CN105608395A - 批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统及方法,其能够将多个硬盘集中与电脑连接后进行数据清除。本发明公开的系统包含若干个用于集中组装多个硬盘的硬盘柜;所有硬盘柜与用于清除数据的服务器组件通讯连接;所述服务器组件包含显示器和与显示器连接的电脑主机;所述电脑主机的电脑主板包含用于插接阵列卡的PCIE接口的PCIE插槽;所述阵列卡还包含用于和硬盘柜通讯连接的通讯接口,所述硬盘柜上设置用于和每一个硬盘通讯连接的硬盘连接口,所述硬盘柜还包含用于和所述阵列卡通过硬盘柜连接线连接的硬盘集中通讯接口。
Description
技术领域
本发明涉及一种硬盘数据销毁系统及方法,具体用于清除硬盘数据。
背景技术
随着社会信息化的快速发展,人们习惯于对信息的记录存储于硬盘中,因此整个社会的硬盘使用量非常大,在一些需要保密的行业或者政府单位,对于存储在硬盘中的信息的处理显得尤为重要。
先简单介绍下当下硬盘数据销毁的情况,一般用户都是使用低级格式化、数据删除等方法来销毁数据,鉴于硬盘的存储原理和数据读写方法、操作系统和硬盘的隐性操作都会产生残留数据,因此这些方法都无法彻底清除数据。为了避免不法分子利用数据恢复工具还原出原始数据信息,造成泄密的风险,在硬盘报废或者送修、捐献前应按不同的保密等级对硬盘数据进行销毁处理。
在处理硬盘中的数据时,现在市场上大部分使用两种方式来处理:
1、一种是从物理上把硬盘的硬体直接放进粉碎机对硬盘进行粉碎,这样一方面事先还需对硬盘的壳体进行拆卸,过程非常麻烦,浪费人力物力。另一方面造成硬盘损坏,不能重复利用,不利于资源的重复。而且这种方式,如果不法分子拿到硬体碎片还能还原出部分数据;
2、一种是使用数据清除装置,但是这种装置每次只能清除一个硬盘数据,需要花费2个小时以上的时间(容量越大时间越久)。而且清除后没有对数据是否全部清除进行验证,没有坏道隔离。因此这种方式清除效率低,清除后硬盘也不能重复使用。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,公开了一种批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统及方法,其能够将多个硬盘集中与电脑连接后进行数据清除,相比传统的单个清除方式效率大大提升;相比传统的损毁的数据销毁方式,更加环保,有利于资源的再利用。
为了达到上述目的,本发明公开的系统采用以下技术方案予以实现:
批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,包含若干个用于集中组装多个硬盘的硬盘柜;所有硬盘柜与用于清除数据的服务器组件通讯连接;所述服务器组件包含显示器和与显示器连接的电脑主机;
所述电脑主机的电脑主板包含用于插接阵列卡的PCIE接口的PCIE插槽;所述阵列卡还包含用于和硬盘柜通讯连接的通讯接口,所述硬盘柜上设置用于和每一个硬盘通讯连接的硬盘连接口,所述硬盘柜还包含用于和所述阵列卡通过硬盘柜连接线连接的硬盘集中通讯接口。
本发明的优选实施方式和进一步的改进点如下:
(1)所述硬盘柜上设置有用于限位和导向硬盘的硬盘插槽;所述硬盘柜上的硬盘连接口为SAS和/或SATA接口。
进一步的是:所述硬盘连接口为SAS接口;对应的,所述阵列卡为SAS阵列卡。
进一步的是:所述阵列卡为16口SAS阵列卡;所述每一个硬盘柜插接组装15个硬盘;所述电脑主板上设置有至少三个PCIE插槽;所述16口SAS阵列卡为16口SAS5E扩展卡。
(2)所述硬盘柜上组装有控制器和电源;所述控制器与所述阵列卡通讯连接;所述控制器采用PERCRAID控制器。
进一步的是:每个硬盘柜包含两个控制器和两个电源;每个控制器均包含输入接口和输出接口;输出接口用于和所有硬盘通讯连接,输入接口与所述阵列卡通讯连接。
(3)还包含用于组装硬盘柜、电脑主机的集中柜;集中柜为自上而下设置的多层结构;每层均包含固定框架;所述电脑主机、硬盘柜固定安装在集中柜上;所述电脑主机通过VGA或HDMI接口与显示器连接,所述电脑主机还连接有键盘鼠标;所述集中柜和硬盘柜内还设置有用于主动散热的风扇。
