CN105509879A - 一种紫外探测器的非均匀校正方法 - Google Patents
一种紫外探测器的非均匀校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105509879A CN105509879A CN201510880971.4A CN201510880971A CN105509879A CN 105509879 A CN105509879 A CN 105509879A CN 201510880971 A CN201510880971 A CN 201510880971A CN 105509879 A CN105509879 A CN 105509879A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ultraviolet
- response
- image
- uniform
- phi
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 65
- 238000000825 ultraviolet detection Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10016—Video; Image sequence
Abstract
本发明涉及一种紫外探测器的非均匀校正方法,属于图像处理技术领域。本发明通过调整紫外探测器的积分时间来得到均匀紫外光源的高、低响应,然后根据得到的均匀紫外光源的高、低响应计算紫外图像的非均匀校正参数,最后根据得到非均匀校正参数计算各个紫外探测元件的输出响应值,该响应值即为校正后的紫外图像。本发明采用电子学的方法,不需要额外的光强控制或衰减片,只需通过调整紫外探测器的积分时间来得到均匀紫外光源的高、低响应来计算非均匀校正参数,本发明保证了非均匀校正性能的情况下降低了非均匀校正的成本,同时简化了校正过程,该校正方法能灵活应用在各种场所。
Description
技术领域
本发明涉及一种紫外探测器的非均匀校正方法,属于图像处理技术领域。
背景技术
由于紫外探测器在均匀紫外光源辐射下各阵元的响应率不一致,导致紫外探测器在成像时存在严重的非均匀性,使输出紫外图像质量降低,因此需要对紫外图像进行非均匀校正。目前通常采用两点非均匀校正方法,该方法需保证紫外探测器在紫外高低辐射照度两点之间的响应近似为线性关系。为保证紫外探测器在其线性响应范围内获得高低两点均匀紫外辐射照度,目前通常采用两种方法,一是使用紫外辐射强度可调的积分球,该方法的缺点是积分球的成本高,体积大,不利于校正地点的改变;二是通过光学方法,对固定辐射强度的紫外均匀光源前增加衰减片的方法来获得高低两点均匀紫外辐射照度,该方法的缺点是需要增加衰减片成本,且随着衰减精度的提高,衰减片的成本和数量也增加,并且该方法非均匀过程繁琐。
发明内容
本发明的目的是提供一种紫外探测器的非均匀校正方法,以解决目前采用积分球或者增加衰减片方式进行非均匀校正所带来的成本高以及校正过程繁琐的问题。
本发明为解决上述技术问题提供了一种紫外探测器的非均匀校正方法,该校正方法包括以下步骤:
1)调整紫外成像组件的积分时间,使其工作的积分时间为T-ΔT,并采集该积分时间下P帧紫外成像组件的紫外图像作为低响应下的紫外图像yij(φL),其中M和N分别表示M×N元紫外探测器的行与列大小,φL代表紫外成像组件对均匀紫外光源辐射的低响应,T为紫外成像组件工作的积分时间;
2)计算低响应条件下各个紫外探测元件多帧响应的平均值以及各个紫外探测元的响应平均值YL;
3)调整紫外成像组件的积分时间,使其工作的积分时间为T+ΔT,采集该积分时间下P帧紫外成像组件的紫外图像作为高响应下的紫外图像yij(φH),并计算各个紫外探测元多帧响应的平均值和各个紫外探测元的相应平均值YH;
4)根据步骤2)和和步骤3)得到的结果计算紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij,并根据得到增益量Gij和偏置量Oij计算各个紫外探测元校正后的输出响应值,该响应值即为非均匀校正后的紫外图像。
所述步骤4)中紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij为:
其中(i=0,1,……,M-1;j=0,1,……,N-1)。
所述步骤2)中低响应条件下各个紫外探测元件多帧响应的平均值以及各个紫外探测元的响应平均值YL分别为:
其中P为紫外图像采集的帧数。
所述步骤4)中各个紫外探测元校正后的输出响应值为:
xij(n)=Gijyij(n)+Oij
其中xij(n)为n时刻像素(i,j)非均匀校正后的输出响应值;yij(n)为n时刻像素(i,j)非均匀校正前的输出。
所述非均匀校正过程采用光源为均匀紫外光源,紫外成像组件包含紫外探测器。
本发明的有益效果是:本发明通过调整紫外探测器的积分时间来得到均匀紫外光源的高、低响应,然后根据得到的均匀紫外光源的高、低响应计算紫外图像的非均匀校正参数,最后根据得到非均匀校正参数计算各个紫外探测元件的输出响应值,该响应值即为校正后的紫外图像。本发明采用电子学的方法,不需要额外的光强控制或衰减片,只需通过调整紫外探测器的积分时间来得到均匀紫外光源的高、低响应来计算非均匀校正参数,本发明保证了非均匀校正性能的情况下降低了非均匀校正的成本,同时简化了校正过程,该校正方法能灵活应用在各种场所。
附图说明
图1-a是本发明实施例中非均匀校正前的紫外图像;
图1-b是本发明实施例中非均匀校正后的紫外图像;
图2-a是本发明实施例中非均匀校正前的紫外图像;
图2-b是本发明实施例中非均匀校正后的紫外图像;
图3是本发明紫外探测器的非均匀校正方法的具体实施流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式做进一步的说明。
本发明的紫外探测器的非均匀校正方法采用电子学方法,该方法的流程如图3所示,首先调整紫外成像组件的积分时间,使其工作的积分时间为T-ΔT,并采集该积分时间下P帧紫外成像组件的紫外图像作为低响应下的紫外图像yij(φL),其中M和N分别表示M×N元紫外探测器的行与列大小,φL代表紫外成像组件对均匀紫外光源辐射的低响应,T为紫外成像组件工作的积分时间;计算低响应条件下各个紫外探测元件多帧响应的平均值以及各个紫外探测元的响应平均值YL;然后调整紫外成像组件的积分时间,使其工作的积分时间为T+ΔT,采集该积分时间下P帧紫外成像组件的紫外图像作为高响应下的紫外图像yij(φH),并计算各个紫外探测元多帧响应的平均值和各个紫外探测元的相应平均值YH;最后计算紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij,并根据得到增益量Gij和偏置量Oij计算各个紫外探测元校正后的输出响应值,该响应值即为非均匀校正后的紫外图像。
下面以一个256×320行列大小的紫外探测器构成的成像组件的非均匀校正的具体过程进行说明,具体实施步骤如下:
1.首先和一固定辐射强度的均匀紫外光源一起构成紫外图像非均匀校正系统,并使该紫外成像组件正常工作在积分时间T,本实施例中的积分时间T为300μs,设定该成像组件线性响应范围内的积分时间调整量ΔT=50μs。
2.调整其积分时间,使其工作在积分时间250μs,采集积分时间250μs下,紫外成像组件对均匀紫外光源的低响应图像yij(φL)(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319),连续采集P帧图像,本实施例中以8帧图像为例进行说明。
3.计算低响应条件下,均匀紫外图像各个紫外探测元8帧响应的平均值以及均匀紫外图像所有紫外探测元的响应平均值YL,
(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319);
(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319)。
4.调整紫外成像组件的积分时间,使其工作在积分时间350μs,采集积分时间250μs下,紫外成像组件对均匀紫外光源的高响应图像yij(φH)(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319),连续采集P帧图像,本实施例中以8帧图像为例进行说明。
5.计算高响应条件下,均匀紫外图像各个紫外探测元多帧响应的平均值和均匀紫外图像所有紫外探测元的响应平均值YH,
(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319);
(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319)。
6.根据低响应条件下的均匀紫外图像各个紫外探测元多帧响应的平均值和均匀紫外图像所有紫外探测元的响应平均值YL,以及高响应条件下均匀紫外图像各个紫外探测元多帧响应的平均值和均匀紫外图像所有紫外探测元的响应平均值YH,计算紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij
(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319)
(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319)。
7.根据得到的紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij计算紫外图像各个紫外探测元经非均匀校正后的输出响应值xij(n)
xij(n)=Gijyij(n)+Oij(i=0,1,……,255;j=0,1,……,319)
xij(n)即为非均匀校正后的紫外图像,本实施例中采用本发明非均匀校正方法校正后的后的紫外图像如图1-b和图2-b所示,与校正前的紫外图像(如图1-a和图2-a所示)相比,校正后的图像能够很好的消除紫外图像的非均匀性。
综上,本发明采用非均匀校正方法能够很好的消除紫外图像的非均匀性,且无需额外增加衰减片或光强控制,简化了校正过程,缩小了校正装置的体积。
Claims (5)
1.一种紫外探测器的非均匀校正方法,其特征在于,该校正方法包括以下步骤:
1)调整紫外成像组件的积分时间,使其工作的积分时间为T-ΔT,并采集该积分时间下P帧紫外成像组件的紫外图像作为低响应下的紫外图像yij(φL),其中M和N分别表示M×N元紫外探测器的行与列大小,φL代表紫外成像组件对均匀紫外光源辐射的低响应,T为紫外成像组件工作的积分时间;
2)计算低响应条件下各个紫外探测元件多帧响应的平均值以及各个紫外探测元的响应平均值YL;
