CN105281852B - 一种l波段测试设备及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种L波段测试设备及测试方法，所述L波段测试设备包括：对联射频口；信号处理器；收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，所述收发模块对测试信号上变频，经过所述收发模块处理将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。本发明提供的上述L波段测试设备解决了现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试方法繁琐以及误差较大的技术问题。

Description

一种L波段测试设备及测试方法

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种L波段测试设备及测试方法。

背景技术

随着科技的迅速发展，通信技术也不断进步，高频段设备广泛应用于通信领域中，比如：卫星定位系统、成像、二次雷达系统等等。现有技术中，在高频段设备处理时，通常采用L波段设备进行多次上变频技术把频率升高后发射以及高频率射频信号采用多次下变频技术把频率降低到L波段设备进行接收处理，而在系统中对L波段设备的主要指标测试时，如：灵敏度、动态范围、解码效果等，一般采用相同本振频率进行频率变换以发射和接收处理射频信号，由于此方法L波段测试射频信号与被测试设备的收发频率未形成收发的匹配，因此在测试时需要通过多个后级收发模块上下变频处理和高频率衰减器电缆链路进行收发频率上、下变频转换和分离，使测试射频信号与被测试设备收发匹配，进而，测试系统包括测试设备、两个高频收发模块、两个高频固定衰减器、两个高频可变衰减器、两个波导、L波段设备等。测试L波段设备使用的组件都工作在高频段，又由于高频闭环系统在通道的校准工作、波导是否可靠等测试方面较为复杂，线缆变形和环境变化等对参数的影响较大，使测试参数误差增大。所以，现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试方法繁琐以及误差较大的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种L波段测试设备及测试方法，用于解决现有技术测试L波段设备的指标时存在方法繁琐以及测试误差较大的技术问题。

本发明实施例一方面提供了一种L波段测试设备，包括：

对联射频口，用于连接L波段设备；

信号处理器；

收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；

其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，控制所述信号处理器产生测试信号、本振控制、多路开关通道选择等信号并处理所述L波段设备发射的回送信号，所述收发模块基于所述本振控制对所述测试信号上变频后，生成的L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块处理后，通过多路开关选择后将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到所述L波段设备发射回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，基于所述本振控制，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。

可选的，所述信号处理器具体包括：

DSP模块，用于接收模拟控制设备发送的控制指令集，将所述控制指令集进行协议格式转换后存储在多片存储器相应地址中，并将转换后的数据发送至与所述DSP模块连接的FPGA模块；其中，所述控制指令集包括用于产生预设波形的测试信号波形控制指令、用于控制所述工作状态控制指令、用于控制所述收发模块对所述测试信号进行上变频处理的上变频本振控制指令、控制所述收发模块对所述回送信号进行下变频处理的下变频本振控制指令、用于选择发射通道与接收通道的通道选择控制指令等。

所述FPGA模块，用于在接收到所述控制指令集后，基于所述测试信号波形控制指令，控制编码单元产生所述测试信号；将所述测试信号、所述上变频本振控制指令、所述下变频本振控制指令送至所述收发模块，并将所述通道选择控制指令与所述工作状态控制指令发送至所述多路开关，以控制确定所述发射通道与接收通道以及工作状态；并在接收到所述回送信号进行处理得到基带信号后，对所述基带信号进行处理解算，获得所述L波段设备的测试参数。

可选的，所述收发模块具体包括：

所述本振频率产生单元，基于所述FPGA模块产生的通道选择、状态控制信号控制产生上下变频需要的本振；基于所述上变频本振控制指令产生上变频需要的上变频本振频率，以及基于所述下变频本振控制指令产生下变频需要的下变频本振频率；

变频器，在发射所述L波段射频信号时，基于所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，将上变频处理后的L波段射频信号送收发处理子模块进行收发处理；以及在接收到所述回送信号时，基于所述下变频本振频率对所述回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号；

所述多路开关，分别与所述收发处理子模块和所述对联射频口连接，用于在接收到所述工作状态控制指令与所述通道选择控制指令后，确定发射通道与接收通道以及所述发射通道与接收通道的工作状态。

可选的，所述收发模块还包括所述收发处理子模块，用于对上变频处理后的L波段射频信号进行放大滤波等处理生成L波段射频测试信号，以及在接收到所述回送信号后，对所述回送信号进行限幅滤波等处理。

可选的，所述信号处理器还用于在所述对联射频口通过测试衰减器电缆链路或匹配电路设备等与所述L波段设备连接后，控制并发送状态控制指令至所述L波段测试设备，以使得所述L波段测试设备收发信号的状态与所述L波段设备收发信号的状态匹配。

可选的，所述信号处理器还用于控制所述L波段测试设备输出所述测试参数。

本发明实施例另一方面提供一种测试方法，应用于L波段测试设备，所述测试方法包括：

在所述L波段测试设备与L波段设备连接进行测试时，控制产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率等；

基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号，并将所述L波段射频信号转换为L波段射频测试信号后经过射频口发送至所述L波段设备；

接收所述L波段设备发送的回送信号；

基于所述下变频本振频率与所述回送信号，生成基带信号；

处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。

可选的，所述基于所述上变频本振频率与所述发送测试信号，生成L波段射频信号，具体为：

以所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，生成所述L波段射频信号。

可选的，所述基于所述下变频本振频率与所述L波段设备回送信号，生成基带信号，具体为：

以所述下变频本振频率对所述L波段设备回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号。

可选的，在所述L波段测试设备通过测试衰减器电缆链路或匹配电路设备等与L波段设备联接时，所述方法还包括：

产生并发送状态控制指令至所述L波段测试设备，以使得所述L波段测试设备收发信号的状态与所述L波段设备收发信号的状态匹配。

可选的，在所述基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号之后，所述方法还包括：

对所述L波段射频信号进行放大滤波等处理生成L波段射频测试信号和发射通道选择。

可选的，在所述接收所述L波段设备发送的回送信号之后，所述方法还包括：

对所述L波段设备回送信号进行限幅滤波等处理和接收通道选择。

可选的，在所述获得所述测试参数后，所述方法还包括：输出所述测试参数。

本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种技术效果：

1、由于在本申请实施例中的技术方案中，设计了一种L波段测试设备，包括：对联射频口，用于连接L波段设备；信号处理器；收发模块。收发模块与所述信号处理器以及所述对联射频口连接；其中，在所述对联射频口连接所述L波段设备后，模拟控制设备控制所述信号处理器产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率等。所述测试信号通过与上变频本振频率上变频后，生成的L波段射频信号通过放大、滤波、通道选择等处理后，生成L波段射频测试信号通过测试衰减器电缆链路发送至所述L波段设备，并在所述收发模块接收到所述L波段设备基于所述L波段射频测试信号发射的回送信号时，L波段测试设备接收的回送信号经过多路开关通道选择、限幅滤波等处理后，经过与下变频本振频率下变频处理生成的基带信号送到信号处理器，通过处理解算分析所述基带信号，获得与所述L波段设备相关的测试参数。这样，在测试L波段设备时，仅需要将该设备通过L波段测试衰减器电缆链路与L波段测试设备连接，进而通过L波段测试设备以不同的本振频率进行频率变换发射信号和对接收信号进行处理，使L波段测试设备与被测的L波段设备形成收发匹配后即可进行测试，减少了现有技术中测试L波段设备使用的高频测试组件和附件，从而减少了由于高频率造成的测试通道的误差影响，所以，能有效解决现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试校准工作繁琐以及误差较大的技术问题，提高了测试效率和测试参数的准确性。

2、由于在本申请实施例中的技术方案中，设计的L波段测试设备中信号处理器包括：DSP模块，用于接收模拟控制设备发送的控制指令集，并将所述控制指令集协议转换后发送至与所述DSP模块连接的FPGA模块；其中，所述控制指令集包括用于产生预设波形的测试信号波形控制指令、用于控制所述工作状态控制指令、用于控制所述收发模块对所述测试信号进行上变频处理的上变频本振控制指令、控制所述收发模块对所述回送信号进行下变频处理的下变频本振控制指令、用于选择发射通道与接收通道的通道选择控制指令；所述FPGA模块，用于在接收到所述控制指令集后，基于所述测试信号波形控制指令，控制编码单元产生所述测试信号；本振控制指令控制本振频率产生单元产生所述上变频和下变频本振频率；将所述测试信号、所述上变频本振、所述下变频本振等送至所述收发模块，并将所述通道选择控制指令与所述工作状态控制指令发送至所述多路开关，以控制确定所述发射通道与接收通道以及工作状态；并在接收到所述回送信号进行处理得到基带信号后，对所述基带信号进行处理解算，获得所述L波段设备的测试参数。这样，由DSP(Digital SignalProcessor，数字信号处理)模块与FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)模块协同进行信号处理，这样，在利用L波段测试设备测试L波段设备时，可以通过通道选择进行多通道信号处理，测试效率更高。

3、由于在本申请实施例中的技术方案中，设计的L波段测试设备还包括：所述收发模块。包括变频器、本振频率产生单元、收发处理子模块、多路开关。本振频率产生单元，基于所述FPGA模块产生的通道选择、状态控制等信号产生上下变频需要的本振；基于所述上变频本振控制指令产生上变频需要的上变频本振频率，以及基于所述下变频本振控制指令产生下变频需要的下变频本振频率。变频器，用于在发射所述L波段射频测试信号时，基于所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，将上变频处理后的L波段射频信号送收发处理子模块进行收发处理生成L波段射频测试信号；以及在接收到所述回送信号时，基于所述下变频本振频率对所述回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号。多路开关，分别与所述收发处理子模块和所述对联射频口连接，用于在接收到所述工作状态控制指令与所述通道选择控制指令后，确定发射通道与接收通道以及所述发射与接收通道的工作状态。这样，L波段测试设备可通过多路通道与多个L波段设备相连，进而可测试多个L波段设备的参数指标，实现了测试方式灵活且高效的技术效果。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术方案，下面对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例。

图1为本申请实施例一中一种L波段测试设备的结构图；

图2为本申请实施例一中在通过L波段测试设备进行测试时的信号处理流程图；

图3为本申请实施例二中测试方法的流程图。

具体实施方式

本发明实施例提供一种L波段测试设备及测试方法，用于解决现有技术测试L波段设备的指标时存在方法繁琐和测试误差较大的技术问题。

为解决上述的技术问题，本发明实施例提供一种L波段测试设备，总体思路如下：

一种L波段测试设备，包括：

对联射频口，用于连接L波段设备；

信号处理器；

收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；

其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，控制所述信号处理器产生测试信号、本振控制、多路开关通道选择等信号并处理所述L波段设备发射的回送信号，所述收发模块基于所述本振控制对所述测试信号上变频后，生成的L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块处理后，通过多路开关选择后将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到所述L波段设备发射回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，基于所述本振控制，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。

由于在本申请实施例中的技术方案中，设计了一种L波段测试设备，包括：对联射频口，用于连接L波段设备；信号处理器；收发模块。收发模块与所述信号处理器以及所述对联射频口连接；其中，在所述对联射频口连接所述L波段设备后，模拟控制设备控制所述信号处理器产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率等。所述测试信号通过与上变频本振频率上变频后，生成的L波段射频信号通过放大、滤波、通道选择等处理后，生成L波段射频测试信号通过测试衰减器电缆链路发送至所述L波段设备，并在接收到所述L波段设备基于所述L波段射频测试信号发射的回送信号时，L波段测试设备接收的回送信号经过多路开关通道选择、限幅滤波等处理后，经过与下变频本振频率下变频处理生成的基带信号送到信号处理器，通过处理解算分析所述基带信号，获得与所述L波段设备相关的测试参数。这样，在测试L波段设备时，仅需要将该设备通过L波段测试衰减器电缆链路与L波段测试设备连接，进而通过L波段测试设备以不同的本振频率进行频率变换发射信号和对接收信号进行处理，使L波段测试设备与被测的L波段设备形成收发匹配后即可进行测试，减少了现有技术中测试L波段设备使用的高频测试组件和附件，从而减少了由于高频率造成的测试通道的误差影响，所以，能有效解决现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试校准工作繁琐以及误差较大的技术问题，提高了测试效率和测试参数的准确性。

下面结合附图对本申请实施例技术方案的主要实现原理、具体实施方式及其对应能够达到的有益效果进行详细的阐述。

实施例一

请参考图1，本申请实施例提供一种L波段测试设备，包括：

对联射频口10，通过测试衰减器电缆链路(或匹配电路设备等)70连接L波段设备20；

信号处理器30；

收发模块40，分别与所述信号处理器30以及所述对联射频口10连接；

其中，在所述对联射频口10通过测试衰减器电缆链路(或匹配电路设备等)70连接所述L波段设备20后，控制所述信号处理器30产生测试信号、工作状态、通道选择信号以及本振A频率、本振B频率等信号，并处理所述L波段设备发射的回送信号，所述收发模块40将基于所述本振A频率对所述测试信号上变频后，L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块60处理，通过多路开关50选择后，将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备20，当所述收发模块40接收到所述L波段设备20基于所述L波段射频测试信号发射的回送信号时，通过所述多路开关50相应通道接收处理后，所述收发模块40接收信号与基于所述本振B频率生成基带信号送信号处理器，通过处理分析所述基带信号，获得与所述L波段设备20相关的测试参数。

其中，所述信号处理器30具体包括：DSP模块301，用于接收模拟控制设备发送的控制指令集，并将所述控制指令集进行协议格式转换后，将数据发送至与所述DSP模块连接的FPGA模块；其中，所述控制指令集包括用于产生预设波形的测试信号波形W控制指令、用于控制所述工作状态控制指令S、用于控制所述收发模块对所述测试信号进行上变频处理的本振A控制指令、控制所述收发模块接收L波段射频测试信号的回送信号进行下变频处理的本振B控制指令、用于选择发射通道与接收通道的通道选择C控制指令。

所述FPGA模块302，用于在接收到所述控制指令集后，基于所述测试信号波形控制指令，控制编码单元产生所述测试信号；基于所述控制指令，控制本振频率产生单元产生所述本振信号；将所述测试信号、所述本振A频率、所述本振B频率送至所述收发模块，并将所述通道选择、工作状态控制发送至所述多路开关，以控制确定所述发射与接收的通道以及工作状态；并在接收到所述回送信号进行处理得到基带信号后，对所述基带信号进行处理分析解算，获得与所述L波段设备20的测试参数。

所述模拟控制设备还用于在所述对联射频口10与所述L波段设备20连接后，发送状态控制等指令至所述L波段设备20，以使得所述L波段测试设备收发信号的状态与所述L波段设备20收发信号的状态匹配。

具体的，本实施例中，L波段测试设备主要包括对联射频口10、信号处理器30、收发模块40。信号处理器30主要包括DSP模块301与FPGA模块302，DSP模块301通过串口接口与模拟控制设备连接，模拟控制设备可以是用于产生指令的计算机或模拟设备等，当然，模拟控制设备还可以是该L波段测试结果的数据处理显示终端并可以将控制、处理、显示等功能应用L波段设备20，在此，本申请不做限制。测试人员可通过模拟控制设备输入需测试的参数；控制产生测试信号的波形类型、频率参考等参数，以及测试L波段设备20所需的指令集，该指令集包括用于控制编码单元产生所述测试信号的控制指令、用于控制所述收发模块40基于所述本振A频率对所述测试信号进行上变频处理的第二控制指令集、控制所述收发模块40以所述本振B频率对回送信号进行下变频处理的第三控制指令集、用于选择信号发射通道与信号接收通道的第四控制指令集、工作状态控制的第五控制指令集。

比如：测试人员通过与L波段测试设备中DSP模块的串口接口连接的模拟控制设备可以是计算机，通过计算机专用测试软件输入需要测试的参数，如：L波段设备的灵敏度、动态范围、解码效果等参数。并且，测试人员还可根据实际的需要设定用于测试L波段设备的测试信号的波形类型以及频率等参数，还需要输入基于测试信号进行上变频处理产生L波段射频信号的本振A频率，如：A1＝800MHz、A2＝1000MHz、A3＝1500MHz等。同时，还需输入对L波段设备发送的回送信号进行下变频处理的本振B频率，如：B1＝1500MHz、B2＝1000MHz、B3＝1600MHz等。由于L波段测试设备与被测试L波段设备通过测试衰减器电缆链路70相连，在测试时需要调整测试衰减器电缆链路70的衰减值，在设置本振A频率、本振B频率时，当模拟控制设备选择时参数设置规则已经按规定的频率数值自动设置匹配值。

本实施例中的L波段测试设备可设置多个对联射频口，每个对联射频口可以通过专用的测试衰减器电缆链路(或匹配电路设备等)70与被测试L波段设备联接。由于L波段测试设备有多个对联射频口，并且，每个对联射频口在L波段测试设备都对应一个信号传输通道。因此，L波段测试设备收发模块40中有一个多路开关50，分别与所述收发处理子模块60和所述对联射频口10连接，用于在接收到所述第四控制指令集后，将一路通道开启以作为与所述L波段测试设备发送的射频测试信号对应的发射通道，以及将所述一路通道开启作为所述L波段被测试设备20发射的回送信号接收通道。

为了确保测试的准确性，所述收发模块40还用于在产生所述L波段射频信号后，对所述L波段射频信号进行放大滤波等处理，以及在接收到所述L波段被测试设备20发射的回送信号后，对所述回送信号进行限幅滤波等处理。

并且，为了使得测试人员及时获知测试结果，所述信号处理器30还用于控制所述L波段测试设备输出所述测试参数。

具体的，发射和接收通道可以为各N个通道，N可以取为4、5、6等数值，在具体实施过程中，可根据实际需要来设定。在本实施例中，发射和接收通道为各4个通道，N取为4，如图1所示，L波段测试设备与模拟控制设备通过接口联接，在所述对联射频口10通过测试衰减器电缆链路70连接所述L波段设备20后，控制所述信号处理器30产生测试信号，以及本振A频率、本振B频率，并控制所述收发模块40将基于所述本振A频率及所述测试信号生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备20，并在所述收发模块40接收到所述L波段设备20基于所述L波段射频测试信号发射的回送信号时，所述收发模块40接收信号与基于所述本振B频率处理生成基带信号送信号处理器30，通过处理分析解算所述基带信号，获得与所述L波段设备20相关的测试参数。

模拟控制设备将控制指令集发送至DSP模块301，DSP模块301接收到控制指令集后，将控制指令集的数据进行格式转换后发送到FPGA模块302，FPGA模块302控制编码单元产生所述的测试信号，并将所述测试信号、所述本振A频率、所述本振B频率、所述第二控制指令集、第三控制指令集、第四控制指令集与所述工作状态控制的第五控制指令集发送至所述收发模块40，并将第四控制指令集发送至多路开关50，以控制所述多路开关50确定信号发射通道与接收通道。收发模块40中的变频器在发射测试信号时，以第一本振频率对测试信号进行上变频处理，生成所述L波段射频信号，并对所述L波段射频信号进行放大滤波等处理后，多路开关50开启的信号发射通道将产生的L波段射频测试信号发送至L波段设备，L波段设备在接收到该L波段射频测试信号后，对该L波段射频测试信号进行处理后，发射回送信号，该回送信号通过多路开关开启的接收通道送至收发模块40中的收发处理子模块60，所述回送信号进行限幅滤波等处理后，收发模块40中的变频器将处理的回送信号与本振B频率进行下变频处理，生成基带信号，并将基带信号发送至信号处理器中的FPGA模块302，FPGA模块302对基带信号进行滤波、解算等处理，获得与L波段设备相关的测试参数，并将测试参数处理并存储至存储单元。DSP模块301根据FPGA模块302给出的录取信号，读取FPGA数据进行处理得到测试参数，按照分配地址存储在分配的存储器区域中，同时通过接口模块向模拟控制设备输出测试参数显示。具体的，在L波段测试设备包含输出单元时，如：显示器、语音输出模块、打印模块等，可通过自身输出模块来输出测试参数，如：通过显示器显示测试参数。在L波段测试设备不包含输出单元时，可将测试参数发送至具有输出单元的电子设备，进而使该电子设备进行输出。在具体实施过程中，L波段测试设备输出测试参数的方式可根据实际需要进行设定，在此，本申请不作限制。

请参考图2，公开了利用本实施例中的L波段测试设备进行测试时的流程图。在具体实施过程中，可根据实时性要求，设置测试时信号的传输速率(例如2Mbps、3Mbps)，信号处理器在加电后首先进行DSP模块、FPGA模块初始化，进行接口配置和存储器等硬件配置，初始化配置包括：地址分配、存储区分配、通道选择、本振控制、工作状态、波形选择等，将通道选择、本振控制、工作状态、波形选择等配置信息按地址、时间、次数、收发等分区进行存储。测试时通过模拟控制设备选择发射通道、接收通道、测试信号波形、本振A频率、本振B频率等。测试前先对联射频口各个通道的发射功率(PT)、电缆及固定衰减值损耗(LG)进行测试记录，将测试结果置入DSP模块并存储在存储区地址空间1。进一步，接收通过模拟控制设备设置的接收通道、本振B频率、回送信号波形等参数，并将其存储在存储区地址空间2。测试时，启动L波段测试设备和L波段设备，在接收到L波段设备发送的回送信号后，将经过处理后的基带信号送FPGA模块进行滤波、相关、解算等处理后得到解算结果并存储在存储区地址空间3；通过改变可变衰减器的值(LB)得到链路衰减值LA(LA＝LB+LG)、幅度值等，将其存储在存储区地址空间4。DSP模块进行解算得到参数波形、灵敏度、动态范围等测试结果，并将结果存储在存储区地址空间5，信号处理器分别将存储区地址空间1～5的存储数据进行输出。

