CN105373139A - 一种条带式rcs成像测量用运动模拟系统与方法 - Google Patents
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Abstract
公开了一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统与方法。其中,所述系统包括:工控机、微动模拟单元、平动模拟单元。工控机用于向平动模拟单元发送控制指令,使平动结构平动;同时平动模拟单元将平动结构的平动位置信息发送至工控机。工控机还用于向微动模拟单元发送控制指令,使微动结构微动;同时微动模拟单元将微动结构的微动位置信息发送至工控机。在平动结构平动时,工控机还用于控制平动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;或者,在微动结构微动时,工控机还用于控制微动模拟单元向矢网分析仪发送同步触发脉冲。本系统可模拟待测目标的质心平动、自旋、锥旋等微运动,满足条带式RCS成像测量的需求。本发明的方法能实现系统的全部有益效果。
Description
技术领域
本发明涉及RCS成像测量领域,尤其涉及一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统与方法。
背景技术
以下对本发明的相关技术背景进行说明,但这些说明并不一定构成本发明的现有技术。
雷达散射截面(RCS)是衡量待测目标在雷达波照射下产生的回波强度的物理量,其对于目标的探测、识别以及隐身设备的研制都具有重要意义。目前,在微波暗室中主要采用静态RCS测量方式,其测量过程主要包括:将待测目标安装在低散射金属支架上,并将低散射金属支架固定在转台上;在转台转动过程中触发矢网分析仪进行RCS测量。而在真实环境中,待测目标可能会发生平动以及自旋、锥旋等微运动,从而影响RCS的测量值。
为了在微波暗室中实现对待测目标的动态RCS测量,有必要提供一种能够模拟待测目标的质心平动以及自旋等微运动的模拟系统。
发明内容
本发明的目的在于提出一种能够模拟待测目标的质心平动、自旋等微运动的模拟系统与方法,以进一步完成对待测目标的条带式RCS成像测量。
根据本发明的一个方面,提供了一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统。所述系统包括:工控机、微动模拟单元、平动模拟单元;
所述工控机用于向所述平动模拟单元发送控制指令,使所述平动模拟单元中的平动结构进行平动;同时,所述平动模拟单元将所述平动结构的平动位置信息发送至所述工控机。
所述工控机还用于向所述微动模拟单元发送控制指令,使所述微动模拟单元中的微动结构进行微动;同时,所述微动模拟单元将所述微动结构的微动位置信息发送至所述工控机。
在所述平动结构进行平动时,所述工控机还用于控制所述平动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;或者,在所述微动结构进行微动时,所述工控机还用于控制所述微动模拟单元向矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,所述微动模拟单元包括俯仰模拟单元。所述俯仰模拟单元包括依次相连的微动控制器、第一驱动器、第一伺服电机、俯仰结构,以及设置于第一伺服电机上的第一码盘。
所述微动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第一驱动器、第一伺服电机使俯仰结构进行俯仰运动;在所述俯仰结构进行俯仰运动时,所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
第一码盘用于确定俯仰位置信息,并将所述俯仰位置信息通过第一驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
优选的,所述微动模拟单元还包括锥旋模拟单元。所述锥旋模拟单元包括依次相连的微动控制器、第二驱动器、第二伺服电机、锥旋结构,以及设置于第二伺服电机上的第二码盘。
所述微动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第二驱动器、第二伺服电机使锥旋结构进行锥旋运动;在所述锥旋结构进行锥旋运动时,所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
第二码盘用于确定锥旋位置信息,并将所述锥旋位置信息通过第二驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
优选的,所述微动模拟单元还包括自旋模拟单元。所述自旋模拟单元包括依次相连的微动控制器、第三驱动器、第三伺服电机、自旋结构,以及设置于自旋结构的第三码盘。
所述微动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第三驱动器、第三伺服电机使自旋结构进行自旋运动;在所述自旋结构进行自旋运动时,所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
第三码盘用于确定自旋位置信息,并将所述自旋位置信息通过第三驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
优选的,所述平动模拟单元包括依次相连的平动控制器、第四驱动器、第四伺服电机、平动结构,以及设置于平动结构上的光栅尺。
所述平动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第四驱动器、第四伺服电机使平动结构进行平动;在所述平动结构进行平动时,所述平动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
所述光栅尺用于确定平动位置信息,并将所述平动位置信息通过所述平动控制器发送至所述工控机。
根据本发明的另一方面,提供了一种条带式RCS成像测量用运动模拟方法。所述方法包括:
S1、工控机向微动模拟单元和/或平动模拟单元发送控制指令。
S2、所述微动模拟单元接收所述工控机发送的控制指令,并根据所述控制指令使微动模拟单元中的微动结构进行微动,同时,所述微动模拟单元将所述微动结构的微动位置信息发送至所述工控机;和/或,所述平动模拟单元接收所述工控机发送的控制指令,并根据所述控制指令使平动模拟单元中的平动结构进行平动,同时,所述平动模拟单元将所述平动结构的平动位置信息发送至所述工控机。
S3、在所述微动结构进行微动时,所述工控机控制所述微动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;或者,在所述平动结构进行平动时,所述工控机控制所述平动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,所述微动模拟单元包括俯仰模拟单元,其俯仰运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令。
所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第一驱动器、第一伺服电机使俯仰结构进行俯仰运动;同时,第一码盘将俯仰结构的俯仰位置信息通过第一驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
在所述俯仰结构进行俯仰运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,所述微动模拟单元包括锥旋模拟单元,其锥旋运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令。
所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第二驱动器、第二伺服电机使锥旋结构进行锥旋运动;同时,第二码盘将锥旋结构的锥旋位置信息通过第二驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
在所述锥旋结构进行锥旋运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,所述微动模拟单元包括自旋模拟单元,其自旋运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令。
所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第三驱动器、第三伺服电机使自旋结构进行自旋运动;同时,第三码盘将自旋结构的自旋位置信息通过第三驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
在所述自旋结构进行自旋运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,所述平动模拟单元的平动模拟过程具体包括:
工控机向平动控制器发送控制指令。
所述平动控制器接收所述控制指令,并依次通过第四驱动器、第四伺服电机使平旋结构进行平动;同时,光栅尺将平动结构的平动位置信息通过所述平动控制器发送至所述工控机。
在所述平动结构进行平动时,所述平动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
根据本发明的技术方案,提供了一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统与方法。本发明的系统包括微动模拟单元和平动模拟单元,可用于模拟待测目标的微运动与质心平动;由于本发明的系统能实现待测目标沿直线方向进行平动,因此能够满足条带式RCS成像测量的需求;通过接收微动模拟单元和平动模拟单元反馈的位置信息,可实现对待测目标的精准定位。
附图说明
通过以下参照附图而提供的具体实施方式部分,本发明的特征和优点将变得更加容易理解,在附图中:
图1是本发明实施例的条带式RCS成像测量用运动模拟系统的结构示意图;
图2是本发明实施例的条带式RCS成像测量用运动模拟方法的流程图;
1、工控机;2、微动模拟单元;3、平动模拟单元;201、微动控制器;212、第一驱动器;213、第一伺服电机;214、俯仰结构;215、第一码盘;222、第二驱动器;223、第二伺服电机;224、锥旋结构;225、第二码盘;232、第三驱动器;233、第三伺服电机;234、自旋结构;235、第三码盘;311、平动控制器;312、第四驱动器313、第四伺服电机;314、平动结构;315、光栅尺。
具体实施方式
下面参照附图对本发明的示例性实施方式进行详细描述。对示例性实施方式的描述仅仅是出于示范目的,而绝不是对本发明及其应用或用法的限制。
针对在微波暗室中进行动态RCS测量的需求,本发明提供了一种能够模拟待测目标的质心平动以及自旋等微运动的模拟系统。
本发明的主要思路是,设计了一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统和方法。其中,所述系统包括:工控机、微动模拟单元、平动模拟单元。工控机能向平动模拟单元、微动模拟单元发送控制指令,使平动机构进行平动、微动机构进行微动,同时工控机能接收平动模拟单元、微动模拟单元反馈的位置信息;在平动结构进行平动、微动结构进行微动时,工控机还能控制所述微动模拟单元向矢网分析仪发送同步触发脉冲。
下面结合附图对本发明的技术方案进行详细说明。本发明实施例的条带式RCS成像测量用运动模拟系统,如图1所示,包括:工控机1、微动模拟单元2、平动模拟单元3。
其中,工控机1可以向平动模拟单元3发送控制指令,使平动模拟单元3中的平动结构314进行平动。同时,平动模拟单元3可将平动结构314的平动位置信息发送至工控机1。工控机1还用于向微动模拟单元2发送控制指令,使微动模拟单元2中的微动结构(图中未示出)进行微动。同时,微动模拟单元2将微动结构中的微动位置信息发送至工控机1。在平动结构314进行平动时,工控机1还可用于控制平动模拟单元3向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。在微动结构进行微动时,工控机1也可用于控制微动模拟单元2向矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,微动模拟单元2包括俯仰模拟单元(图中未示出),微动机构包括俯仰结构214。俯仰模拟单元包括微动控制器201、第一驱动单元212、第一伺服电机213、俯仰结构214,以及设置于第一伺服电机213上的第一码盘215。
其中,俯仰模拟单元模拟待测物体进行俯仰运动的具体过程包括:微动控制器201接收工控机1的控制指令,并根据所述控制指令通过第一驱动器212、第一伺服电机213使俯仰结构214进行俯仰运动。在俯仰结构214进行俯仰运动的同时,第一码盘215可将当前俯仰结构214的俯仰角度信息通过第一驱动器212、微动控制器201发送至工控机1。进一步的,在俯仰结构214进行俯仰运动时,工控机1可通过微动控制器201向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲,从而使RCS矢网分析仪采集待测物体当前位置的电磁散射特性数据,并传递给工控机1,以进行后续RCS数据处理过程。
优选的,微动模拟单元2包括锥旋模拟单元(图中未示出),微动结构包括锥旋结构224。锥旋模拟单元包括依次相连的微动控制器201、第二驱动器222、第二伺服电机223、锥旋结构224,以及设置于第二伺服电机223上的第二码盘225。
其中,锥旋模拟单元模拟待测物体进行锥旋运动的具体过程包括:微动控制器201接收工控机1的控制指令,并根据所述控制指令通过第二驱动器222、第二伺服电机223使锥旋结构224进行锥旋运动。在锥旋结构224进行锥旋运动的同时,第二码盘225可将当前锥旋机构224的锥旋角度信息通过第二驱动器222、微动控制器201发送至工控机1。进一步地,在锥旋结构224进行锥旋运动时,微动控制器201还可根据工控机1的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,微动模拟单元2还包括自旋模拟单元(图中未示出),微动结构包括自旋结构234。自旋模拟单元包括依次相连的微动控制器201、第三驱动器232、第三伺服电机233、自旋结构234,以及设置于自旋结构的第三码盘235。
其中,自旋模拟单元模拟待测物体进行自旋运动的具体过程包括:微动控制器201接收工控机1的控制指令,并根据所述控制指令通过第三驱动器232、第三伺服电机233使自旋结构234进行自旋运动。在自旋结构234进行自旋运动的同时,第三码盘235可将当前自旋结构234的自旋角度信息通过通过第三驱动器232、微动控制器201发送至工控机1。进一步地,在自旋结构234进行自旋运动的同时,微动控制器201还可根据工控机1的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
优选的,平动模拟单元3包括依次相连的平动控制器311、第四驱动器312、第四伺服电机313、平动结构314,以及设置于平动结构上的光栅尺315。
其中,平动模拟单元3模拟待测物体进行质心平动的具体过程包括:平动控制器311接收工控机1的控制指令,并根据所述控制指令通过第四驱动器312、第四伺服电机313使平动结构314进行平动。在平动结构314进行平动的同时,光栅尺315可将当前平动结构314的平动位置信息发送至平动控制器311,随后平动控制器311再将所述平动位置信息发送至工控机1。进一步地,平动控制器311还可根据工控机1的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
在具体实施时,工控机1可通过多种联动工作模式控制微动模拟单元2与平动模拟单元3进行微动、平动,比如单轴联动、两轴联动、三轴联动工作模式。下面以锥旋、自旋、平动三轴联动测试流程为例进行说明。所述锥旋、自旋、平动三轴联动测试流程具体包括:
S01、联动初始时,使平动结构314、锥旋结构224、自旋结构234回到初始位置。
S02、使平动结构314运动单位距离l。
S03、使锥旋结构224转动单位角度α。
S04、使自旋结构234以单位角度β进行转动,并同时向矢网分析仪发送同步触发脉冲,以使矢网分析仪进行数据采集。
S05、判断自旋转动是否达到设定值。当自旋转动未达到设定值时,返回步骤S04。当自旋转动达到设定值时,进入步骤S06。
S07、判断锥旋转动是否达到设定值。当锥旋转动未达到设定值时,返回步骤S03。当锥旋转动达到设定值时,进入步骤S08。
S08、判断平动是否达到设定值。当平动未达到设定值时,返回步骤S02。当平动达到设定值时,结束联动测试流程。
本发明实施例的运动模拟系统包括微动模拟单元和平动模拟单元,可用于模拟待测目标的微运动与质心平动;由于本发明的系统能实现待测目标沿直线方向进行平动,因此能够满足条带式RCS成像测量的需求;通过接收微动模拟单元和平动模拟单元反馈的位置信息,可实现对待测目标的精准定位。
另外,本发明实施例还提供了一种条带式RCS成像测量用运动模拟方法。所述方法始于步骤S1。
S1、工控机向微动模拟单元和/或平动模拟单元发送控制指令。
在具体实施时,工控机可根据预先设置的联动模式向微动模拟单元、平动模拟单元发送控制指令。
S2、所述微动模拟单元接收所述工控机发送的控制指令,并根据所述控制指令使微动模拟单元中的微动结构进行微动,同时,所述微动模拟单元将所述微动结构的微动位置信息发送至所述工控机;和/或,所述平动模拟单元接收所述工控机发送的控制指令,并根据所述控制指令使平动模拟单元中的平动结构进行平动,同时,所述平动模拟单元将所述平动结构的平动位置信息发送至所述工控机。
在本发明实施例中,优选的,微动模拟单元包括俯仰模拟单元。其俯仰运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令;所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第一驱动器、第一伺服电机使俯仰结构进行俯仰运动;同时,第一码盘将俯仰结构的俯仰位置信息通过第一驱动器、微动控制器发送至所述工控机;在所述俯仰结构进行俯仰运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
在本发明实施例中,优选的,微动模拟单元还包括锥旋模拟单元。其锥旋运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令;所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第二驱动器、第二伺服电机使锥旋结构进行锥旋运动;同时,第二码盘将锥旋结构的锥旋位置信息通过第二驱动器、微动控制器发送至所述工控机;在所述锥旋结构进行锥旋运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
在本发明实施例中,优选的,微动模拟单元还包括自旋模拟单元,其自旋运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令;所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第三驱动器、第三伺服电机使自旋结构进行自旋运动;同时,第三码盘将自旋结构的自旋位置信息通过第三驱动器、微动控制器发送至所述工控机;在所述自旋结构进行自旋运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
另外,在本发明实施例中,平动模拟单元的平动模拟过程具体包括:
工控机向平动控制器发送控制指令;所述平动控制器接收所述控制指令,并依次通过第四驱动器、第四伺服电机使平旋结构进行平动;同时,光栅尺将平动结构的平动位置信息通过所述平动控制器发送至所述工控机。在所述平动结构进行平动时,所述平动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
S3、在所述微动结构进行微动时,所述工控机控制所述微动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;和/或,在所述平动结构进行平动时,所述工控机控制所述平动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
在具体实施时,根据设置的联动模式的不同,可以在俯仰结构转动单位角度的同时发送同步触发脉冲,也可以在锥旋结构或自旋结构转动单位角度的同时发送同步触发脉冲。或者,当只有平动结构进行的平动时,可以在平动结构平动单位距离是发送同步触发脉冲。
根据本发明的方法,能够模拟待测目标的微运动与质心平动,同时能够满足条带式RCS成像测量的需求。另外,通过接收微动模拟单元和平动模拟单元反馈的位置信息,可实现对待测目标的精准定位。
虽然参照示例性实施方式对本发明进行了描述,但是应当理解,本发明并不局限于文中详细描述和示出的具体实施方式,在不偏离权利要求书所限定的范围的情况下,本领域技术人员可以对所述示例性实施方式做出各种改变。
