CN105703772A - Ad检测电路及具有其的电烹饪器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种AD检测电路，其包括：N个AD检测模块，所述N个AD检测模块并联，其中，N为大于等于2的整数；控制器，所述控制器包括AD检测端和N个控制端，所述AD检测端与并联的所述N个AD检测模块相连，所述N个控制端中的每个控制端与所述N个AD检测模块中的每个AD检测模块一一对应相连，所述控制器通过所述N个控制端输出控制信号以分别控制所述N个AD检测模块进行工作。本发明的AD检测电路通过一个AD检测端可以检测多路AD信号，节省AD端口资源，有利于降低成本。本发明还公开了一种电烹饪器。

Description

AD检测电路及具有其的电烹饪器

技术领域

本发明涉及电热电器技术领域，特别涉及一种AD检测电路以及一种具有该AD检测电路的电烹饪器。

背景技术

当MCU(MicroControllerUnit，微控制器)的AD端口不足时，通常需要更换AD端口数量更多的MCU或者增加MCU的数量，这样都会相应地大大增加成本。并且，如果MCU是定制的，则只能靠增加MCU的数量来解决AD端口不足的问题，不仅增加成本，而且需要多个MCU之间进行相互通讯，大大降低了可靠性。

相关技术中，也有采用AD端口复用的电路来解决AD端口不足的问题，但是在特定条件下例如传感器下拉设置、传感器的一个引脚必须接GND时，AD端口复用的电路就很难实现。

发明内容

本发明的目的旨在至少解决上述的技术缺陷。

为此，本发明的一个目的在于提出一种AD检测电路，通过一个AD检测端可以检测多路AD信号，节省AD端口资源，有利于降低成本。

本发明的另一个目的在于提出一种电烹饪器。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出的一种AD检测电路，包括：N个AD检测模块，所述N个AD检测模块并联，其中，N为大于等于2的整数；控制器，所述控制器包括AD检测端和N个控制端，所述AD检测端与并联的所述N个AD检测模块相连，所述N个控制端中的每个控制端与所述N个AD检测模块中的每个AD检测模块一一对应相连，所述控制器通过所述N个控制端输出控制信号以分别控制所述N个AD检测模块进行工作。

根据本发明实施例的AD检测电路，N个AD检测模块并联设置，控制器通过其N个控制端输出控制信号以分别控制N个AD检测模块进行工作，这样控制器的一个AD检测端可分别检测多路AD信号，从而节省了控制器的AD端口资源，有利于降低成本。并且，无需多个控制器之间进行通讯，可提高整个电路的可靠性。

根据本发明的一个实施例，当N为2时，所述N个AD检测模块为第一AD检测模块和第二AD检测模块，所述N个控制端为第一控制端和第二控制端。

根据本发明的一个实施例，所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号和通过所述第二控制端输出的控制信号的控制逻辑相反。

其中，所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号为高电平信号、通过所述第二控制端输出的控制信号为低电平信号时，所述第一AD检测模块开始工作，所述第二AD检测模块停止工作；所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号为低电平信号、通过所述第二控制端输出的控制信号为高电平信号时，所述第二AD检测模块开始工作，所述第一AD检测模块停止工作。

具体地，根据本发明的一个实施例，所述第一AD检测模块包括：第一电阻，所述第一电阻的一端与所述第一控制端相连；第一传感器，所述第一传感器的一端与所述第一电阻的另一端相连，所述第一传感器的另一端接地；第一电容，所述第一电容与所述第一传感器并联；第一二极管，所述第一二极管的阳极分别与所述第一电阻的另一端和所述第一传感器的一端相连，所述第一二极管的阴极通过第二电阻接地，且所述第一二极管的阴极与所述AD检测端相连。