3)调整紫外成像组件的积分时间,使其工作的积分时间为T+ΔT,采集该积分时间下P帧紫外成像组件的紫外图像作为高响应下的紫外图像yij(φH),并计算各个紫外探测元多帧响应的平均值和各个紫外探测元的相应平均值YH;
4)根据步骤2)和和步骤3)得到的结果计算紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij,并根据得到增益量Gij和偏置量Oij计算各个紫外探测元校正后的输出响应值,该响应值即为非均匀校正后的紫外图像。
2.根据权利要求1所述的紫外探测器的非均匀校正方法,其特征在于,所述步骤4)中紫外图像非均匀校正的增益量Gij和偏置量Oij为:
其中(i=0,1,……,M-1;j=0,1,……,N-1)。
3.根据权利要求2所述的紫外探测器的非均匀校正方法,其特征在于,所述步骤2)中低响应条件下各个紫外探测元件多帧响应的平均值以及各个紫外探测元的响应平均值YL分别为:
其中P为紫外图像采集的帧数。
4.根据权利要求2所述的紫外探测器的非均匀校正方法,其特征在于,所述步骤4)中各个紫外探测元校正后的输出响应值为:
xij(n)=Gijyij(n)+Oij
其中xij(n)为n时刻像素(i,j)非均匀校正后的输出响应值;yij(n)为n时刻像素(i,j)非均匀校正前的输出。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的紫外探测器的非均匀校正方法,其特征在于,所述非均匀校正过程采用光源为均匀紫外光源,紫外成像组件包含紫外探测器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510880971.4A CN105509879B (zh) | 2015-12-05 | 2015-12-05 | 一种紫外探测器的非均匀校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510880971.4A CN105509879B (zh) | 2015-12-05 | 2015-12-05 | 一种紫外探测器的非均匀校正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105509879A true CN105509879A (zh) | 2016-04-20 |
CN105509879B CN105509879B (zh) | 2019-01-29 |
Family
ID=55718028
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510880971.4A Active CN105509879B (zh) | 2015-12-05 | 2015-12-05 | 一种紫外探测器的非均匀校正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105509879B (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106840387A (zh) * | 2016-12-09 | 2017-06-13 | 中国科学院国家天文台 | 一种增益差别较大的成像系统的目标提取及平场改正方法 |
CN111076821A (zh) * | 2019-12-11 | 2020-04-28 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种积分时间自适应切换的红外图像非均匀校正方法 |
CN112529810A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-03-19 | 北京空间机电研究所 | 一种面阵凝视相机的探测信噪比提升方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102410844A (zh) * | 2011-08-12 | 2012-04-11 | 北京航空航天大学 | 一种高动态星敏感器图像非均匀校正方法及装置 |
CN103335716A (zh) * | 2013-06-21 | 2013-10-02 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 基于变积分时间的面阵红外相机定标与非均匀性校正方法 |
WO2014138465A1 (en) * | 2013-03-08 | 2014-09-12 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Processing techniques for silicon-based transient devices |
-
2015
- 2015-12-05 CN CN201510880971.4A patent/CN105509879B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102410844A (zh) * | 2011-08-12 | 2012-04-11 | 北京航空航天大学 | 一种高动态星敏感器图像非均匀校正方法及装置 |
