CN105277145A - 一种消除硬件误差自适应不同物体平面度检测的方法 - Google Patents
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Abstract
一、本发明的主要用途:涉及一种消除硬件误差自适应不同物体平面度检测的方法。二、本发明的技术特点:1.包括消除环境抖动干扰,自动调整传感器高度适应不同物体检测和减轻由于电机平行度带来的测量误差。2.消除环境抖动干扰是在整个设备的基地加上隔震平台,开始测量前先标定电机的平行度,假设检测平台为理想平面,获取电机运动过程中,理想平面的变化以此为校正的原始数据。3.然后测量时,根据传感器距离被测物的距离,自动调整传感器的高度,来完成测量任务。最后进行数据处理,利用校正的原始数据加上测量数据,得到相对的准确的测量结果。
Description
技术领域
本发明涉及计算机视觉技术测量、自动控制等领域,尤其涉及视觉测量。
背景技术
在机器视觉检测与测量中,激光位移传感器的发展使得距离测量变得更简单,测量的精度和速度也大大地提高,但是位移传感器的测量量程一般偏小,使得检测不同种类物体时的操作复杂度大大的提高。电机的使用提高设备的利用率。但是电机运行过程中产生的平行度误差,导致平面度检测的精度不高,加上外界环境的振动,对检测的结果也产生一定的影响。
发明内容
本发明针对现有技术中存在不足之处,提出一种消除硬件误差自适应不同物体平面度检测的方法,该方法可以消除在测量时候由于电机平行度的方法给测量结果带来的误差,利用减振平台减轻周围环境振动给测量结果带来的影响,同时自适应控制位移传感器来测量不同高度的平面度。
为了实现上述目的,本发明采用的技术是一种消除硬件误差自适应不同物体平面度检测的方法,首先把位移传感器垂直固定在与检测平面垂直的电机,根据传感器到被测量的距离,调整电机高度。然后以检测平面为基准平面,标定电机在不同位置的平行度,然后进行误差补偿。由于检测的环境大多处于工厂中,需要隔震平台减少外界环境的干扰。
附图说明
图1设备的基本结构图
具体实施方式
下面对本发明的技术方案进行详细说明,但是本发明的保护范围不局限与所述实例。
首先,在整套设备下设置隔震平台,减少环境振动对整个设备的测量的影响。
其次,把位移传感器安装在垂直于检测平面的电机上,每次检测产品时,先把产品放置在检测平台上,然后获取位移传感器的数值,若不在位移传感器的测量范围,则调整垂直检测平面的电机的高度来使得位移传感器在最佳的测量范围。
第三步,假设检测平台的平面为理想平面。检测物体前,先调整传感器到一定的位置,来测量理想平面的直线度的平滑,从而计算出电机的平行度,即电机处于那个位置上下跳动的变化。电机属于硬件特性保持不变。
第四步,检测被测物时候,根据第三步检测电机的平行度,来补偿测量数据,从而得到一个相对精确的平面度。
实施例1
沿着水平方向运动移动检测平台,获取位移传感器的一条线的数据,检测平台的平面度为1u,我们假设检测平台为理想的标准平面。故得到的一条线的数据为水平方向电机的平行度。这是检测平面度的基础。
以上对本发明的具体实施例进行了详细描述,但其只作为范例,本发明并不限制于以上描述的具体实施例。对于本领域技术人员而言,任何对该实用进行的等同修改和替代也都在本发明的范畴之中。因此,在不脱离本发明的精神和范围下所作的均等变换和修改,都应涵盖在本发明的范围内。
Claims (3)
1.一种消除硬件误差自适应不同物体平面度检测的方法,其特征在于,根据检测物体的高度,来自动调整非接触传感器的高度来使得被测物体到传感器距离在传感器的量程内,以达到检测物体平面度的目的。在整个设备中加入隔震平台,减少对环境的依赖,使得测量误差减少。同时引入误差补偿操作,大大降低了电机平行度给测量平面度带来的误差。
其中,所述自适应调节非接触传感器高度方法如下:
非接触传感器固定在一个垂直上下可调的电机上,把被检测物体放置在固定位置上,开始检测时先获取非接触传感器的读数,看是否处于传感器测量的最佳位置,若不是,则调整电机上下移动,使得传感器处于最佳测量距离来测量被测物的平面度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在XY形成的检测平台上,假设检测平台为理想平面,在测量被测物前,首先测量理想平面的平面度,其作为测量时候的基础误差矫正数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据检测环境的复杂度加入隔震平台,来使得检测设备更稳定,提高检测的精度。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN106403854A (zh) * | 2016-11-16 | 2017-02-15 | 中国计量大学 | 一种摩擦驱动式刹车片平面度检测机构 |
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2015
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PB01 | Publication | ||
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |