CN105335285B - 兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法，基于运行在windows操作系统上的基于Tcl语言的上端脚本工具，使用Tcl语言编写测试用例，对上端脚本工具支持的驱动完成加载；在配置文件中对支持的不同读卡器进行定义，设置测试平台和通讯接口类型两个全局变量，用期望使用的读卡器和通讯接口类型对所定义的两个全局变量进行赋值，利用Tcl语言伪指令或者手动操作选择与读卡器相匹配的驱动，完成不同测试平台的切换以及配置读卡器参数。本发明能在不同读卡器之间切换，实现测试脚本的统一，同时能方便、灵活的配置不同读卡器的参数。

Description

兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法
技术领域
本发明涉及智能卡测试验证领域，特别是涉及一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法。
背景技术
随着智能卡的发展，在金融、社保、交通以及居民健康领域的应用越来越普及，飞速增长的发卡量对智能卡的功能和性能测试验证提出了更高的要求，如何更快的完成在多种多样的读卡器上的测试是其中之一。目前市面上的商用读卡器供应商就有很多家，不同驱动类型的读卡器指令头就不相同。
在双界面智能卡的功能和性能测试验证中，需要使用不同的读卡器进行功能和性能的测试和验证，以便可以兼容不同的读卡器。现阶段双界面智能卡的测试会根据不同的读卡器编写相同的测试用例，或者某些测试只能在特定的读卡器上测试。
因此对于一个项目会有多套测试脚本，或者某些测试项会强制规定测试平台。在双界面智能卡测试中遇到的另一个问题是多种多样的读卡器参数需要配置，配置读卡器参数的指令每个测试平台都不相同，配置读卡器参数的指令复杂难记，以上这些都加大了工程师对于测试用例开发的难度。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统的实现方法，能在不同读卡器之间切换，实现测试脚本的统一，同时能方便、灵活的配置不同读卡器的参数。
为解决上述技术问题，本发明的兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法是采用如下技术方案实现的：
基于运行在windows操作系统上的基于Tcl(工具命令语言“Tool CommandLanguage”)语言的上端脚本工具，使用Tcl语言编写测试用例，对上端脚本工具支持的驱动完成加载；在配置文件中对支持的不同读卡器进行定义，设置测试平台和通讯接口类型两个全局变量，用期望使用的读卡器和通讯接口类型对所定义的两个全局变量进行赋值，利用Tcl语言伪指令或者手动操作选择与读卡器相匹配的驱动，完成不同测试平台的切换以及配置读卡器参数。
所述通讯接口包括接触式ISO 7816接口、非接触式ISO 14443类型A接口和非接触式ISO 14443类型B接口。
所述读卡器为通用读卡器、商用测试读卡器和特制读卡器，以上读卡器至少包含接触式ISO 7816接口、非接触式ISO 14443类型A接口和类型B接口中的一种。
本发明通过简单的测试脚本配置(即“全局变量进行赋值”)，即可在不同读卡器之间切换，实现测试脚本的统一，同时可实现方便、灵活的配置不同读卡器的参数。
本发明在测试用例统一的前提下，可以方便的切换业界通用的读卡器(接触式和非接触式)、商用测试读卡器(接触式和非接触式)和特制读卡器，以及接触式通讯接口和非接触式通讯接口。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：
图1是现有的上端脚本工具与DLL、API函数以及读卡器连接示意图；
图2是兼容多测试平台的双界面智能卡测试流程图。
具体实施方式
所述兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法是通过以下方式实现的：基于运行在计算机windows操作系统上业界公开通用的基于Tcl语言的上端脚本工具，针对读卡器的类型，可以加载相应的驱动。在配置文件中，对不同的读卡器进行定义，把测试平台和通讯接口定义为两个全局变量，根据期望使用的读卡器和通讯接口对上面定义的全局变量进行赋值。在整个测试用例系统中，这两个全局变量仅被赋值一次，从而实现后面的测试用例的运行过程中，测试平台和通讯接口类型与设置值一致。
完成了测试平台和通讯接口类型的设置，使用高级编程语言Tcl对两个全局变量(测试平台和通讯接口)进行判断，完成对读卡器的初始化。如果当前选择的是接触式通讯接口，而且选择的读卡器支持设定电压和频率，就可以自行完成电压和频率的设置。如果当前选择的是非接触式通讯接口，而且该非接读卡器支持设定非接场强、脉冲宽度、调制度和指令超时时间，就可以自行完成非接场强、脉冲宽度、调制度和指令超时时间的设置。如果选择的读卡器都不支持改变电压、频率、场强、脉冲宽度、调制度和指令超时时间，就按照读卡器默认的配置对智能卡的功能和性能进行测试。
通过判断测试平台全局变量的值，利用高级编程语言Tcl完成对读卡器发送接收函数的封装；即根据不同的读卡器，对发送的数据添加不同的指令头，可以通过对发送函数进行封装实现。对整个测试脚本系统而言，对于不同的读卡器，命令的数据域相同，智能卡收到读卡器的命令之后，经过CPU解析处理，对命令的数据域做出响应。利用高级编程语言Tcl对接收函数进行封装，接收到智能卡的响应，利用接收函数进行解析，实现在上端脚本工具中，只返回响应的数据域。
所述兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法是基于业界公开通用的上端脚本工具，如图1所示，上端脚本工具需要调用windows操作系统的DLL(动态链接库)和API(应用程序编程接口)函数。测试平台通过USB接口与计算机相连，每种测试平台有相对应的驱动，上端脚本工具支持加载相应的驱动。读卡器通过USB接口与计算机相连，上端脚本工具运行在计算机上，通过调用读卡器的驱动连接读卡器，在测试过程中会调用计算机的API函数来实现需要的算法。测试人员在上端脚本工具上开发一套测试用例，通过软件控制，可以很方便的切换业界通用读卡器、商用测试读卡器以及特制读卡器。
如图2所示，所述兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法可以分为三大部分：信息配置、读卡器初始化、测试脚本。
所述信息配置，主要用于选择运行的读卡器类型和配置读卡器参数。该部分分为读卡器选择，通讯类型选择，测试脚本运行条件配置，读卡器运行条件配置。读卡器选择和通讯类型选择是为参数变量赋值。测试脚本运行条件配置中定义两个全局变量用来选择读卡器类型和通讯接口类型。读卡器类型有：业界通用读卡器(接触式和非接触式)、商用测试读卡器(接触式和非接触式)和特制读卡器；通讯类型有：接触式接口、非接触式TYPE(类型)A接口和非接触式TYPE(类型)B接口。读卡器运行条件配置用于配置读卡器的部分参数。根据选择的读卡器，判断是否支持修改读卡器参数，可修改的读卡器参数有：接触式读卡器的电压和频率，非接触读卡器的指令超时时间、场强、脉冲宽度和调制度等。
所述读卡器初始化，不同测试平台有独有的初始化指令和可配置参数，根据测试脚本运行条件配置和读卡器运行条件配置的选择，测试脚本实现读取需要初始化的读卡器类型和需要配置的读卡器参数，选中并打开相应的读卡器驱动，加载脚本，进行初始化脚本的运行。
所述测试脚本，不同测试平台或者不同的通讯接口都有独有的数据收发指令格式，为了统一所有测试平台的脚本，使用统一的发送数据和接收比较数据函数。在发送数据函数或接收比较数据函数中，测试脚本会自动读取读卡器类型和通讯接口类型信息，并自动按照相应的读卡器支持的格式进行数据收发。这样就可以做到测试脚本的统一，可通过配置参数在不同类型的读卡机(测试读卡器、通用读卡器)或不同通讯接口的读卡器(ISO7816接口读卡器、ISO 14443 TYPEA接口读卡器、ISO 14443 TYPEB接口读卡器)之间来回切换。
上述的实施例只是本发明的一种实施方案，本发明实际应用过程中还可以有其他实施方案，例如编写测试用例时可以使用其他高级编程语言。

Claims (5)

1.一种兼容多测试平台的双界面智能卡测试系统实现方法，其特征在于：基于运行在windows操作系统上的基于Tcl语言的上端脚本工具，使用Tcl语言编写测试用例，对上端脚本工具支持的驱动完成加载；在配置文件中对支持的不同读卡器进行定义，设置测试平台和通讯接口类型两个全局变量，用期望使用的读卡器和通讯接口类型对所定义的两个全局变量进行赋值，利用Tcl语言伪指令或者手动操作选择与读卡器相匹配的驱动，完成不同测试平台的切换以及配置读卡器参数。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述通讯接口包括接触式ISO 7816接口、非接触式ISO 14443类型A接口和非接触式ISO 14443类型B接口。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述读卡器为通用读卡器、商用测试读卡器和特制读卡器，以上读卡器至少包含接触式ISO 7816接口、非接触式ISO 14443类型A接口和类型B接口中的一种。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于：通过判断测试平台全局变量的值，利用Tcl语言完成读卡器的初始化；即根据不同的读卡器，对发送的数据添加不同的指令头。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：使用统一的发送数据函数和接收比较数据函数；在发送数据函数或接收比较数据函数中，测试脚本自动读取读卡器类型和通讯接口类型信息，并自动按照相应的读卡器支持的格式进行数据收发。
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