CN105629421A - 一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置 - Google Patents

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高枫
闫鹏
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Abstract

本发明涉及显微镜技术领域，尤其涉及一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，包括：反射镜、反射镜支架和连接件，反射镜支架设有反射镜安装孔，反射镜设于反射镜安装孔内并与反射镜安装孔的轴线垂直；连接件设有外螺纹，其一端与反射镜支架连接，且另一端通过外螺纹与物镜架上的物镜安装孔配合连接，使得反射镜安装孔的轴线与物镜安装孔的轴线重合且反射镜的反射面朝向外界激光源。利用激光光束垂直入射到反射镜的反射面上时，反射光将按原路返回的原理判断物镜架是否倾斜，并对其进行调整校验，保证物镜架上物镜安装孔相对激光光束中心不存在倾斜角度，从而保证物镜中心与激光光束中心之间不存在倾斜，进而保证较高的成像质量。

Description

一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置
技术领域
本发明涉及显微镜技术领域，尤其涉及一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置。
背景技术
显微镜的放大作用主要取决于物镜，物镜是由若干个透镜组合而成的一个透镜组。物镜作为显微镜最重要的光学部件，直接关系和影响成像的质量和分辨率等各项光学技术参数，亦是衡量一台显微镜质量的首要标准。随着成像质量、分辨率要求的提高及各种突破光学衍射极限的技术的快速发展，各种高数值孔径例如水浸、油浸及更高数值孔径的固浸物镜应运而生。在光学检测的过程中，若显微镜的物镜倾斜或者光线中心偏离物镜中心，会导致像差增加，使得聚光能力及数值孔径难以充分使用，直接降低成像的质量和分辨率等技术参数，甚至导致某些突破衍射极限的方法失效。因此，检测前有必要对显微镜中安装物镜的物镜架进行倾斜调整及校验，以使物镜架上的物镜安装孔的中心与光线中心同轴，从而保证物镜的中心与光线中心同轴，使得光线不会偏离物镜中心。
然而，目前市场上还没有可以用于高数值孔径显微物镜的倾斜调整校验装置，导致光学检测时，无法精确判断物镜是否发生倾斜，也就无法保证成像质量。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是现有技术缺少可以用于高数值孔径显微物镜的倾斜调整校验装置，导致光学检测时无法精确判断物镜是否发生倾斜的问题。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，用于物镜架的倾斜调整及校验，包括：反射镜、反射镜支架和连接件，反射镜支架设有反射镜安装孔，反射镜设于反射镜安装孔内并与反射镜安装孔的轴线垂直；连接件设有外螺纹，其一端与反射镜支架连接，且另一端通过外螺纹与物镜架上的物镜安装孔配合连接，使得反射镜安装孔的轴线与物镜安装孔的轴线重合且反射镜的反射面朝向外界激光源。
根据本发明，反射镜安装孔为盲孔，反射镜的反射面朝向反射镜安装孔的开口端。
根据本发明，反射镜可拆卸地嵌设于反射镜安装孔。
根据本发明，连接件轴向中空。
根据本发明，连接件与反射镜安装孔的开口端相连接。
根据本发明，反射镜安装孔的侧壁上设有内螺纹，内螺纹与连接件的外螺纹配合连接。
(三)有益效果
本发明的上述技术方案具有如下优点：
本发明的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，通过连接件的外螺纹与物镜架上的物镜安装孔配合连接，使反射镜安装孔的轴线与物镜安装孔的轴线重合且反射镜的反射面朝向外界激光源，使得外界激光源发射的激光光束能够射到反射镜的反射面上，利用激光光束垂直入射到反射镜的反射面上时，反射光将按原路返回的原理判断物镜架是否倾斜：若反射光按原路返回，则判断物镜架未倾斜；若反射光未按原路返回，则判断物镜架存在倾斜角度，应对其进行调整校验，直至反射光按原路返回。由此实现了对物镜架是否存在倾斜的精确判断，并可对其进行调整校验，保证物镜架上物镜安装孔相对激光光束的中心不存在倾斜角度，从而保证物镜中心与激光光束中心之间不存在倾斜，进而保证较高的成像质量，满足光学检测对高分辨率和高成像质量与日俱增的需求。
附图说明
图1是本发明实施例简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置的结构示意图；
图2是图1中示出的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置沿纵向的剖视示意图；
图3是图1中示出的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置安装在物镜架上时的示意图；
图4是显微镜的物镜架存在倾斜时的工作状态图；
图5是图1中示出的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置安装在物镜架上且物镜架存在倾斜时的工作状态示意图。
图中：1：反射镜；2：反射镜支架；20：反射镜安装孔；3：连接件；4：外螺纹；5：内螺纹；6：物镜架；60：物镜安装孔；7：激光源；8：光阑；9：物镜。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1至图3所示，本发明的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置的一种实施例。本实施例的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置可用于物镜架的倾斜调整及校验。如图1和图2所示，本实施例的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置包括：反射镜1、反射镜支架2和连接件3。其中，反射镜支架2设有反射镜安装孔20，反射镜1设于反射镜安装孔20内并与反射镜安装孔20的轴线垂直。连接件3设有外螺纹4，外螺纹4为RMS型物镜螺纹，可与物镜架上的物镜安装孔配合连接。RMS型物镜螺纹的基本尺寸为：螺纹角55°、螺距0.706mm、基础三角形的高0.678mm、名义直径20.320mm，连接件3的外螺纹采用RMS型物镜螺纹，既可与传统的纤维镜架通用，也可用于新式的笼式结构显微镜或其它新型的显微镜。连接件3的一端与反射镜支架2连接，连接件3的另一端通过外螺纹4与物镜架上的物镜安装孔配合连接，使得反射镜安装孔20的轴线与物镜安装孔的轴线重合且反射镜1的反射面朝向外界激光源，使得外界激光源发射的激光光束能够射到反射镜1的反射面上。
优选地，如图1和图2所示，在本实施例中，反射镜安装孔20为盲孔，即反射镜安装孔20的一端开口且另一端封闭。反射镜1可拆卸地嵌设于反射镜安装孔20，并位于反射镜安装孔20的封闭端(反射镜安装孔20封闭的一端)，反射镜1的反射面朝向反射镜安装孔20的开口端(反射镜安装孔20开口的一端)。连接件3与反射镜安装孔20的开口端相连接，且连接件3轴向中空，使得反射镜1的反射面能够朝向外界激光源，并使外界激光源发射的激光光束能够射到反射镜1的反射面上。优选在反射镜安装孔20的侧壁上设有内螺纹5，内螺纹5与连接件3的外螺纹4配合连接。
如图3所示，本实施例的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置在装配使用时，先将反射镜1安装到反射镜支架2的反射镜安装孔20内，使反射镜1的反射面朝向反射镜安装孔20的开口端并与反射镜安装孔20的轴线相垂直；然后将连接件3的一端旋入反射镜安装孔20内，直至连接件3的一端的端面与反射镜1的反射面相抵持，连接件3的外螺纹4与反射镜安装孔20的内螺纹5配合相接，使得反射镜支架2与连接件3固定连接，并对反射镜安装孔20内的反射镜1起到固定作用；最后将连接件3的另一端从物镜架6的正面旋入其物镜安装孔中，通过连接件3的外螺纹4与物镜安装孔连接。上述物镜架6的正面是指物镜架6上安装物镜的面，物镜架6的反面与外界激光源相对，物镜架6的正面则与物镜架6的反面相背。由此通过连接件3将反射镜支架2与物镜架6连接，并使得反射镜1的反射面朝向外界激光源，从而使外界激光源发射的激光光束能够射到反射镜1的反射面上。
图4示出了显微镜在使用时物镜出现倾斜情况的工作状态，物镜9安装在物镜架6的物镜安装孔60内，物镜架6的反面与激光源7相对，激光源7发射的激光光束经过光阑8射到物镜9上。在物镜架6发生倾斜使得物镜9倾斜时，物镜9的中心与激光光束的中心发生偏离，从而影响成像质量。本实施的上述简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置可对物镜架6是否发生倾斜进行判断并对其进行调整校验。
图5示出了本实施例的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置安装在物镜架6的正面时物镜架6出现倾斜情况的工作状态。如图5所示，本实施例的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置在使用时，可通过连接件3的外螺纹4与物镜架6上的物镜安装孔60配合连接，使得激光源7发射的激光光束射到反射镜1的反射面上，利用激光光束垂直入射到反射镜1的反射面上时，反射光将按原路返回的原理判断物镜架是否倾斜：若反射光按原路返回，则判断物镜架6未倾斜；若反射光未按原路返回，则判断物镜架6存在倾斜角度，应对其进行调整校验，直至反射光按原路返回。由此实现了对物镜架6是否存在倾斜的精确判断，并可对其进行调整校验，保证物镜架6上物镜安装孔60相对激光光束的中心不存在倾斜角度，从而保证物镜中心与激光光束中心之间不存在倾斜，进而保证较高的成像质量，满足光学检测对高分辨率和高成像质量与日俱增的需求。此外，利用反射镜1还可对激光源7射出的激光光束的入射光斑的质量进行分析。对物镜架6上物镜安装孔60相对激光光束中心的倾斜度调整校验完毕后，即可旋转反射镜支架2和连接件3，将连接件3从物镜安装孔60中卸下来，再将物镜9安装到物镜安装孔60中以进行检测。
本实施例的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置适用于各类显微镜物镜的倾斜调整校验，尤其适用于高数值孔径显微镜物镜的倾斜调整校验。通过对物镜的调整校验，能保证其中心与激光光束的中心同轴，从而减小像差，保证显微镜系统的有效数值孔径达到最大，提高显微镜物镜的分辨率和成像的清晰度，同时能够保证一些极其依赖系统数值孔径的新型超分辨率显微技术例如表面等离子体显微等技术的实施。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (6)

1.一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，用于物镜架的倾斜调整及校验，其特征在于，包括：反射镜(1)、反射镜支架(2)和连接件(3)，所述反射镜支架(2)设有反射镜安装孔(20)，所述反射镜(1)设于所述反射镜安装孔(20)内并与所述反射镜安装孔(20)的轴线垂直；所述连接件(3)设有外螺纹(4)，其一端与所述反射镜支架(2)连接，且另一端通过所述外螺纹(4)与所述物镜架(6)上的物镜安装孔(60)配合连接，使得所述反射镜安装孔(20)的轴线与所述物镜安装孔(60)的轴线重合且所述反射镜(1)的反射面朝向外界激光源(7)。
2.根据权利要求1所述的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，其特征在于，所述反射镜安装孔(20)为盲孔，所述反射镜(1)的反射面朝向所述反射镜安装孔(20)的开口端。
3.根据权利要求2所述的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，其特征在于，所述反射镜(1)可拆卸地嵌设于所述反射镜安装孔(20)。
4.根据权利要求2所述的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，其特征在于，所述连接件(3)轴向中空。
5.根据权利要求4所述的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，其特征在于，所述连接件(3)与所述反射镜安装孔(20)的开口端相连接。
6.根据权利要求5所述的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置，其特征在于，所述反射镜安装孔(20)的侧壁上设有内螺纹(5)，所述内螺纹(5)与所述连接件(3)的所述外螺纹(4)配合连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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