择信号为触控所述命令一键发送区域中任意一个调试命令触控区触发的信号，在接收到所述调试命令选择信号时，将被触控的调试命令触控区对应的调试命令发送至所述待调试芯片。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在接收调试命令选择信号之前，所述方法还包括：

在客户端界面分配定时发送命令区域，其中，在所述定时发送命令区域设置有命令编辑区、定时时间设置区以及定时发送触控区，其中，所述调试命令选择信号为触控所述定时发送触控区触发的信号，在接收到所述调试命令选择信号时，将用户在所述命令编辑区编辑的命令按照所述定时时间设置区设置的定时时间发送至所述待调试芯片。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在接收调试命令选择信号之前，所述方法还包括：

在客户端界面分配寄存器地址编辑区域，其中，所述寄存器地址编辑区域设置有至少一个寄存器的地址可编辑区；

检测是否存在第二触控信号，其中，所述第二触控信号为在所述寄存器地址编辑区域中选中任意一个寄存器的地址可编辑区进行编辑时触发的信号；以及

在检测到存在所述第二触控信号时，接收对被选中的寄存器的地址可编辑区进行编辑的信息。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在接收调试命令选择信号之前，所述方法还包括：

在客户端界面分配芯片调试方式选择区域，其中，所述芯片调试方式选择区域可供选择的调试方式包括：串口调试方式和Aux通道调试方式；

接收用户在所述芯片调试方式选择区域选择的调试方式；以及

按照所述用户选择的调试方式对调试命令进行格式切换。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将按照所述调试命令选择信号从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片之后，所述方法还包括：

将被选中的一个或者多个调试命令作为历史命令进行存储；

检测客户端界面的历史命令调用区域是否存在所述历史命令；

在检测到所述历史命令调用区域不存在所述历史命令时，将所述历史命令添加至所述历史命令调用区域。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在利用从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试所述待调试芯片之后，所述方法还包括：

输出所述待调试芯片按照所述从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令进行调试后的返回值以及所述返回值表示的含义；以及

记录所述待调试芯片在预设时间段内的调试记录，其中，所述调试记录包括与所述待调试芯片相连接的串口终端的信息，输入到所述待调试芯片的调试命令，所述待调试芯片输出的返回值以及所述返回值表示的含义。

9.一种芯片调试装置，其特征在于，包括：

第一接收模块，用于接收调试命令选择信号，其中，所述调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，所述调试命令为用于调试芯片的命令；

选择模块，用于将按照所述调试命令选择信号从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及

调试模块，用于利用从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试所述待调试芯片,

其中，在接收调试命令选择信号之前，预先建立至少一个宏命令，所述宏命令中包括至少一个自定义命令和/或至少一个所述调试命令；以及在客户端界面分配宏命令选择区域，其中，所述宏命令选择区域中设置有至少一个所述宏命令触控区，每个宏命令触控区对应一个宏命令，其中，所述调试命令选择信号为触控所述宏命令选择区域中任意一个宏命令触控区触发的信号，在接收到所述调试命令选择信号时，将被触控的宏命令触控区对应的宏命令发送至所述待调试芯片。