CN105609026B - 一种面板驱动电路的性能检测装置和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种面板驱动电路的性能检测装置和方法,涉及显示技术领域,为解决不能对面板驱动电路中的元件进行准确的性能检测的问题。所述面板驱动电路的性能检测装置,包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路;光纤与点状光源连接,光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光,预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源,预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤;光纤用于将点状光源发出的光传导至面板驱动电路的元件上方。本发明提供的面板驱动电路的性能检测装置和方法用于对面板驱动电路的元件进行性能检测。

Description

一种面板驱动电路的性能检测装置和方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种面板驱动电路的性能检测装置和方法。
背景技术
显示面板是显示装置的重要组成部分之一,显示面板由成行和成列的像素单元组成,在显示面板工作时,显示装置中的面板驱动电路为显示面板提供驱动信号,驱动信号控制像素单元中的TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)的开启和关闭,从而完成显示面板的驱动,实现显示面板显示图像的功能。
但是,面板驱动电路设计制作为成品后,难以对面板驱动电路中的具体元件进行更换,故需要对面板驱动电路中的元件进行性能检测,得到面板驱动电路中的各个元件对面板驱动电路输出信号的影响,从而根据面板驱动电路中的各个元件对面板驱动电路输出信号的影响对之后生产的面板驱动电路的设计做出改进。在现有技术中,往往通过软件模拟对面板驱动电路中的元件的性能检测,但由于面板驱动电路往往工作在相同的开启和关闭电压,且不同元件在实际工作中彼此会相互影响,故无法对面板驱动电路中的元件进行准确的性能检测。
发明内容
本发明的目的在于提供一种面板驱动电路的性能检测装置和方法,用于对面板驱动电路中的元件进行准确的性能检测。
为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一方面,本发明提供一种面板驱动电路的性能检测装置,包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路;所述光纤与所述点状光源连接,所述光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光,所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源,所述预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤;所述光纤用于将点状光源发出的光传导至所述面板驱动电路的元件上方。
另一方面,本发明提供一种面板驱动电路的性能检测方法,用于上述的面板驱动电路的性能检测装置,所述面板驱动电路的性能检测方法包括:
光源驱动电路控制预设点状光源发光,所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源,所述预设光纤为与薄膜晶体管面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤;
所述预设点状光源发光,所述预设点状光源发出的光通过所述预设光纤传导至所述面板驱动电路的元件上方。
本发明提供的面板驱动电路的性能检测装置和方法,面板驱动电路的性能检测装置包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路,与使用软件模拟对面板驱动电路中的元件进行性能检测的现有技术相比,本发明能够使与某一根光纤或预设组合的多根光纤对应的点状光源发光,将点状光源发出的光通过光纤传导至面板驱动电路的元件的上方,从而使某一根光纤或预设组合的多根光纤对应的面板驱动电路的元件受到光的照射,受到光线照射的元件的电流值发生改变,从而影响面板驱动电路的输出信号,根据元件的电流值发生的变化和输出信号的变化,能够对面板驱动电路中的元件的性能参数进行准确的检测。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明实施例一中面板驱动电路的性能检测装置的结构示意图;
图2为本发明实施例一中面板驱动电路的元件的光照档位与电流档位的对应关系示意图;
图3为本发明实施例二中面板驱动电路的性能检测装置的结构示意图;
图4为本发明实施例二中光源驱动电路的结构示意图;
图5为本发明实施例三中的面板驱动电路的举例示意图;
图6为本发明实施例三中的点状光源的排列示意图;
图7为与图5对应的信号时序图;
图8为本发明实施例四中的光纤与支撑结构的示意图;
图9为本发明实施例六中面板驱动电路的性能检测方法的流程图;
图10为本发明实施例七中面板驱动电路的性能检测方法的流程图;
图11为本发明实施例八中面板驱动电路的性能检测方法的流程图。
附图标记:
10-点状光源, 11-光纤,
12-光纤接口, 13-面板驱动电路,
14-支撑结构, 15-光源驱动电路,
16-图像采集器件, 151-时钟信号单元,
152-光源组合单元, 153-逻辑控制单元,
154-供电单元。
具体实施方式
为了进一步说明本发明实施例提供的面板驱动电路的性能检测装置和方法,下面结合说明书附图进行详细描述。
实施例一
请参阅图1,本发明实施例提供的面板驱动电路的性能检测装置包括多个点状光源10、多根光纤11以及光源驱动电路15,其中,多个点状光源10均可独立发光,光源驱动电路15驱动预设点状光源发光,预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源10,预设光纤为与面板驱动电路13的元件对应的一根光纤11或预设组合的多根光纤11,即驱动与预设光纤对应的点状光源10发光,预设组合的多根光纤11可以根据具体情况和场景进行具体调节,也就是说,多根光纤11的预设组合是可变化的;光纤11与点状光源10连接,光纤11用于将点状光源10发出的光传导至面板驱动电路13的元件上方,面板驱动电路13的元件具体可以为TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)。
需要说明的是,面板驱动电路13的元件受到光照后,其电流值也会发生改变,以薄膜晶体管为例,薄膜晶体管的电流值包括开启电流值和关闭电流值,开启电流值和关闭电流值可以用电流档位表示,不同的电流档位对应不同的电流值,如图2所示,不同光照强度的档位(即光照档位)对应薄膜晶体管不同的电流档位,其中,Ion表示薄膜晶体管的开启电流档位,Ioff表示薄膜晶体管的关闭电流档位,光照档位0至光照档位5由暗到亮排列,电流档位Ion 0至Ion 5的电流由小到大排列,电流档位Ioff 0至Ioff 5的电流由小到大排列,当对开启的薄膜晶体管进行光照时,光照档位0至光照档位5分别依次对应Ion 0至Ion 5,当对关闭的薄膜晶体管进行光照时,光照档位0至光照档位5分别依次对应Ioff 0至Ioff 5。
本发明提供的面板驱动电路的性能检测装置,包括多个点状光源10、多根光纤11以及光源驱动电路15,与使用软件模拟对面板驱动电路中的元件进行性能检测的现有技术相比,本发明能够使与某一根光纤11或预设组合的多根光纤11对应的点状光源10发光,将点状光源10发出的光通过光纤11传导至面板驱动电路的元件的上方,从而使某一根光纤11或预设组合的多根光纤11对应的面板驱动电路的元件受到光的照射,受到光线照射的元件的电流值发生改变,从而影响面板驱动电路的输出信号,根据元件的电流值发生的变化和输出信号的变化,能够对面板驱动电路中的元件的性能参数进行准确的检测。
实施例二
请参阅图3,在实施例一的基础上,面板驱动电路的性能检测装置还包括图像采集器件16;图像采集器件用于采集面板驱动电路13的元件的分布图像和光纤11的分布图像,得到面板驱动电路13的元件的位置和光纤11的位置,图3所示的箭头部分是图像采集器件16的图像采集范围,具体的图像采集器件16可以是CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor,互补金属氧化物半导体)图像传感器或摄像头等具有采集图像功能的结构。图像采集器件16得到面板驱动电路13的元件的位置和光纤11的位置,以使得光源驱动电路15根据面板驱动电路的元件的位置和光纤11的位置,驱动预设点状光源发光;比如,如图4所示,光源驱动电路15包括时钟信号单元151、光源组合单元152、逻辑控制单元153和供电单元154,时钟信号单元151将时钟信息发送给逻辑控制单元153,时钟信息具体可以用PWM(Pulse Width Modulation,脉冲宽度调制)信号传递,光源组合单元152将点状光源10的组合信息发送给逻辑控制单元153,逻辑控制单元153还能够设置预设点状光源的发光参数,发光参数包括发光强度和发光时长,因此,逻辑控制单元153根据时钟信息和组合信息决定点亮的点状光源10以及点亮的点状光源10的发光时长和发光强度,供电单元154为光源驱动电路15提供工作电压。