并且，所述第二AD检测模块包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二控制端相连；第二传感器，所述第二传感器的一端与所述第三电阻的另一端相连，所述第二传感器的另一端接地；第二电容，所述第二电容与所述第二传感器并联；第二二极管，所述第二二极管的阳极分别与所述第三电阻的另一端和所述第二传感器的一端相连，所述第二二极管的阴极通过所述第二电阻接地，且所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阴极相连后与所述AD检测端相连。

根据本发明的一个实施例，所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阴极相连后与所述AD检测端之间还连接有第四电阻。

根据本发明的一个实施例，所述第一AD检测模块还包括第三二极管，所述第三二极管连接在所述第一传感器的另一端与地之间，所述第三二极管的阳极与所述第一传感器的另一端相连，所述第三二极管的阴极接地。所述第二AD检测模块还包括第四二极管，所述第四二极管连接在所述第二传感器的另一端与地之间，所述第四二极管的阳极与所述第二传感器的另一端相连，所述第四二极管的阴极接地。

根据本发明的一个实施例，所述第一AD检测模块和所述第二AD检测模块集成设置，所述AD检测电路还包括第一开关控制模块，所述第一开关控制模块的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连，所述第一开关控制模块的另一端与集成设置后的第一AD检测模块和第二AD检测模块相连。

其中，所述第一开关控制模块包括：第五电阻，所述第五电阻的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连；第一三极管，所述第一三极管的基极与所述第五电阻的另一端相连，所述第一三极管的发射极接地；第六电阻，所述第六电阻并联在所述第一三极管的基极与发射极之间；继电器，所述继电器的线圈的一端与第一预设电源相连，所述继电器的线圈的另一端与所述第一三极管的集电极相连，所述继电器的开关的第一端通过第七电阻与第二预设电源相连，所述继电器的开关的第二端通过第一传感器接地，所述继电器的开关的第三端通过第二传感器接地；第五二极管，所述第五二极管与所述继电器的线圈并联，所述第五二极管的阳极与所述第一三极管的集电极相连，所述第五二极管的阴极与所述第一预设电源相连。

根据本发明的另一个实施例，还包括第二开关控制模块，所述第二开关控制模块的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连，所述第二开关控制模块的另一端分别与所述第一AD检测模块和所述第二AD检测模块相连。

其中，所述第二开关控制模块包括：第八电阻，所述第八电阻的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连；第二三极管，所述第二三极管的基极与所述第八电阻的另一端相连，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第二AD检测模块相连；第九电阻，所述第九电阻并联在所述第二三极管的基极与发射极之间；第十电阻，所述第十电阻的一端与所述第八电阻的一端相连；第三三极管，所述第三三极管的基极与所述第十电阻的另一端相连，所述第三三极管的发射极与第二预设电源相连；第十一电阻，所述第十一电阻的一端与所述第三三极管的集电极相连；第四三极管，所述第四三极管的基极与所述第十一电阻的另一端相连，所述第四三极管的发射极接地，所述第四三极管的集电极与所述第一AD检测模块相连。

根据本发明的再一个实施例，还包括：N个第三开关控制模块，所述N个第三开关控制模块中的每个第三开关控制模块分别对应连接在每个控制端与每个AD检测模块之间。

此外，本发明另一方面实施例提出了一种电烹饪器，其包括上述的AD检测电路。

本发明实施例的电烹饪器通过一个AD检测端可分别检测多路AD信号，从而节省了控制器的AD端口资源，有利于降低成本，提升市场竞争力，并且可靠性高，满足用户的需要。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据发明实施例的AD检测电路的方框示意图；

图2为根据发明一个实施例的AD检测电路的电路示意图；

图3为根据本发明一个实施例的AD检测电路中控制器通过控制端输出的控制信号波形图；

图4为根据发明另一个实施例的AD检测电路的电路示意图；

图5为根据发明再一个实施例的AD检测电路的电路示意图；

图6为根据发明还一个实施例的AD检测电路的电路示意图；以及

图7为根据发明又一个实施例的AD检测电路的电路示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。

下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的结构可以包括第一和第二特征形成为直接接触的实施例，也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之间的实施例，这样第一和第二特征可能不是直接接触。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的AD检测电路以及具有该AD检测电路的电烹饪器。