本发明公开的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的方法,采用上述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统来同时组装多个硬盘;所述方法包含如下步骤:
(1)启动的步骤;组装好系统后,在服务器上初始化整个系统;
(2)搜索查找硬盘;
(3)选择待清除硬盘;通过多个相同的线程来执行对每一个硬盘的清理过程;所述每个线程的清理过程如下:
S1:开始清除硬盘;
S2:获取硬盘容量和硬盘逻辑地址范围;
S3:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区写入一遍16进制0X00再写入一遍16进制0XFF;
S4:判断写入时间是否大于30毫秒;如果大于30毫秒则把该扇区的逻辑地址加入硬盘的G表,然后执行如下步骤;如果不大于30毫秒则直接执行如下步骤;
S5:继续写入同一个硬盘的下一个扇区;
S6:所有写入扇区清除完毕。
作为上述公开的方法的进一步的改进:所述步骤S6之后还包含验证数据残留的过程;所述验证数据残留的过程包含如下步骤:
S100:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区开始读取,验证是否全部是16进制0XFF;如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;如果存在不是16进制0XFF的字节则再对该扇区写入一次0XFF后执行如下步骤;
S200:再次读取该扇区,判断该扇区是否全部是16进制0XFF,如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;
如果有存在不是16进制0XFF的字节则提示硬盘存在故障,且清除完毕。
本发明有益效果是:
本发明公开的批量硬盘数据销毁、坏道隔离及验证数据残留的系统,包含若干个用于集中组装多个硬盘的硬盘柜;所有硬盘柜与用于清除数据的服务器组件通讯连接;所述服务器组件包含显示器和与显示器连接的电脑主机;本发明通过硬盘柜集中多个硬盘,通过硬盘柜与服务器组件的连接实现数据的集中清除,通过显示器显示整个清除过程,使得数据清除变得更加高效;整个系统易于扩展,非常适用大批量硬盘数据销毁;数据清除后的硬盘能够可靠便捷的再利用,有利于环保;
本发明的所述电脑主机的电脑主板包含用于插接阵列卡的PCIE接口的PCIE插槽;本发明采用PCIE的通讯总线,易于扩展,能够保证高速的数据传输;本发明的所述阵列卡还包含用于和硬盘柜通讯连接的通讯接口,所述硬盘柜上设置用于和每一个硬盘通讯连接的硬盘连接口,所述硬盘柜还包含用于和所述阵列卡通过硬盘柜连接线连接的硬盘集中通讯接口。阵列卡、硬盘柜和PCIE插槽都能够便捷的扩展数量,易于实现大批量的系统构建;
本发明公开的方法,不仅能够完成批量的清除过程,而且能够实现数据的可靠清除,坏道隔离以及验证数据残留;清理过程简单快捷高效,清理效果非常可靠,有助于硬盘的再利用。
附图说明
图1为本发明的系统的一种具体实施方式的整体结构示意图;
图2为本发明的系统的一种具体实施方式的结构原理示意图;
图3为本发明的系统的一种优选实施方式的结构示意图;
图4为本发明的方法的一种具体实施方式的流程图。
附图标记说明:
100-电脑主机,200-显示器;101-第一硬盘柜,102-第二硬盘柜,103-第三硬盘柜;201-SAS阵列卡,202-电脑主板,203-PCIE插槽,204-硬盘柜连接线;300-集中柜,301-硬盘插槽,302-硬盘连接口,303-电脑主机;400-键盘鼠标。
具体实施方式
下面结合附图及实施例描述本发明具体实施方式:
如图1~3所示,其示出了本发明的具体实施方式,如图所示,本发明公开的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,包含若干个用于集中组装多个硬盘的硬盘柜(第一硬盘柜101;第二硬盘柜102;第三硬盘柜103等);所有硬盘柜与用于清除数据的服务器组件通讯连接;所述服务器组件包含显示器200和与显示器连接的电脑主机100;
如图所示,所述电脑主机的电脑主板包含用于插接阵列卡的PCIE接口的PCIE插槽203;所述阵列卡还包含用于和硬盘柜通讯连接的通讯接口,所述硬盘柜上设置用于和每一个硬盘通讯连接的硬盘连接口302,所述硬盘柜还包含用于和所述阵列卡通过硬盘柜连接线204连接的硬盘集中通讯接口。
需要说明的是,本实施例需要完成数据清除工作时,所述电脑主机装载有用于清除数据的软件;该软件程序可以采用现有的数据清除软件,也可以选用对现有数据清除软件进行改进后的软件结构;本实施例的主要目的是提供能够实现批量数据清除的硬件架构;置于软件部分,我们会进行针对性的改进或者也可以采用现有技术实现数据清除功能;针对性的改进一般在于让操作更加简洁,一键清除、彻底销毁、坏道隔离和验证数据残留的软件功能改进。
优选的,如图所示:所述硬盘柜上设置有用于限位和导向硬盘的硬盘插槽301;所述硬盘柜上的硬盘连接口为SAS和/或SATA接口。硬盘通过硬盘插槽可靠导向至连接位置;硬盘柜可以实现服务器级别的硬盘的连接和一般的SATA接口硬盘连接,适应范围广,系统构建灵活。
优选的,如图所示:所述硬盘连接口为SAS接口;对应的,所述阵列卡为SAS阵列卡201。
优选的,如图所示:所述阵列卡为16口SAS阵列卡;所述每一个硬盘柜插接组装15个硬盘;所述电脑主板上设置有至少三个PCIE插槽;每个硬盘柜设置15个硬盘连接结构,使得系统最大化的利用,且在数量最大化的同时保持了尽可能的稳定。
优选的,如图所示:所述16口SAS阵列卡为16口SAS5E扩展卡。具体型号可选用DellSAS5EHBA卡;
优选的,如图所示:还包含用于组装硬盘柜、电脑主机的集中柜300;集中柜为自上而下设置的多层结构;每层均包含固定框架;所述电脑主机、硬盘柜固定安装在集中柜上;所述电脑主机通过VGA或HDMI接口与显示器连接,所述电脑主机还连接有键盘鼠标400。本实施例让整个系统更加紧凑,一个集中柜来集中设置电脑主机和硬盘柜,使得电脑主机和硬盘柜之间的连接距离更短;硬盘以及其他连接结构都是集中布置,提升了工作效率,降低了占地空间。多层结构和框架结构易于组装和散热。
优选的,如图所示:所述集中柜和硬盘柜内还设置有用于主动散热的风扇。
优选的,所述硬盘柜上组装有控制器和电源;所述控制器与所述阵列卡通讯连接;所述控制器采用PERCRAID控制器。
优选的,每个硬盘柜包含两个控制器和两个电源;每个控制器均包含输入接口和输出接口;输出接口用于和所有硬盘通讯连接,输入接口与所述阵列卡通讯连接。本实施例的硬盘柜采用双控双电的结构,运行更加的稳定可靠。输出接口与阵列卡的连接可以采用SAS线。所述硬盘柜可选用DELLMD1000阵列柜;对应的,所述SAS线可选用DELLMD1000SAS连接线。
本发明还公开了批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的方法,采用前述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统来同时组装多个硬盘;所述方法包含如下步骤:
(1)启动的步骤;组装好系统后,在服务器上初始化整个系统;
(2)搜索查找硬盘;
(3)选择待清除硬盘;通过多个相同的线程来执行对每一个硬盘的清理过程;所述每个线程的清理过程如下:
S1:开始清除硬盘;
S2:获取硬盘容量和硬盘逻辑地址范围;
S3:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区写入一遍16进制0X00再写入一遍16进制0XFF;
S4:判断写入时间是否大于30毫秒;如果大于30毫秒则把该扇区的逻辑地址加入硬盘的G表,然后执行如下步骤;如果不大于30毫秒则直接执行如下步骤;
S5:继续写入同一个硬盘的下一个扇区;
S6:所有写入扇区清除完毕。
本实施例通过系统来组装多个硬盘,通过整个方法的运行过程完成数据的可靠销毁,坏道隔离;具体点,重新写入数据能够避免现有的简单格式化清除数据带来的可恢复风险;整个清除过程通过判断写入的响应时间来判断坏道(损坏的扇区),将坏道加入G表,实现隔离。
需要说明的是,上述实施例中的步骤(S4)中的30毫秒为一种优选实施方式,一般的,当时间大于100毫秒时,具备更加准确可靠的判断效果。
优选的,所述步骤S6之后还包含验证数据残留的过程;所述验证数据残留的过程包含如下步骤:
S100:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区开始读取,验证是否全部是16进制0XFF;如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;如果存在不是16进制0XFF的字节则再对该扇区写入一次0XFF后执行如下步骤;
S200:再次读取该扇区,判断该扇区是否全部是16进制0XFF,如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;
如果有存在不是16进制0XFF的字节则提示硬盘存在故障,且清除完毕。
本实施例,在数据清除和坏道隔离的基础上,实现了验证数据残留的过程,能够可靠验证数据残留,将无法验证通过的硬盘标记为损坏硬盘,保证了整个清除过程的完善功能,可靠清除,可靠挑拣出坏硬盘,进行可靠的数据销毁;能够保证再次利用的硬盘的质量以及数据安全。
我们在具体实施时,通过将多个希捷ST3600057SS(600Gsas硬盘)硬盘同时组装在本发明公开的系统中,且通过本发明公开的方法,批量清除的功能,同时实现了快速可靠的硬盘数据销毁,坏道隔离及验证数据残留的功能;
本发明在一些具体实施方案中可以包括硬盘柜,服务器电脑,及服务器系统上所允许的软体程序。所述硬盘柜用于批量的插入硬盘,所述服务器电脑可以与多台硬盘柜连接,每台硬盘柜可以插入15个硬盘(sas和sata接口的硬盘),所述服务器系统的软体程序有批量硬盘数据销毁功能、硬盘坏道隔离及验证数据残留的功能。本发明结构简单、使用方便。通过将硬盘插入到机柜的方式,用户只需点一按键,将可以对批量硬盘数据清除、坏道隔离及验证数据残留,用户点击按键后通过服务器的软体程序发送数据销毁指令,达到对硬盘内部的数据进行销毁的目的,并且在销毁的过程中检测硬盘坏道并隔离,在销毁的过程中如果检查到写磁道的时间超过30毫秒,那么则认为该磁道是坏道需要隔离,软体程序将会发送指令给硬盘让硬盘把该磁道加入到硬盘的G表中。销毁后还提供验证数据残留功能。销毁数据后的硬盘能够回收利用,有利于保护环境。由于是自动化和批量完成,有效的减少人力物力。
本发明在一些具体实施方案中可以包括硬盘柜101和102(一般使用SAS硬盘柜,硬盘柜可以有多台),每台硬盘柜一般可以插入15个硬盘,服务器电脑100,及服务器系统上所运行的软体程序200。服务器电脑安装windows系统并安装上.netframework3.5,并安装上硬盘数据销毁软件,服务器电脑连接上网络,通过sas卡连接上硬盘柜,硬盘柜插上硬盘,运行硬盘销毁软件,然后点击开始销毁数据,将批量对硬盘数据清除、坏道隔离及验证数据残留,用户点击开始销毁数据按键后通过服务器的软体程序发送数据销毁指令,达到对硬盘内部的数据进行销毁的目的,并且在销毁的过程中检测硬盘坏道并隔离,销毁后还提供验证数据残留功能。
除说明书所述的技术特征外,均为本专业技术人员的已知技术。
上面结合附图对本发明优选实施方式作了详细说明,但是本发明不限于上述实施方式,在本领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下做出各种变化,这些变化涉及本领域技术人员所熟知的相关技术,这些都落入本发明专利的保护范围。
不脱离本发明的构思和范围可以做出许多其他改变和改型。应当理解,本发明不限于特定的实施方式,本发明的范围由所附权利要求限定。
Claims (9)
1.批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:包含若干个用于集中组装多个硬盘的硬盘柜;所有硬盘柜与用于清除数据的服务器组件通讯连接;所述服务器组件包含显示器和与显示器连接的电脑主机;
所述电脑主机的电脑主板包含用于插接阵列卡的PCIE接口的PCIE插槽;所述阵列卡还包含用于和硬盘柜通讯连接的通讯接口,所述硬盘柜上设置用于和每一个硬盘通讯连接的硬盘连接口,所述硬盘柜还包含用于和所述阵列卡通过硬盘柜连接线连接的硬盘集中通讯接口。
2.如权利要求1所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述硬盘柜上设置有用于限位和导向硬盘的硬盘插槽;所述硬盘柜上的硬盘连接口为SAS和/或SATA接口。
3.如权利要求2所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述硬盘连接口为SAS接口;对应的,所述阵列卡为SAS阵列卡。
4.如权利要求2所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述阵列卡为16口SAS阵列卡;所述每一个硬盘柜插接组装15个硬盘;所述电脑主板上设置有至少三个PCIE插槽;所述16口SAS阵列卡为16口SAS5E扩展卡。
5.如权利要求1所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:所述硬盘柜上组装有控制器和电源;所述控制器与所述阵列卡通讯连接;所述控制器采用PERCRAID控制器。
6.如权利要求5所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:每个硬盘柜包含两个控制器和两个电源;每个控制器均包含输入接口和输出接口;输出接口用于和所有硬盘通讯连接,输入接口与所述阵列卡通讯连接。
7.如权利要求1~6任一所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统,其特征在于:还包含用于组装硬盘柜、电脑主机的集中柜;集中柜为自上而下设置的多层结构;每层均包含固定框架;所述电脑主机、硬盘柜固定安装在集中柜上;所述电脑主机通过VGA或HDMI接口与显示器连接,所述电脑主机还连接有键盘鼠标;所述集中柜和硬盘柜内还设置有用于主动散热的风扇。
8.批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的方法,采用如权利要求1~7任一所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的系统来同时组装多个硬盘;所述方法包含如下步骤:
(1)启动的步骤;组装好系统后,在服务器上初始化整个系统;
(2)搜索查找硬盘;
(3)选择待清除硬盘;通过多个相同的线程来执行对每一个硬盘的清理过程;所述每个线程的清理过程如下:
S1:开始清除硬盘;
S2:获取硬盘容量和硬盘逻辑地址范围;
S3:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区写入一遍16进制0X00再写入一遍16进制0XFF;
S4:判断写入时间是否大于30毫秒;如果大于30毫秒则把该扇区的逻辑地址加入硬盘的G表,然后执行如下步骤;如果不大于30毫秒则直接执行如下步骤;
S5:继续写入同一个硬盘的下一个扇区;
S6:所有写入扇区清除完毕。
9.如权利要求8所述的批量硬盘数据销毁坏道隔离及验证数据残留的方法,其特征在于:所述步骤S6之后还包含验证数据残留的过程;所述验证数据残留的过程包含如下步骤:
S100:从逻辑地址0开始到结束地址开始每个扇区开始读取,验证是否全部是16进制0XFF;如果全部是16进制0XFF则验证无数据残留且清除完毕;如果存在不是16进制0XFF的字节则再对该扇区写入一次0XFF后执行如下步骤;
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如果有存在不是16进制0XFF的字节则提示硬盘存在故障,且清除完毕。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160525 |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |