CN105404279A - 一种控制面板综合测试台 - Google Patents

Abstract

一种控制面板综合测试台，包括：控制器、总开关、熄火开关、高温控制开关、转码电路、接头、直流检测电压表、励磁调节电压表、发热装置、充电电压表、风扇和显示器；所述控制器分别与所述控制器、所述总开关、所述熄火开关、所述高温控制开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表、所述励磁调节电压表、所述发热装置、所述充电电压表、所述风扇和所述显示器连接。本发明的有益效果为具备对电子设备的解码、编码和励磁功能及工作状态的各项数据进行综合测试，能完全测试的电子设备各方面的功能，测试效率高，出厂产品的良品率高。

Description

一种控制面板综合测试台

技术领域

本发明涉及电子设备测试领域，具体涉及一种控制面板综合测试台。

背景技术

现有的针对于电子设备的测试，一般只测试电子设备的工作电压是否正常来判断电子设备是否为合格品，不具备对电子设备的解码、编码和励磁功能进行测试，无法完全测试的电子设备为合格品，导致测试效率低，出厂产品的良品率较低。

发明内容

为解决现有的针对于电子设备的测试，一般只测试电子设备的工作电压是否正常来判断电子设备是否为合格品，不具备对电子设备的解码、编码和励磁功能进行测试，无法完全测试的电子设备为合格品，导致测试效率低，出厂产品的良品率较低的问题，本发明提出一种控制面板综合测试台。

本发明提供的一种控制面板综合测试台，其特征在于，包括：控制器、总开关、熄火开关、高温控制开关、转码电路、接头、直流检测电压表、励磁调节电压表、发热装置、充电电压表、风扇和显示器；所述控制器分别与所述控制器、所述总开关、所述熄火开关、所述高温控制开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表、所述励磁调节电压表、所述发热装置、所述充电电压表、所述风扇和所述显示器连接；其中，所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接，所述转码电路用于对待测电子装置发出的信号进行转码处理，并显示在所述显示器上，当所述显示器上显示为乱码，即判定为不良品；其中，通过所述高温控制开关控制所述发热装置是否发热，以测试待测电子装置在高温环境下的励磁量是否在预设励磁量范围，从而检测是否为不良品；其中，通过所述熄火开关控制是否向待测电子装置充电，以检测待测电子装置在充电状态下的电压是否超过预设电压范围，从而检测是否为不良品；其中，通过开启所述总开关，所述直流检测电压表检测待测电子装置的工作电流，以检测待测电子装置的工作电流是否超过预设电流范围，从而检测是否为不良品。

进一步的，所述风扇用于在所述发热装置关闭发热功能时，为所述控制面板综合测试台快速散热。

进一步的，所述转码电路包括第一至第八电阻、第一至第十电容、串口和转码芯片U1；

所述第一电容的一端与所述转码芯片U1的VREF引脚电连接，另一端接地；

所述第一电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第三电容的一端电连接，所述第三电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO-引脚电连接；

所述第二电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第四电容的一端电连接，所述第四电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO+引脚电连接；

所述第二电容的一端电连接于所述第三电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片U1的PAI引脚电连接，所述第四电阻的一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片U1的R0-引脚电连接；

所述第三电阻为可调电阻，一端电连接于所述第二电容与所述第三电容之间的连接节点上，另一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上；

所述第五电容一端接地，另一端分别与所述转码芯片U1的VDD和PUI引脚电连接，+3.3V电源连接于所述第五电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上；

所述第七电容一端接地，另一端与所述转码芯片U1的VAG引脚电连接；

所述第七电阻的一端与所述转码芯片U1的AI+引脚电连接，另一端与所述第九电容的一端电连接，所述第九电容的另一端与所述显示器电连接；

所述第五电阻的两端电连接于所述转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间；

所述第六电容的两端电连接于所述转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间；

所述第八电阻的一端与所述转码芯片U1的AI-引脚，另一端与所述第十电容的一端电连接，所述第十电容的另一端与所示显示器电连接；

所述转码芯片U1的VSS引脚和Mu/A-Law引脚都接地；

所述第六电阻为可调电阻，一端与所述转码芯片U1的AO引脚电连接，另一端与所述转码芯片U1的AI-引脚；及

所述第八电容的一端与所述转码芯片U1的AO引脚电连接，另一端电连接于所述第八电阻与所述转码芯片U1之间的连接节点上。

进一步的，所述转码电路还包括第一至第八二极管、第九电阻至第十五电阻；

所述第一二极管的正极与所述第一电阻的一端电连接，负极与所述第二二极管的正极电连接，所述第二二极管的负极与所述第二电阻的一端电连接；

所述第三二极管的负极与所述第一电阻的一端电连接，正极与所述第四二极管的负极电连接，所述第四二极管的正极电连接于所述第二二极管与所述第二电阻之间的连接节点上；

所述第五二极管的正极与所述第九电容的另一端电连接，负极与所述第六二极管的正极电连接，所述第六二极管的负极与所述第十电容的另一端电连接；

所述第七二极管的负极与所述第九电容的另一端电连接，正极与所述第八二极管的负极电连接，所述第八二极管的正极电连接于所述第六二极管与所述第十电容之间的连接节点上；

所述第九电阻的一端与所述转码芯片U1的FSR引脚和FST引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十电阻的一端与所述转码芯片U1的PCMT引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十一电阻的一端与所述转码芯片U1的PCMR引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十二电阻的一端与所述转码芯片U1的BCLKR引脚、BCLKT引脚和MCLK引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十三电阻的一端与所述第十电容的另一端电连接，另一端接地；及

所述第十五电阻的一端连接+3.3V电源，另一端与所述第十四电阻的一端电连接，所述第十四电阻的另一端与所述第九电容的另一端电连接。

进一步的，所述转码芯片U1的型号为W681310RG。

本发明的有益效果为具备对电子设备的解码、编码和励磁功能及工作状态的各项数据进行综合测试，能完全测试的电子设备各方面的功能，测试效率高，出厂产品的良品率高。

附图说明

图1为本发明控制面板综合测试台一实施方式的功能模块图。

图2为图1中的转码电路一实施方式的电路图。

具体实施方式

图1为本发明控制面板综合测试台1一实施方式的结构示意图。图中，1为控制面板综合测试台，10为控制器，20为总开关，30为熄火开关，40为高温控制开关，50为转码电路，60为接头，70为直流检测电压表，80为励磁调节电压表，90为发热装置，92为充电电压表，94为风扇，96为显示器。

请参阅图1，为本发明控制面板综合测试台1一实施方式的功能模块图，在本实施方式中，控制面板综合测试台1包括：控制器10、总开关20、熄火开关30、高温控制开关40、转码电路50、接头60、直流检测电压表70、励磁调节电压表80、发热装置90、充电电压表92、风扇94和显示器96。控制器10分别与控制器10、总开关20、熄火开关30、高温控制开关40、转码电路50、接头60、直流检测电压表70、励磁调节电压表80、发热装置90、充电电压表92、风扇94和显示器96连接。

在本实施方式中，待测电子装置与接头60连接，通过直流检测电压表70、励磁调节电压表80和充电电压表92来对待测电子装置的工作电压、励磁量和充电电压的数据进行测量，当超过设定值范围，即判定为不良品。转码电路50用于对待测电子装置发出的信号进行转码处理，并显示在显示器96上。在本实施例中，当显示器96上显示为乱码，即判定为不良品。通过高温控制开关40控制发热装置90是否发热，以测试待测电子装置在高温环境下的励磁量是否在预设励磁量范围，从而检测是否为不良品。通过熄火开关30控制是否向待测电子装置充电，以检测待测电子装置在充电状态下的电压是否超过预设电压范围，从而检测是否为不良品。通过开启总开关20，直流检测电压表70检测待测电子装置的工作电流，以检测待测电子装置的工作电流是否超过预设电流范围，从而检测是否为不良品。风扇94用于在发热装置90关闭发热功能时，来为控制面板综合测试台1快速散热。

请参阅图2，为图1中的转码电路50一实施方式的电路图，在本实施方式中，转码电路50包括第一至第八电阻R1-R8、第一至第十电容C1-C10和转码芯片U1。在本实施例中，转码芯片U1的型号为W681310RG。

第一电容C1的一端与转码芯片U1的VREF引脚电连接，另一端接地，用于避免转码芯片U1被耦合干扰。第一电阻R1的一端与串口（未标示）电连接，另一端与第三电容C3的一端电连接，第三电容C3的另一端与转码芯片U1的PAO-引脚电连接。第二电阻R2的一端与串口电连接，另一端与第四电容C4的一端电连接，第四电容C4的另一端与转码芯片U1的PAO+引脚电连接。

第二电容C2的一端电连接于第三电容C3与转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与转码芯片U1的PAI引脚电连接。第四电阻R4的一端电连接于第二电容C2与转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与转码芯片U1的R0-引脚电连接。第三电阻R3为可调电阻，一端电连接于第二电容C2与第三电容C3之间的连接节点上，另一端电连接于第二电容C2与转码芯片U1之间的连接节点上。第五电容C5一端接地，另一端分别与转码芯片U1的VDD和PUI引脚电连接。+3.3V电源连接于第五电容C5与转码芯片U1之间的连接节点上。第七电容C7一端接地，另一端与转码芯片U1的VAG引脚电连接。第七电阻R7的一端与转码芯片U1的AI+引脚电连接，另一端与第九电容C9的一端电连接，第九电容C9与显示器96电连接。

第五电阻R5的两端电连接于转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间。第六电容C6的两端电连接于转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间。第八电阻R8的一端与转码芯片U1的AI-引脚，另一端与第十电容C10的一端电连接，第十电容C10的另一端与显示器96电连接。第六电阻R6为可调电阻，一端与转码芯片U1的AO引脚电连接，另一端与转码芯片U1的AI-引脚。第八电容C8的一端与转码芯片U1的AO引脚电连接，另一端电连接于第八电阻R8与转码芯片U1之间的连接节点上。转码芯片U1的VSS引脚和Mu/A-Law引脚都接地。

在本实施方式中，第三电容C3、第四电容C4、第九电容C9和第十电容C10用于隔除电路中的交流成分。第二电容C2与第三电阻R3、第五电阻R5与第六电容C6、第六电阻R6与第八电容C8均构成RC并联电路，用于滤除电路中的高频信号。

在本实施方式中，转码电路50还包括第一至第八二极管D1-D8、第九电阻至第十五电阻R9-R15。

第一二极管D1的正极与第一电阻R1的一端电连接，负极与第二二极管D2的正极电连接，第二二极管D2的负极与第二电阻R2的一端电连接。第三二极管D3的负极与第一电阻R1的一端电连接，正极与第四二极管D4的负极电连接，第四二极管D4的正极电连接于第二二极管D2与第二电阻R2之间的连接节点上。第五二极管D5的正极与第九电容C9的另一端电连接，负极与第六二极管D6的正极电连接，第六二极管D6的负极与第十电容C10的另一端电连接。第七二极管D7的负极与第九电容C9的另一端电连接，正极与第八二极管D8的负极电连接，第八二极管D8的正极电连接于第六二极管D6与第十电容C10之间的连接节点上。第一至第八二极管D1-D8用于保护电路中的输入输出信号。

第九电阻R9的一端与转码芯片U1的FSR引脚和FST引脚电连接，另一端与控制器10电连接。第十电阻R10的一端与转码芯片U1的PCMT引脚电连接，另一端与控制器10电连接。第十一电阻R11的一端与转码芯片U1的PCMR引脚电连接，另一端与控制器10电连接。第十二电阻R12的一端与转码芯片U1的BCLKR引脚、BCLKT引脚和MCLK引脚电连接，另一端与控制器10电连接。第十三电阻R13的一端与第十电容C10的另一端电连接，另一端接地。第十五电阻R15的一端连接+3.3V电源，另一端与第十四电阻R14的一端电连接，第十四电阻R14的另一端与第九电容C9的另一端电连接。

通过转码电路50的转码并显示在显示器96上，来直观的测试待测电子装置的解码和编码功能是否合格。

显然，正是由于本发明实施方式中的各硬件构成的控制面板综合测试台1，本发明的有益效果为具备对电子设备的解码、编码和励磁功能及工作状态的各项数据进行综合测试，能完全测试的电子设备各方面的功能，测试效率高，出厂产品的良品率高。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种控制面板综合测试台，其特征在于，包括：控制器、总开关、熄火开关、高温控制开关、转码电路、接头、直流检测电压表、励磁调节电压表、发热装置、充电电压表、风扇和显示器；所述控制器分别与所述总开关、所述熄火开关、所述高温控制开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表、所述励磁调节电压表、所述发热装置、所述充电电压表、所述风扇和所述显示器连接；其中，所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接，所述转码电路用于对待测电子装置发出的信号进行转码处理，并显示在所述显示器上，当所述显示器上显示为乱码，即判定为不良品；其中，通过所述高温控制开关控制所述发热装置是否发热，以测试待测电子装置在高温环境下的励磁量是否在预设励磁量范围，从而检测是否为不良品；其中，通过所述熄火开关控制是否向待测电子装置充电，以检测待测电子装置在充电状态下的电压是否超过预设电压范围，从而检测是否为不良品；其中，通过开启所述总开关，所述直流检测电压表检测待测电子装置的工作电流，以检测待测电子装置的工作电流是否超过预设电流范围，从而检测是否为不良品。

2.根据权利要求1所述的控制面板综合测试台，其特征在于，所述风扇用于在所述发热装置关闭发热功能时，为所述控制面板综合测试台快速散热。

3.根据权利要求1所述的控制面板综合测试台，其特征在于，所述转码电路包括第一至第八电阻、第一至第十电容、串口和转码芯片U1；

所述第一电容的一端与所述转码芯片U1的VREF引脚电连接，另一端接地；

所述第一电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第三电容的一端电连接，所述第三电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO-引脚电连接；

所述第二电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第四电容的一端电连接，所述第四电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO+引脚电连接；

所述第二电容的一端电连接于所述第三电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片U1的PAI引脚电连接，所述第四电阻的一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片U1的R0-引脚电连接；

所述第三电阻为可调电阻，一端电连接于所述第二电容与所述第三电容之间的连接节点上，另一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上；

所述第五电容一端接地，另一端分别与所述转码芯片U1的VDD和PUI引脚电连接，+3.3V电源连接于所述第五电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上；

所述第七电容一端接地，另一端与所述转码芯片U1的VAG引脚电连接；

所述第七电阻的一端与所述转码芯片U1的AI+引脚电连接，另一端与所述第九电容的一端电连接，所述第九电容的另一端与所述显示器电连接；

所述第五电阻的两端电连接于所述转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间；

所述第六电容的两端电连接于所述转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间；

所述第八电阻的一端与所述转码芯片U1的AI-引脚，另一端与所述第十电容的一端电连接，所述第十电容的另一端与所示显示器电连接；

所述转码芯片U1的VSS引脚和Mu/A-Law引脚都接地；

所述第六电阻为可调电阻，一端与所述转码芯片U1的AO引脚电连接，另一端与所述转码芯片U1的AI-引脚；及

所述第八电容的一端与所述转码芯片U1的AO引脚电连接，另一端电连接于所述第八电阻与所述转码芯片U1之间的连接节点上。

4.根据权利要求3所述的控制面板综合测试台，其特征在于，所述转码电路还包括第一至第八二极管、第九电阻至第十五电阻；

所述第一二极管的正极与所述第一电阻的一端电连接，负极与所述第二二极管的正极电连接，所述第二二极管的负极与所述第二电阻的一端电连接；

所述第三二极管的负极与所述第一电阻的一端电连接，正极与所述第四二极管的负极电连接，所述第四二极管的正极电连接于所述第二二极管与所述第二电阻之间的连接节点上；

所述第五二极管的正极与所述第九电容的另一端电连接，负极与所述第六二极管的正极电连接，所述第六二极管的负极与所述第十电容的另一端电连接；

所述第七二极管的负极与所述第九电容的另一端电连接，正极与所述第八二极管的负极电连接，所述第八二极管的正极电连接于所述第六二极管与所述第十电容之间的连接节点上；

所述第九电阻的一端与所述转码芯片U1的FSR引脚和FST引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十电阻的一端与所述转码芯片U1的PCMT引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十一电阻的一端与所述转码芯片U1的PCMR引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十二电阻的一端与所述转码芯片U1的BCLKR引脚、BCLKT引脚和MCLK引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；

所述第十三电阻的一端与所述第十电容的另一端电连接，另一端接地；及

所述第十五电阻的一端连接+3.3V电源，另一端与所述第十四电阻的一端电连接，所述第十四电阻的另一端与所述第九电容的另一端电连接。

5.根据权利要求4所述的控制面板综合测试台，其特征在于，所述转码芯片U1的型号为W681310RG。