具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种元器件的温升测试的方法,主要针对温升测试时,使运行参数满足测试条件的过程,如图1所示,包括:
101、在当前运行频率下,获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值。
其中,运行参数集中包含有n个运行参数。n为大于0的整数。
需要说明的是,在需要对待测元器件进行温升测试时,测试人员可以预先设置好待测元器件需要进行温升测试的测试条件,即为预先设置好,需要参考的各个运行参数需要达到的目标值。也就是在需要参考的运行参数的当前运行值达到其目标值时,则待测元器件需要进行温升测试的测试条件满足,才能进行待测元器件的温升测试。
需要说明的是,运行参数集是待测元器件进行温升测试时需要参考的运行参数所组成的集合,其中包含的有n个运行参数,就是待测元器件进行温升测试时,需要参考的运行参数。示例的,对待测元器件a进行温升测试时,需要参考的运行参数为S1,S2,S3,S4,S5此时运行参数集为{S1,S2,S3,S4,S5}。
具体的,测试装置在进行待测器件的温升测试时,需要先确定其各个测试条件是否有满足的,此时可以在当前运行频率下,获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值。
进一步的,测试装置可以通过电流采用电路,传感器等设备获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值。
如上例所述,测试装置在当前的运行频率下,获取运行参数集中运行参数S1,S2,S3,S4,S5的当前运行值。
进一步的,本发明所述的方法可以应用于空调设备的元器件的温升测试中,此时运行参数集中包含有至少一个运行参数具体为:
运行参数集中至少包含有整机电流参数,和/或室外排气温度参数,和/或室外盘管温度参数,和/或压缩机的运行频率参数。
102、分别确定运行参数集中的n个运行参数的当前运行值是否达到各自对应的目标值。
具体的,测试装置在分别获取了运行参数集中n个运行参数的当前运行值后,可以分别将n个运行参数的当前运行值与其各自对应的目标值进行比对,进而可以确定运行参数集中的运行参数是否达到各自对应的目标值。若运行参数的当前运行值与目标值相同,则确定此运行参数的当前运行值达到其对应的目标值。若运行参数的当前运行值与目标值不相同,则确定此运行参数的当前运行值没有达到其对应的目标值。
需要说明的是,需要参考的运行参数的目标值是测试人员根据实际需求预先设置的。
需要说明的是,运行参数集中的运行参数对应的目标值可以为多个,分别为在此运行参数不同的运行状态下,对待测元器件进行温升测试所需的目标值。例如,运行参数A对应目标值a及目标值b。目标值a与目标值b不同。这样,在运行参数A达到目标值a时,对待测元器件进行温升测试。在运行参数A达到目标值b时,对待测元器件进行温升测试。
如上例所述,若运行参数S1对应的目标值为a,运行参数S2对应两个目标值分别为b及c,且b与c不相等,运行参数S3对应的目标值d,运行参数S4对应的目标值为e,运行参数S5对应的目标值为f。此时测试装置在分别获取了运行参数集5个运行参数S1,S2,S3,S4,S5的当前运行值后,分别将运行参数集5个运行参数S1,S2,S3,S4,S5的当前运行值与各个运行参数对应的目标值进行对比,确定是否分别达到各自对应的目标值。假设,测试装置将S1的当前运行值与其目标值a进行对比,S1的当前运行值与其目标值a相同,则确定S1达到其对应的目标值。将S2的当前运行值与对应的目标值b及目标值c进行对比,S2的当前运行值与目标值b相同,与目标值c不相同,则确定S2达到其对应的目标值b,没有达到其对应的目标值c。将S3的当前运行值与对应的目标值d进行对比,S3的当前运行值与对应的目标值d不相同,则确定S3没有达到其对应的目标值d。将S4的当前运行值与对应的目标值e进行对比,S4的当前运行值与对应的目标值e不相同,则确定S4没有达到其对应的目标值e。将S5的当前运行值与对应的目标值f进行对比,S5的当前运行值与对应的目标值f不相同,则确定S5没有达到其对应的目标值f。
103、在运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时,将至少一个运行参数对应的检测标识位置为第一标识,并输出运行参数集中的n个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度。
其中,检测标识位是标示出运行参数的当前运行值是否达到其对应的目标值的标识位。第一标识是用于表示运行参数的当前运行值达到其对应的目标值的标识。
具体的,测试装置在确定出运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时,则可以确定出有至少一个测试条件满足,此时可以将测试条件满足的运行参数对应的检测标识位置为第一标识,并将运行参数集中n个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度输出。
