CN105653417B - Usb-c接口标准应用消息自动测试方法和装置及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种USB‑C接口标准应用消息自动测试方法和装置及系统。该USB‑C接口标准应用消息自动测试方法包括：第一测试设备确定待发消息的内容，其中，待发消息是USB‑C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB‑C接口标准进行通讯的芯片；第一测试设备确定待发消息的预设发送规则；第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息。通过本发明，解决了相关技术中无法对支持USB‑C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的问题。

Description

USB-C接口标准应用消息自动测试方法和装置及系统

技术领域

本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种USB-C接口标准应用消息自动测试方法和装置及系统。

背景技术

支持通用串行总线C类接口标准(Universal Serial Bus Type-C，简称USB-C)功能的电子产品，为了保证支持USB-C接口的芯片的通讯功能的稳定性和可靠性，在电子产品进行批量生产前需要对USB-C接口应用中使用的消息(Message)进行高强度的测试，以保证芯片的接口通讯功能稳健可靠。但是，市场上现有的测试设备仅可对USB-C接口应用中使用的消息的有限个数的固定的参数内容进行单次测试，无法自主选择定制USB-C接口应用消息的待测内容，并且无法满足对USB-C接口应用消息的单个待测内容进行自动多次测试的需求。

针对相关技术中无法对支持USB-C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种USB-C接口标准应用消息自动测试方法和装置及系统，以解决相关技术中无法对支持USB-C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种USB-C接口标准应用消息自动测试方法。该方法包括：第一测试设备确定待发消息的内容，其中，待发消息是USB-C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片；第一测试设备确定待发消息的预设发送规则；以及第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息。

进一步地，待发消息包括多种待发消息，多种待发消息分别为不同内容，第一测试设备确定待发消息的预设发送规则包括：第一测试设备确定多种待发消息中每种待发消息对应的预设发送次数，第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息包括：第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送多种待发消息，其中，多种待发消息中每种待发消息的发送次数为对应的预设发送次数。

进一步地，多种待发消息包括第一待发消息和第二待发消息，第一待发消息和第二待发消息为相邻发送的消息，第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送多种待发消息包括：第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送第一待发消息；第一测试设备判断第一芯片发送第一待发消息的次数是否达到第一待发消息对应的预设发送次数；第一测试设备在判断出第一芯片发送第一待发消息的次数未达到第一待发消息对应的预设发送次数时，控制第一芯片向第二芯片发送第一待发消息；以及第一测试设备在判断出第一芯片发送第一待发消息的次数达到第一待发消息对应的预设发送次数时，控制第一芯片向第二芯片发送第二待发消息。

进一步地，在第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息之前，该方法还包括：第二测试设备确定响应消息的内容，其中，响应消息是USB-C接口标准应用消息，响应消息为第二芯片在接收到待发消息之后向第一芯片发送的响应的消息；第二测试设备确定响应消息的预设响应规则；第二测试设备判断第二芯片是否接收到待发消息，其中，在第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息，且第二测试设备判断第二芯片是否接收到待发消息之后，该方法还包括：第二测试设备在判断出第二芯片接收到待发消息时，控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息。

进一步地，响应消息包括多种响应消息，多种响应消息分别为不同内容，第二测试设备确定响应消息的预设响应规则包括：第二测试设备确定多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数，第二测试设备控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息包括：第二测试设备控制第二芯片向第一芯片发送多种响应消息，其中，多种响应消息中每种响应消息的发送次数为对应的预设响应次数。

进一步地，响应消息包括第一响应消息和第二响应消息，第一响应消息和第二响应消息为相邻发送的消息，第二测试设备控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息包括：第二测试设备控制第二芯片向第一芯片发送第一响应消息；第二测试设备判断第二芯片发送第一响应消息的次数是否达到第一响应消息对应的预设响应次数；第二测试设备在判断出第二芯片发送第一响应消息的次数未达到第一响应消息对应的预设响应次数时，控制第二芯片向第一芯片发送第一响应消息；以及第二测试设备在判断出第二芯片发送第一响应消息的次数达到第一响应消息对应的预设响应次数时，控制第二芯片向第一芯片发送第二响应消息。

进一步地，第一测试设备确定待发消息的预设发送规则包括：第一测试设备获取多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数；以及第一测试设备根据多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数确定待发消息的预设发送次数。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种USB-C接口标准应用消息自动测试装置。该装置包括：第一微控制器，用于确定待发消息的内容和待发消息的预设发送规则，并控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息，其中，待发消息是USB-C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片。

进一步地，该装置还包括：第二微控制器，用于确定响应消息的内容和响应消息的预设响应规则，判断第二芯片是否接收到待发消息，并在判断出第二芯片接收到待发消息之后，控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息，其中，响应消息是USB-C接口标准应用消息，响应消息为第二芯片在接收到待发消息之后向第一芯片发送的响应的消息。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种USB-C接口标准应用消息自动测试系统。该系统包括：第一测试设备，用于控制第一芯片向第二芯片按照预设发送规则发送待发消息，其中，待发消息是USB-C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片；第二测试设备，用于在判断出第二芯片接收到待发消息之后，控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息；以及消息分析仪，与第一测试设备和第二测试设备相连接，用于记录第一芯片发送待发消息和第二芯片接收待发消息的测试结果，以及第二芯片发送响应消息和第一芯片接收响应消息的测试结果。

本发明通过第一测试设备确定待发消息的内容，其中，待发消息是USB-C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片；第一测试设备确定待发消息的预设发送规则；以及第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息，解决了相关技术中无法对支持USB-C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的问题，进而达到了对支持USB-C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明第一实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试方法的流程图；

图2是根据本发明第二实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试方法的流程图；

图3是根据本发明第一实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试系统的示意图；以及

图4是根据本发明第二实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试系统的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

本发明的实施例提供了一种USB-C接口标准应用消息自动测试方法。

图1是根据本发明第一实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试方法的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：

步骤S101，第一测试设备确定待发消息的内容。

第一测试设备用于控制第一芯片向第二芯片发送待发消息，第一芯片和第二芯片是支持USB-C接口标准的芯片，第一芯片和第二芯片采用USB-C接口标准进行通讯，第一芯片向第二芯片发送的待发消息是USB-C接口标准应用消息(Message)。USB-C接口标准应用消息是USB-C接口标准特有的消息类型，USB-C接口标准应用消息有多种内容，消息的内容可以是参数设置，例如，“power source capability”，“power sink capability”，“DPsink identity”，“get DP sink configuration”，“accept”，“reject”，“power role swaprequest”，“data role swap request”，“go to min request”，“VCONN swap request”，“VDM”，“RDO”，“PD status”，“SOP’”，“SOP””等。

第一测试设备首先确定出第一芯片向第二芯片发送的待发消息的内容，可以在USB-C接口标准应用消息的所有参数设置中选取出典型的参数设置，确定出待发消息，确定出的待发消息可以被测试到。

步骤S102，第一测试设备确定待发消息的预设发送规则。

在确定出待发消息之后，第一测试设备确定待发消息的预设发送规则。待发消息可以为一种或多种，多种待发消息对应有不同的消息内容。

当仅有一种待发消息时，第一测试设备可以确定该待发消息的预设发送次数；当有多种待发消息时，第一测试设备可以确定多种待发消息中每种待发消息对应的预设发送次数，还可以确定多种待发消息的预设发送顺序。

步骤S103，第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息。

在确定出待发消息和待发消息的预设发送规则之后，第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息。

当待发消息仅有一种内容时，例如，待发消息为“reject”，第一测试设备确定“reject”的预设发送次数为500次，则第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送500次的“reject”消息。

当待发消息有多种待发消息时，多种待发消息分别为不同内容，第一测试设备在确定出多种待发消息中每种待发消息对应的预设发送次数之后，控制第一芯片向第二芯片发送多种待发消息，其中，多种待发消息中每种待发消息的发送次数为对应的预设发送次数。

例如，确定出的待发消息为“VDM”和“PD status”，每种消息的预设发送次数均为149069次，则第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送“VDM”消息149069次以及“PDstatus”消息149069次。

确定出的多种待发消息中至少包括两种待发消息，第一待发消息和第二待发消息，其中，第一待发消息和第二待发消息为相邻发送的消息。第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送多种待发消息的具体流程可以是：

首先，第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送第一待发消息；

其次，第一测试设备判断第一芯片发送第一待发消息的次数是否达到第一待发消息对应的预设发送次数；

第三，第一测试设备在判断出第一芯片发送第一待发消息的次数未达到第一待发消息对应的预设发送次数时，控制第一芯片向第二芯片发送第一待发消息；

最后，第一测试设备在判断出第一芯片发送第一待发消息的次数达到第一待发消息对应的预设发送次数时，控制第一芯片向第二芯片发送第二待发消息。

也即，当第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送第一待发消息达到第一待发消息对应的预设发送次数之后，再向第二芯片发送第二待发消息，依此类推，如果多种待发消息中还包括第三待发消息，则发送第二待发消息的次数达到第二待发消息对应的预设发送次数之后，第一测试设备控制第一芯片向第二芯片发送第三待发消息。

当待发消息有多种待发消息时，确定待发消息的预设发送规则还可以包括确定多种待发消息的预设发送顺序，第一测试设备按照预设发送顺序发送多种发送消息。

例如，确定出的待发消息为“VDM”，“PD status”和“go to min request”，第一测试设备确定“VDM”的预设发送次数为500次，“PD status”的预设发送次数为800次，“go tomin request”的预设发送次数为600次，预设发送顺序为首先发送800次“PD status”消息，然后发送500次“VDM”消息，最后发送600次“go to min request”消息，则第一测试设备在确定出待发消息和预设发送顺序之后，控制第一芯片向第二芯片发送800次“PD status”消息，500次“VDM”消息和600次“go to min request”消息。

第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息可以对第一芯片的发送消息功能进行测试，也可以对第二芯片的接收消息的功能进行测试，也可以是同时对第一芯片的发送消息功能和第二芯片的接收消息功能进行测试。

第一芯片和第二芯片可以是不同的芯片，均支持USB-C接口标准。待测功能为第一芯片的发送消息功能时，第二芯片用于辅助第一芯片的测试，作为接收消息的对象，待测功能为第二芯片的接收消息的功能时，第一芯片用于辅助第二芯片的测试，作为发送消息的来源。或者，第一芯片和第二芯片同时作为待测对象。

具体而言，对待测功能的测试结果进行评价可以是在第一芯片和第二芯片之间连接一个USB-C消息分析仪，用于抓取第一芯片和第二芯片之间的通讯内容，读取和记录第一芯片和第二芯片之间的消息的传输，以记录消息的传输过程得到测试结果，评价待测的功能。

该实施例提供的USB-C接口标准应用消息自动测试方法，通过第一测试设备确定待发消息的内容；第一测试设备确定待发消息的预设发送规则；以及第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息，解决了相关技术中无法对支持USB-C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的问题，进而达到了对支持USB-C的电子产品的接口通讯功能进行智能检测的效果。

图2是根据本发明第二实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试方法的流程图。该实施例可以作为上述第一实施例的优选实施方式，如图2所示，该方法包括以下步骤：

步骤S201，第一测试设备确定待发消息的内容。

步骤S202，第一测试设备确定待发消息的预设发送规则。

步骤S203，第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息。

步骤S201～步骤S203与步骤S101～步骤S103相同，在此不再赘述。

步骤S204，在第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息之前，第二测试设备确定响应消息的内容。

第二测试设备用于控制第二芯片向第一芯片发送响应消息，响应消息是USB-C接口标准应用消息，可以与待发消息的内容相同，响应消息为第二芯片在接收到待发消息之后向第一芯片发送的响应的消息。第二测试设备可以在USB-C接口标准应用消息的所有参数设置中确定出典型的响应消息的内容以进行测试。

步骤S205，第二测试设备确定响应消息的预设响应规则。

在确定出响应消息之后，第二测试设备确定响应消息的预设响应规则。响应消息的预设响应规则可以包括在第二测试设备判断出第二芯片接收到第一芯片发送的待发消息之后，控制第二芯片向第一芯片发送响应消息，上述规则的实现可以是通过对第二测试设备的软件进行设置或将程序固化在硬件电路中实现。

响应消息可以为一种或多种，包括多种响应消息，多种响应消息的内容不同。当仅有一种响应消息时，第二测试设备可以确定该响应消息的预设响应次数；当有多种响应消息时，第二测试设备可以确定多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数，还可以确定多种响应消息的预设响应顺序。

步骤S206，第二测试设备判断第二芯片是否接收到待发消息。

该待发消息是第一芯片向第二芯片发送的消息。第二测试设备监测第二芯片，判断第二芯片是否接收到第一芯片的任意一个待发消息。

步骤S207，第二测试设备在判断出第二芯片接收到待发消息时，控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息。

在第一测试设备控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息之后，且第二测试设备判断出第二芯片接收到待发消息时，第二测试设备控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息。

当第二测试设备确定的响应消息的内容仅有一种时，在第二测试设备判断出第二芯片接收到待发消息时即回复该确定的响应消息。

当第二测试设备确定的响应消息的内容为多种时，第二测试设备确定的预设响应规则可以包括确定每种响应消息的预设响应次数，第二测试设备控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息包括第二测试设备控制第二芯片向第一芯片发送多种响应消息，其中，多种响应消息中每种响应消息的发送次数为对应的预设响应次数。

