CN105549550B - 激光直接成像数据转移方法及装置 - Google Patents

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Abstract

一种LDI数据转移方法及装置,所述LDI数据转移方法包括:获取待转移LDI数据的标识码;根据标识码提取第一关键参数,第一关键参数为数据库中标识码指向的待转移LDI数据的关键参数;获取第二关键参数,第二关键参数为用户申请待转移LDI数据时提供的关键参数;对第一关键参数和第二关键参数进行比对,如果比对一致,则输出标识码指向的待转移LDI数据。从而减少了人工逐条比对LDI数据关键参数的工作量,实现了LDI数据的自动化输出。

Description

激光直接成像数据转移方法及装置
技术领域
本发明涉及印制电路板影像转移领域,具体涉及一种激光直接成像数据转移方法及装置。
背景技术
随着电路板工艺技术的不断发展,高端电子产品的不断革新换代,其功能的支持对印制电路板的要求也越来越高。在电路板的生产过程中,高端设备和主流技术得到不断研发和引进,如激光直接成像(laser direct imaging,LDI),该新型技术在很多工艺流程中得到应用。LDI技术支撑设备为LDI曝光机,其可直接利用电子底片资料对PCB板的干膜覆层或者油墨覆层进行曝光,取消了生产环节中底片绘制后的再影像转移过程。其主要贡献表现在以下两方面:一方面,优化了电路板生产工艺流程,每一次影像转移工艺都节省了底片的绘制时间和操作时间,大大的缩短了产品生产周期,提高了生产效率,同时降低了产品生产成本;另一方面,由于采用电子资料直接曝光的方式,其影像的保真效果较好,品质风险低,对电路板曝光工艺的品质改善有较大的贡献。但在传统的LDI应用技术中还存在一定的缺陷,其传统的资料输出管理系统的应用限制了LDI技术应用的高效性发挥。
现有技术中,LDI资料的输出管理系统流程比较繁琐,需要人工在后台数据库中抓取数据后再对系统提示的每一个输出步骤进行比对确认,关键参数还需要人工手动输出,如补偿修正值等,整个流程从在数据库中输入产品资料信息,各层别信息比对到修正参数和重复核对等均需人工操作,工作量较大,对人员操作的仔细度和谨慎度的依赖性均较强,整个环节的资料处理效率较低,而且存在一定的操作失误品质风险,不利于LDI技术应用的高效性发挥。
发明内容
因此,本发明要解决的技术问题在于现有技术中的电路板底片信息管理中难以比对激光直接成像参数。
根据第一方面,本发明实施例公开一种激光直接成像数据转移方法,包括:获取待转移激光直接成像数据的标识码;根据标识码提取第一关键参数,第一关键参数为与标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;获取第二关键参数,第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;判断第一关键参数和第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。
优选地,在对第一关键参数和第二关键参数进行比对中,如果判断第一关键参数和第二关键参数不一致,则获取修正后的第二关键参数;判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致,则重复获取修正后的第二关键参数和判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致的步骤。
进一步,当判断第一关键参数和修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时,则停止数据转移和/或输出报警信号。
进一步,第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个。
根据第二方面,本发明实施例公开一种激光直接成像数据转移装置,包括:标识码获取单元,用于获取待转移激光直接成像数据的标识码;第一关键参数提取单元,用于根据标识码提取第一关键参数,第一关键参数为数据库中标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;第二关键参数获取单元,用于获取第二关键参数,第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;第一比对单元,用于判断第一关键参数和第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。
进一步,还包括:修正参数获取单元,用于在第一比对单元判断判断所述第一关键参数和所述第二关键参数不一致时,获取修正后的第二关键参数;第二比对单元,用于判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致,则重启修正参数获取单元和第二比对单元。
进一步,还包括:报警单元,用于当判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时,则停止数据转移和/或输出报警信号。
进一步,第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个。
本发明实施例的技术方案,具有如下优点:
本发明实施例提供的激光直接成像数据转移方法,根据获取的标识码提取第一关键参数,并将第一关键参数和用户提供的第二关键参数进行比对,在比对一致后,输出标识码指向的待转移激光直接成像数据,从而减少了人工逐条比对激光直接成像数据关键参数的工作量,实现了激光直接成像数据的自动化输出。
作为优选的技术方案,对第一关键参数和修正后的第二关键参数进行比对,如果比对一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据,如果比对不一致,则输出用于提示不一致的参数的信息,从而实现了当第二关键参数有误时,用户能够对第二参数进行修正补偿,继而提高了激光直接成像数据转移效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中一种激光直接成像数据转移方法流程图;
图2为本发明实施例中一种激光直接成像数据转移装置结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
激光直接成像曝光机在对印制电路板的干膜覆层或者油墨覆层进行曝光时,需要从数据库中获得正确的激光直接成像数据,本发明实施例提供一种激光直接成像数据转移方法和装置,以实现激光直接成像数据的自动转移。
请参考图1,为本实施例公开的一种激光直接成像数据转移方法,该激光直接成像方法包括如下步骤:
步骤S100,获取待转移激光直接成像数据的标识码。在具体实施例中,标识码可以形成在电路板底片上,也可以通过键盘等I/O设备获取标识码。在本实施例中,标识码可以是二维码、条码,当采用I/O设备获取标识码时,标识码则应当为字母、数字和/或其它字符组成的编码。