实施例二

请参考图3，本申请实施例还提供一测试方法，应用于L波段测试设备，所述测试方法包括：

S301：在所述L波段测试设备与L波段设备连接测试时，控制产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率；

S302：基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号，并将所述L波段射频信号转换为L波段射频测试信号后经过射频口发送至所述L波段设备；

S303：接收所述L波段设备发送的回送信号；

S304：基于所述下变频本振频率与所述回送信号，生成基带信号；

S305：处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。

可选的，所述基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号，具体为：

以所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，生成所述L波段射频信号。

可选的，所述基于所述下变频本振频率与所述L波段设备回送信号，生成基带信号，具体为：

以所述下变频本振频率对所述L波段设备回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号。

可选的，在所述L波段测试设备通过测试衰减器电缆链路或匹配电路设备与L波段设备联接时，所述方法还包括：

产生并发送状态控制指令集至所述L波段设备，以使得所述L波段测试设备收发信号的状态与所述L波段设备收发信号的状态匹配。

可选的，在所述基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号之后，所述方法还包括：

对所述L波段射频信号进行放大滤波处理生成L波段射频测试信号和发射通道选择。

可选的，在接收所述L波段设备基于所述L波段射频测试信号反馈的回送信号之后，所述方法还包括：

对所述L波段设备回送信号进行限幅滤波处理和接收通道选择。

可选的，在所述获得所述测试参数后，所述方法还包括：输出所述测试参数。

通过本申请实施例中的一个或多个技术方案，可以实现如下一个或多个技术效果：

1、由于在本申请实施例中的技术方案中，设计了一种L波段测试设备，包括：对联射频口，用于连接L波段设备；信号处理器；收发模块。收发模块与所述信号处理器以及所述对联射频口连接；其中，在所述对联射频口连接所述L波段设备后，模拟控制设备控制所述信号处理器产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率等。所述测试信号通过与上变频本振频率上变频后，生成的L波段射频信号通过放大、滤波、通道选择等处理后，生成L波段射频测试信号通过测试衰减器电缆链路发送至所述L波段设备，并在所述收发模块接收到所述L波段设备基于所述L波段射频测试信号发射的回送信号时，L波段测试设备接收的回送信号经过多路开关通道选择、限幅滤波等处理后，经过与下变频本振频率下变频处理生成的基带信号送到信号处理器，通过处理解算分析所述基带信号，获得与所述L波段设备相关的测试参数。这样，在测试L波段设备时，仅需要将该设备通过L波段测试衰减器电缆链路与L波段测试设备连接，进而通过L波段测试设备以不同的本振频率进行频率变换发射信号和对接收信号进行处理，使L波段测试设备与被测的L波段设备形成收发匹配后即可进行测试，减少了现有技术中测试L波段设备使用的高频测试组件和附件，从而减少了由于高频率造成的测试通道的误差影响，所以，能有效解决现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试校准工作繁琐以及误差较大的技术问题，提高了测试效率和测试参数的准确性。

2、由于在本申请实施例中的技术方案中，设计的L波段测试设备中信号处理器包括：DSP模块，用于接收模拟控制设备发送的控制指令集，并将所述控制指令集协议转换后发送至与所述DSP模块连接的FPGA模块；其中，所述控制指令集包括用于产生预设波形的测试信号波形控制指令、用于控制所述工作状态控制指令、用于控制所述收发模块对所述测试信号进行上变频处理的上变频本振控制指令、控制所述收发模块对所述回送信号进行下变频处理的下变频本振控制指令、用于选择发射通道与接收通道的通道选择控制指令；所述FPGA模块，用于在接收到所述控制指令集后，基于所述测试信号波形控制指令，控制编码单元产生所述测试信号；本振控制指令控制本振频率产生单元产生所述上变频和下变频本振频率；将所述测试信号、所述上变频本振、所述下变频本振等送至所述收发模块，并将所述通道选择控制指令与所述工作状态控制指令发送至所述多路开关，以控制确定所述发射通道与接收通道以及工作状态；并在接收到所述回送信号进行处理得到基带信号后，对所述基带信号进行处理解算，获得所述L波段设备的测试参数。这样，由DSP(Digital SignalProcessor，数字信号处理)模块与FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)模块协同进行信号处理，这样，在利用L波段测试设备测试L波段设备时，可以通过通道选择进行多通道信号处理，测试效率更高。

3、由于在本申请实施例中的技术方案中，设计的L波段测试设备还包括：所述收发模块。包括变频器、本振频率产生单元、收发处理子模块、多路开关。本振频率产生单元，基于所述FPGA模块产生的通道选择、状态控制等信号产生上、下变频需要的本振；基于所述上变频本振控制指令产生上变频需要的上变频本振频率，以及基于所述下变频本振控制指令产生下变频需要的下变频本振频率。变频器，用于在发射所述L波段射频测试信号时，基于所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，将上变频处理后的L波段射频信号送收发处理子模块进行收发处理生成L波段射频测试信号；以及在接收到所述回送信号时，基于所述下变频本振频率对所述回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号。多路开关，分别与所述收发处理子模块和所述对联射频口连接，用于在接收到所述工作状态控制指令与所述通道选择控制指令后，确定发射通道与接收通道以及所述发射与接收通道的工作状态。这样，L波段测试设备可通过多路通道与多个L波段设备相连，进而可测试多个L波段设备的参数指标，实现了测试方式灵活且高效的技术效果。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

具体来讲，本申请实施例中的测试方法对应的计算机程序指令可以被存储在光盘，硬盘，U盘等存储介质上，当存储介质中的与测试方法对应的计算机程序指令被L波段测试设备读取或被执行时，包括如下步骤：

在所述L波段测试设备与L波段设备连接测试时，控制产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率；

基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号，并将所述L波段射频信号转换为L波段射频测试信号后经过射频口发送至所述L波段设备；

接收所述L波段设备发送的回送信号；

基于所述下变频本振频率与所述回送信号，生成基带信号；

处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。

可选的，所述存储介质中存储的与步骤：基于所述上变频本振频率与所述发送测试信号，生成L波段射频信号对应的计算机程序指令在被执行时，具体包括如下步骤：

以所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，生成所述L波段射频信号。

可选的，所述存储介质中存储的与步骤：基于所述下变频本振频率与所述L波段设备回送信号，生成基带信号对应的计算机程序指令在被执行时，具体包括如下步骤：

以所述下变频本振频率对所述L波段设备回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号。

可选的，所述存储介质中还存储有另外一些计算机程序指令，该另外一些计算机程序指令在所述L波段测试设备与L波段设备连接后被执行，执行过程中包括如下步骤：

产生并发送状态控制指令集至所述L波段设备，以使得所述L波段设备收发信号的状态与所述L波段测试设备收发信号的状态匹配。

可选的，所述存储介质中的还存储有另外一些计算机程序指令，该另外一些计算机程序指令在与步骤：基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频测试信号对应的计算机程序指令被执行之后被执行，执行过程中包括如下步骤：

对所述L波段射频信号进行放大滤波处理生成L波段射频测试信号和发送通道选择。

可选的，所述存储介质中的还存储有另外一些计算机程序指令，该另外一些计算机程序指令在与步骤：接收所述L波段设备基于所述L波段射频测试信号的回送信号对应的计算机程序指令被执行之后被执行，执行过程中，包括如下步骤：

对所述L波段设备回送信号进行限幅滤波处理和接收通道选择。

可选的，所述存储介质中的还存储有另外一些计算机程序指令，该另外一些计算机程序指令在与步骤：获得所述测试参数对应的计算机程序指令被执行之后被执行，执行过程中，包括如下步骤：

输出所述测试参数。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (13)

1.一种L波段测试设备，其特征在于，包括：

对联射频口，用于连接L波段设备；

信号处理器；

收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；

其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，控制所述信号处理器产生测试信号、本振控制、多路开关通道选择信号并处理所述L波段设备发射的回送信号，所述收发模块基于所述本振控制以上变频本振频率对所述测试信号上变频后，生成的L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块处理后，通过多路开关选择后将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到所述L波段设备发射回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，基于所述本振控制，以下变频本振频率对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数；

其中，所述上变频本振频率与所述下变频本振频率的频率值不同。

2.如权利要求1所述的L波段测试设备，其特征在于，所述信号处理器具体包括：

DSP模块，用于接收模拟控制设备发送的控制指令集，将所述控制指令集进行协议格式转换后存储在多片存储器相应地址中，并将转换后的数据发送至与所述DSP模块连接的FPGA模块；其中，所述控制指令集包括用于产生预设波形的测试信号波形控制指令、用于控制工作状态的工作状态控制指令、用于控制所述收发模块对所述测试信号进行上变频处理的上变频本振控制指令、控制所述收发模块对所述回送信号进行下变频处理的下变频本振控制指令、用于选择发射通道与接收通道的通道选择控制指令；

所述FPGA模块，用于在接收到所述控制指令集后，基于所述测试信号波形控制指令，控制编码单元产生所述测试信号；将所述测试信号、所述上变频本振控制指令、所述下变频本振控制指令送至所述收发模块，并将所述通道选择控制指令与所述工作状态控制指令发送至所述多路开关，以控制确定所述发射通道与接收通道以及工作状态；并在接收到所述回送信号进行处理得到基带信号后，对所述基带信号进行处理解算，获得所述L波段设备的测试参数。

3.如权利要求2所述的L波段测试设备，其特征在于，所述收发模块具体包括：

本振频率产生单元，基于所述FPGA模块产生的通道选择、状态控制信号控制产生上变频、下变频需要的本振；基于所述上变频本振控制指令产生上变频需要的上变频本振频率，以及基于所述下变频本振控制指令产生下变频需要的下变频本振频率；

变频器，在发射所述L波段射频信号，基于所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，将上变频处理后的L波段射频信号送收发处理子模块进行收发处理；以及在接收到所述回送信号时，基于所述下变频本振频率对所述回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号；

所述多路开关，分别与所述收发处理子模块和所述对联射频口连接，用于在接收到所述工作状态控制指令与所述通道选择控制指令后，确定发射通道与接收通道以及所述发射通道与所述接收通道的工作状态。

4.如权利要求1-3中任一权项所述的L波段测试设备，其特征在于，所述收发模块还包括所述收发处理子模块，用于对上变频处理后的L波段射频信号进行放大滤波处理生成L波段射频测试信号，以及在接收到所述回送信号后，对所述回送信号进行限幅滤波处理。

5.如权利要求1-3中任一权项所述的L波段测试设备，其特征在于，所述信号处理器还用于在所述对联射频口通过测试衰减器电缆链路或匹配电路设备等与所述L波段设备连接后，控制并发送状态控制指令至所述L波段测试设备，以使得所述L波段测试设备收发信号的状态与所述L波段设备收发信号的状态匹配。

6.如权利要求1-3中任一权项所述的L波段测试设备，其特征在于，所述信号处理器还用于控制所述L波段测试设备输出所述测试参数。

7.一种测试方法，应用于L波段测试设备，其特征在于，所述测试方法包括：

在所述L波段测试设备与L波段设备连接进行测试时，控制产生测试信号、工作状态、通道选择信号、上变频本振频率、下变频本振频率；

基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号，并将所述L波段射频信号转换为L波段射频测试信号后经过射频口发送至所述L波段设备；

接收所述L波段设备发送的回送信号；

基于所述下变频本振频率与所述回送信号，生成基带信号；

处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数；

其中，所述上变频本振频率与所述下变频本振频率的频率值不同。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频测试信号，具体为：

以所述上变频本振频率对所述测试信号进行上变频处理，生成所述L波段射频信号。

9.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，基于所述下变频本振频率与所述回送信号，生成基带信号，具体为：

以所述下变频本振频率对所述L波段设备回送信号进行下变频处理，生成所述基带信号。

10.如权利要求7-9中任一权项所述的测试方法，其特征在于，在所述L波段测试设备通过测试衰减器电缆链路或匹配电路设备与L波段设备联接时，所述方法还包括：

产生并发送状态控制指令至所述L波段测试设备，以使得所述L波段测试设备收发信号的状态与所述L波段设备收发信号的状态匹配。

11.如权利要求7-9中任一权项所述的测试方法，其特征在于，在所述基于所述上变频本振频率与所述测试信号，生成L波段射频信号之后，所述方法还包括：

对所述L波段射频信号进行放大滤波处理生成L波段射频测试信号和发射通道选择。

12.如权利要求7-9中任一权项所述的测试方法，其特征在于，在所述接收所述L波段设备发送的回送信号之后，所述方法还包括：

对所述L波段设备回送信号进行限幅滤波处理和接收通道选择。

13.如权利要求7-9中任一权项所述的测试方法，其特征在于，在所述获得所述L波段设备的测试参数后，所述方法还包括：输出所述测试参数。