Claims (10)
1.一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统,其特征在于,所述系统包括:工控机、微动模拟单元、平动模拟单元;
所述工控机用于向所述平动模拟单元发送控制指令,使所述平动模拟单元中的平动结构进行平动;同时,所述平动模拟单元将所述平动结构的平动位置信息发送至所述工控机;
所述工控机还用于向所述微动模拟单元发送控制指令,使所述微动模拟单元中的微动结构进行微动;同时,所述微动模拟单元将所述微动结构的微动位置信息发送至所述工控机;
在所述平动结构进行平动时,所述工控机还用于控制所述平动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;或者,在所述微动结构进行微动时,所述工控机还用于控制所述微动模拟单元向矢网分析仪发送同步触发脉冲。
2.如权利要求1所述的系统,其中,所述微动模拟单元包括俯仰模拟单元;
所述俯仰模拟单元包括依次相连的微动控制器、第一驱动器、第一伺服电机、俯仰结构,以及设置于第一伺服电机上的第一码盘;
所述微动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第一驱动器、第一伺服电机使俯仰结构进行俯仰运动;在所述俯仰结构进行俯仰运动时,所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;
第一码盘用于确定俯仰位置信息,并将所述俯仰位置信息通过第一驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
3.如权利要求2所述的系统,其中,所述微动模拟单元还包括锥旋模拟单元;
所述锥旋模拟单元包括依次相连的微动控制器、第二驱动器、第二伺服电机、锥旋结构,以及设置于第二伺服电机上的第二码盘;
所述微动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第二驱动器、第二伺服电机使锥旋结构进行锥旋运动;在所述锥旋结构进行锥旋运动时,所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;
第二码盘用于确定锥旋位置信息,并将所述锥旋位置信息通过第二驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
4.如权利要求3所述的系统,其中,所述微动模拟单元还包括自旋模拟单元;
所述自旋模拟单元包括依次相连的微动控制器、第三驱动器、第三伺服电机、自旋结构,以及设置于自旋结构的第三码盘;
所述微动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第三驱动器、第三伺服电机使自旋结构进行自旋运动;在所述自旋结构进行自旋运动时,所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;
第三码盘用于确定自旋位置信息,并将所述自旋位置信息通过第三驱动器、微动控制器发送至所述工控机。
5.如权利要求1所述的系统,其中,所述平动模拟单元包括依次相连的平动控制器、第四驱动器、第四伺服电机、平动结构,以及设置于平动结构上的光栅尺;
所述平动控制器用于接收工控机的控制指令,并根据所述控制指令通过第四驱动器、第四伺服电机使平动结构进行平动;在所述平动结构进行平动时,所述平动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;
所述光栅尺用于确定平动位置信息,并将所述平动位置信息通过所述平动控制器发送至所述工控机。
6.一种条带式RCS成像测量用运动模拟方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、工控机根据预设的联动模式向微动模拟单元和/或平动模拟单元发送控制指令;
S2、所述微动模拟单元接收所述工控机发送的控制指令,并根据所述控制指令使微动模拟单元中的微动结构进行微动,同时,所述微动模拟单元将所述微动结构的微动位置信息发送至所述工控机;和/或,所述平动模拟单元接收所述工控机发送的控制指令,并根据所述控制指令使平动模拟单元中的平动结构进行平动,同时,所述平动模拟单元将所述平动结构的平动位置信息发送至所述工控机;
S3、在所述微动结构进行微动时,所述工控机控制所述微动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲;或者,在所述平动结构进行平动时,所述工控机控制所述平动模拟单元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
7.如权利要求6所述的方法,其中,所述微动模拟单元包括俯仰模拟单元,其俯仰运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令;
所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第一驱动器、第一伺服电机使俯仰结构进行俯仰运动;同时,第一码盘将俯仰结构的俯仰位置信息通过第一驱动器、微动控制器发送至所述工控机;
