CN105424075A - 一种智能teds传感器通用测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法，该智能TEDS传感器通用测试系统包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，与现有技术相比，本发明提供的智能TEDS传感器通用测试系统，通过上位机读取智能TEDS传感器的TEDS数据，针对不同的传感器类型，信号发送器生成相应的激励信号，最终由该上位机完成对该智能TEDS传感器的性能测试，可以实现利用一套测试系统完成对不同智能TEDS传感器的性能测试，能够大大降低测试系统的配置时间及测试成本，并有效提高测试效率及用户体验。

Description

一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法

技术领域

本发明涉及传感器测试领域，特别是涉及一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法。

背景技术

近年来，随着电子技术及其制造加工技术的发展，传感器产业适应技术潮流，进入了高速发展阶段，智能TEDS传感器应运而生。智能TEDS传感器包括电子传感器和TEDS(TransducerElectronicDataSheet，传感器电子数据表)，其中，TEDS数据包括传感器制造商信息、产品型号、产品编号、测量范围、出厂时的校正信息以及用户定义的信息、传感器的物理位置和灵敏度等相关信息。作为新一代电子传感器中的一种，智能TEDS传感器在消费电子、通信电子、医疗电子等领域凭借成本低廉、性能优异等特点而得到广泛应用。

而随着传感器技术的不断发展，对传感器测试系统也提出了更高要求。现有技术中的传感器测试系统，往往功能较为单一，针对不同的智能TEDS传感器，需要借助不同的仪器对测试系统进行重新组装，如利用不同的信号发生器和显示仪表等来帮助完成测试，整个测试系统中各个仪器间的连接较为复杂、繁琐，且配置时间长，测试效率较低。

因此，有必要对传感器测试系统进行进一步改进，以满足对新一代传感器的测试要求。

发明内容

本发明实施例中提供了一种智能TEDS传感器通用测试系统及方法，以解决现有技术中的传感器测试系统，针对不同的传感器需要利用不同的测试仪器进行重新组装，造成的测试系统配置时间长、测试效率低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

本发明公开了一种智能TEDS传感器通用测试系统，包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，其中，信号发生器和数据采集电路通过控制接口与上位机电连接；存储器设置在该上位机和数据采集电路之间，该存储器与数据采集电路电连接，且该存储器通过该控制接口与上位机电连接；数据采集电路与信号调理电路电连接，且信号发生器与待测智能TEDS传感器的信号输入端电连接，信号调理电路与待测智能TEDS传感器的信号输出端电连接。

优选的，数据采集电路包括依次电连接的A/D转换器、滤波器和放大器。

优选的，信号发生器可以根据用户需求，发送用户自定义的激励信号。

优选的，上位机使用LABVIEW软件编写图形化界面。

本发明公开了一种智能TEDS传感器通用测试方法，包括以下几个步骤：数据采集电路采集待测智能TEDS传感器的TEDS数据，并将该TEDS数据发送至存储器；该上位机读取该TEDS数据，并根据该TEDS数据发送控制命令至信号发生器，由该信号发生器生成并发送相应的激励信号至该待测智能TEDS传感器；该待测智能TEDS传感器接收该激励信号，生成并发送第一传感器信号至信号调理电路，由该信号调理电路对该第一传感器信号预处理，得到第二传感器信号；该数据采集电路采集并处理该第二传感器信号，生成第三传感器信号，并将该第三传感器信号发送至存储器；该上位机读取该第三传感器信号，并根据国标GB/T18459-2001，对该第三传感器信号进行分析并显示分析结果，完成对该待测智能TEDS传感器的测试。

由以上技术方案可见，本发明实施例提供的智能TEDS传感器通用测试系统及方法，包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，与现有技术相比，通过利用上位机读取智能TEDS传感器的TEDS数据，针对不同的传感器类型，使信号发送器生成相应的激励信号，最终由上位机完成对该智能TEDS传感器的性能测试，可以实现利用一套测试系统完成对不同的智能TEDS传感器的性能测试，能够大大降低测试系统的配置时间和测试成本，并有效提高测试效率及用户体验。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试系统的应用示意图；

图3为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

实施例一

参见图1，为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试系统的结构示意图。也可以参见图2，为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试系统的应用示意图。本发明实施例公开了一种智能TEDS传感器通用测试系统，包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，其中，该信号发生器和数据采集电路分别通过控制接口与该上位机电连接，一方面用于实现上位机控制信号发生器发出与待测智能TEDS传感器相适应的激励信号，特别的，该信号发生器还可以根据用户需求，针对不同传感器的测试要求，发送用户自定义的激励信号；另一方面，用于实现上位机对该数据采集电路采样频率的设置。

该存储器设置在上位机和数据采集电路之间，且分别与数据采集电路电连接、通过该控制接口与上位机电连接。该存储器，用于存储该待测智能TEDS传感器的TEDS数据信息和第三传感器信号，有利于缓解该智能TEDS传感器通用测试系统在频繁采集该第三传感器信号时，给上位机造成的压力，同时也方便上位机对待测智能TEDS传感器的各类数据进行查询。

该数据采集电路与信号调理电路电连接，且该信号发生器与该待测智能TEDS传感器的信号输入端电连接，该信号调理电路与待测智能TEDS传感器的信号输出端电连接，该待测智能TEDS传感器根据该信号发生器发送的激励信号，生成第一传感器信号，并通过该待测智能TEDS传感器的输出端，将该第一传感器信号发送至信号调理电路。该信号调理电路接收该第一传感器信号，并对该第一传感器信号进行预处理，得到第二传感器信号。数据采集电路用于采集该第二传感器信号，并对该第二传感器信号进行处理，得到第三传感器信号，该数据采集电路将处理得到的该第三传感器信号发送至上位机，由该上位机，依据国标GB/T18459-2001，对第二传感器信号进行分析并显示分析结果，其中，利用国标GB/T18459-2001，可以实现对智能TEDS传感器的线性度、灵敏度、稳定性、分辨力、重复性以及动态特性等传感器性能的分析测试，由于该测试方法及所需要进行的操作均为本领域技术人员所熟知，在此不再赘述。

进一步地，该信号调理电路对该第一传感器信号进行的预处理步骤，主要包括对该第一传感器信号进行采样、放大、滤波、衰减、调制解调、幅频变换及数字化等操作，由于该操作为本领域技术人员对信号处理时惯常使用的技术手段，在此不再赘述。

进一步地，该数据采集电路包括依次电连接的A/D转换器、滤波器和放大器，该数据采集电路采集该第二传感器信号，对该第二传感器信号进行采样、滤波、放大等处理，生成第三传感器信号，并将该第三传感器信号发送至存储器。

进一步地，该上位机区别于传统测试方式中的多种设备面板控制，可以使用LABVIEW软件编写图形化界面，使操作变得简洁高效，有利于进一步提高用户体验。

本发明提供的智能TEDS传感器通用测试系统，在使用时，首先由数据采集电路采集待测智能TEDS传感器的TEDS数据，并将该TEDS数据发送至存储器；该上位机读取该TEDS数据，并根据不同的智能TEDS传感器类型，发送相应控制命令至信号发生器；该信号发生器发送相应的激励信号至该待测智能TEDS传感器；该待测智能TEDS传感器生成第一传感器信号，并将该第一传感器信号发送至信号调理电路；该信号调理电路对该第一传感器信号进行预处理，生成并发送第二传感器信号；数据采集电路采集该第二传感器信号，并对该第二传感器信号进行采样、滤波和放大处理，生成第三传感器信号，并将该第三传感器信号发送至存储器；该上位机读取该第三传感器信号，并根据国标GB/T18459-2001，对该第三传感器信号进行分析，进而判断该待测智能TEDS传感器的性能优劣。另外，还能利用上位机对待测智能TEDS传感器的TEDS数据进行重新写入，能够实现对待测智能TEDS传感器进行更新校准或数字化存储用户定义的信息等操作。

本发明实施例公开的一种智能TEDS传感器通用测试系统，与现有技术相比，通过利用上位机读取智能TEDS传感器的TEDS数据，针对不同的传感器类型，能够使信号发送器发送相应的激励信号，最终由该上位机完成对该待测智能TEDS传感器的性能测试，本发明实施例公开的智能TEDS传感器通用测试系统，将各个测试功能模块化后集成为一体，不需要借助过多的仪器，就可以实现利用一套测试系统完成对不同的智能TEDS传感器的性能测试，可以大大降低测试系统的配置时间和测试成本，并有效提高测试效率及用户体验。

实施例二

参见图3，为本发明实施例提供的一种智能TEDS传感器通用测试方法的流程示意图。本发明实施例公开的一种智能TEDS传感器通用测试方法，主要包括以下步骤：

S11：数据采集电路采集待测智能TEDS传感器的TEDS数据，并将该TEDS数据发送至存储器。

S12：该上位机读取该TEDS数据，并根据该TEDS数据发送控制命令至信号发生器，由该信号发生器生成并发送相应的激励信号至该待测智能TEDS传感器。

S13：该待测智能TEDS传感器接收该激励信号，生成并发送第一传感器信号至信号调理电路，由该信号调理电路对该第一传感器信号预处理，得到第二传感器信号。

S14：该数据采集电路采集并处理该第二传感器信号，生成第三传感器信号，并将该第三传感器信号发送至该存储器。

S15：该上位机读取该第三传感器信号，并根据国标GB/T18459-2001，对该第三传感器信号进行分析并显示分析结果，完成对该待测智能TEDS传感器的测试。

本说明书中的两个实施例采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于方法实施例而言，由于其基本相似于系统实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见系统实施例的部分说明即可。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体与另一个实体区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (5)

1.一种智能TEDS传感器通用测试系统，其特征在于，包括上位机、存储器、信号发生器、信号调理电路和数据采集电路，其中，

所述信号发生器和所述数据采集电路通过控制接口与所述上位机电连接；

所述存储器设置在所述上位机和所述数据采集电路之间，所述存储器与所述数据采集电路电连接，且所述存储器通过所述控制接口与所述上位机电连接；

所述数据采集电路与所述信号调理电路电连接，且所述信号发生器与待测智能TEDS传感器的信号输入端电连接，所述信号调理电路与所述待测智能TEDS传感器的信号输出端电连接。

2.根据权利要求1所述的智能TEDS传感器通用测试系统，其特征在于，所述数据采集电路包括依次电连接的A/D转换器、滤波器和放大器。

3.根据权利要求1所述的智能TEDS传感器通用测试系统，其特征在于，所述信号发生器用于发送用户自定义的激励信号。

4.根据权利要求1所述的智能TEDS传感器通用测试系统，其特征在于，所述上位机使用LABVIEW软件编写图形化界面。

5.一种智能TEDS传感器通用测试方法，其特征在于，包括以下几个步骤：

数据采集电路采集待测智能TEDS传感器的TEDS数据，并将所述TEDS数据发送至存储器；

所述上位机读取所述TEDS数据，并根据所述TEDS数据发送控制命令至信号发生器，由所述信号发生器生成并发送相应的激励信号至所述待测智能TEDS传感器；

所述待测智能TEDS传感器接收所述激励信号，生成并发送第一传感器信号至信号调理电路，由所述信号调理电路对所述第一传感器信号预处理，得到第二传感器信号；

所述数据采集电路采集并处理所述第二传感器信号，生成第三传感器信号，并将所述第三传感器信号发送至存储器；

所述上位机读取所述第三传感器信号，并根据国标GB/T18459-2001，对所述第三传感器信号进行分析并显示分析结果，完成对所述待测智能TEDS传感器的测试。