CN105469831A - 存储器模块的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种存储器模块的测试方法，包含用户端机台与测试机台建立连结，验证用户端机台与测试机台间的连结的合法性，产生错误型样至测试机台的存储器模块中，检查存储器模块的错误状态，及依据存储器模块的错误状态，用户端机台产生及记录测试分析资料。本发明所述的测试方法相比于传统手动的测试流程，测试时间亦可大幅缩短，且所花的人力成本以及人为失误造成的错误亦可大幅降低。

Description

存储器模块的测试方法

技术领域

本发明描述了一种存储器模块的测试方法，尤指一种使用单位元错误型样(Single-BitErrorPattern，SBEPattern)以及多位元错误型样(Multi-BitErrorPattern，MBEPattern)测试存储器模块的方法。

背景技术

随着科技日新月异，各种存储器也以不同形式应用于日常生活中，以使各种电子设备具备更多功能和操作性。例如个人计算机(PC)内常用的随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)，具备随时读写及高速度的特性，故常被作为操作系统或其他正在执行中的程序的临时资料的储存媒介。又可细分为，动态随机存取存储器(DynamicRandomAccessMemory，DRAM)以及静态随机存取存储器(StaticRandomAccessMemory，SRAM)。动态随机存取存储器其优势在于结构简单，每一个位元的资料都只需一个电容跟一个晶体管来处理，故DRAM拥有非常高的密度及容量，且成本较低的优点。静态随机存取存储器其特性为只要保持通电，里面储存的资料就可以恒常保持，且不需要如DRAM一样要做周期性的更新。然而，因存储器为利用电容充放电的机制储存资料，因此视为消耗品。当存储器内部元件发生异常时，存储器将无法再存储资料，甚至会导致输出资料的异常。因此，定期测试存储器的效能以及判断其是否能正常运作已成为维护电子系统的可靠度的重要手段。

现有的存储器测试方法需要利用非常昂贵的外接设备，在主机板上连接一个测试连接端子，并需要利用手动的方式一个一个去测试存储器，例如手动测试每个双线存储器模块(DualIn-lineMemoryModule，DIMM)的接脚。此种手动测试的方式将非常耗时耗力，且常常因人为疏失而无法完整的分析检测结果，甚至导致检测结果不精准。

发明内容

为了解决现有技术存在的问题，本发明提供一种存储器模块的测试方法，包含：

一用户端机台与一测试机台建立一连结；

验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性；

产生一错误型样至所述测试机台的一存储器模块中；

检查所述存储器模块的一错误状态；及

依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生一测试分析资料。

可选的，其中验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性，包含：

所述测试机台传送一连结资料至用户端机台；及

所述用户端机台检查所述连结资料是否合法。

可选的，所述的测试方法另包含：

侦测一未被测试的存储器模块；

其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含：

产生并注入一多位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。

可选的，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，包含：

检查注入所述多位元错误型样后的所述存储器模块对应的一操作系统是否失败；及

若所述操作系统失败，重新启动所述测试机台。

可选的，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含：

重新启动所述测试机台后，检查所述测试机台对应于所述存储器模块的所述操作系统的一状态；

若所述操作系统为一执行失败状态，产生并记录一错误资料；及

依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。

可选的，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含：

检查所述对应于所述存储器模块的一远端服务器回报资料的一状态；

若所述远端服务器回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料；及

依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。

可选的，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含：

检查所述测试机台对应于所述存储器模块的一系统回报资料的一状态；

若所述系统回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料；及

依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。

可选的，所述的测试方法另包含：

侦测一未被测试的存储器模块；

其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含：

产生并注入一单位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。

可选的，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，包含：

检查所述存储器模块的一单位元的所述错误状态；及

检查所述存储器模块是否被执行一错误位元回复机制。

可选的，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，另包含：

若所述存储器模块未被执行所述错误位元回复机制，重新将所述单位元错误型样注入至所述存储器模块中；及

所述方法另包含：

产生并记录一错误资料。

本发明一实施例提出一种存储器模块的测试方法。存储器模块的测试方法包含用户端机台与测试机台建立连结，验证用户端机台与测试机台间的连结的合法性，产生错误型样至测试机台的存储器模块中，检查存储器模块的错误状态，及依据存储器模块的错误状态，用户端机台产生测试分析资料。本发明所述的测试方法相较于传统手动的测试流程，测试时间亦可大幅缩短，且所花的人力成本以及人为失误造成的错误亦可大幅降低。

