CN105356952A - 一种无源互调检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种无源互调PIM检测装置，用于判断PIM指标是否达标，并快速确定PIM的类型及PIM源的位置。本发明实施例PIM检测装置包括：显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头；所述射频连接器用于获取所述待测设备在射频接口输出的第一PIM信号；所述近场探头用于获取所述待测设备内部的第二PIM信号；所述处理模块用于对所述射频连接器获取的所述第一PIM信号及所述近场探头获取的所述第二PIM信号进行处理；所述显示模块用于显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后第二PIM信号，本发明实施例还公开了一种无源互调检测方法，用于判断PIM指标是否达标，并快速确定PIM的类型及PIM源的位置。

Description

一种无源互调检测装置及方法

技术领域

本发明涉及通信领域，尤其涉及一种无源互调检测装置及方法。

背景技术

无源互调(PassiveInter-Modulation)，简称PIM，又叫互调失真，是由射频系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的一些频率分量，而这些频率分量和工作频率混合在一起进入工作系统，如果这些无用的频率分量足够大，就会影响通信系统的正常工作。正因为PIM是无源器件本身的非线性引起的，因此，只要有无源器件存在的射频系统，就必然有PIM的产生，PIM互调失真是影响射频系统正常工作的干扰之一。

由于无源互调值非常小，因此无源互调的测量非常困难。到目前为止，无源互调的测量项目和测量方法尚无相应的国际标准，通常都是采用IEC推荐的正向和反射互调产物的测量方法。

但是现有测试方法，只能获取射频接口处的PIM信号，通过该PIM信号只能判断PIM指标是否达标，不能进一步判断那哪种类型的PIM问题，对后续的定位不能提供更多的信息。

发明内容

本发明实施例提供了一种无源互调检测装置及方法，用于判断PIM指标是否达标，并快速确定PIM的类型及PIM源的位置，为用户解决PIM问题提供有效信息。

有鉴于此，本发明实施例第一方面提供一种无源互调PIM检测装置，包括：显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头；

所述射频连接器用于获取所述待测设备在射频接口输出的第一PIM信号；

所述近场探头用于获取所述待测设备内部的第二PIM信号；

所述处理模块用于对所述射频连接器获取的所述第一PIM信号及所述近场探头获取的所述第二PIM信号进行处理；

所述显示模块用于显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后第二PIM信号。

结合本发明第一方面，在本发明第一方面的第一实施方式中，所述PIM检测装置包括多个所述近场探头。

结合本发明第一方面的第一实施方式，在本发明第一方面的第二实施方式中，每个所述近场探头相隔预置距离。

结合本发明第一方面、第一方面的第一实施方式或第二实施方式，，在本发明第一方面的第三实施方式中，所述近场探头通过耦合方式与所述待测设备连接。

结合本发明第一方面、第一方面的第一实施方式或第二实施方式，，在本发明第一方面的第四实施方式中，所述显示模块用于在同一坐标平面上同时显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

结合本发明第一方面、第一方面的第一实施方式或第二实施方式，，在本发明第一方面的第五实施方式中，所述处理模块包括：功率放大器及滤波器；

所述滤波器用于对所述第一PIM信号进行滤波处理；

所述功率放大器用于对所述第二PIM信号及所述滤波器处理后的第一PIM信号进行功率放大处理。

本发明第二方面提供一种PIM检测方法，包括：

PIM检测装置获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号及所述待检测设备内部的第二PIM信号；

所述PIM检测装置对所述第一PIM信号及所述第二PIM信号进行处理；

所述PIM检测装置显示所述处理后的第一PIM信号及所述处理后的第二PIM信号。

结合本发明第二方面，在本发明第二方面的第一实施方式中，所述第二PIM信号包含多组PIM信号。

结合本发明第二方面的第一实施方式，在本发明第二方面的第二实施方式中，所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的第二PIM信号包括：

所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的多个位置的PIM信号，每个位置对应一组PIM信号，且所述每个位置相隔预置距离。

结合本发明第二方面或本发明第二方面的第一实施方式，在本发明第二方面的第三实施方式中，所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的第二PIM信号包括：

所述PIM检测装置通过耦合方式获取所述待检测设备内部的第二PIM信号。

结合本发明第二方面、本发明第二方面的第一实施方式或第二实施方式，在本发明第二方面的第四实施方式中，所述PIM检测装置显示所述处理后的第一PIM信号及所述处理后的第二PIM信号包括：

所述PIM检测装置在同一坐标平面上同时显示所述处理后的第一PIM信号及所述处理后的第二PIM信号。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例中PIM检测装置包括显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头，其中，射频连接器用于获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号，近场探头用于获取待测设备内部的第二PIM信号，显示模块用于显示处理模块处理后的第一PIM信号及第二PIM信号。利用近场探头远离辐射源后幅度快速衰减特性，用户通过对比第一PIM信号幅度及第二PIM信号幅度，可以快速区分出是传导类PIM还是辐射类PIM，并且通过对比分析各近场探头之间幅度和相位关系，可快速定位出辐射类PIM源的位置。也就是说，本方案不仅可以判断PIM指标是否达标，还能快速确定PIM的类型及PIM源的位置，为用户解决PIM问题提供有效信息。

附图说明

图1为本发明实施例中无源互调检测装置的一个实施例示意图；

图2为本发明实施例中无源互调检测装置的另一实施例示意图；

图3为本发明实施例中显示模块显示第一PIM信号及第二PIM信号的示意图；

图4为本发明实施例中无源互调检测方法的一个实施例示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种无源互调检测装置及方法，用于判断PIM指标是否达标，并快速确定PIM的类型及PIM源的位置，为用户解决PIM问题提供有效信息。

请参阅图1，本发明实施例中无源互调检测装置100的一个实施例包括：

射频连接器101，用于获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号；

近场探头102，用于获取待测设备内部的第二PIM信号；

处理模块103，用于对射频连接器获取的第一PIM信号及近场探头获取的第二PIM信号进行处理；

显示模块104，用于显示出来模块103处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

需要说明的是，本发明实施例中待测设备可以是基站，可以是路由设备，还可以是其他包含有无源器件的设备，具体此处不作限定。

用户在使用无源互调检测装置的检测PIM信号的过程中，需要先向待测设备输入测试信号，该测试信号至少包含两个不同频率的信号，测试信号可以是信号源通过无源互调检测装置的射频连接器输入的，也可以是通过其他方式输入的，具体此处不作限定。

用户通过显示模块103显示的第一PIM信号可以判断PIM指标是否达标，具体判断过程与现有技术相似，此处不再赘述。

用户对比显示模块104显示的第一PIM信号与第二PIM信号，如果第一PIM信号的幅度不是显示模块104显示的多组PIM信号中幅度最高的PIM信号，则用户可以确定该PIM源属于辐射类PIM，并且，辐射源在近场探头102所放置的位置附近；如果第一PIM信号的幅度是显示模块104显示的多组PIM信号中幅度最高的PIM信号，则用户可以调整近场探头102的位置，如果调整后第一PIM信号的幅度仍然是显示模块104显示的多组信号中幅度最高的PIM信号，那么用户可以确定该PIM源属于传导类PIM，PIM产生在通道上。

本发明实施例中PIM检测装置包括显示模块104、处理模块103、射频连接器101及近场探头102，其中，射频连接器101用于获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号，近场探头102用于获取待测设备内部的第二PIM信号，显示模块104用于显示处理模块103处理后的第一PIM信号及第二PIM信号。利用近场探头远离辐射源后幅度快速衰减特性，用户通过对比第一PIM信号幅度及第二PIM信号幅度，可以快速区分出是传导类PIM还是辐射类PIM，并且通过对比分析各近场探头之间幅度和相位关系，可快速定位出辐射类PIM源的位置。也就是说，本方案不仅可以判断PIM指标是否达标，还能快速确定PIM的类型及PIM源的位置，为用户解决PIM问题提供有效信息。

为了便于理解，下面对本发明实施例中的PIM检测装置进行详细描述，请参阅图2，本发明实施例中PIM检测装置的另一实施例包括：

射频连接器201，用于获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号；

近场探头202，用于获取待测设备内部的第二PIM信号；

处理模块203，用于对射频连接器获取的第一PIM信号及近场探头获取的第二PIM信号进行处理；

显示模块204，用于显示出来模块203处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号；

在本发明实施例中，无源互调检测装置包括多个近场探头202，这多个近场探头202置于待测设备内部，用于获取待测设备内部的多组第二PIM信号。其中，这多个近场探头202的放置方式可以是每相隔预置距离放置一个，也可以置于待测设备内部的任意位置，具体此处不作限定。

可选地，近场探头202可以通过耦合的方式与待测设备连接。

可选地，显示模块204还用于在同一坐标平面上同时显示处理模块203处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

可选地，处理模块203包括功率放大器2031及滤波器2032，

滤波器2031用于对第一PIM信号进行滤波处理；

功率放大器2032用于对第二PIM信号及滤波器2031处理后的第一PIM信号进行功率放大处理；

需要说明的是，本发明实施例中待测设备可以是基站，可以是路由设备，还可以是其他包含有无源器件的设备，具体此处不作限定。

用户在使用无源互调检测装置的检测PIM信号的过程中，需要先向待测设备输入测试信号，该测试信号至少包含两个不同频率的信号，测试信号可以是信号源通过无源互调检测装置的射频连接器输入的，也可以是通过其他方式输入的，具体此处不作限定。

用户通过显示模块203显示的第一PIM信号可以判断PIM指标是否达标，具体判断过程与现有技术相似，此处不再赘述。

需要说明的是，无源互调检测装置包含多个近场探头202时，近场探头202获取到的第二PIM信号也具有多组，每个位置的近场探头202对应一组第二PIM信号，显示模块204显示的第二PIM信号也具有多组，则用户确定PIM类型时，需要对比第一PIM信号与多组第二PIM信号，如果第一PIM信号的幅度不是显示模块204显示的多组PIM信号中幅度最高的PIM信号，则用户可以确定该PIM源属于辐射类PIM，并且辐射源在多组第二PIM信号中幅度最高的信号对应的近场探头所放置的位置附近；如果第一PIM信号的幅度是显示模块204显示的多组PIM信号中幅度最高的PIM信号，则用户可以调整多个近场探头的位置，如果调整后第一PIM信号的幅度仍然是幅度最高的PIM信号，则用户可以确定该待测设备的PIM源属于传导类PIM，PIM产生在通道上。

例如，无源互调检测装置包含有A、B、C、D四个近场探头，以及一个射频连接器E，通过上述实施例描述的方式与待测设备连接及检测，显示模块显示的结果如图3所示，由图可以看出，E通道幅度不是最高的，所以待测设备的PIM源属于辐射类PIM，并且由图可以看出A通道对应的幅度是最高的，所以待测设备的PIM源在近场探头A的附近。

本发明实施例中PIM检测装置包括显示模块204、处理模块203、射频连接器201及近场探头202，其中，射频连接器201用于获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号，近场探头202用于获取待测设备内部的第二PIM信号，显示模块204用于显示处理模块203处理后的第一PIM信号及第二PIM信号。利用近场探头远离辐射源后幅度快速衰减特性，用户通过对比第一PIM信号幅度及第二PIM信号幅度，可以快速区分出是传导类PIM还是辐射类PIM，并且通过对比分析各近场探头之间幅度和相位关系，可快速定位出辐射类PIM源的位置。也就是说，本方案不仅可以判断PIM指标是否达标，还能快速确定PIM的类型及PIM源的位置，为用户解决PIM问题提供有效信息。

其次，本发明实施例中，检测装置包括多个近场探头，可以检测到待测设备内部的多个位置的第二PIM信号，提高了辐射类PIM源定位的检测精度。

再次，本发明实施例中，显示模块204可以在同一平面上同时显示第一PIM信号及第二PIM信号，便于用户对多组PIM信号的观察及比较，从而能够更快速的确定PIM源的类型及位置。

上面介绍了本发明实施例中的无源互调检测装置，下面介绍本发明实施例中与所述无源互调检测装置对应的无源互调检测方法，请参阅图4，本发明实施例中无源互调检测方法的一个实施例包括：

401、PIM检测装置获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号及待测设备内部的第二PIM信号；

将PIM检测装置的射频连接器与待测设备的射频接口连接，将近场探头置于待测设备的内部，向待测设备输入测试信号，使得待测设备产生PIM信号，PIM检测装置通过射频连接器获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号，并且通过近场探头获取待测设备内部的第二PIM信号。

需要说明的是，本发明实施例中待测设备可以是基站，可以是路由设备，还可以是其他包含有无源器件的设备，具体此处不作限定。

402、PIM检测装置对第一PIM信号及第二PIM信号进行处理；

PIM检测装置获取第一PIM信号及第二PIM信号后，通过处理模块对第一PIM信号及第二PIM信号进行处理。处理方式可以包括功率放大、滤波或傅里叶变换，还可以包括其他处理方式，具体此处不作限定。

403、PIM检测装置显示处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

PIM检测装置对第一PIM信号及第二PIM信号进行处理后，通过显示模块显示处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