本实施例利用图像采集器件能够确定面板驱动电路13中需要进行性能检测的元件的位置,从而确定需要进行性能检测的元件对应的光纤11(即预设光纤),进而确定需要发光的点状光源10(即预设点状光源),使得预设点状光源发出的光能够通过预设光纤准确的照射到面板驱动电路13中需要进行性能检测的元件上,进一步提高性能检测的准确性。
实施例三
在实施例一和实施例二的基础上,具体的,可以利用OLED(Organic LightEmitting Diode,有机发光二极管)面板、LED(Light Emitting Diode,发光二极管)面板或LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示)模组来提供点状光源10,也就是说,可以在面板驱动电路的性能检测装置中安装OLED面板、LED面板或LCD模组,从而利用OLED面板、LED面板或LCD模组中的背光源中的光源作为点状光源10,具体的,一个点状光源10可以对应一个像素单元。其中,为了避免OLED面板、LED面板或LCD模组遮挡图像采集器件采集图像的范围,点状光源10可以相对与图像采集器件16滑动,比如,OLED面板、LED面板或液晶显示LCD模组设置为可相对于图像采集器件滑动,从而可以将OLED面板、LED面板或液晶显示LCD模组移出图像采集器件采集图形的范围,防止OLED面板、LED面板或液晶显示LCD模组对图像采集器件采集图像的影响。
具体的,多根光纤11可以呈阵列排布,一根光纤11对应一个点状光源10,如图3所示,光纤11通过光纤接口与点状光源10连接,需要说明的是,面板驱动电路13中的不同的元件对应不同的光纤11,在对不同的元件进行性能检测时,需要对不同的元件进行光照,驱动与该元件对应的光纤11对应的点状光源10发光。比如,如图5所示,面板驱动电路13包括薄膜晶体管TFT1、TFT2和TFT3三个元件,薄膜晶体管TFT1的栅极连接第一时钟信号CLK1,漏极连接第二时钟信号CLK2,其中需要对开启的薄膜晶体管TFT1和关闭的薄膜晶体管TFT3进行光照,这里需要说明的是,第一时钟信号CLK1和第二时钟信号CLK2可以接入实施例二中的时钟信号单元151中,从而使时钟信号单元151将第一时钟信号CLK1和第二时钟信号CLK2的时钟信息发送给逻辑控制单元153。如图6所示,设定面板驱动电路的性能检测装置中包括编号为G1-G300的300根光纤11,则面板驱动电路的性能检测装置中包括与光纤11一一对应的编号为L1-L300的点状光源10,与薄膜晶体管对应的点状光源10具有对应的驱动信号TFT-Light,驱动信号TFT-Light用于驱动点状光源10发光。设定与薄膜晶体管TFT1对应的光纤11(即预设光纤)的编号为G35-G40,则与编号为G35-G40对应的点状光源10(即预设点状光源)的编号为L35-L40,与薄膜晶体管TFT3对应的光纤11(即预设光纤)的编号为G80-G86,则与编号为G80-G86对应的点状光源10(即预设点状光源)的编号为L80-L86。图7为与图5所示的面板驱动电路13对应的信号时序图,则在第一时钟信号CLK1为高电平,第二时钟信号CLK2为高电平时,薄膜晶体管TFT1开启,薄膜晶体管TFT3也开启,此时,需要对开启的薄膜晶体管TFT3进行光照,则点亮编号为L80-L86的点状光源10,TFT3-Light表示与薄膜晶体管TFT3对应的预设点状光源(即编号为L80-L86的点状光源10)的驱动信号,高电平表示编号为L80-L86的点状光源10发光,低电平表示编号为L80-L86的预设点状光源熄灭;当第一时钟信号CLK1为低电平时,薄膜晶体管TFT1关闭,此时,需要对关闭的薄膜晶体管TFT1进行光照,则点亮编号为L35-L40的点状光源10,TFT1-Light表示与薄膜晶体管TFT1对应的预设点状光源(即编号为L35-L40的点状光源10)的驱动信号,高电平表示编号为L35-L40的点状光源10发光,低电平表示编号为L35-L40的点状光源10熄灭。
由于面板驱动电路13中的元件的体积都非常小,故为了能够准确的控制对元件的光照范围,需要将点状光源10制作得较小,但是将点状光源10设计的较小提高了面板驱动电路13的性能检测装置的制作工艺难度,为了能够保证不必将点状光源10制作得较小,从而降低制作工艺难度,光纤11可以为圆台结构,也就是说,光纤11的入射端的直径大于光纤11的出射端的直径,光纤11的入射端与点状光源10连接,光纤11的出射端位于面板驱动电路13的元件的上方。通过光纤11的入射端与出射端的直径设置的不同,即使点状光源10设置得较大,也可以准确的控制对面板驱动电路13中需要进行性能检测的的元件的光照范围。
实施例四
由于光纤11较为柔软,为了保证光纤11的出射端能够稳定的排列在面板驱动电路13上方,还可以在光纤11的出射端的四周设置用于支撑光纤11的支撑结构14,即围绕光纤11设置支撑结构14,该支撑结构14具体可以为中空的方框结构,或者设有光纤通孔的支撑板,或者其他能够起到支撑光纤11作用的结构,比如,如图8所示,支撑结构14为中空的方框结构,中空部分用于设置光纤11的出射端,从而保证光纤11的出射端不会变形。同时,操作人员还可以手动或利用机械等对支撑结构14进行移动,从而调整光纤11的输出端的位置以及光纤11的输出端与面板驱动电路13的元件之间的距离。
实施例五
在上述实施例的基础上,为了能够及时高效的得到面板驱动电路的元件的具体性能,面板驱动电路的性能检测装置还可以包括检测电路(附图中并未标识出),其中检测电路在面板驱动电路的性能检测装置中的具体位置并不限定,检测电路用于根据获取的面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系,以及面板驱动电路的输出信号,得到面板驱动电路的元件的性能参数。其中,面板驱动电路的各个元件的电流值决定了面板驱动电路的输出信号,但需要注意的是面板驱动电路的不同元件的电流值的改变对面板驱动电路的输出信号的影响程度也不同。面板驱动电路的元件的性能参数用于表征该元件对面板驱动电路的输出信号的影响程度,影响程度可数据化为百分比数值,从而可以根据元件对面板驱动电路的输出信号的影响程度,对面板驱动电路进行改良。
实施例六
请参阅图9,本发明实施例提供了一种面板驱动电路的性能检测方法,用于上述实施例中的面板驱动电路的性能检测装置,该面板驱动电路的性能检测方法包括:
步骤201,光源驱动电路控制预设点状光源发光;预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源,预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤。
步骤202,预设点状光源发光,预设点状光源发出的光通过预设光纤传导至面板驱动电路的元件上方。
需要说明的是,步骤201和步骤202的具体内容可以参见实施例一至实施例五中的相关内容,在此不再赘述。
本发明提供的面板驱动电路的性能检测方法中,与使用软件模拟对面板驱动电路13中的元件进行性能检测的现有技术相比,本发明中的光源驱动电路驱动与某一根光纤或预设组合的多根光纤对应的点状光源发光,将点状光源发出的光通过光纤传导至面板驱动电路的元件的上方,从而使某一根光纤或预设组合的多根光纤对应的面板驱动电路的元件受到光的照射,受到光线照射的元件的电流值发生改变,从而影响面板驱动电路的输出信号,根据元件的电流值发生的变化和输出信号的变化,能够对面板驱动电路中的元件的性能参数进行准确的检测。
实施例七
请参阅图10,在实施例六的基础上,还可以在步骤201之前添加步骤203-步骤205,需要说明的是,步骤203-步骤204和步骤205之间的时序并不限定,可以先实施步骤203-步骤204,再实施步骤205,也可以同时实施步骤-步骤204和步骤205,具体内容如下:
步骤203,图像采集器件采集面板驱动电路的元件的分布图像和光纤的分布图像,得到面板驱动电路的元件的位置和光纤的位置。
步骤204,图像采集器件根据面板驱动电路的元件的位置和光纤的位置,确定预设点状光源。
步骤205,光源驱动电路设置设置预设点状光源的发光参数;发光参数包括发光强度和发光时长。
需要说明的是,步骤203-步骤205的具体内容可以参见实施例一至实施例五中的相关内容,在此不再赘述。
实施例八
请参阅图11,在上述实施例的基础上,在步骤202之后还可以添加步骤206和步骤207,具体内容如下:
步骤206,检测电路获取面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系,以及面板驱动电路的输出信号。
步骤207,检测电路根据面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系,以及面板驱动电路的输出信号,得到面板驱动电路的元件的性能参数。
需要说明的是,步骤206-步骤207的具体内容可以参见实施例一至实施例六中的相关内容,在此不再赘述。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于面板驱动电路的性能检测方法的实施例而言,由于其基本相似于面板驱动电路的性能检测装置实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见面板驱动电路的性能检测装置实施例的部分说明即可。
在上述实施方式的描述中,具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (13)

1.一种面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路;所述光纤与所述点状光源连接,所述光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光,所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源,所述预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤;所述光纤用于将点状光源发出的光传导至所述面板驱动电路的元件上方;
面板驱动电路的性能检测装置还包括检测电路,所述检测电路用于根据获取的所述面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系,以及所述面板驱动电路的输出信号,得到所述面板驱动电路的元件的性能参数。
2.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,所述面板驱动电路的性能检测装置还包括图像采集器件;
其中,所述图像采集器件用于采集所述面板驱动电路的元件的分布图像和所述光纤的分布图像,得到所述面板驱动电路的元件的位置和所述光纤的位置,以使得光源驱动电路用于根据所述面板驱动电路的元件的位置和所述光纤的位置,驱动所述预设点状光源发光。
3.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,所述光纤通过光纤接口与所述点状光源连接。
4.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,一根所述光纤对应一个所述点状光源。
5.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,多根所述光纤呈阵列排布。
6.根据权利要求1-5中任意一项所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,所述光纤为圆台结构,所述光纤的入射端的直径大于所述光纤的出射端的直径,所述入射端与所述点状光源连接,所述出射端位于所述面板驱动电路的元件的上方。
7.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,多个所述点状光源可相对于图像采集器件滑动。
8.根据权利要求2或7所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,所述图像采集器件为互补金属氧化物半导体CMOS图像传感器。
9.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置,其特征在于,所述面板驱动电路的性能检测装置还包括用于支撑所述光纤的支撑结构,所述支撑结构围绕所述光纤设置。
10.一种面板驱动电路的性能检测方法,其特征在于,用于如权利要求1-9中任意一项所述的面板驱动电路的性能检测装置,所述面板驱动电路的性能检测方法包括:
光源驱动电路控制预设点状光源发光,所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源,所述预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤;
所述预设点状光源发光,所述预设点状光源发出的光通过所述预设光纤传导至所述面板驱动电路的元件上方。
11.根据权利要求10所述的面板驱动电路的性能检测方法,其特征在于,在控制预设点状光源发光之前,还包括:
图像采集器件采集所述面板驱动电路的元件的分布图像和所述光纤的分布图像,得到所述面板驱动电路的元件的位置和所述光纤的位置;
所述图像采集器件根据所述面板驱动电路的元件的位置和所述光纤的位置,确定所述预设点状光源。
12.根据权利要求10所述的面板驱动电路的性能检测方法,其特征在于,在控制预设点状光源发光之前,还包括:
所述光源驱动电路设置所述预设点状光源的发光参数,所述发光参数包括发光强度和发光时长。
13.根据权利要求10所述的面板驱动电路的性能检测方法,其特征在于,在所述预设点状光源发光,所述预设点状光源发出的光通过所述预设光纤传导至所述面板驱动电路的元件上方之后,还包括:
检测电路获取所述面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系,以及所述面板驱动电路的输出信号;
所述检测电路根据所述面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系,以及所述面板驱动电路的输出信号,得到所述面板驱动电路的元件的性能参数。
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