CN105303641B - 一种高精度导弹通电寿命的统计方法 - Google Patents

Abstract

本发明的一种高精度导弹通电寿命的统计方法，包括如下步骤：首先地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能装置获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间；地面测试设备与弹上智能设备建立起通信，命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值，获取寿命时间后进行记录显示。该方法充分利用弹上智能装置中的富余存储空间，开辟两片或多片独立的可单独擦写的空间，从而实现了完整准确的记录整个导弹通电寿命时间的功能。

Description

一种高精度导弹通电寿命的统计方法

技术领域

本发明涉及导弹通电寿命这一可靠性度量指标的测量技术，具体涉及一种高精度导弹通电寿命的统计方法。

背景技术

国内导弹经历了三代发展历程，交付用户使用的导弹产品寿命时间一直未曾获得过精确的数据。前两代装备给部队的导弹产品基本上是分离式模拟电子器件的导弹，第三代弹中虽然已经发展为数字化导弹，但这些导弹均未设计数字时间标签，要了解产品的通电寿命只能从产品履历书中记录的产品在各种维护和使用情况中的通电时间，但履历书的记录内容由维护人员手工记录，存在着一定的人为因素和统计精度不高等情况，而且也不能直观的了解该发产品的通电累计时间。

因此，业界需要一种能够准确记录导弹交付使用后通电寿命的统计方法。为了提高导弹系统的保障性能，解决自主准确地统计导弹通电寿命的问题是一个非常必要的事情。本发明提出一种能够在不增加导弹额外设备的基础上，准确记录导弹交付使用后的通电寿命的统计方法。

发明内容

本发明旨在提出一种高精度导弹通电寿命的统计方法，能够在不增加导弹额外设备的基础上，准确记录导弹交付使用后的通电寿命。

为了达成上述目的，本发明提供了一种高精度导弹通电寿命的统计方法，包括如下步骤：地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能装置获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间；地面测试设备与弹上智能设备建立起通信，命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值，获取寿命时间后进行记录显示。

一些实施例中，如果地面测试设备需要上传软件获取智能设备的控制权，则该上传的软件需具备记录导弹寿命的能力；之后通过通信通路回传导弹寿命信息。

一些实施例中，弹上智能设备开辟两片或多片独立的可单独擦写的永久性存储空间，通过使用双缓存或多缓存区域，交替或连续完成通电时一段时间的记录。

本发明具有如下优点：

与现有人工计时方法相比，本发明的方法能在不增加额外设备的情况下获取精确的通电寿命数据，充分利用弹上智能装置中的富余存储空间，开辟两片或多片独立的可单独擦写的空间，通过使用双缓存（或多缓存区域）交替记录或连续记录的方式完成导弹通电寿命时间的记录，并按地面测试设备发出工作指令，将导弹通电寿命数据实时传送出去并进行显示。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是本发明实施例提供的记录通电寿命的设备基本组成图；

图2是本发明高精度导弹通电寿命的统计方法的流程图；

图3是本发明实施例1提供的软件记录方法工作实施示意图；

图4是本发明实施例2提供的软件记录方法工作实施示意图；

图5是本发明实施例3提供的软件记录方法工作实施示意图。

具体实施方式

参见示出本发明实施例的附图，下文将更详细地描述本发明。然而，本发明可以以许多不同形式实现，并且不应解释为受在此提出之实施例的限制。

现参考附图详细描述本发明的一种高精度导弹通电寿命的统计方法。

图1是本发明实施例提供的记录通电寿命时间的设备基本组成图。主要包括了1弹上智能装置和2测试设备 。

具体实施请参照图2中的工作流程图进行实施，具体包括以下步骤。

S1：利用地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能设备获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据存储到对应的存储空间。

弹上智能设备以弹载计算机为例，弹载计算机具有信息处理、定时计算、数据存储的能力。利用计算机片外扩展的可分片独立擦写的FLASH作为永久数据存储的空间，开辟两片甚至多片独立空间用于记录导弹通电寿命之用。导弹交付出厂前将这几片存储器空间全部清除为一约定的状态（例如全为0xFF）。

以双缓存模式为例（参见图3~图4），导弹通电后，计时软件上电即按照二值法或者其他方法判读出两片区域中哪片存储区记录着末次有效的寿命值后和对应的存储地址。之后按照定时周期（例如1S）实施计时，并将当前每次计时值存在上一次存储地址的紧邻的地址上，待这一片区（假如是I片区）的所有空间使用到最后一个地址时，则将最新记录的数据存储于另一片区（II片区）的起始地址，然后对已经使用完毕的I片区域实施整体清除，后续记录数据则在II片区内持续记录，直至该片区已满然后将数据重新记录至I片区，同时清除II片区，如此交替往复。如果选择多片区域进行记录，可参照双缓存的交替模式进行周期循环记录。这种方法既充分利用了弹上当前资源，也避免了对同一地址空间进行多次反复擦写，缩短器件寿命。

图3给出了一种记录方法的实例（以32/8bit宽度的可分片独立擦写的FLASH为例）：

301代表I片区的基地址，在基地址里记录一个通电寿命基础时间（t0）；第一个记录点到来之后，往基地址后续的第一个8bit地址上打一时戳（0x00）；第二个记录点到来时，往第二个8bit地址上打一时戳，如此持续直至I片区末地址前的所有空间记录完毕一共打了M个时戳，则在302处和303处记录上当前的寿命值（t0+MΔt），此时对片区I进行擦除处理，擦除完毕后片区I恢复到初始状态（0xFF）；如果在擦除过程中出现断电可能导致第I片区域擦除任务未完成，则下次上电时要分辨出第II片当前记录位置处于首位而第I片还未清除的状态，此时需要重新擦除第I片区域，如果第I片已经擦除干净，则不需再进行擦除处理，直接转至顺序记录后续的时刻标识的工作即可，直至第II片区域记录全部打上时戳，直接给305地址和301地址记录上（t0+2MΔt），同时清除片区II，如此往复，进行数据记录。

另外还有参见图4中直接记录通电绝对时间的方法，主要是按顺序依次记录当前的绝对时间，到了一个片区末地址时同时将该时间记录到另一片区的起始地址上，清除前一片区，基本原理与图3一致。

以上两种计时方式相比打时戳的方法可以增加内存空间的利用率，其余各种计时的方法均可参照双缓存（多缓存）的记录方法实施。

如果智能设备中能够开辟出记录导弹全寿命周期的空间时，则可以参照图5的方法在这些片区顺序存放记录值，而不需要对存储器进行擦除，更能避免擦写带来的风险，但在产品延寿使用的情况下，寿命周期的记录空间可能不够。

S2：弹上智能设备在接收到地面测试设备的工作命令后，会把当前最新的导弹通电时间数据完整的传递出去，从而实现导弹通电寿命值的记录和统计功能。

地面测试设备如果需要上传软件获取智能设备软件的控制权去完成其他导弹各种测试功能时，则要求该上传的测试软件必须具备及时记录导弹通电寿命的功能，该功能可以按照S1中的方法执行。

综上所述，本发明提出一种准确记录导弹交付使用后通电寿命的统计方法，该发明充分利用弹上智能装置中的富余存储空间，开辟两片或多片独立的可单独擦写的空间，通过使用双缓存（或多缓存区域）交替记录或连续记录的方式完成导弹通电寿命时间的记录，并按地面测试设备发出工作指令，将导弹通电寿命数据实时传送出去并进行显示，从而实现了准确地记录整个导弹通电寿命时间的功能。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。

Claims (2)

1.一种高精度导弹通电寿命的统计方法，其特征在于，包括如下步骤：

（a）地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能设备获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间；

（b）地面测试设备与弹上智能设备建立起通信，命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值，获取寿命时间后进行记录显示；

所述弹上智能设备采用32 bit /16bit/8bit宽度的能够分片独立擦写的FLASH，通过使用双缓存或多缓存区域，交替或连续完成通电时一段时间的记录；

当采用双缓存模式时，具体设定I片区的基地址301，在I片区的基地址301里记录一个通电寿命基础时间t0；第一个记录点到来之后，往基地址后续的第一个8bit地址上打一时戳0x00；第二个记录点到来时，往第二个8bit地址上打一时戳，如此持续直至I片区末地址前的所有空间记录完毕一共打了M个时戳，则在I片区的末地址302处和Ⅱ片区的首地址303处记录上当前的寿命值t0+MΔt，此时对片区I进行擦除处理，擦除完毕后片区I恢复到初始状态0xFF；

如果在擦除过程中出现断电可能导致第I片区域擦除任务未完成，则下次上电时要分辨出第II片当前记录位置处于首位而第I片还未清除的状态，此时需要重新擦除第I片区域，如果第I片已经擦除干净，则不需再进行擦除处理，直接转至随后顺序记录后续的时刻标识的工作即可，直至第II片区域记录全部打上时戳，直接给Ⅱ片区的末地址305处和I片区的基地址301处记录上t0+2MΔt，同时清除片区II，如此往复，进行数据记录。

2.如权利要求1所述的高精度导弹通电寿命的统计方法，其特征在于，如果地面测试设备需要上传软件获取弹上智能设备的控制权，则该上传软件需具备记录导弹寿命的能力；之后通过通信通路回传导弹寿命信息。