用户通过PIM检测装置显示的第一PIM信号可以判断PIM指标是否达标，具体判断过程与现有技术相似，此处不再赘述。

用户通过对比显示模块显示的第一PIM信号与第二PIM信号可以确定PIM源的类型及位置，具体地，如果第一PIM信号的幅度不是PIM检测装置显示的多组PIM信号中幅度最高的PIM信号，则用户可以确定该PIM源属于辐射类PIM，并且，辐射源在近场探头所放置的位置附近；如果第一PIM信号的幅度是PIM检测装置显示的多组PIM信号中幅度最高的PIM信号，则用户可以调整近场探头的位置，如果调整后第一PIM信号的幅度仍然是显示模块显示的多组信号中幅度最高的PIM信号，那么用户可以确定该PIM源属于传导类PIM，PIM产生在通道上。

本发明实施例中PIM检测装置可以获取待测设备在射频接口输出第一PIM及待测设备内部的第二PIM信号，并且对该第一PIM信号及第二PIM信号进行处理及显示。利用近场探头远离辐射源后幅度快速衰减特性，用户通过对比第一PIM信号幅度及第二PIM信号幅度，可以快速区分出是传导类PIM还是辐射类PIM，并且通过对比分析各近场探头之间幅度和相位关系，可快速定位出辐射类PIM源的位置。也就是说，本方案不仅可以判断PIM指标是否达标，还能快速确定PIM的类型及PIM源的位置，为用户解决PIM问题提供有效信息。

请继续参阅图4，本发明实施例无源互调检测方法的另一实施例中，第二PIM信号可以包含多组PIM信号，PIM检测装置获取待测设备内部的第二PIM信号具体可以通过如下方式：

可以将多个近场探头置于待测设备内部的多个位置，PIM检测装置通过多个近场探头获取待测设备内部多个位置的PIM信号。可以理解的是，多个近场探头可以在待测设备的内部每相隔预置距离放置一个，每个位置对应一组PIM信号，也可以放置在待测设备内部的任意位置，具体此处不作限定。

另外，可以将近场探头通过耦合方式与待测设备连接，即PIM检测装置可以通过耦合方式获取待测设备内部的第二PIM信号。

本发明实施例中，PIM检测装置可以获取多个位置的PIM信号，提高了辐射类PIM源定位的检测精度。

其次，本发明实施例提供了一种PIM检测装置获取PIM信号的具体方式，提高了方案的可实现性。

请继续参阅图4，本发明实施例无源互调检测方法的另一实施例中，本发明实施例中，PIM检测装置可以通过如下方式显示处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号：

PIM检测装置在同一坐标平面上同时显示处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

本发明实施例中，PIM检测装置可以在同一坐标平面上同时显示多组PIM信号，便于用户对这多组PIM信号的观察和比较，能够更快速的确定PIM源的类型及位置。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (11)

1.一种无源互调PIM检测装置，其特征在于，包括：显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头；

所述射频连接器用于获取所述待测设备在射频接口输出的第一PIM信号；

所述近场探头用于获取所述待测设备内部的第二PIM信号；

所述处理模块用于对所述射频连接器获取的所述第一PIM信号及所述近场探头获取的所述第二PIM信号进行处理；

所述显示模块用于显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后第二PIM信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述PIM检测装置包括多个所述近场探头。

3.根据权利要求2所述的方法，每个所述近场探头相隔预置距离。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述近场探头通过耦合方式与所述待测设备连接。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述显示模块用于在同一坐标平面上同时显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后的第二PIM信号。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述处理模块包括：功率放大器及滤波器；

所述滤波器用于对所述第一PIM信号进行滤波处理；

所述功率放大器用于对所述第二PIM信号及所述滤波器处理后的第一PIM信号进行功率放大处理。

7.一种PIM检测方法，其特征在于，包括：

PIM检测装置获取待测设备在射频接口输出的第一PIM信号及所述待检测设备内部的第二PIM信号；

所述PIM检测装置对所述第一PIM信号及所述第二PIM信号进行处理；

所述PIM检测装置显示所述处理后的第一PIM信号及所述处理后的第二PIM信号。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第二PIM信号包含多组PIM信号。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的第二PIM信号包括：

所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的多个位置的PIM信号，每个位置对应一组PIM信号，且所述每个位置相隔预置距离。

10.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的第二PIM信号包括：

所述PIM检测装置通过耦合方式获取所述待检测设备内部的第二PIM信号。

11.根据权利要求7至9中任一项所述的方法，其特征在于，所述PIM检测装置显示所述处理后的第一PIM信号及所述处理后的第二PIM信号包括：

所述PIM检测装置在同一坐标平面上同时显示所述处理后的第一PIM信号及所述处理后的第二PIM信号。