CN105632381B - 一种测试设备的识别方法及识别系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试设备的识别方法及识别系统，方法包括：应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且测试系统安装于测试仪器，第一测试设备和第二测试设备分别与测试仪器的不同串口相连，包括：依次向测试仪器的每一串口发送识别第一测试设备的第一识别信号；判断串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有第一反馈信号的串口连接有第一测试设备；依次向测试仪器的每一串口发送识别第二测试设备的第二识别信号；判断串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有第二反馈信号的串口连接有第二测试设备，其中，第一测试设备和第二测试设备的类型不同。可见采用上述方法测试仪器能够自动识别被测设备的类型，因此提高了工作效率。

Description

一种测试设备的识别方法及识别系统

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更为具体的说，涉及一种测试设备的识别方法及识别系统。

背景技术

显示屏(Panel)在绑定芯片(Internal Circulation,以下简称IC)及柔性的绝缘基材制成的印刷电路(Flexible Printed Circuit，FPC，以下简称FPC)后，要进行伽玛(gamma，以下统称为gamma)调试，并将得到的寄存器参数烧录(One Time Programmable，OTP)到绑定的IC里。在进行gamma调试时，所用到的设备有：测试仪器、测试板、显示屏和光学设备。在调试前，需要先将光学设备及测试板连接到上位机，再进行gamma调试。但上位机测试仪器只能检测可用的端口，而无法辨别该端口所连接的设备是什么，需要操作人员再次进行判断，从而降低了工作效率。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种测试设备的识别方法及识别系统，用于辨别该端口测试仪的端口所连接的设备的类型。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

一种测试设备的识别方法，应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且所述测试系统安装于测试仪器，所述第一测试设备和第二测试设备分别与所述测试仪器的不同串口相连，包括：

S1、依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；

S2、判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；

S3、依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；

S4、判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同。

相较于现有技术，本发明提供的技术方案通过依次向测试仪器的每一串口发送识别第一测试设备的第一识别信号，将有第一反馈信号的串口连接的设备确定为第一测试设备，依次向测试仪器的每一串口发送识别第二测试设备的第二识别信号，将有第二反馈信号的串口连接的设备确定为第二测试设备，因此无需操作人员再次判断，降低了操作人员的工作量，同时也提高了工作效率。

此外，本发明还提供了一种测试设备的识别系统，应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且所述测试系统安装于测试仪器，所述第一测试设备和第二测试设备分别与所述测试仪器的不同串口相连，其特征在于，包括：

第一发送模块，用于依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；

第一判断模块，用于判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；

第二发送模块，用于依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；

以及，第二判断模块，用于判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同。

与现有技术相比，本发明提供给的识别系统无需操作人员进行判断并手动调整位置，降低了操作人员的工作量，同时也提高了工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例公开的一种测试设备的识别方法的流程示意图；

图2为本发明实施例公开的另一种测试设备的识别方法的流程示意图；

图3为本发明实施例图2中步骤S5’的一种测试设备的配对方法的流程示意图；

图4为本发明实施例图3中步骤S40的一种判断和调节过程的示意图；

图5为本发明实施例图2中步骤S5’的另一种测试设备的配对方法的流程示意图；

图6为本发明实施例图2中步骤S5’的又一种测试设备的配对方法的流程示意图；

图7为本发明实施例提供的测试系统结构示意图；

图8为本发明实施例公开的一种测试设备的识别系统的结构示意图；

图9为本发明实施例公开的识别系统中配对子系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

正如背景技术所述，现有技术中，在进行gamma调试时，测试仪器只能检测可用的端口，而无法辨别该端口所连接的设备是什么，需要操作人员再次进行判断，因而导致工作效率低。