图1为根据发明实施例的AD检测电路的方框示意图。如图1所示，该AD检测电路包括：N个AD检测模块11、12、…、1N以及控制器20。

其中，N个AD检测模块11、12、…、1N并联，并且，N为大于等于2的整数。控制器20包括AD检测端即AD端口和N个控制端即I/O端口201、202、…、20N，AD检测端即AD端口与并联的N个AD检测模块11、12、…、1N相连，N个控制端即I/O端口201、202、…、20N中的每个控制端与N个AD检测模块11、12、…、1N中的每个AD检测模块一一对应相连，控制器20通过N个控制端即I/O端口201、202、…、20N输出控制信号以分别控制N个AD检测模块11、12、…、1N进行工作。根据本发明的一个示例，控制器20可以为MCU。

根据本发明的一个实施例，当N为2时，N个AD检测模块为第一AD检测模块11和第二AD检测模块12，N个控制端为第一控制端即I/O端口201和第二控制端即I/O端口202，具体如图2所示。其中，控制器20例如MCU通过第一控制端即I/O端口201输出的控制信号为高电平信号、通过第二控制端即I/O端口202输出的控制信号为低电平信号时，第一AD检测模块11开始工作，第二AD检测模块12停止工作；控制器20例如MCU通过第一控制端即I/O端口201输出的控制信号为低电平信号、通过第二控制端即I/O端口202输出的控制信号为高电平信号时，第二AD检测模块12开始工作，第一AD检测模块11停止工作。具体地，如图3所示，控制器20通过第一控制端即I/O端口201输出的控制信号和通过第二控制端即I/O端口202输出的控制信号的控制逻辑相反，即言，控制器20通过第一控制端即I/O端口201输出的控制信号为高电平信号时，通过第二控制端即I/O端口202输出的控制信号为低电平信号，控制器20通过第一控制端即I/O端口201输出的控制信号为低电平信号时，通过第二控制端即I/O端口202输出的控制信号为高电平信号。

具体地，根据本发明的一个实施例，如图2所示，第一AD检测模块11包括：第一电阻R1、第一传感器111、第一电容C1和第一二极管D1。其中，第一电阻R1的一端与第一控制端即I/O端口201相连，第一传感器111的一端与第一电阻R1的另一端相连，第一传感器111的另一端接地，第一电容C1与第一传感器111并联，第一二极管D1的阳极分别与第一电阻R1的另一端和第一传感器111的一端相连，第一二极管D1的阴极通过第二电阻R2接地，且第一二极管D1的阴极与AD检测端即AD端口相连。并且，如图2所示，第二AD检测模块12包括：第三电阻R3、第二传感器222、第二电容C2和第二二极管D2。其中，第三电阻R3的一端与第二控制端即I/O端口202相连，第二传感器222的一端与第三电阻R3的另一端相连，第二传感器222的另一端接地，第二电容C2与第二传感器222并联，第二二极管D2的阳极分别与第三电阻R3的另一端和第二传感器222的一端相连，第二二极管D2的阴极通过第二电阻R2接地，且第二二极管D2的阴极与第一二极管D1的阴极相连后与AD检测端相连。

并且，如图2所示，第二二极管D2的阴极与第一二极管D1的阴极相连后与AD检测端即AD端口之间还连接有第四电阻R4，第四电阻R4起到限流作用，保证电路安全可靠。

在本发明的实施例中，当第一控制端即I/O端口201输出高电平信号，同时第二控制端即I/O端口202输出低电平信号时，第一AD检测模块11开始工作，即言，第一电阻R1与第一传感器111进行分压，因为AD检测端即AD端口为高阻态，分压电压经过二极管D1与电阻R2到地GND，第一电阻R1与第一传感器111之间的节点存在检测电压即第一传感器111开始工作，从而控制器20通过AD检测端即AD端口可以检测到AD信号。其中，第二电阻R2的作用是导通第一二极管D1，第一电容C1起到去耦作用，第一二极管D1起到隔离作用。同理，当第一控制端即I/O端口201输出低电平信号，同时第二控制端即I/O端口202输出高电平信号时，第二AD检测模块12开始工作。因此，本实施例的AD检测电路通过一个AD检测端可以分别检测两路AD信号。

根据本发明的另一个实施例，如图4所示，第一AD检测模块11还包括第三二极管D3，第三二极管D3连接在第一传感器111的另一端与地之间，第三二极管D3的阳极与第一传感器111的另一端相连，第三二极管D3的阴极接地。并且，如图4所示，第二AD检测模块12还包括第四二极管D4，第四二极管D4连接在第二传感器222的另一端与地之间，第四二极管D4的阳极与第二传感器222的另一端相连，第四二极管D4的阴极接地。

其中，第三二极管D3起到对第一电阻R1与第一传感器111之间的节点存在的检测电压进行电压补偿的作用，第四二极管D4起到对第三电阻R3与第二传感器222之间的节点存在的检测电压进行电压补偿的作用，从而可提高控制器的AD检测端即AD端口对两路AD信号检测的精度。

根据本发明的再一个实施例，第一AD检测模块和第二AD检测模块可集成设置，上述的AD检测电路还包括第一开关控制模块30，第一开关控制模块30的一端与第一控制端即I/O端口201或第二控制端即I/O端口202相连，第一开关控制模块30的另一端与集成设置后的第一AD检测模块和第二AD检测模块相连。具体地，如图5所示，第一AD检测模块和第二AD检测模块可集成设置在一起为AD检测模块40，第一开关控制模块30的一端与第一控制端即I/O端口201相连，第一开关控制模块30的另一端与AD检测模块40相连，AD检测模块40包括第一传感器111和第二传感器222。

如图5所示，第一开关控制模块30包括：第五电阻R5、第一三极管Q1、第六电阻R6、继电器RLY1和第五二极管D5。其中，第五电阻R5的一端与第一控制端或第二控制端相连例如第五电阻R5的一端与第一控制端即I/O端口201相连，第一三极管Q1的基极与第五电阻R5的另一端相连，第一三极管Q1的发射极接地，第六电阻R6并联在第一三极管Q1的基极与发射极之间，继电器RLY1的线圈的一端与第一预设电源Vc相连，继电器RLY1的线圈的另一端与第一三极管Q1的集电极相连，继电器RLY1的开关的第一端1通过第七电阻R7与第二预设电源VDD相连，继电器RLY1的开关的第二端2通过第一传感器111接地，继电器RLY1的开关的第三端3通过第二传感器222接地，第五二极管D5与继电器RLY1的线圈并联，第五二极管D5的阳极与第一三极管Q1的集电极相连，第五二极管D5的阴极与第一预设电源Vc相连。

其中，当控制器20例如MCU通过第一控制端即I/O端口201输出高电平信号时，第一三极管Q1导通，继电器RLY1的第一端1与第二端2吸合，第一传感器111开始工作；当控制器20例如MCU通过第一控制端即I/O端口201输出低电平信号时，第一三极管Q1截止，继电器RLY1的第一端1与第三端3吸合，第二传感器222开始工作。

在本实施例中，第一开关控制模块30在控制器20输出的高低电平的开关信号的控制下选择第一传感器111或第二传感器222工作，也可实现控制器的一个AD检测端例如AD端口分别对两路AD信号的检测，节省控制器的AD端口资源。

根据本发明的还一个实施例，当N为2时，N个AD检测模块为第一AD检测模块11和第二AD检测模块12，N个控制端为第一控制端即I/O端口201和第二控制端即I/O端口202，并且上述的AD检测电路还包括第二开关控制模块50，第二开关控制模块50的一端与第一控制端或第二控制端相连，第二开关控制模块50的另一端分别与第一AD检测模块11和第二AD检测模块12相连。具体地，如图6所示，第二开关控制模块50的一端与第一控制端即I/O端口201相连，第二开关控制模块50的另一端分别与第一AD检测模块11和第二AD检测模块12相连。

其中，如图6所示，第二开关控制模块50包括：第八电阻R8、第二三极管Q2、第九电阻R9、第十电阻R10、第三三极管Q3、第十一电阻R11和第四三极管Q4。第八电阻R8的一端与第一控制端或第二控制端相连，第二三极管Q2的基极与第八电阻R8的另一端相连，第二三极管Q2的发射极接地，第二三极管Q2的集电极与第二AD检测模块12相连；第九电阻R9并联在第二三极管Q2的基极与发射极之间，第十电阻R10的一端与第八电阻R8的一端相连，第三三极管Q3的基极与第十电阻R10的另一端相连，第三三极管Q3的发射极与第二预设电源VDD相连；第十一电阻R11的一端与第三三极管Q3的集电极相连，第四三极管Q4的基极与第十一电阻R11的另一端相连，第四三极管Q4的发射极接地，第四三极管Q4的集电极与第一AD检测模块11相连。

根据本发明的又一个实施例，如图7所示，上述的AD检测电路还包括：N个第三开关控制模块60，N个第三开关控制模块中的每个第三开关控制模块60分别对应连接在每个控制端与每个AD检测模块之间。

根据本发明实施例的AD检测电路，N个AD检测模块并联设置，控制器通过其N个控制端输出控制信号以分别控制N个AD检测模块进行工作，这样控制器的一个AD检测端可分别检测多路AD信号，从而节省了控制器的AD端口资源，有利于降低成本。并且，无需多个控制器之间进行通讯，可提高整个电路的可靠性。

此外，本发明实施例还提出了一种电烹饪器，其包括上述的AD检测电路。其中，该电烹饪器可以是电饭煲、电磁炉、电压力锅等家电产品。

本发明实施例的电烹饪器通过一个AD检测端可分别检测多路AD信号，从而节省了控制器的AD端口资源，有利于降低成本，提升市场竞争力，并且可靠性高，满足用户的需要。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims (15)

1.一种AD检测电路，其特征在于，包括：

N个AD检测模块，所述N个AD检测模块并联，其中，N为大于等于2的整数；

控制器，所述控制器包括AD检测端和N个控制端，所述AD检测端与并联的所述N个AD检测模块相连，所述N个控制端中的每个控制端与所述N个AD检测模块中的每个AD检测模块一一对应相连，所述控制器通过所述N个控制端输出控制信号以分别控制所述N个AD检测模块进行工作。

2.如权利要求1所述的AD检测电路，其特征在于，当N为2时，所述N个AD检测模块为第一AD检测模块和第二AD检测模块，所述N个控制端为第一控制端和第二控制端。

3.如权利要求2所述的AD检测电路，其特征在于，所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号和通过所述第二控制端输出的控制信号的控制逻辑相反。

4.如权利要求3所述的AD检测电路，其特征在于，

所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号为高电平信号、通过所述第二控制端输出的控制信号为低电平信号时，所述第一AD检测模块开始工作，所述第二AD检测模块停止工作；

所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号为低电平信号、通过所述第二控制端输出的控制信号为高电平信号时，所述第二AD检测模块开始工作，所述第一AD检测模块停止工作。

5.如权利要求2所述的AD检测电路，其特征在于，所述第一AD检测模块包括：

第一电阻，所述第一电阻的一端与所述第一控制端相连；

第一传感器，所述第一传感器的一端与所述第一电阻的另一端相连，所述第一传感器的另一端接地；

第一电容，所述第一电容与所述第一传感器并联；

第一二极管，所述第一二极管的阳极分别与所述第一电阻的另一端和所述第一传感器的一端相连，所述第一二极管的阴极通过第二电阻接地，且所述第一二极管的阴极与所述AD检测端相连。