在所述俯仰结构进行俯仰运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
8.如权利要求7所述的方法,其中,所述微动模拟单元包括锥旋模拟单元,其锥旋运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令;
所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第二驱动器、第二伺服电机使锥旋结构进行锥旋运动;同时,第二码盘将锥旋结构的锥旋位置信息通过第二驱动器、微动控制器发送至所述工控机;
在所述锥旋结构进行锥旋运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
9.如权利要求8所述的方法,其中,所述微动模拟单元包括自旋模拟单元,其自旋运动模拟过程具体包括:
工控机向微动控制器发送控制指令;
所述微动控制器接收所述控制指令,并依次通过第三驱动器、第三伺服电机使自旋结构进行自旋运动;同时,第三码盘将自旋结构的自旋位置信息通过第三驱动器、微动控制器发送至所述工控机;
在所述自旋结构进行自旋运动时,所述微动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
10.如权利要求9所述的方法,其中,所述平动模拟单元的平动模拟过程具体包括:
工控机向平动控制器发送控制指令;
所述平动控制器接收所述控制指令,并依次通过第四驱动器、第四伺服电机使平旋结构进行平动;同时,光栅尺将平动结构的平动位置信息通过所述平动控制器发送至所述工控机;
在所述平动结构进行平动时,所述平动控制器还根据所述控制指令向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲。
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CN201510828413.3A Active CN105373139B (zh) | 2015-11-25 | 2015-11-25 | 一种条带式rcs成像测量用运动模拟系统与方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN105373139B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107064889A (zh) * | 2017-03-10 | 2017-08-18 | 北京环境特性研究所 | 一种高分辨微动目标成像系统综合测试平台 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0942294A2 (de) * | 1998-03-09 | 1999-09-15 | Siemens Schweiz AG (Siemens Suisse SA) (Siemens Svizzera SA) Siemens Switzerland Ltd) | Verfahren zur Seitenkeulenunterdrückung und Amplituden- oder Phasen-Monopulsradargerät |
CN104459662A (zh) * | 2014-11-27 | 2015-03-25 | 北京环境特性研究所 | 一种基于小波多尺度分析的微动目标特征提取方法及系统 |
CN104569926A (zh) * | 2015-01-06 | 2015-04-29 | 北京环境特性研究所 | 一种地物波谱rcs测量的控制方法及系统 |
-
2015
- 2015-11-25 CN CN201510828413.3A patent/CN105373139B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0942294A2 (de) * | 1998-03-09 | 1999-09-15 | Siemens Schweiz AG (Siemens Suisse SA) (Siemens Svizzera SA) Siemens Switzerland Ltd) | Verfahren zur Seitenkeulenunterdrückung und Amplituden- oder Phasen-Monopulsradargerät |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107064889A (zh) * | 2017-03-10 | 2017-08-18 | 北京环境特性研究所 | 一种高分辨微动目标成像系统综合测试平台 |
CN107064889B (zh) * | 2017-03-10 | 2019-06-18 | 北京环境特性研究所 | 一种高分辨微动目标成像系统综合测试平台 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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CN105373139B (zh) | 2017-11-17 |
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