有鉴于此，本发明公开了一种测试设备的识别方法及识别系统，能够在进行gamma调试时判断可用端口所连接的设备的类型，从而降低了操作人员的工作量，提高了工作效率。

为实现上述目的，本发明实施例提供了一种测试设备的识别方法，该方法应用于测试系统中，用于识别第一测试设备和第二测试设备，且测试系统安装于测试仪器，第一测试设备和第二测试设备分别与测试仪器的不同串口相连，其中，测试仪器可以是上位机或者测试芯片。具体地，可参见图1所示，包括：

步骤S1、依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；

其中，第一测试设备和第二测试设备为不同类型的测试设备，每个测试设备能够响应与其匹配的识别信号，因此，在本步骤中，为了检测测试仪器的哪些串口连接的是第一测试设备，在本步骤中需依次通过测试仪器的每一串口输出用于测试第一测试设备的第一识别信号，其中，为了方便对本发明实施例公开的技术方案进行清楚的说明，第一识别信号默认为与第一测试设备相匹配的识别信号，即第一测试设备能够对第一识别信号产生响应信息；

步骤S2、判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；

当通过上述各个串口发送出第一识别信号后，若某个串口所接的设备为第一测试设备，则该串口会获取到第一测试设备产生的第一反馈信号(第一测试设备依据第一识别信号产生的响应信号)，因此，即可确定：获取到第一反馈信号的串口所连接的测试设备为第一测试设备；

步骤S3、依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；

本步骤与步骤S1原理类似，是为了检测测试仪器的哪些串口连接的是第二测试设备，在本步骤中需依次通过测试仪器的每一串口输出用于测试第二测试设备的第二识别信号，第二识别信号默认为与第二测试设备相匹配的识别信号，即第二测试设备能够对第二识别信号产生响应信息；

步骤S4、判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备；

该步骤与步骤3原理类似，当通过上述各个串口发送出第二识别信号后，若某个串口所接的设备为第二测试设备，则该串口会获取到第二测试设备产生的第二反馈信号(第二测试设备依据第二识别信号产生的响应信号)，因此，即可确定：获取到第二反馈信号的串口所连接的测试设备为第二测试设备。

通过本发明上述实施例公开的方案可见，当采用应用有本发明上述实施例公开的方案的测试仪器进行扫gamma操作和扫flicker操作时，能够通过上述方式确定各个串口所连接的设备信息，因此无需研发人员再次判断，降低了工作人员的工作量，同时也提高了工作效率。

可以理解的是，在本发明上述实施例公开的方法中，第一测试设备和第二测试设备对应的设备类型可以依据研发人员的需求自行选择，例如，在本发明上述实施例公开的方案中，第一测试设备可以为光学设备，此时第二测试设备可以为测试板，第一测试设备也可以为测试板，此时第二测试设备为光学设备。更加具体的，测试板可以为ARM板，光学设备可以为色度仪。

可以理解的是，在本发明上述实施例公开的方法中，如果测试时，只存在一个第一测试设备和一个第二测试设备，则认为第一测试设备和第二测试设备为相互匹配的设备，测试仪器继续对第一测试设备和第二测试设备进行后续测试(例如扫gamma操作和扫flicker)。当然，也有会同时检测到n个第一测试设备和n个第二测试设备，其中，n为不小于2的正整数，此时，还需将第一测试设备和第二测试设备一一进行配对后，才可控制测试仪器对第一测试设备和第二测试设备进行后续操作，具体的，参见图2，在本发明上述实施例公开的方法的基础上，步骤S4之后，还包括步骤S5’，即对第一测试设备和第二测试设备进行配对，此时默认为第一测试设备为光学测试设备第二测试设备为测试板。

可以理解的是，具体的如何对第一测试设备和第二测试设备进行配对，研发人员可以依据自身需求选择合适的配对方式，其中，为了保证配对的准确性，参见图3，本发明上述方法中，步骤S5’具体可以包括：

步骤S10、对所述n个光学设备与n个测试板进行随机配对；

其中，需要说明的是，随机配对也需保证光学设备与测试板一一对应，即每个光学设备对应唯一一个测试板，每个测试板对应唯一一个光学设备，随机配对具体指的是，分别对每个光学设备定义不同编号，并与分别对每个测试板定义的不同编号，依据光学设备和测试板的编号在配对列表依据间建立一一对应的配对关系，并且，配对关系依据各个编号在配对列表中的位置关系的改变而改变，其中，编号可以为测试仪器的串口号；

步骤S20、控制所述n个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数；

具体地，通过对测试板进行操作，使得与其对应连接的显示面板显示一光学识别参数，不同的显示面板显示不同的光学识别参数，当然为了方便后续识别的精准度，每个显示面板所显示的光学识别参数与其他显示面板所显示的光学识别参数的差值应不小于预设值；

步骤S30、控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集；

当对n个第一测试设备和第二测试设备进行配对时，每一个光学设备在初始时即对应一个显示面板，此时，采用光学设备对其当前物理位置对应的显示面板所显示的第一光学识别参数进行采集；

步骤S40、判断所述光学设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，若否，则根据所述光学设备采集的第一光学识别参数和所述测试板控制相应显示面板显示的第一光学识别参数，调整所述光学设备或测试板的位置，以使所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系。

具体地，该步骤可以分为两个动作执行，即步骤S41和步骤S42，其中，所述步骤S41用于执行步骤S40的前半部分，步骤S42用于执行后半部分，具体的：

步骤S41、判断所述光学设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，若否，执行步骤S42；

由于在步骤S10中已经对光学设备和测试板进行了随机配对，因此，在配对关系下，每个光学设备均配对一显示面板，又由于在步骤S20中控制n个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数，因此，在配对关系中，与光学设备所对应的显示面板的第一光学识别参数是系统已知的，因此，通过将系统已知的光学设备对应的第一光学识别参数与步骤S30中光学设备采集到的与其物理位置对应的显示面板所显示的第一光学识别参数进行对比，即可判断光学设备的物理位置所对应的测试板是否正确，如果这两个第一光学识别参数相同，则表明光学设备和测试板的物理位置无误，配对关系正确，否则，表明光学设备和测试板的配对错误，需要对配对关系进行调整；

步骤S42、根据所述光学设备采集的第一光学识别参数和所述测试板控制相应显示面板显示的第一光学识别参数，调整配对列表中光学设备编号或测试板编号的位置，以使所述多个光学设备与多个测试板配对正确；

其中，需要说明的是配对列表中的设备编号的位置改变后，其对应的测试板编号也会发生改变。当存在配对错误时，需要执行步骤S42对配对列表中错误的配对关系进行调整，由于系统此时已经获取到每个测试板对应的显示面板输出的第一光学参数信息和应与其建立配对关系的光学设备采集到的光学参数信息，通过在配对类表中调整光学设备或测试板对应的编号的位置，即可使得这两者之间建立配对关系。

为了让用户更加形象的了解具体调整过程参见图4，图4为5个测试板和5个光学设备对应的配对列表，左半部分为调整之前对应的配对列表，右半部分为调整之后的配对列表，A、B、C、D、E表示测试板在配对列表中对应的编号，a、b、c、d、e为图像设备在配对列表中对应的编号，与A、B、C、D、E相邻的数字为测试板控制器对应的显示面板输出的第一光学识别参数，与a、b、c、d、e相邻的数字为光学设备采集到的其物理位置上对应的显示面板采集得到的第一光学识别参数，参见为调整之前的配对关系可见，其中，此时与测试板A配对的光学设备获取的第一光学识别参数与测试板A对应的显示面板输出的第一光学识别参数不同，表明两者为错误配对，此时，查看其他光学设备采集到的第一光学识别参数，发现光学设备b采集到的第一光学识别参数与测试板A对应的显示面板输出的第一光学识别参数相同，因此，将配对列表中光学设备b的编号移动到原光学设备a的编号的位置处，以此类推，对所有错误配对的光学设备的编号进行调整，即可得到图4中右半部分所示的配对列表，当然上述过程中也可以是对配对列表中测试板的编号的位置进行调整，其原理与上述过程类似，在此并不过多说明。