在至少一个测试条件满足时,即为在至少一个运行参数达到其对应的目标值时,可以将待测元器件的温度输出,并将运行参数集中所有运行参数的当前运行值输出,这样测试人员可以根据运行参数集中所有运行参数的当前运行值,确定待测元器件的温升状况。
需要说明的是,可以将运行参数是否达到其对应的目标值作为温升测试的测试条件是否满足,在运行参数达到其对应的目标值时,则满足测试条件。在运行参数没有达到其对应的目标值时,则测试条件不满足。
需要说明的是,本发明实施例,针对每个目标值设置有一个检测标识位。这样若一个运行参数对应两个不同的目标值,则针对此运行参数对应的两个目标值分别设置一个检测标识位。这样若运行参数的当前值达到其中一个目标值时,则直接将此目标值对应的运行参数的检测标志位置为第一标识。
例如,运行参数A对应目标值a及目标值b。目标值a与目标值b不同。则针对运行参数A对应不同的目标值设置有不同的检测标识位。即为针对运行参数A对应目标值a设置有一个检测标识位。运行参数A对应目标值b设置有一个检测标识位。在测试装置获取运行参数A的当前运行值后,确定出运行参数A的当前运行值达到目标值a,此时,将运行参数A的与目标值a对应的检测标识位置为第一标识。并且确定出运行参数A的当前运行值没有达到目标值b,测试装置并不将运行参数A的与目标值a对应的检测标识位置为第一标识。
如上例所述,由于针对每个目标值设置有一个检测标识位,运行参数S2对应两个目标值,因此针对S2对应的目标值b设置有一个检测标识位,S2对应的目标值c设置有一个检测标识位。在步骤102中,测试装置确定出运行参数集中的运行参数S1达到其对应的目标值a,运行参数S2达到其对应的目标值b,未达到其对应的目标值c,运行参数S3未达到其对应的目标值c,运行参数S4未达到其对应的目标值e,运行参数S5未达到其对应的目标值f。此时,测试装置可以将运行参数S1对应的检测标识位置为第一标识。将运行参数S2的与目标值b对应的检测标识位置为第一标识。并将运行参数集中的5个运行参数的当前运行值输出,并将待测元器件的温度输出。
104、确定运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识。
具体的,测试装置在将运行参数集中的每个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度输出后,需要进一步确定运行参数集中是否还有没有达到其目标值的运行参数。由于在运行参数达到其对应的目标值时,相应的检测标识位将置为第一标识,所以测试装置可以检测每个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识。
若测试装置确定出每个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识,则说明运行参数集中的运行参数是其当前值均已达到过其目标值的运行参数,这样通过步骤103已在运行参数的当前值达到其目标值的情况下,输出了待测元器件的温度,及各个运行参数的当前运行值。此时,无需执行下述步骤,可以结束待测元器件的温升测试。
如上例所述,测试装置可以检测运行参数集中的5个运行参数各自对应的检测标识位是否均置为第一标识。此时,测试装置可以确定出5个运行参数中,运行参数S1对应的检测标识位置为第一标识,运行参数S2的与目标值b对应的检测标识位置为第一标识,运行参数S2的与目标值c对应的检测标识位未置为第一标识,运行参数S3对应的检测标识位未置为第一标识,运行参数S4对应的检测标识位未置为第一标识,运行参数S5对应的检测标识位未置为第一标识。
105、在运行参数集中有至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识时,则执行第一流程,直至运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。
具体的,在测试装置确定出在运行参数集中,存在至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识,则说明运行参数集中存在没有达到其目标值的运行参数,此时测试装置执行第一流程,即为进入更新当前运行频率的过程,并重新执行步骤101,直到运行参数集中的每个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。
如上例所述,测试装置确定出运行参数集的5个运行参数中,有S2的与目标值c对应的检测标识位未置为第一标识,运行参数S3对应的检测标识位未置为第一标识,运行参数S4对应的检测标识位未置为第一标识,运行参数S5对应的检测标识位未置为第一标识,此时需要执行第一流程,直至运行参数集中的5个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。
进一步的,如图2所示,第一流程包括:
201、根据运行参数集中,各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位,获取运行频率调整值。
其中,运行参数的运行差值是指运行参数的当前运行值与其对应的目标值之间的差值。
需要说明的是,运行参数对应的检测标识位可以预先设置为第二标识,在步骤103中,在当前运行值达到目标值时,可以将当前运行值达到目标值的运行参数对应的检测标识位由第二标识更新为第一标识。
其中,第二标识是用于表示运行参数的当前运行值未达到其对应的目标值的标识。例如,将第一标识设置为0,则可以将第二标识设置为1。
具体的,由于当前运行值未达到目标值的运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识,其检测标识位为预先设置的第二标识。此时,可以获取运行参数集中的每个运行参数的检测标识位及运行差值,可以获取运行频率调整值。
进一步的,根据运行参数集中,各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位,获取运行频率调整值包括:
根据运行参数集中,各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位分别获取各个运行参数的第一运行差值。根据各个运行参数的第一运行差值获取运行频率调整值。
也就是说,测试装置根据运行参数集中,各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位,通过第一计算得到第一运行差值。这样,可以得到每个运行参数的第一运行差值。在获取了每个运行参数的第一运行差值后,根据每个运行参数的第一运行差值,利用频率温差控制或PID(Proportional-Integral-Derivative,比例-积分-微分)调节的方法,获取运行频率调整值。
需要说明的是,本发明所有实施例中,检测标识位为第一标识时,其与运行差值通过第一计算得到的第一运行差值是无效值。其中无效值是指对后续的获取运行频率调整值没有任何作用及影响的值。例如,获取运行频率调整值是将各个第一运行差值相加,则检测标识位为第一标识对应的第一运行差值可以为0。也就是说,假设0是对后续的获取运行频率调整值没有任何作用及影响的值,则在检测标识位为第一标识时,其与运行差值通过第一计算得到的第一运行差值可以为0。
在检测标识为第二标识时,其与运行差值通过第一计算得到的第一运行差值为有效值。有效值是指对后续的获取运行频率调整值有作用及影响的值。例如,获取运行频率调整值是将各个第一运行差值相加,则检测标识位为第一标识对应的第一运行差值可以为非0的值。也就是说,假设0是对后续的获取运行频率调整值没有任何作用及影响的值,则在检测标识位为第二标识时,其与运行差值通过第一计算得到的第一运行差值可以为非0值,例如,可以为1,2,等。
假设,第一运行差值为0是对后续的获取运行频率调整值没有任何作用及影响的值,若第一标识可以是0,第二标识可以是1,则第一计算可以是乘法运算。即为第一运行差值=检测标识位*运行差值。当然,第一计算还可是其他算法,例如,在第一运行差值为0是对后续的获取运行频率调整值没有任何作用及影响的值,若第一标识为运算差值,第二标识可以是0,此时,第一计算可以是减法运算。即为第一运行差值=运行差值-检测标识位,本发明对此不做限制。
需要说明的是,无效值还可是其他值,例如为1,本发明对此不做限制。
如上例所述,测试装置将运行参数集中5个运行参数的当前运行值及其对应的目标值相减,进而得到运行参数集中5个运行参数的运行差值。测试装置根据各个检测标识位及各个运行差值,分别进行第一计算,得到5个运行参数各自对应的第一运行差值,进而根据此各个第一运行差值,利用频率温差控制或PID调节的方法,获取运行频率调整值。
202、根据运行频率调整值更新当前运行频率。
具体的,测试装置在获取了运行频率调整值后,此频率调整值可以是当前运行频率需要改变的值,此时可以在当前运行频率的基础上,改变运行频率调整值,进而得到新的当前运行频率,即为完成更新当前运行频率。当然,此频率调整值也可是当前运行频率需要更新为的值,此时可以直接将当前运行频率调制为频率调制值,完成更新当前运行频率。
在测试设备更新完当前运行频率后,由于运行频率改变后,会影响其他运行参数的运行值也随之改变,因此需要重新确定当前运行值未达到目标值的运行参数,在当前运行频率改变后,其改变后的当前运行值是否达到对应的目标值,可以需要重新执行步骤101。
这样,相对于现有技术中,需要测试人员手动调整运行频率,以便达到测试条件而言,本发明可以在至少一个测试条件不满足时,即为在至少一个运行参数的运行标志位没有置为第一标识,也就是说,至少一个运行参数的当前运行值没有达到目标值时,通过各个运行参数的运行差值及其检测标识位获取运行频率调整值,进而更新当前运行频率,从而可以重新查看在更新后的当前运行频率下,运行标志位没有置为第一标识的至少一个运行参数的当前运行值是否达到目标值。本发明中的运行频率的更新并不需要测试人员手动调整,而是根据各个运行参数的运行差值及其检测标识位自行调整,实现了在元器件的温升测试的测试条件不满足时,通过自动调整运行频率,改变运行参数的当前运行值,以便达到各个测试条件,无需测试人员参与。所以,本发明实现了通过减少人工参与元器件的温升测试过程,提高元器件的温升测试的自动化水平,进而提高工作效率,降低人力成本的目的。
本发明实施例提供了一种元器件的温升测试的方法,如图3所示,包括:
301、将运行参数集中n个运行参数的检测标识均设置为第二标识。
其中,第二标识是用于表示运行参数的当前运行值未达到其对应的目标值的标识。
具体的,测试人员在确定出待测元器件进行温升测试的测试条件后,测试装置可以确定出运行参数集中包含的运行参数,并且每个运行参数对应的目标值。此时,由于在运行参数的当前运行值达到目标值时,需要改变其对应的检测标识位,因此需要在开始进行待测元器件进行温升测试前,可以将各个运行参数的检测标识均设置为第二标识,这样可以表示当前的各个运行参数的当前运行值均未达到目标值。
302、在当前运行频率下,获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值。
具体的,可参考步骤101,在此不再赘述。
需要说明的是,在开始进行待测元器件进行温升测试时,可以预先设置当前运行频率。
303、分别确定运行参数集中的n个运行参数的当前运行值是否达到各自对应的目标值。
具体的,可参考步骤102,在此不再赘述。
需要说明的是,测试装置确定的结果有两种。一种是运行参数集中的有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值,此时执行步骤304a-306a。另一种是运行参数集中的运行参数的当前运行值均为达到各自对应的目标值,此时执行步骤304b。
304a、在运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时,将至少一个运行参数对应的检测标识位置为第一标识,并输出运行参数集中的n个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度。
具体的,可参考步骤103,在此不再赘述。
304b、在运行参数集的n个运行参数的当前运行值均未达到各自对应的目标值时,执行第一流程,直到在运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值。
具体的,测试装置在确定出运行参数集中的每个运行参数的当前运行值均没有达到其各自对应的目标值时,说明待测元器件的温升测试的测试条件均没有满足,此时,测试装置执行第一流程,进而可以通过执行第一流程更新当前运行频率,进而改变各个运行参数的当前运行值。
进一步的,测试装置执行第一流程可参考步骤105中测试装置执行第一流程的过程,在此不再赘述。
进一步的,测试装置在第一流程时会重选执行步骤302,进而执行步骤303。这样,可以重新确定新获取的各个运行参数的当前运行值是否达到了目标值,若重新确定新获取的各个运行参数的当前运行值均未达到目标值,则需重新执行步骤304b,此时,形成了一个循环,并通过步骤304b,继续执行第一流程。直到重新确定新获取的各个运行参数的当前运行值中,有至少一个运行参数的当前运行值达到了其对应的目标值,此时可以跳出上述循环,转而执行步骤304a。
305a、确定运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识。
具体的,可参考步骤104,在此不再赘述。
306a、在运行参数集中有至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识时,则执行第一流程,直至运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。
具体的,可参考步骤105,在此不再赘述。
相对于现有技术中,需要测试人员手动调整运行频率,以便达到测试条件而言,本发明可以在至少一个测试条件不满足时,即为在至少一个运行参数的运行标志位没有置为第一标识,也就是说,至少一个运行参数的当前运行值没有达到目标值时,通过各个运行参数的运行差值及其检测标识位获取运行频率调整值,进而更新当前运行频率,从而可以重新查看在更新后的当前运行频率下,运行标志位没有置为第一标识的至少一个运行参数的当前运行值是否达到目标值。本发明中的运行频率的更新并不需要测试人员手动调整,而是根据各个运行参数的运行差值及其检测标识位自行调整,实现了在元器件的温升测试的测试条件不满足时,通过自动调整运行频率,改变运行参数的当前运行值,以便达到各个测试条件,无需测试人员参与。所以,本发明实现了通过减少人工参与元器件的温升测试过程,提高元器件的温升测试的自动化水平,进而提高工作效率,降低人力成本的目的。
本发明实施例提供了一种测试装置,如图4所示,包括:
处理单元501,用于在当前运行频率下,获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值。
其中,运行参数集中包含有n个运行参数。n为大于0的整数。
确定单元502,用于分别确定运行参数集中的n个运行参数的当前运行值是否达到各自对应的目标值。