WO2014138465A1 (en) * | 2013-03-08 | 2014-09-12 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Processing techniques for silicon-based transient devices |
CN103335716A (zh) * | 2013-06-21 | 2013-10-02 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 基于变积分时间的面阵红外相机定标与非均匀性校正方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
胡劲忠: "提高红外图像均匀性的两级校正技术研究", 《红外技术》 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106840387A (zh) * | 2016-12-09 | 2017-06-13 | 中国科学院国家天文台 | 一种增益差别较大的成像系统的目标提取及平场改正方法 |
CN111076821A (zh) * | 2019-12-11 | 2020-04-28 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种积分时间自适应切换的红外图像非均匀校正方法 |
CN111076821B (zh) * | 2019-12-11 | 2021-07-09 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种积分时间自适应切换的红外图像非均匀校正方法 |
CN112529810A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-03-19 | 北京空间机电研究所 | 一种面阵凝视相机的探测信噪比提升方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105509879B (zh) | 2019-01-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103335716B (zh) | 基于变积分时间的面阵红外相机定标与非均匀性校正方法 | |
CN106197673B (zh) | 一种自适应宽温度范围非均匀校正方法及系统 | |
CN104917975B (zh) | 一种基于目标特征的自适应自动曝光方法 | |
CN105136308B (zh) | 一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法 | |
CN110411585B (zh) | 一种高精度红外辐射测量方法 | |
CN105509879A (zh) | 一种紫外探测器的非均匀校正方法 | |
CN102589707B (zh) | 红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法 | |
CN110631706B (zh) | 红外图像的校正方法、装置及存储介质 | |
EP3188469B1 (en) | Gain normalization and non-uniformity correction | |
CN106197690B (zh) | 一种宽温范围条件下的图像校准方法及系统 | |
CN101674398A (zh) | 一种实时ccd数字图像数据暗电流校正方法 | |
CN108055471A (zh) | 一种光圈校正方法及装置 | |
CN104677501A (zh) | 非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法和装置 | |
CN102778296A (zh) | 基于总变分的自适应红外焦平面非均匀性校正方法 | |
CN109974866B (zh) | 一种红外焦平面阵列非均匀性校正方法及校正电路 | |
CN104406697A (zh) | 红外焦平面阵列校正方法 | |
CN106791506B (zh) | 一种cmos探测器的非均匀性校正方法 | |
EP3169055B1 (en) | Pixel non-uniformity correction | |
CN115752757A (zh) | 探测器和内黑体分离的红外扫描相机在轨非均匀校正方法 | |
CN103312983B (zh) | 一种太赫兹成像仪镜头补偿方法 | |
KR20170074771A (ko) | 라이트필드 카메라들에 의해 캡처된 이미지 상에 야기된 비네팅 효과를 정정하는 방법 및 장치 | |
CN105092043A (zh) | 一种基于场景的变积分时间的非均匀性校正方法 | |
CN112710397B (zh) | 一种基于温度替代的两点校正方法及系统 | |
CN103868601B (zh) | Irfpa探测器非均匀响应的双边全变分正则化校正方法 | |
CN105374014A (zh) | 图像校正方法及装置、医学图像生成方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |