CN105241820A - 一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪 - Google Patents
一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105241820A CN105241820A CN201510659110.3A CN201510659110A CN105241820A CN 105241820 A CN105241820 A CN 105241820A CN 201510659110 A CN201510659110 A CN 201510659110A CN 105241820 A CN105241820 A CN 105241820A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- modulation
- fpga
- axis
- ellipsometer
- photomodulator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510659110.3A CN105241820B (zh) | 2015-10-13 | 2015-10-13 | 一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510659110.3A CN105241820B (zh) | 2015-10-13 | 2015-10-13 | 一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105241820A true CN105241820A (zh) | 2016-01-13 |
CN105241820B CN105241820B (zh) | 2017-11-07 |
Family
ID=55039542
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510659110.3A Expired - Fee Related CN105241820B (zh) | 2015-10-13 | 2015-10-13 | 一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105241820B (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109612942A (zh) * | 2019-01-04 | 2019-04-12 | 北京环境特性研究所 | 一种椭偏仪以及基于该椭偏仪的检测方法 |
CN112945864A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-06-11 | 中北大学 | 一种基于双快轴可调弹光调制的广义椭偏分析装置 |
CN115597503A (zh) * | 2022-12-12 | 2023-01-13 | 睿励科学仪器(上海)有限公司(Cn) | 基于脉冲激光的椭偏量测装置及相关的光操作方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101183043A (zh) * | 2007-12-07 | 2008-05-21 | 大恒新纪元科技股份有限公司北京光电技术研究所 | 一种光学相位延迟精密测量方法及其系统 |
CN103251383A (zh) * | 2007-05-02 | 2013-08-21 | 佳能株式会社 | 图像形成方法和光学相干层析成像设备 |
CN103278507A (zh) * | 2013-05-13 | 2013-09-04 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量半导体材料弹光系数的装置及方法 |
CN104964750A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-10-07 | 中北大学 | 一种弹光调制测旋光的装置及方法 |
-
2015
- 2015-10-13 CN CN201510659110.3A patent/CN105241820B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103251383A (zh) * | 2007-05-02 | 2013-08-21 | 佳能株式会社 | 图像形成方法和光学相干层析成像设备 |
CN101183043A (zh) * | 2007-12-07 | 2008-05-21 | 大恒新纪元科技股份有限公司北京光电技术研究所 | 一种光学相位延迟精密测量方法及其系统 |
CN103278507A (zh) * | 2013-05-13 | 2013-09-04 | 中国科学院半导体研究所 | 一种测量半导体材料弹光系数的装置及方法 |
CN104964750A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-10-07 | 中北大学 | 一种弹光调制测旋光的装置及方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
李芳等: "利用调制式椭偏仪测量薄膜电光系数", 《红外与毫米波学报》 * |
赵培等: "1/4 波片延迟量的相位调制椭偏测量法", 《光学学报》 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109612942A (zh) * | 2019-01-04 | 2019-04-12 | 北京环境特性研究所 | 一种椭偏仪以及基于该椭偏仪的检测方法 |
CN112945864A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-06-11 | 中北大学 | 一种基于双快轴可调弹光调制的广义椭偏分析装置 |
CN115597503A (zh) * | 2022-12-12 | 2023-01-13 | 睿励科学仪器(上海)有限公司(Cn) | 基于脉冲激光的椭偏量测装置及相关的光操作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105241820B (zh) | 2017-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100468044C (zh) | 半导体材料残余应力的测试装置及方法 | |
CN105136681B (zh) | 一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置 | |
CN107976299B (zh) | 考虑光谱色散的弹光调制器延迟量定标分析方法及装置 | |
CN107655599B (zh) | 一种光学元件微小应力的测量方法 | |
CN105403514B (zh) | 一种多波长入射单发椭偏测量方法 | |
CN100378445C (zh) | 晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪 | |
CN109115690A (zh) | 实时偏振敏感的太赫兹时域椭偏仪及光学常数测量方法 | |
Kewu et al. | Fast and full range measurements of ellipsometric parameters using a 45 dual-drive symmetric photoelastic modulator | |
CN104964750A (zh) | 一种弹光调制测旋光的装置及方法 | |
CN103364349A (zh) | 利用可调波长激光器进行磁光椭偏测试的装置及测量方法 | |
CN107131902A (zh) | 一种用于光弹调制器峰值延迟量的标定方法 | |
CN105241820A (zh) | 一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪 | |
CN103616570A (zh) | 一种自校正光电集成电场传感器系统 | |
CN104406544B (zh) | 一种基于双光束差分消除光弹调制器及环境影响的检测装置与方法 | |
CN103940537A (zh) | 材料的微区应力测试系统 | |
CN102706809A (zh) | 线性双折射测量装置和测量方法 | |
CN107576632A (zh) | 极化晶体畴结构无损表征的方法、系统及其应用 | |
CN107219191B (zh) | 一种基于傅里叶变换的斜入射光反射差装置 | |
CN103605005A (zh) | 一种基于双y波导的光电集成电场测量系统 | |
CN103335821B (zh) | 四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 | |
CN102288549A (zh) | 基于光源光强正弦调制的双折射检测装置和检测方法 | |
CN107024278A (zh) | 一种在线消除光弹调制微小光旋角检测中偏振器件安装误差的装置及方法 | |
CN104730001A (zh) | 一种高时间分辨率高精度的椭偏测量装置及其方法 | |
CN104215432B (zh) | 光源偏振状态动态反馈的相位延迟器特性检测装置及方法 | |
CN102937515B (zh) | 正弦相位调制器峰值延迟量的标定装置和标定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB03 | Change of inventor or designer information | ||
CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Li Jinhua Inventor after: Jing Ning Inventor after: Li Kewu Inventor after: Wang Zhibin Inventor after: Wang Liming Inventor after: Li Xiao Inventor after: Zhang Rui Inventor after: Chen Youhua Inventor after: Xue Rui Inventor before: Li Kewu Inventor before: Wang Zhibin Inventor before: Wang Liming Inventor before: Li Xiao Inventor before: Zhang Rui Inventor before: Jing Ning Inventor before: Chen Youhua Inventor before: Xue Rui |
|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20171107 Termination date: 20181013 |