步骤S200,根据标识码提取第一关键参数,第一关键参数为数据库中标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数。在具体实施例中,在数据库中,可以将电路板底片上的标识码及其对应的激光直接成像数据进行关联,关联的激光直接成像数据中至少包括第一关键参数,第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个等信息。在获取得到待转移激光直接成像数据的标识码后,可以提取与之关联的第一关键参数。
步骤S300,获取第二关键参数,第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数。用户在申请电路板底片激光直接成像数据时,会输入相应激光直接成像数据的第二关键参数,所称第二关键参数与第一关键参数的项目相同,包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个等信息。
需要说明的是,本实施例中,第一关键参数和第二关键参数均为待转移激光直接成像数据的关键参数;所不同的是,第一关键参数为数据库中存储的待转移激光直接成像数据的各项目的值(例如层别、拉伸比例),第二关键参数为用户输入的各项目的值(例如层别、拉伸比例),即第一关键参数和第二关键参数中,各对应项目中的数值有可能不同。
步骤S400,判断第一关键参数和第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。在具体实施例中,应将第一关键参数中的各项目分别与对应于第二关键参数中的项目进行比对判断,当判断所有项目都比对一致后,则认为第一关键参数和第二关键参数比对一致。需要说明的是,所称项目的比对一致是指,第二关键参数中项目的数值落入其对应第一关键参数项目的数值范围内,例如,第一关键参数中的拉伸比例范围为1~5,当第二关键参数中的拉伸比例为3时,则认为拉伸比例比对一致;而当第二关键参数中的拉伸比例小于1或者大于5时,则认为拉伸比例比对不一致。在具体实施例中,当第一关键参数和第二关键参数进行比对一致后,输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。
在优选的实施例中,如果判断第一关键参数和第二关键参数不一致,则输出用于提示不一致的参数的信息。在具体实施例中,用于提示不一致的参数的信息可以是文字、图形、图像、声音等的任意组合,例如可以在存在差异的项目中以区分于操作界面颜色的颜色表示出来。需要说明的是,当关键参数中的任一项项目(例如层别、拉伸比例)不一致时,则判断第一关键参数和第二关键参数不一致。
为了能使用户掌握比对的结果,优选地输出用于提示不一致的参数的信息。
在优选的实施例中,如果判断第一关键参数和第二关键参数不一致并输出用于提示不一致的参数的信息之后,还可以包括:
步骤S500,获取修正后的第二关键参数。在输出用于提示不一致的参数的信息,例如用不同颜色标出不一致的项目之后,用户则可以对不一致的参数进行修正补偿,例如通过I/O设备对不一致的项目进行输入补偿,从而获取修正后的第二关键参数。
步骤S600,判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致,则输出用于提示不一致的参数的信息,重复步骤S500和步骤S600,即获取修正后的第二关键参数和判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致的步骤。同样地,在具体实施例中,应将第一关键参数中的各项目分别与对应于修正后第二关键参数中的项目进行比对,当所有项目都比对一致后,则认为第一关键参数和修正后第二关键参数一致。
在优选的实施例中,为避免用户过多的修正,占用资源,在步骤S600判断不一致后,还包括:
步骤S700,判断第一关键参数和修正后的第二关键参数不一致的次数是否超过预设次数,当比对不一致的次数超过预设次数时,则关闭停止数据转移和/或输出报警信号。当比对不一致的次数未超过预设次数时,则输出用于提示不一致的参数的信息。
本实施例还公开了一种激光直接成像数据转移装置,请参考图2,该激光直接成像数据转移装置包括:标识码获取单元100、第一关键参数提取单元200、第二关键参数获取单元300和比对单元400,其中:
标识码获取单元100用于获取待转移激光直接成像数据的标识码;
第一关键参数提取单元200用于根据标识码提取第一关键参数,第一关键参数为数据库中标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;
第二关键参数获取单元300用于获取第二关键参数,第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;
第一比对单元400用于判断第一关键参数和第二关键参数是否一致,如果一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。
在优选的实施例中,还包括:
修正参数获取单元,用于在第一比对单元400判断判断第一关键参数和第二关键参数不一致时,获取修正后的第二关键参数;
第二比对单元,用于判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数是否一致,如果一致,则输出所述标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致,则重启所述修正参数获取单元和所述第二比对单元。
在优选的实施例中,还包括:报警单元,用于当判断第一关键参数和修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时,则停止数据转移和/或输出报警信号。
在优选的实施例中,第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一种;第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一种。
本发明实施例提供的激光直接成像数据转移方法和装置,根据获取的标识码提取第一关键参数,并将第一关键参数和用户提供的第二关键参数进行比对,在比对一致后,输出标识码指向的待转移激光直接成像数据,从而减少了人工逐条比对激光直接成像数据关键参数的工作量,实现了激光直接成像数据的自动化输出。
作为优选的技术方案,对第一关键参数和修正后的第二关键参数进行比对,如果比对一致,则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据,如果比对不一致,则输出用于提示不一致的参数的信息,从而实现了当第二关键参数有误时,用户能够对第二参数进行修正补偿,继而提高了激光直接成像数据转移效率。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (8)