可以理解的是，当进行步骤S42调整配对列表中光学设备编号或测试板编号的位置后，为了保证调整后，光学设备和测试板的配对的正确性，参见图5，本发明上述实施例公开的方法中，在步骤S40之后，还可以包括：

S50、控制所述n个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第二光学识别参数；

每个显示面板显示的光学识别参数与步骤S20显示的光学识别参数不同；

S60、控制所述光学设备对其当前位置对应的显示面板的第二光学识别参数进行采集；

S70、判断所述光学设备采集的第二光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第二光学识别参数相符，若是，则所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系，若否，则返回所述步骤S10，直至连续预设次数判断多个光学设备与多个测试板均满足配对关系为止。

可以理解的是，除了上述调整配对列表中的编号的配对方法之外，本发明上还可以采用调整光学设备或测试板的物理位置的方式保证配对的正确性，参见图6，步骤S5’还可以为：

步骤S101、对所述多个光学设备与多个测试板随机配对为配对关系；

该步骤与上述实施例中的步骤S10相对应，两者可相互借鉴；

步骤S201、控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数；

该步骤与上述实施例中的步骤S20相对应，两者可相互借鉴；

步骤S301、选择其中一个光学设备作为当前配对设备，控制所述当前配对设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集；

本方法的实质是当配对列表建立完成后，在不对配对列表进行调整的基础上，通过改变光学设备的物理位置，使得光学设备和测试板在物理位置上的配对关系满足配对列表中的配对关系，此时，可通过配对列表，依次对各个光学设备的位置进行校准，用户随机选择一个光学设备作为当前配对设备，采集其物理位置上对应的显示面板的第一光学识别参数；

步骤S401、判断所述当前配对设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，如果是，执行步骤S501，否则执行步骤S502；

当光学设备获取到其物理位置对应的显示面板显示的第一光学识别参数后，系统通过配对列表获取与其配对的测试板对应的显示面板的第一光学识别参数信息，判断两者是否一致，如果一致，则表明光学设备的当前位置满足配对列表中的配对关系，其物理位置正确，执行步骤S501，否则，表明其物理位置错误，执行步骤S502；

步骤S501：输出第一提示信息，执行步骤S601；

步骤S502：输出第二提示信息，执行步骤S602；

其中，第一提示信息为表征配对正确的提示信息，第二提示信息可以为用于表征配对错误的提示信息，第一提示信息和第二提示信息的信息类型可以依据用户需求进行设定，例如，第一提示信息可以为电子提示音“配对正确”、文字提示“配对正确”或绿灯提示等，第二提示信息可以为“配对错误”、文字提示“配对错误”或红灯提示等。

步骤S601：选择另外一个光学设备作为当前配对设备，控制所述当前配对设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集，执行步骤S401；

此时，当配对成功后，需要依据配对列表继续对下一个光学设备的物理位置进行校正，直至所有的光学设备的物理位置均校正完毕；

步骤S602：移动所述当前配对设备至下一位置处，对下一显示面板所显示的第一光学识别参数进行采集，执行步骤S401，直至所有的光学设备均测试完成；

当用户获取到第二提示信息后，表明此时当前光学设备的物理位置不满足配对列表中的配对关系，需要对其位置进行调整，此时需将其移动到下一位置处，使其对应下一个显示面板，并重新对该显示面板输出的第一光学识别参数进行采集，重复执行步骤S401。

本发明上述实施例公开的第一和第二光学识别参数的具体类型可以依据用户需求自行选择，优选的，第一和第二光学识别参数为亮度参数。

可以理解的是，本发明上述实施例公开的上述方法可应用于测试系统中，测试系统可通过上位机安装于测试仪器中，当然，测试系统也可直接通过ARM芯片安装于测试仪器中。

为了对本发明上述实施例公开的方法进行说明，下面本发明以n等于2、光学设备为色度仪、测试板为ARM板为例对上述步骤S50’中的配对方式再次进行说明：

在本实施例中，包括两个ARM测试板、两个色度仪；

所述测试仪器的两个串口分别与两个所述测试板，另外两个串口分别于两个色度仪相连，其中每个测试板对应连接一个显示面板，所述色度仪设备放置在所述显示面板上，且所述光学设备的光采集端对应所述显示面板的正面；

将一个色度仪放置于一个ARM测试板对应的显示面板P1上，将另一个色度仪放置于另一个ARM测试板对应的显示面板P2上；

将色度仪的端口号存入数组arrMSE中，暂定其中一个色度仪的编号为arrMSE[0]，另一个色度仪的编号为arrMSE[1]；将ARM测试板的端口号存入数组arrARM中，其中一个ARM测试板的编号为arrARM[0]，另一个ARM测试板的编号为arrARM[1]，在配对列表中设定arrMSE[0]与arrARM[0]配对、arrMSE[1]与arrARM[1]配对；

将编号为arrARM[0]的ARM测试板对应的显示显示面板P1设置为白屏，将arrARM[1]的ARM测试板对应的显示面板P2设置为黑屏；

采用位于显示面板P1上的第一色度仪采集显示面板P1上的亮度值，采用位于显示面板P2上的第二色度仪采集显示面板P2上的亮度值；

如果编号为arrMSE[0]的色度仪所检测到的亮度值大于300，编号为arrMSE[1]的色度仪所检测到的亮度值小于100，则认为第一色度仪和第二色度仪的配对无误；否则，则说明第一色度仪和第二色度仪的配对有误，需调换编号arrMSE[0]和arrMSE[1]的位置，或者调换编号arrMSE[0]和arrMSE[1]的位置，或者调换两个色度仪的位置；

调换位置后，将两个显示面板的显示画面互换，采用两个色度仪分别采集其对应的显示面板的位置信息，如果编号为arrMSE[0]的色度仪所检测到的亮度值大于300，编号为arrMSE[1]的色度仪所检测到的亮度值小于100，则配对正确，否则输出警示信息，以提示用户配对错误。

对应于上述测试设备的识别方法，本发明还公开了一种测试设备的识别系统，方法和系统可以相互借鉴，该系统应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且测试系统安装于测试仪器，当采用测试仪器对所述第一测试设备和第二测试设备进行测试时，第一测试设备和第二测试设备分别与测试仪器的不同串口相连，此时，为了方便用户更加清楚的了解在测试过程中，所述第一测试设备、第二测试设备和测试仪器的链接关系，本发明还采用图7对其连接关系进行了说明，如图所示，每个第一测试设备200和每个第二测试设备300分别连接在所述测试仪器100的不同串口上，第一测试设备200连接有显示面板210，第二测试设备300放置于所述第一测试设备200连接的显示面板210上方，其中，测试仪器100可以是上位机或者测试芯片。具体地，参见图8，上述测试系统包括：

第一发送模块10，用于依次向所述测试仪器100的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；

第一判断模块20，用于判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；

第二发送模块30，用于依次向测试仪器100的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；

以及，第二判断模块40，用于判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同。

与上述方法相对应，参见图8，该系统还可以包括：

配对子系统50，其中，所述配对子系统50用于在所述第二判断模块40完成后，且当识别所述测试仪器100连接有多个光学设备，以及连接有同样数量的多个测试板时，对所述光学设备和测试板进行配对。

与上述方法相对应，第一测试设备可以为光学设备，此时第二测试设备可以为测试板，第一测试设备也可以为测试板，此时第二测试设备为光学设备，参见图9，配对子系统50可以包括：

随机配对模块51，用于对所述多个光学设备与多个测试板随机配对为配对关系；

随机配对模块51具体用于：分别对每个光学设备定义不同编号，并与分别对每个测试板定义的不同编号，依据光学设备和测试板的编号在配对列表依据间建立一一对应的配对关系，并且，配对关系依据各个编号在配对列表中的位置关系的改变而改变，其中，编号可以为测试仪器的串口号；

控制显示模块52，用于控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数；

控制采集模块53，用于控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集；

以及，处理模块54，判断所述光学设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，若否，则根据所述光学设备采集的第一光学识别参数和所述测试板控制相应显示装置显示的第一光学识别参数，调整所述随机配对模块51的配对列表中光学设备编号或测试板编号的位置，以使所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (8)

1.一种测试设备的识别方法，应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且所述测试系统安装于测试仪器，所述第一测试设备和第二测试设备分别与所述测试仪器的不同串口相连，其特征在于，包括：

S1、依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；

S2、判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；

S3、依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；

S4、判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同；

所述第一测试设备为光学设备，且第二测试设备为测试板；

或者，所述第一测试设备为测试板，所述第二测试设备为光学设备；

在步骤S4后，且当识别所述测试仪器连接有多个光学设备，以及连接有同样数量的多个测试板时，还包括：

S5’、对所述光学设备和测试板进行配对。

2.根据权利要求1所述的测试设备的识别方法，其特征在于，所述步骤S5’包括：

S10、对所述多个光学设备与多个测试板随机配对为配对关系；

S20、控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数；

S30、控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集；

S40、判断所述光学设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，若否，则根据所述光学设备采集的第一光学识别参数和所述测试板控制相应显示面板显示的第一光学识别参数，调整所述光学设备或测试板的位置，以使所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系。

3.根据权利要求2所述的测试设备的识别方法，其特征在于，在所述步骤S40后还包括：

S50、控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第二光学识别参数；

S60、控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第二光学识别参数进行采集；

S70、判断所述光学设备采集的第二光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第二光学识别参数相符，若是，则所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系，若否，则返回所述步骤S10，直至连续预设次数判断所述多个光学设备与多个测试板均满足所述配对关系为止。

4.根据权利要求3所述的测试设备的识别方法，其特征在于，所述第一光学识别参数和第二光学识别参数均为亮度参数。

5.根据权利要求1所述的测试设备的识别方法，其特征在于，所述测试系统通过上位机安装于所述测试仪器；

或者，所述测试系统通过ARM芯片安装于所述测试仪器。

6.根据权利要求1所述的测试设备的识别方法，其特征在于，所述光学设备为色度仪；

以及，所述测试板为ARM测试板。

7.一种测试设备的识别系统，应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且所述测试系统安装于测试仪器，所述第一测试设备和第二测试设备分别与所述测试仪器的不同串口相连，其特征在于，包括：

第一发送模块，用于依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；

第一判断模块，用于判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；

第二发送模块，用于依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；

以及，第二判断模块，用于判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同；

所述第一测试设备为光学设备，且第二测试设备为测试板；

或者，所述第一测试设备为测试板，所述第二测试设备为光学设备；

还包括配对子系统；

其中，在所述第二判断模块完成后，且当识别所述测试仪器连接有多个光学设备，以及连接有同样数量的多个测试板时，所述配对子系统用于对所述光学设备和测试板进行配对。

8.根据权利要求7所述的测试设备的识别系统，其特征在于，所述配对子系统包括：

随机配对模块，用于对所述多个光学设备与多个测试板随机配对为配对关系；

控制显示模块，用于控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数；

控制采集模块，用于控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集；

以及，处理模块，判断所述光学设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，若否，则根据所述光学设备采集的第一光学识别参数和所述测试板控制相应显示装置显示的第一光学识别参数，调整所述光学设备或测试板的位置，以使所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系。