CN105245029A - 环i形连体支点旋转无触点控磁调功装置 - Google Patents

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Abstract

本发明创造型专利公开了环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置,一种由二组导磁体相对支点旋转覆盖构成的闭环磁场即环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置。由5初级线包和6环形导磁体及9次级线包与12?I形导磁体共同构成连体支点旋转无触点控磁调功装置。10旋转支点控制旋转支点11外力驱动支点旋转方向为外附加外力驱动控制系统。5初级线包分别由3电源输入端口经1电源输入开关端口输入经2初级线包输入端口1和4初级线包输入端口2通电;通过6环形导磁体与12?I形导磁体产生闭合磁场;9次级线包得到相同电能分别由7次级输出端口1和8次级输出端口2输出电能。

Description

环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置
技术领域
本发明涉及一种非接触式导磁体供电等多领域用途的电能转送系统,尤其涉及一种利用支点旋转I形导磁体与环形导磁体的接触面积,以互感电能转送及供磁的形式应用于调压、调光、调速、调温、调功及无触点高精度稳压等电器设备中,简称“环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置”。
背景技术
现有电器中端过电采用触点碳刷或弹性触点及电子调制等过电,接触电流大,易磨损,更换频繁;触点碳刷或弹性触点及电子器件烧结不能及时分离;易导致整台电器烧毁并引起灾害事故,电子器件调制存在杂波干扰和频率改变;触点碳刷和弹性触点产生接触性火花不能应用易燃易爆场所等。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足提供一种以电生磁磁感电还原能量的方法,即非接触式导磁体耦合磁能。
本发明要解决的问题是:利用供磁方式,即导磁体的非接触闭环供磁,达到磁能转换供电的目的;提供医用、军用、航天、航空等对电源有高精度要求的精密仪器、仪表,检测设备,通讯导航基站。
本发明的原理:根据互感耦合变压器能量转换,环形导磁体初级线包输入电源并联次级线包,利用支点旋转I形导磁体构成闭合磁场且次级线包得到相同能量;支点旋转调节I形导磁体与环形导磁体的磁场吻合面积的大小,比值与输出功率成正比关系。
本发明所述一种环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置结构包括:电源输入开关端口;电源初级输入端口1;电源输入端口;电源初级输入端口2;初级线包;环形导磁体;次级输出端口1;次级输出端口2;次级线包;旋转支点;外力驱动支点旋转方向;I导磁体。
附图说明
图1为本发明环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置结构示意图
图中:1、电源输入开关端口;2、电源初级输入端口1;3、电源输入端口;4、电源初级输入端口2;5、初级线包;6、环形导磁体;7、次级输出端口1;8、次级输出端口2;9、次级线包;10、旋转支点;11、外力驱动支点旋转方向;12、I导磁体。
具体实施方式
结合附图说明如下
本发明所述一种环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置结构包括:电源输入开关端口;电源初级输入端口1;电源输入端口;电源初级输入端口2;初级线包;环形导磁体;次级输出端口1;次级输出端口2;次级线包;旋转支点;外力驱动支点旋转方向;I导磁体。
本发明由二组导磁体相对支点旋转覆盖构成的闭环磁场即环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置。
由5初级线包和6环形导磁体及9次级线包与12I形导磁体共同构成连体支点旋转无触点控磁调功装置。
10旋转支点控制旋转支点11外力驱动支点旋转方向为外附加外力驱动控制系统。
5初级线包分别由3电源输入端口经1电源输入开关端口输入经2初级线包输入端口1和4初级线包输入端口2通电;通过6环形导磁体与12I形导磁体产生闭合磁场;9次级线包得到相同电能分别由7次级输出端口1和8次级输出端口2输出电能。

Claims (1)

1.一种由环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置,权利要求所述其特征在于环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置结构包括:电源输入开关端口;电源初级输入端口1;电源输入端口;电源初级输入端口2;初级线包;环形导磁体;次级输出端口1;次级输出端口2;次级线包;旋转支点;外力驱动支点旋转方向;I导磁体;
本发明由二组导磁体相对支点旋转覆盖构成的闭环磁场即环I形连体支点旋转无触点控磁调功装置;
由5初级线包和6环形导磁体及9次级线包与12I形导磁体共同构成连体支点旋转无触点控磁调功装置;
10旋转支点控制旋转支点11外力驱动支点旋转方向为外附加外力驱动控制系统;
5初级线包分别由3电源输入端口经1电源输入开关端口输入经2初级线包输入端口1和4初级线包输入端口2通电;通过6环形导磁体与12I形导磁体产生闭合磁场;9次级线包得到相同电能分别由7次级输出端口1和8次级输出端口2输出电能。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
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