处理单元501,还用于在运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时,将至少一个运行参数对应的检测标识位置为第一标识,并输出运行参数集中的n个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度。
其中,第一标识是用于表示运行参数的当前运行值达到其对应的目标值的标识。
确定单元502,还用于确定运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识。
处理单元501,还用于在运行参数集中有至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识时,则执行第一流程,直至运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。
其中,处理单元501用于执行第一流程为:
处理单元501,具体用于根据运行参数集中,各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位,获取运行频率调整值。根据运行频率调整值更新当前运行频率。
其中,运行参数的运行差值是指运行参数的当前运行值与其对应的目标值之间的差值。
进一步的,处理单元501,具体用于根据运行参数集中,各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位分别获取所述各个运行参数的第一运行差值。根据各个运行参数的第一运行差值获取运行频率调整值。
进一步的,处理单元501,还用于在运行参数集的n个运行参数的当前运行值均未达到各自对应的目标值时,执行第一流程,直到在运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值。
进一步的,处理单元501,还用于将运行参数集中n个运行参数的检测标识均设置为第二标识。
其中,第二标识是用于表示运行参数的当前运行值未达到其对应的目标值的标识。
具体的,测试人员在确定出待测元器件进行温升测试的测试条件后,处理单元501可以确定出运行参数集中包含的运行参数,并且每个运行参数对应的目标值。此时,由于在运行参数的当前运行值达到目标值时,需要改变其对应的检测标识位,因此需要在开始进行待测元器件进行温升测试前,可以将各个运行参数的检测标识设置为第二标识,这样可以表示当前的各个运行参数的当前运行值均为达到目标值。
进一步的,运行参数集中包含有至少一个运行参数具体为:运行参数集中至少包含有整机电流参数,和/或室外排气温度参数,和/或室外盘管温度参数,和/或压缩机的运行频率参数。
需要说明的是,本发明实施例提供的测试装置中部分功能模块的具体描述可以参考方法实施例中的对应内容,本实施例这里不再详细赘述。
本发明实施例提供了一种元器件的温升测试的方法及测试装置,包括:在当前运行频率下,获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值;运行参数集中包含有n个运行参数;分别确定运行参数集中的n个运行参数的当前运行值是否达到各自对应的目标值;在运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时,将至少一个运行参数对应的检测标识位置为第一标识,并输出运行参数集中每个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度。确定运行参数集中n个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识,在运行参数集中有至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识时,执行第一流程,直至运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。其中,第一流程包括:根据运行参数集中各个运行参数的运行差值及检测标识,获取运行频率调整值;并根据运行频率调整值更新当前运行频率。这样,相对于现有技术中,需要测试人员手动调整运行频率,以便达到测试条件而言,本发明可以在至少一个测试条件不满足时,即为在至少一个运行参数的运行标志位没有置为第一标识,也就是说,至少一个运行参数的当前运行值没有达到目标值时,通过各个运行参数的运行差值及其检测标识位获取运行频率调整值,进而更新当前运行频率,从而可以重新查看在更新后的当前运行频率下,运行标志位没有置为第一标识的至少一个运行参数的当前运行值是否达到目标值。本发明中的运行频率的更新并不需要测试人员手动调整,而是根据各个运行参数的运行差值及其检测标识位自行调整,实现了在元器件的温升测试的测试条件不满足时,通过自动调整运行频率,改变运行参数的当前运行值,以便达到各个测试条件,无需测试人员参与。所以,本发明实现了通过减少人工参与元器件的温升测试过程,提高元器件的温升测试的自动化水平,进而提高工作效率,降低人力成本的目的。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理包括,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。