CN105301471A - 一种ccd检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种CCD检测装置,其特征在于包括:脉冲信号生成模块、与所述脉冲信号生成模块相连的驱动模块、与所述驱动模块相连的电源模块、与所述驱动模块相连的控制电路模块,待检测CCD与所述驱动模块相连,所述脉冲信号生成模块与PC相连生成脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号,所述电源模块包括低电平直流源、高电平直流源和交流源。通过采用上述结构,利用脉冲信号生成模块上生成的脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号分别连通后面的模块,获得两组CCD检测数据,将脉冲时序信号获得数据与脉冲时序校验反馈信号获得数据进行比对,若无限接近,则CCD仍然处于最佳状态。
Description
技术领域
本发明涉及一种CCD检测装置,尤其涉及一种检测效果好的CCD检测装置。
背景技术
现有的CCD检测中利用脉冲信号对CCD进行检测,利用脉冲信号生成对应的CCD驱动信号,利用CCD驱动信号对待检测的CCD进行一个检测,由于传统的检测系统不能很好的实用多种规格的CCD使用,因此传统的方式多为一个检测系统对应一个CCD模块的检测,相对增加了前期检测成本。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种CCD检测装置,具有检测效果好的特点。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案为:一种CCD检测装置,其创新点在于包括:脉冲信号生成模块、与所述脉冲信号生成模块相连的驱动模块、与所述驱动模块相连的电源模块、与所述驱动模块相连的控制电路模块,待检测CCD与所述驱动模块相连,所述脉冲信号生成模块与PC相连生成脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号,所述电源模块包括低电平直流源、高电平直流源和交流源。
优选的,所述驱动模块包括依次串联的开关电路、稳压电路、调频电路和功率放大电路。
优选的,所述开关电路控制为多点接触开关,分别连通脉冲信号生成模块上的脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号。
优选的,所述稳压电路上设置有多组控制信号,其中任意两租控制信号对应一个输入节点。
本发明的优点在于:通过采用上述结构,利用脉冲信号生成模块上生成的脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号分别连通后面的模块,获得两组CCD检测数据,将脉冲时序信号获得数据与脉冲时序校验反馈信号获得数据进行比对,若无限接近,则CCD仍然处于最佳状态。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1是本发明一种CCD检测装置的结构示意图。
图中:1-脉冲信号生成模块、2-控制电路模块、3-待检测CCD、4-低电平直流源、5-高电平直流源、6-交流源、7-开关电路、8-稳压电路、9-调频电路、10-功率放大电路。
具体实施方式
本发明的CCD检测装置包括脉冲信号生成模块1、与脉冲信号生成模块1相连的驱动模块、与驱动模块相连的电源模块、与驱动模块相连的控制电路模块2,待检测CCD3与驱动模块相连,脉冲信号生成模块1与PC相连生成脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号,电源模块包括低电平直流源4、高电平直流源5和交流源6。通过采用上述结构,利用脉冲信号生成模块上生成的脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号分别连通后面的模块,获得两组CCD检测数据,将脉冲时序信号获得数据与脉冲时序校验反馈信号获得数据进行比对,若无限接近,则CCD仍然处于最佳状态。
上述的驱动模块包括依次串联的开关电路7、稳压电路8、调频电路9和功率放大电路10。开关电路7控制为多点接触开关,分别连通脉冲信号生成模块上的脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号。稳压电路8上设置有多组控制信号,其中任意两租控制信号对应一个输入节点。
最后需要说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制性技术方案,本领域的普通技术人员应当理解,那些对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本技术方案的宗旨和范围,均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (4)
1.一种CCD检测装置,其特征在于包括:脉冲信号生成模块、与所述脉冲信号生成模块相连的驱动模块、与所述驱动模块相连的电源模块、与所述驱动模块相连的控制电路模块,待检测CCD与所述驱动模块相连,所述脉冲信号生成模块与PC相连生成脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号,所述电源模块包括低电平直流源、高电平直流源和交流源。
2.如权利要求1所述的一种CCD检测装置,其特征在于:所述驱动模块包括依次串联的开关电路、稳压电路、调频电路和功率放大电路。
3.如权利要求2所述的一种CCD检测装置,其特征在于:所述开关电路控制为多点接触开关,分别连通脉冲信号生成模块上的脉冲时序信号和脉冲时序校验反馈信号。
4.如权利要求2所述的一种CCD检测装置,其特征在于:所述稳压电路上设置有多组控制信号,其中任意两租控制信号对应一个输入节点。
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2015
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20160203 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |