CN105515647A - 2m数字电路的多功能环回测试器 - Google Patents

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王义春
刘长银
李荣春
李维
赵俊涛
韩力杰
于波
侯艳权
姚越
赵晨宇
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State Grid Corp of China SGCC
State Grid Heilongjiang Electric Power Co Ltd
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State Grid Corp of China SGCC
State Grid Heilongjiang Electric Power Co Ltd
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    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Abstract

2M数字电路的多功能环回测试器，涉及2M数字电路的环回测试技术领域。为了解决对2M数字电路的环回测试时器件接触不牢固、环回操作时间长和容易发生内外芯短路的问题，该测试器包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，本发明所述的测试器物理接触牢固，不会发生虚接情况，环回操作时间短，只需10秒钟左右，测试效果和故障判断快速准确，不会发生内外芯短路，避免2M接口板损坏的情况。适用于环回测试2M数字电路。

Description

2M数字电路的多功能环回测试器
技术领域
本发明涉及2M数字电路的环回测试技术领域。
背景技术
2M数字电路是承载光纤传输骨干网进行信息传送的全透明电路通道，是光纤通信系统中应用最为广泛的基准电路，因此对于2M数字电路的维护、故障处理极为重要，而2M环回测试手段正是2M数字电路的维护、故障处理的最常用、最重要的手段。
传统的2M数字电路的环回测试一般采用音频跳线，这种方法主要存在以下问题：
1、物理接触不紧固，经常发生虚接情况，影响测试效果和对故障的判断。
2、环回操作时间长，一般需要2-3分钟才能完成，影响对2M数字电路故障处理的判断时间。
3、音频跳线较软，容易变形，由于操作不当，易造成内外芯短路，损坏2M接口板。
发明内容
本发明是为了解决对2M数字电路的环回测试时器件接触不牢固、环回操作时间长和容易发生内外芯短路的问题，从而提供2M数字电路的多功能环回测试器。
2M数字电路的多功能环回测试器，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线和2M同轴电缆外皮，N根2M同轴电缆芯线外均覆盖有屏蔽层，2M同轴电缆的中间部分覆盖2M同轴电缆外皮、两端呈裸露状态，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，N为正整数。
本发明所述的2M数字电路的多功能环回测试器，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线和2M同轴电缆外皮，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，本发明所述的测试器物理接触牢固，不会发生虚接情况，环回操作时间短，只需10秒钟左右，测试效果和故障判断快速准确，不会发生内外芯短路，避免2M接口板损坏的情况。
附图说明
图1是具体实施方式一所述的2M数字电路的多功能环回测试器的结构示意图。
具体实施方式
具体实施方式一：参照图1具体说明本实施方式，本实施方式所述的2M数字电路的多功能环回测试器，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头3，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线1和2M同轴电缆外皮2，N根2M同轴电缆芯线1外均覆盖有屏蔽层，2M同轴电缆的中间部分覆盖2M同轴电缆外皮2、两端呈裸露状态，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头3，N为正整数。
具体实施方式二：本实施方式是对具体实施方式一所述的2M数字电路的多功能环回测试器作进一步说明，本实施方式中，N为4。
具体实施方式三：本实施方式是对具体实施方式二所述的2M数字电路的多功能环回测试器作进一步说明，本实施方式中，4根2M同轴电缆芯线1的一端分别连接L9型号、CC4型号、BNC型号和LEG型号的2M数字连接头3，4根2M同轴电缆芯线1的另一端分别对应连接L9型号、CC4型号、BNC型号、LEG型号的2M数字连接头3。
现有2M数字电路中的2M数字连接头3的型号通常为L9型号、CC4型号、BNC型号或LEG型号，本实施方式采用上述型号的2M数字连接头3可以与现有电路更好的配合，方便使用。
具体实施方式四：本实施方式是对具体实施方式一、二或三所述的2M数字电路的多功能环回测试器作进一步说明，本实施方式中，2M同轴电缆芯线1与2N个2M数字连接头3的连接方式为焊接。
制作步骤：
1、将2M同轴电缆去掉2M同轴电缆外皮2，切割2M同轴电缆芯线1，将2M同轴电缆芯线1的两端与屏蔽层分离。
2、将L9型号、CC4型号、BNC型号、LEG型号的2M数字连接头3进行焊接。
3、进行联通测试。

Claims (4)

1.2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头(3)，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线(1)和2M同轴电缆外皮(2)，N根2M同轴电缆芯线(1)外均覆盖有屏蔽层，2M同轴电缆的中间部分覆盖2M同轴电缆外皮(2)、两端呈裸露状态，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头(3)，N为正整数。
2.根据权利要求1所述的2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，N为4。
3.根据权利要求2所述的2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，4根2M同轴电缆芯线(1)的一端分别连接L9型号、CC4型号、BNC型号和LEG型号的2M数字连接头(3)，4根2M同轴电缆芯线(1)的另一端分别对应连接L9型号、CC4型号、BNC型号、LEG型号的2M数字连接头(3)。
4.根据权利要求1、2或3所述的2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，2M同轴电缆芯线(1)与2M数字连接头(3)的连接方式为焊接。
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