优选地，第二测试设备确定的预设响应规则还可以包括确定每种响应消息的预设响应顺序。举例而言，响应消息包括第一响应消息和第二响应消息，预设响应顺序为第一响应消息和第二响应消息相邻发送，当第二测试设备判断出第二芯片接收到待发消息时，第二测试设备控制第二芯片向第一芯片发送第一响应消息；

当第二测试设备判断出第二芯片再次接收到待发消息时，第二测试设备判断第二芯片发送第一响应消息的次数是否达到第一响应消息对应的预设响应次数：

如果第二测试设备判断出第二芯片发送第一响应消息的次数未达到第一响应消息对应的预设响应次数，控制第二芯片向第一芯片发送第一响应消息；如果第二测试设备判断出第二芯片发送第一响应消息的次数达到第一响应消息对应的预设响应次数，控制第二芯片向第一芯片发送第二响应消息。

也即，第二测试设备在首次判断出第二芯片接收到待发消息时，按照预设响应规则的响应顺序首先回复多种响应消息中的排名第一位的响应消息。当第二测试设备再次判断出第二芯片接收到待发消息时，判断上一次发送的响应消息的响应次数是否达到对应的预设响应次数：如果未达到对应的预设响应次数，第二测试设备控制第二芯片仍向第一芯片发送上一次发送的响应消息；如果达到对应的预设响应次数，第二测试设备控制第二芯片向第一芯片发送预设响应顺序中上一次发送的响应消息的下一种响应消息，依此类推。

优选地，第一测试设备确定待发消息的预设发送规则包括：第一测试设备获取多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数。获取方式可以是第一测试设备与第二测试设备之间进行通讯，获取第二测试设备确定的多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数。第一测试设备根据多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数确定待发消息的预设发送次数，待发消息的预设发送次数可以等于每种响应消息对应的预设响应次数的总和。

通过第二测试设备在判断出第二芯片接收到待发消息之后控制第二芯片向第一芯片发送响应消息，可以测试第二芯片的接收功能和响应功能，还可以测试第一芯片的接收功能，可以根据实际的测试需求来记录测试过程和评价测试结果，测试结果的获取可以通过借助其他设备，例如，USB-C消息分析仪，来实现对消息的传输过程进行记录以及对测试结果进行评价等。

下面是对本发明实施例提供的USB-C接口标准应用消息自动测试方法的一个具体应用场景：

第一测试设备确定的待发消息的内容包含X种不同的典型参数设置：Request.1，Request.2，…Request.X，则待发消息包括Message Request.1，Message Request.2，…Message Request.X；第二测试设备确定的响应消息的内容有Y种不同的典型参数设置：Reply.1，Reply.2，…Reply.Y，则响应消息包括Message Reply.1，Message Reply.2，…Message Reply.Y。

整个测试的过程如下：

第一步，第一测试设备控制第一芯片发送待发消息Message Request.1给第二芯片，第二测试设备在判断出接收到待发消息时，按照预设响应规则控制第二芯片回复相应的响应Message Reply.1给第一芯片，该过程循环N次。

第二步，第一测试设备控制第一芯片发送待发消息Message Request.1给第二芯片，第二测试设备在判断出接收到待发消息时，按照预设响应规则控制第二芯片回复相应的响应Message Reply.2给第一芯片，该过程循环N次。

…

第Y步，第一测试设备控制第一芯片发送待发消息Message Request.1给第二芯片，第二测试设备在判断出接收到待发消息时，按照预设响应规则控制第二芯片回复相应的响应Message Reply.2给第一芯片，该过程循环N次。

然后，将上述第一步至第Y步中的待发消息Message Request.1变更为待发消息Message Request.2，重复变更后的第一步至第Y步。重复该步骤直至待发消息MessageRequest.X发送完毕。

也即，通过如下的循环过程完成测试：

for(k＝1；k<＝X；k++)

{

for(j＝1；j<＝Y；j++)

{

for(i＝1；i<＝N；i++)

{第一测试设备控制第一芯片发送待发消息Message Request.k给第二芯片，第二测试设备在判断出接收到待发消息时，按照预设响应规则控制第二芯片回复相应的响应Message Reply.j给第一芯片。}

}

}

本发明的实施例还提供了一种USB-C接口标准应用消息自动测试装置。本发明实施例提供的USB-C接口标准应用消息自动测试装置可以用于执行本发明实施例提供的USB-C接口标准应用消息自动测试方法。