6.如权利要求5所述的AD检测电路，其特征在于，所述第二AD检测模块包括：

第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二控制端相连；

第二传感器，所述第二传感器的一端与所述第三电阻的另一端相连，所述第二传感器的另一端接地；

第二电容，所述第二电容与所述第二传感器并联；

第二二极管，所述第二二极管的阳极分别与所述第三电阻的另一端和所述第二传感器的一端相连，所述第二二极管的阴极通过所述第二电阻接地，且所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阴极相连后与所述AD检测端相连。

7.如权利要求6所述的AD检测电路，其特征在于，所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阴极相连后与所述AD检测端之间还连接有第四电阻。

8.如权利要求5所述的AD检测电路，其特征在于，所述第一AD检测模块还包括第三二极管，所述第三二极管连接在所述第一传感器的另一端与地之间，所述第三二极管的阳极与所述第一传感器的另一端相连，所述第三二极管的阴极接地。

9.如权利要求6所述的AD检测电路，其特征在于，所述第二AD检测模块还包括第四二极管，所述第四二极管连接在所述第二传感器的另一端与地之间，所述第四二极管的阳极与所述第二传感器的另一端相连，所述第四二极管的阴极接地。

10.如权利要求2所述的AD检测电路，其特征在于，所述第一AD检测模块和所述第二AD检测模块集成设置，所述AD检测电路还包括第一开关控制模块，所述第一开关控制模块的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连，所述第一开关控制模块的另一端与集成设置后的第一AD检测模块和第二AD检测模块相连。

11.如权利要求10所述的AD检测电路，其特征在于，所述第一开关控制模块包括：

第五电阻，所述第五电阻的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连；

第一三极管，所述第一三极管的基极与所述第五电阻的另一端相连，所述第一三极管的发射极接地；

第六电阻，所述第六电阻并联在所述第一三极管的基极与发射极之间；

继电器，所述继电器的线圈的一端与第一预设电源相连，所述继电器的线圈的另一端与所述第一三极管的集电极相连，所述继电器的开关的第一端通过第七电阻与第二预设电源相连，所述继电器的开关的第二端通过第一传感器接地，所述继电器的开关的第三端通过第二传感器接地；

第五二极管，所述第五二极管与所述继电器的线圈并联，所述第五二极管的阳极与所述第一三极管的集电极相连，所述第五二极管的阴极与所述第一预设电源相连。

12.如权利要求2所述的AD检测电路，其特征在于，还包括第二开关控制模块，所述第二开关控制模块的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连，所述第二开关控制模块的另一端分别与所述第一AD检测模块和所述第二AD检测模块相连。

13.如权利要求12所述的AD检测电路，其特征在于，所述第二开关控制模块包括：

第八电阻，所述第八电阻的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连；

第二三极管，所述第二三极管的基极与所述第八电阻的另一端相连，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第二AD检测模块相连；

第九电阻，所述第九电阻并联在所述第二三极管的基极与发射极之间；

第十电阻，所述第十电阻的一端与所述第八电阻的一端相连；

第三三极管，所述第三三极管的基极与所述第十电阻的另一端相连，所述第三三极管的发射极与第二预设电源相连；

第十一电阻，所述第十一电阻的一端与所述第三三极管的集电极相连；

第四三极管，所述第四三极管的基极与所述第十一电阻的另一端相连，所述第四三极管的发射极接地，所述第四三极管的集电极与所述第一AD检测模块相连。

14.如权利要求1所述的AD检测电路，其特征在于，还包括：

N个第三开关控制模块，所述N个第三开关控制模块中的每个第三开关控制模块分别对应连接在每个控制端与每个AD检测模块之间。

15.一种电烹饪器，其特征在于，包括如权利要求1-14中任一项所述的AD检测电路。