CN105225696A - 一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法 - Google Patents

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刘道欢
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Abstract

本发明涉及检测方法技术领域，尤其涉及一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,将nandflash芯片进行分区；通过nandflash驱动中相应的函数对各个所述分区中的block单元进行坏块判断；计算nandflash各个所述分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小。本发明的发明目的在于提供一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法，采用本发明提供的技术方案实现了对机顶盒nandflash芯片的坏块检测，以免产生机顶盒功能异常影响使用，同时，方便维护人员对问题机顶盒定位分析。

Description

一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法
技术领域
本发明涉及检测方法技术领域，尤其涉及一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法。
背景技术
随着机顶盒技术的发展，用户对加大机顶盒的flash存储空间的需求越来越迫切，尤其是安卓OTT机顶盒，使用nandflash是满足用户大量存储空间的最常见方式之一。
Nandflash的特性之一就是存在坏块，坏块产生的原因多样，nandflash芯片在出厂时可能已经产生了一些坏块，也有可能是机顶盒用户在使用过程中产生，随着产生的坏块逐渐增加，用户可使用的nandflash空间也逐渐减少，nandflash空间不足会引起机顶盒各种异常问题,影响用户正常使用。因此，机顶盒应用界面下对nandflash的坏块情况进行监控并界面显示坏块的个数和比例就显得很有必要，方便用户提前更换nandflash坏块过多的nandflash,以免产生机顶盒功能异常影响使用，同时，对机顶盒售后维修人员对问题机顶盒定位分析也很有帮助，可以作为定位分析相关问题的一种技术手段。
发明内容
本发明的发明目的在于提供一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法，采用本发明提供的技术方案实现了对机顶盒nandflash芯片的坏块检测，以免产生机顶盒功能异常影响使用，同时，方便维护人员对问题机顶盒定位分析。
为了达到上述发明目的，本发明提供一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,将nandflash芯片进行分区；通过nandflash驱动中相应的函数对各个所述分区中的block单元进行坏块判断；计算nandflash各个所述分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小。
将nandflash芯片进行分区之后还包括：获取各个所述分区的大小。
nandflash坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小的计算方法为：坏块空间在分区中所占比例＝分区中坏块空间大小/分区大小；各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小＝分区大小–分区中坏块大小。
机顶盒软件通过分区表对nandflash芯片进行分区，各所述分区为：mtdparts＝hinand:0x100000(fastboot),0x80000(bargs),0x80000(bbargs),0x80000(stbid),0xc0000(ldb),0xc0000(bakldb),0x800000(ml),0x800000(bl),0x500000(dvt5_2),0x500000(tf3_0),0x500000(db),0x100000(baseparam),0x300000(logo),0x500000(kernel),0xf00000(fs),0x1e00000(app),0x500000(adv)。
机顶盒系统为linux系统；所述linux系统通过ioctl函数给linux内核发送MEMGETBADBLOCK命令对各个所述分区中的block单元进行坏块判断。
本发明可实时检测机顶盒的nandflash各分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小，用户可提前更换坏块过多的nandflash芯片，以免产生机顶盒功能异常影响使用，同时，机顶盒售后维修人员能够通过本发明提供的检测方法对问题机顶盒进行定位分析，可以作为定位分析相关问题的一种技术手段。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例1流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例1
如图1所示，本实施例公开了一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,其步骤如下：a、将nandflash芯片进行分区；b、通过nandflash驱动中相应的函数对各个分区中的block单元进行坏块判断；c、计算nandflash各个分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小。
其中在步骤a中，机顶盒软件通过分区表对nandflash芯片进行分区，各分区为：
mtdparts＝hinand:0x100000(fastboot),0x80000(bargs),0x80000(bbargs),0x80000(stbid),0xc0000(ldb),0xc0000(bakldb),0x800000(ml),0x800000(bl),0x500000(dvt5_2),0x500000(tf3_0),0x500000(db),0x100000(baseparam),0x300000(logo),0x500000(kernel),0xf00000(fs),0x1e00000(app),0x500000(adv)。
在a步骤将nandflash芯片进行分区之后，还包括：获取各个分区的大小。nandflash坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小的计算方法为：坏块空间在分区中所占比例＝分区中坏块空间大小/分区大小；各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小＝分区大小–分区中坏块大小。
在b步骤中，由于nandflash是以block为单位组成，block大小通常为128KB，即总大小为128MB大小的nandflash共有1024个block组成，坏块是指nandflash中的某个或某些block不能正常的读写数据，导致这些block空间不可使用。
机顶盒系统为linux系统；linux系统通过ioctl函数给linux内核发送MEMGETBADBLOCK命令对各个分区中的block单元进行坏块判断。
本实施例能够检测机顶盒的nandflash各分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小，用户可提前更换坏块过多的nandflash芯片，以免产生机顶盒功能异常影响使用，同时，机顶盒售后维修人员能够通过本发明提供的检测方法对问题机顶盒进行定位分析。
实施例2
本实施例公开了一种可监控并显示机顶盒nandflash坏块的机顶盒，在机顶盒系统信息界面上新增一项“nandflash坏块状态”菜单，遥控器选中该菜单，按确定键，弹出一个显示界面，该界面能统计并显示当前nandflash坏块状态，显示的信息有机顶盒nandflash各分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小。
其中nandflash坏块状态通过上述实施例公开的检测方法进行统计。
机顶盒创建一个线程或定时器实时监控nandflash各个分区中的坏块个数，并通过机顶盒osd界面显示技术将上述nandflash坏块状态显示在界面上。
本实施例可实时监控并显示机顶盒的nandflash的坏块状态，通过界面可以显示机顶盒nandflash各分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小。
以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,其特征在于：
将nandflash芯片进行分区；
通过nandflash驱动中相应的函数对各个所述分区中的block单元进行坏块判断；
计算nandflash各个所述分区中存在的坏块个数、坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小。
2.根据权利要求所述的一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,其特征在于：
将nandflash芯片进行分区之后还包括：
获取各个所述分区的大小。
3.根据权利要求2所述的一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,其特征在于：
nandflash坏块空间在分区中所占比例以及各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小的计算方法为：
坏块空间在分区中所占比例＝分区中坏块空间大小/分区大小；
各分区除去坏块空间外实际可以使用的空间大小＝分区大小–分区中坏块大小。
4.根据权利要求1所述的一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,其特征在于：
机顶盒软件通过分区表对nandflash芯片进行分区，各所述分区为：
mtdparts＝hinand:0x100000(fastboot),0x80000(bargs),0x80000(bbargs),0x80000(stbid),0xc0000(ldb),0xc0000(bakldb),0x800000(ml),0x800000(bl),0x500000(dvt5_2),0x500000(tf3_0),0x500000(db),0x100000(baseparam),0x300000(logo),0x500000(kernel),0xf00000(fs),0x1e00000(app),0x500000(adv)。
5.根据权利要求所述的一种机顶盒nandflash芯片的坏块检测方法,其特征在于：
机顶盒系统为linux系统；
所述linux系统通过ioctl函数给linux内核发送MEMGETBADBLOCK命令对各个所述分区中的block单元进行坏块判断。
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