附图说明

图1为本发明存储器模块的测试系统的实施例的架构图。

图2为图1实施例的存储器模块的测试方法的流程图。

图3为图2的存储器模块的测试方法的第一阶段的流程图。

图4为图2的存储器模块的测试方法，使用多位元错误型样的第二阶段的流程图。

图5为图2的存储器模块的测试方法，使用多位元错误型样的第三阶段的流程图。

图6为图2的存储器模块的测试方法，使用单位元错误型样的第二阶段的流程图。

图7为图2的存储器模块的测试方法，使用单位元错误型样的第三阶段的流程图。

符号说明

100	测试系统
		10	用户端机台
11	测试机台
		12	存储器模块
13	测试软件
		14	测试软件工具
S201至S205	步骤
		I至III	阶段
S301至S305	步骤
		S401至S405	步骤
S501至S509	步骤
		S601至S606	步骤
S701至S705	步骤
		A至F	流程图的端点

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

图1为本发明存储器模块的测试系统100的实施例的架构图。如图1所示，测试系统100包含用户端机台(ClientTerminalDevice)10以及测试机台(SystemUnderTestDevice)11。用户端机台10可为任何具备程序编译能力的装置，例如工作平台、服务器、个人计算机、平板计算机等装置。测试机台11可为乘载测试装置的任何硬件。在本实施例中，测试机台11乘载着复数个存储器模块12，例如复数个双线存储器模块(DualIn-lineMemoryModule，DIMM)。用户端机台10与测试机台11以无线或有线的方式连结。用户端机台10具有执行存储器模块12测试所用的测试软件13的能力。而测试软件13中具有测试软件工具14。举例来说，测试软件13可使用开发的Rastool测试工具为核心。在测试系统100中，用户端机台10会根据测试机台11中存储器模块12的状态(例如错误状态)，而产生测试分析资料或是回报资料(SummaryReport)。而本发明的测试系统100对存储器模块12进行测试的流程将描述于后文。

图2为图1实施例的存储器模块12的测试方法的流程图。如图2所示，本发明的存储器模块12的测试方法的流程包含但不限定于步骤S201至步骤S205，如下所示：

为了让图2的测试流程与后文所述的详细的测试方法更容易了解，本文将上述的步骤S201至步骤S205归类为三个阶段。如图2所示，第一阶段I包含了步骤S201以及步骤S202。而第一阶段I的目的在于将用户端机台10与测试机台11确实建立合法且专用的连结。第二阶段II包含了步骤S203以及步骤S204。而第二阶段II的目的在于将不同的错误型样(ErrorPattern)注入存储器模块12中，并观察存储器模块12接受到这些错误型样后会有那些反应及错误状态。第三阶段III包含了步骤S205，而第三阶段III的目的在于依据观察存储器模块12的错误状态后(可能为存储器模块12对应的操作系统当机或是存储器模块12执行自我回复功能，将于后文详述)，于用户端机台10产生测试分析资料(或是测试结论报告，SummaryReport)。如此，测试人员将可轻易由用户端机台10获得存储器模块12的检测结果。为了描述更为精准，下文将针对第一阶段I内部的详细流程，以及在第二阶段II考虑两种错误型样(例如多位元错误形样以及单位元错误型样)的使用做详细说明。并且，在第二阶段II使用的两种错误型态之下，其所对应的第三阶段III的详细流程亦会描述于后文。

图3为图2的存储器模块12的测试方法的第一阶段I的流程图。如上述，第一阶段I的目的在于将用户端机台10与测试机台11确实建立合法且专用的连结。图3的流程包含但不限定于步骤S301至步骤S305，如下：

图3的步骤S301至步骤S305说明如下。首先，测试系统100于步骤S301启动检测，接下来，用户端机台10与测试机台(SystemUnderTestDevice)11于步骤S302建立连结。用户端机台10将会于步骤S303检查连结是否成功，当连结建立失败时，会返回步骤S302重新建立连结。反之，若连结建立成功，则进入步骤S304。在步骤S304中，测试机台11会复制一份连结资料(SCP)，并传至用户端机台10。用户端机台10会于步骤S305检查此连结资料(SCP)的合法性或完整性，并判断测试机台11是否真的透过连结将完整的连结资料(SCP)传送。要是连结资料(SCP)的传送不完整或不合法，测试机台11将会被要求重新传送连结资料(SCP)，直到认证通过为止。这里所指的合法性可为任何的完整度指标，例如利用循环冗余校验(Cyclicredundancycheck，CRC)检测连结资料(SCP)是否是正确的，或直接观察传送封包内容判断连结资料(SCP)是否存在等等。当连结资料(SCP)已被接收且认证通过，则进入步骤S401(将于图4说明)。换言之，步骤S302及步骤S303为图2中步骤S201的子步骤，而步骤S304及步骤S305为图2中步骤S202的子步骤。通过透过步骤S301至步骤S305(第一阶段I)，用户端机台10与测试机台11可建立合法且专用的连结。接下来，测试系统100将会进行第二阶段II，也就是存储器模块12测试的程序，详述于下。

在本发明中，存储器模块12测试的程序(第二阶段II)将考虑两种方式来进行，一种为利用多位元错误型样(MBEPattern)进行测试，一种为利用单位元错误型样(SBEPattern)进行测试，下文将针对这两种测是手段做详细说明。

图4为存储器模块12的测试方法，使用多位元错误型样的第二阶段II的流程图。当用户端机台10与测试机台11利用图3的流程建立合法且专用的连结后，测试系统100即开始执行存储器模块12的测试程序。而存储器模块12的测试程序包含但不限定于以下步骤：

图4的步骤S401至步骤S405说明如下。当用户端机台10与测试机台11利用图3中的步骤S301至步骤S305(第一阶段I)可建立合法且专用的连结后，用户端机台10上的测试软件13，会利用开发的Rastool测试工具，并透过测试机台11，于步骤S401启动检测循环。这边所指的检测循环为一种循序式的处理流程，可对任何单位的存储器模块12循序启动测试程序。例如将存储器模块12量化为以DIMM为单位或是以Bank为单位，再循序进行测试。在步骤S402中，未被检测的存储器模块12将会被测试软件13侦测出来。之后，于步骤S403中，这些未被检测的存储器模块12将透过测试机台11逐一注入多位元错误型样。应当理解的是，正常的存储器模块12在被注入多位元(至少2位元)的错误型样时，其支持的操作系统最后必然失败(俗称，当机，SystemHangUp)。然而，在注入多位元的错误型样至存储器模块12的当下，其支持的操作系统不一定会于第一时间失败，可能会因为系统忙碌(SystemBusy)而延迟了系统失败的时间。因此，在步骤S404中，测试软件13会检查存储器模块12对应的操作系统是否失败，若系统失败，则进入步骤S405，若系统当下并未失败(可能为前述的延迟原因)，则返回步骤S403。当操作系统失败后，依据步骤S405，测试机台11将会被重新启动，并进入步骤S501(将于图5中描述)。换言之，步骤S401及步骤S402为步骤S403的前置步骤，步骤S403为图2中对应步骤S203，而步骤S404及步骤S405为图2中步骤S204的子步骤。通过透过步骤S401至步骤S405(第二阶段II)，错误型样(ErrorPattern)将会被注入至存储器模块12(未被检测的存储器模块)中，并进一步观察存储器模块12接受到这些错误型样后会有那些反应及错误状态(例如操作系统失败)。而在执行步骤S401至步骤S405之后，测试系统100将会进入第三阶段III，也就是产生错误及分析资料的阶段，详述于下。

图5为存储器模块12的测试方法，使用多位元错误型样的第三阶段III的流程图。图5的流程包含但不限定于步骤S501至步骤S509，如下：

图5的步骤S501至步骤S509说明如下。首先，测试系统100将测试机台11重新启动后，透过步骤S501检查其内部操作系统的状态。此时，重新启动的操作系统会发生两种情况，一种为正常启动且正常汇入驱动程序而进入待命状态，另一种情况为异常情况，重启的操作系统仍然执行失败。因此，若是重启的操作系统仍然失败时，表示操作系统可能有其他原因导致执行失败，例如存储器模块12发生物理性损坏等等。这时候，用户端机台10就会透过步骤S502记录错误资料。若是重启的操作系统能正常运作，则测试系统100将依据步骤S503，进一步检查远端服务器连线回报资料(BMC)的状态。若是回报资料异常，用户端机台10就会透过步骤S504记录错误资料。若是回报资料正常，则测试系统100将依据步骤S505，进一步检查测试机台11系统回报资料(SystemLogs)的状态。若是回报资料正常，则测试系统100将执行步骤S507。若是回报资料异常，用户端机台10就会透过步骤S506记录错误资料。而测试系统100于执行步骤S502、步骤S504及/或步骤S506之后，也会进入步骤S507。在步骤S507中，用户端机台10上的测试软件13会透过测试机台11侦测所有存储器模块12的检测状态，以避免漏掉测试某些存储器模块12。因此，当所有存储器模块12都被检测完成时，用户端机台10将会依据前述步骤S501至S506的资料状态或是记录的错误资料，于步骤S508产生测试分析资料(报告)(AnalysisSummaryReport)，并于步骤S509结束测试流程。反之，当某些存储器模块12尚未被检测完成时，测试系统100将会返回图4中的步骤S402。因此，在使用多位元错误型样的第三阶段III的流程中，透过步骤S501至步骤S509，存储器模块12的测试分析报告及资料将会被自动产生出来，测试人员不需要手动去对存储器模块12逐一测试。

图6为存储器模块12的测试方法，使用单位元错误型样的第二阶段II的流程图。不同于上述考虑多位元错误型样(MBEPattern)，在此考虑了单位元错误型样(SBEPattern)的测试。当用户端机台10与测试机台11利用图3的流程建立合法且专用的连结后，测试系统100即开始执行存储器模块12的测试程序。而存储器模块12的测试程序包含但不限定于以下步骤：

图6的步骤S601至步骤S606说明如下。当用户端机台10与测试机台11利用图3中的步骤S301至步骤S305(第一阶段I)可建立合法且专用的连结后，用户端机台10上的测试软件13，会利用开发的Rastool测试工具，并透过测试机台11，于步骤S601启动检测循环。这边所指的检测循环为一种循序式的处理流程，可对任何单位的存储器模块12依序启动测试程序。例如将存储器模块12量化为以DIMM为单位或是以Bank为单位，再循序进行测试。在步骤S602中，这些未被检测的存储器模块12将透过测试机台11逐一注入单位元错误型样。应当理解的是，正常的存储器模块12在被注入单位元的错误型样时，将会执行错误位元回复的功能，使发生错误的位元自动被更正。因此，在步骤S604中，测试软件13会检查存储器模块12被注入单位元错误型样之后的状态，并于步骤605中，检查存储器模块12是否被执行正确的错误位元回复机制。若错误位元回复机制被正确执行而使错误位元被更正，则进入步骤S701(将于图7说明)。反之，若错误位元回复机制执行异常，则进入步骤S606。在步骤S606中，测试系统100会计算单位元错误型样被重复注入的次数(Retry)，若重复注入的次数(这里亦称为重试次数)大于R，进入步骤S702(将于图7说明)。反之，若重复注入的次数小于等于R，则返回步骤S603，继续重复地将单位元错误型样注入至存储器模块12中，这里所指的R为正整数。换言之，步骤S601及步骤S602为步骤S603的前置步骤，步骤S603对应图2中的步骤S203，而步骤S604及步骤S605为图2中步骤S204的子步骤。通过透过步骤S601至步骤S606(第二阶段II)，错误型样(ErrorPattern)将会被注入至存储器模块12(未被检测的存储器模块)中，并进一步观察存储器模块12接受到这些错误型样后会有那些反应及错误状态(例如存储器模块12自我更正错误位元)。而在执行步骤S601至步骤S606之后，测试系统100将会进入第三阶段III，也就是产生错误及分析资料的阶段，详述于下。

图7为图2的存储器模块12的测试方法，使用单位元错误型样的第三阶段III的流程图。图7的流程包含但不限定于步骤S701至步骤S705，如下：

图7的步骤S701至步骤S705说明如下。首先，若存储器模块12被注入单位元的错误型样后，成功地更正单位元错误。此时，用户端机台10将会透过步骤S701，记录检测通过资料(PassLog)，表示这一个存储器模块12为正常状态。反之，若存储器模块12被注入单位元的错误型样后，无法成功地更正单位元错误。此时，用户端机台10将会透过步骤S702，记录错误资料(ErrorLog)，表示这一个存储器模块12可能发生某些问题。在步骤S703中，用户端机台10上的测试软件13会透过测试机台11侦测所有存储器模块12的检测状态，以避免漏掉测试某些存储器模块12。因此，当所有存储器模块12都被检测完成时，用户端机台10将会依据前述步骤S701或S702的资料状态或是记录的错误资料，于步骤S704产生测试分析资料(报告)(AnalysisSummaryReport)，并于步骤S705结束测试流程。反之，当某些存储器模块12尚未被检测完成时，测试系统100将会返回图6中的步骤S602。因此，在使用单位元错误型样的第三阶段III的流程中，透过步骤S701至步骤S705，存储器模块12的测试分析报告及资料最后会自动产生出来，测试人员不需要手动去对存储器模块12逐一测试。

综上所述，本发明描述了一种存储器模块的测试方法及系统，其设计概念为利用软件进行全自动化的测试，并利用多位元错误型样或单位元错误型样对存储器模块进行测试，来自动侦测存储器模块是否有异常的情况发生。因此，由于本发明的测试系统为具有自动测试存储器模块的功能，相较于传统手动的测试流程，本发明的测试时间亦可大幅缩短，且所花的人力成本以及人为失误造成的错误亦可大幅降低。

显然，本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种存储器模块的测试方法，其特征在于，包含：

一用户端机台与一测试机台建立一连结；

验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性；

产生一错误型样至所述测试机台的一存储器模块中；

检查所述存储器模块的一错误状态；及

依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生一测试分析资料。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，其中验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性，包含：

所述测试机台传送一连结资料至用户端机台；及

所述用户端机台检查所述连结资料是否合法。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，另包含：

侦测一未被测试的存储器模块；

其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含：

产生并注入一多位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，包含：

检查注入所述多位元错误型样后的所述存储器模块对应的一操作系统是否失败；及

若所述操作系统失败，重新启动所述测试机台。

5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含：

重新启动所述测试机台后，检查所述测试机台对应于所述存储器模块的所述操作系统的一状态；

若所述操作系统为一执行失败状态，产生并记录一错误资料；及

依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。

6.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含：

检查所述对应于所述存储器模块的一远端服务器回报资料的一状态；

若所述远端服务器回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料；及

依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。

7.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测试分析资料，包含：

检查所述测试机台对应于所述存储器模块的一系统回报资料的一状态；

若所述系统回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料；及

依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。

8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，另包含：

侦测一未被测试的存储器模块；

其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含：

产生并注入一单位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。

9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，包含：

检查所述存储器模块的一单位元的所述错误状态；及

检查所述存储器模块是否被执行一错误位元回复机制。

10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，另包含：

若所述存储器模块未被执行所述错误位元回复机制，重新将所述单位元错误型样注入至所述存储器模块中；及

所述方法另包含：

产生并记录一错误资料。