该装置包括第一微控制器。第一微控制器用于确定待发消息的内容和待发消息的预设发送规则，并控制第一芯片按照预设发送规则向第二芯片发送待发消息，其中，待发消息是USB-C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片。

优选地，该装置还包括第二微控制器。第二微控制器用于确定响应消息的内容和响应消息的预设响应规则，判断第二芯片是否接收到待发消息，并在判断出第二芯片接收到待发消息之后，控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息，其中，响应消息是USB-C接口标准应用消息，响应消息为第二芯片在接收到待发消息之后向第一芯片发送的响应的消息。

本发明的实施例还提供了一种USB-C接口标准应用消息自动测试系统。本发明实施例提供的USB-C接口标准应用消息自动测试系统可以用于执行本发明实施例提供的USB-C接口标准应用消息自动测试方法。

图3是根据本发明第一实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试系统的示意图。如图3所示，该系统包括第一测试设备10，第二测试设备20和消息分析仪30。

第一测试设备10用于控制第一芯片向第二芯片按照预设发送规则发送待发消息，其中，待发消息是USB-C接口标准应用消息，待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，第一芯片和第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片。第一测试设备10可以包括第一微控制器，第一微控制器用于控制第一芯片，第一芯片与第一微控制器相连接，具体而言，第一芯片可以是安装在第一微控制器的电路板上。

第二测试设备20用于在判断出第二芯片接收到待发消息之后，控制第二芯片按照预设响应规则向第一芯片发送响应消息。第二测试设备20可以包括第二微控制器，第二微控制器用于控制第二芯片，第二芯片与第二微控制器相连接，具体而言，第二芯片可以是安装在第二微控制器的电路板上。

消息分析仪30与第一测试设备10和第二测试设备20相连接，用于记录第一芯片发送待发消息和第二芯片接收待发消息的测试结果，以及第二芯片发送响应消息和第一芯片接收响应消息的测试结果。该消息分析仪30可以是USB-C消息(USB-C message)分析仪。

该系统的硬件连接方式可以是第一测试设备10连接到消息分析仪30，消息分析仪30连接USB-C线，通过USB-C线连接到第二测试设备20。

图4是根据本发明第二实施例的USB-C接口标准应用消息自动测试系统的示意图。如图4所示，该系统包括第一测试设备10，第二测试设备20和USB-C消息分析仪31。

第一测试设备10包括微控制器11，第一芯片100安装在第一测试设备10上，且与微控制器11相连接。微控制器11用于控制第一芯片100向第二芯片200发送待发消息。第一芯片100直接与USB-C消息分析仪31相连接，USB-C消息分析仪31通过USB-C线与第二芯片200相连接。第二芯片200安装在第二测试设备20上，第二测试设备20包括微控制器21，微控制器21与第二芯片200相连接。微控制器21用于控制第二芯片200向第一芯片100发送响应消息。

优选地，第一测试设备10和第二测试设备20是同一种设备，在特定的应用场景下可以互换功能。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种USB-C接口标准应用消息自动测试方法，其特征在于，包括：

第一测试设备确定待发消息的内容，其中，所述待发消息是USB-C接口标准应用消息，所述待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，所述第一芯片和所述第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片；

所述第一测试设备确定所述待发消息的预设发送规则；以及

所述第一测试设备控制所述第一芯片按照所述预设发送规则向所述第二芯片发送所述待发消息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待发消息包括多种待发消息，所述多种待发消息分别为不同内容，

所述第一测试设备确定所述待发消息的预设发送规则包括：所述第一测试设备确定所述多种待发消息中每种待发消息对应的预设发送次数，

所述第一测试设备控制第一芯片按照所述预设发送规则向第二芯片发送所述待发消息包括：所述第一测试设备控制所述第一芯片向所述第二芯片发送所述多种待发消息，其中，所述多种待发消息中每种待发消息的发送次数为对应的预设发送次数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多种待发消息包括第一待发消息和第二待发消息，所述第一待发消息和所述第二待发消息为相邻发送的消息，所述第一测试设备控制所述第一芯片向所述第二芯片发送所述多种待发消息包括：

所述第一测试设备控制所述第一芯片向所述第二芯片发送所述第一待发消息；

所述第一测试设备判断所述第一芯片发送所述第一待发消息的次数是否达到所述第一待发消息对应的预设发送次数；

所述第一测试设备在判断出所述第一芯片发送所述第一待发消息的次数未达到所述第一待发消息对应的预设发送次数时，控制所述第一芯片向所述第二芯片发送所述第一待发消息；以及

所述第一测试设备在判断出所述第一芯片发送所述第一待发消息的次数达到所述第一待发消息对应的预设发送次数时，控制所述第一芯片向所述第二芯片发送所述第二待发消息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一测试设备控制第一芯片按照所述预设发送规则向第二芯片发送所述待发消息之前，所述方法还包括：

第二测试设备确定响应消息的内容，其中，所述响应消息是所述USB-C接口标准应用消息，所述响应消息为所述第二芯片在接收到所述待发消息之后向所述第一芯片发送的响应的消息；

所述第二测试设备确定所述响应消息的预设响应规则；

所述第二测试设备判断所述第二芯片是否接收到所述待发消息，

其中，在所述第一测试设备控制所述第一芯片按照所述预设发送规则向所述第二芯片发送所述待发消息，且所述第二测试设备判断所述第二芯片是否接收到所述待发消息之后，所述方法还包括：所述第二测试设备在判断出所述第二芯片接收到所述待发消息时，控制所述第二芯片按照所述预设响应规则向所述第一芯片发送所述响应消息。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述响应消息包括多种响应消息，所述多种响应消息分别为不同内容，

所述第二测试设备确定所述响应消息的预设响应规则包括：所述第二测试设备确定所述多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数，

所述第二测试设备控制所述第二芯片按照所述预设响应规则向所述第一芯片发送所述响应消息包括：所述第二测试设备控制所述第二芯片向所述第一芯片发送所述多种响应消息，其中，所述多种响应消息中每种响应消息的发送次数为对应的所述预设响应次数。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述响应消息包括第一响应消息和第二响应消息，所述第一响应消息和所述第二响应消息为相邻发送的消息，所述第二测试设备控制所述第二芯片按照所述预设响应规则向所述第一芯片发送所述响应消息包括：

所述第二测试设备控制所述第二芯片向所述第一芯片发送所述第一响应消息；

所述第二测试设备判断所述第二芯片发送所述第一响应消息的次数是否达到所述第一响应消息对应的预设响应次数；

所述第二测试设备在判断出所述第二芯片发送所述第一响应消息的次数未达到所述第一响应消息对应的预设响应次数时，控制所述第二芯片向所述第一芯片发送所述第一响应消息；以及

所述第二测试设备在判断出所述第二芯片发送所述第一响应消息的次数达到所述第一响应消息对应的预设响应次数时，控制所述第二芯片向所述第一芯片发送所述第二响应消息。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一测试设备确定所述待发消息的预设发送规则包括：

所述第一测试设备获取所述多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数；以及

所述第一测试设备根据所述多种响应消息中每种响应消息对应的预设响应次数确定所述待发消息的预设发送次数。

8.一种USB-C接口标准应用消息自动测试装置，其特征在于，包括：

第一微控制器，用于确定待发消息的内容和所述待发消息的预设发送规则，并控制第一芯片按照所述预设发送规则向第二芯片发送所述待发消息，其中，所述待发消息是USB-C接口标准应用消息，所述待发消息为所述第一芯片向所述第二芯片发送的消息，所述第一芯片和所述第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二微控制器，用于确定响应消息的内容和所述响应消息的预设响应规则，判断所述第二芯片是否接收到所述待发消息，并在判断出所述第二芯片接收到所述待发消息之后，控制所述第二芯片按照所述预设响应规则向所述第一芯片发送所述响应消息，其中，所述响应消息是所述USB-C接口标准应用消息，所述响应消息为所述第二芯片在接收到所述待发消息之后向所述第一芯片发送的响应的消息。

10.一种USB-C接口标准应用消息自动测试系统，其特征在于，包括：

第一测试设备，用于控制第一芯片向第二芯片按照预设发送规则发送待发消息，其中，所述待发消息是USB-C接口标准应用消息，所述待发消息为第一芯片向第二芯片发送的消息，所述第一芯片和所述第二芯片为采用USB-C接口标准进行通讯的芯片；

第二测试设备，用于在判断出所述第二芯片接收到所述待发消息之后，控制所述第二芯片按照预设响应规则向所述第一芯片发送响应消息；以及

消息分析仪，与所述第一测试设备和所述第二测试设备相连接，用于记录所述第一芯片发送所述待发消息和所述第二芯片接收所述待发消息的测试结果，以及所述第二芯片发送所述响应消息和所述第一芯片接收所述响应消息的测试结果。