1.一种激光直接成像数据转移方法,其特征在于,包括如下步骤:
获取待转移激光直接成像数据的标识码;
根据所述标识码提取第一关键参数,所述第一关键参数为与所述标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;
获取第二关键参数,所述第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;
判断所述第一关键参数和所述第二关键参数是否一致,如果一致,则输出所述标识码指向的待转移激光直接成像数据。
2.如权利要求1所述的激光直接成像数据转移方法,其特征在于,还包括,如果判断所述第一关键参数和所述第二关键参数不一致,则获取修正后的第二关键参数;
判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数是否一致,如果一致,则输出所述标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致,则重复所述获取修正后的第二关键参数和所述判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数是否一致的步骤。
3.如权利要求2所述的激光直接成像数据转移方法,其特征在于,当判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时,则停止数据转移和/或输出报警信号。
4.如权利要求1-3任意一项所述的激光直接成像数据转移方法,其特征在于,所述第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;所述第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;其中,所述第一关键参数和所述第二关键参数的项目是相对应的。
5.一种激光直接成像数据转移装置,其特征在于,包括:
标识码获取单元,用于获取待转移激光直接成像数据的标识码;
第一关键参数提取单元,用于根据所述标识码提取第一关键参数,所述第一关键参数为数据库中所述标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;
第二关键参数获取单元,用于获取第二关键参数,所述第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;
第一比对单元,用于判断所述第一关键参数和所述第二关键参数是否一致,如果一致,则输出所述标识码指向的待转移激光直接成像数据。
6.如权利要求5所述的激光直接成像数据转移装置,其特征在于,还包括:
修正参数获取单元,用于在所述第一比对单元判断所述第一关键参数和所述第二关键参数不一致时,获取修正后的第二关键参数;
第二比对单元,用于判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数是否一致,如果一致,则输出所述标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致,则重启所述修正参数获取单元和所述第二比对单元。
7.如权利要求6所述的激光直接成像数据转移装置,其特征在于,还包括:
报警单元,用于当判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时,则停止数据转移和/或输出报警信号。
8.如权利要求6-7任意一项所述的激光直接成像数据转移装置,其特征在于,所述第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;所述第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;其中,所述第一关键参数和所述第二关键参数的项目是相对应的。
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基于LDI的PCB光刻系统关键技术研究;陈静秋;《中国博士学位论文全文数据库》;20150730;全文 *
提升P C B 性能的激光直接成像技术;胡志勇;《印制电路信息》;20080331(第8期);全文 *
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