CN105223242A - 嵌入式条干均匀度测试装置及其工作方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种嵌入式条干均匀度测试装置，包括传感器电路、信号调理电路、二相四线步进电机和试样牵引装置，其结构特点是：还包括第一从单片机、第二从单片机、主控单片机、EEPROM模块、旋转编码开关、存储SRAM、传感器电路、信号调理电路、步进电机驱动芯片、CPLD模块、缓存SRAM、显存SRAM和LCD；装置的工作方法包括参数选择、检测启动、实时检测、检测信号调理、检测信号实时计算处理、实时绘制被测条干不匀曲线图、检测结果计算与显示等步骤。本发明采用3片采用主从模式的嵌入式单片机替代传统测试装置中的计算机或工控机；用旋转编码开关替代计算机输入装置，大幅降低了条干测试装置的硬件成本和故障发生率。

Description

嵌入式条干均匀度测试装置及其工作方法

技术领域

本发明涉及纺织品检测技术领域，具体涉及一种嵌入式条干均匀度测试装置及其工作方法。

背景技术

随着社会的不断发展，人们对纺织服装面料的要求越来越高。既要穿着舒适、风格独特、颜色纯净，也要外形美观、布面匀净、纹路清晰。纱条(包括细纱、粗纱和条子)的条干不匀直接影响纺织品外观质量，条干不匀主要是指沿纱条长度方向线密度不匀的程度。目前国际上用于测量纱条的条干不匀的方法有很多种，主要以《乌斯特公报》发表的最新指标作为标准，我国采用《纺织品纱线条干不匀实验方法》（GB/T3292.1-2008）。主要采用的测量方法有三种，分别为测量称重法、目光检测法、仪器测量法。测量称重法操作简单，但其计算工作量太大，不适用于一般性的常规测试。目光检测法使用简单，具有直观性，容易为生产人员所了解，但该方法测得的是短片纱线的直径不匀，受人的主观因素影响，重复性差，而且不易保存。仪器测量法目前采用的主要方法是电容式条干均匀度仪，可信度高且人为误差小。通过检测测量区内一段纱条的直径变化来获取纱条线密度条干不均匀度的相关数据信息，主要用于测量纱条截面不匀。

电容式条干均匀度仪是目前技术含量较高，使用最多的纱条条干均匀度测试仪；目前市场上的电容式条干均匀度测试仪器通常采用计算机或工控计算机来进行整个测试装置的机电控制和对数据进行采集处理，如公开号为CN1412547A的中国专利文献公开的“虚拟条干均匀度测试仪”、公开号CN101328633A的中国专利文献公开的“一种气流传动式条干均匀度测量仪”即采用计算机控制和数据处理；又如公开号为CN203360907U的中国专利文献公开的“便携式纱线条干均匀度测试仪”即采用工控机进行控制和数据处理。采用计算机或工控计算机进行测试装置的机电控制和对数据进行采集处理，会使得整个测试装置体积庞大且价格昂贵，且与测试装置配套的计算机或工控机长期工作在湿度大、粉尘多的环境下，故障发生率较高。

发明内容

本发明的目的是：提供一种利用低成本、低功耗的嵌入式芯片组成的数控系统替代传统测试装置中的计算机或工控计算机、采用旋转编码开关替代传统测试装置中计算机输入装置、结构简单、智能化和性价比更高的嵌入式条干均匀度测试装置及其工作方法。

本发明的技术方案是：本发明的嵌入式条干均匀度测试装置，包括传感器电路、信号调理电路、二相四线步进电机和试样牵引装置，上述的信号调理电路与传感器电路信号电连接；二相四线步进电机与试样牵引装置传动连接；传感器电路设置在试样牵引装置处，用于对试样牵引装置带动的被测试样进行检测；传感器电路包括检测电容极板和与检测电容极板相连的电容桥检测电路；其结构特点是：

还包括第一从单片机、第二从单片机、主控单片机、EEPROM模块、旋转编码开关、存储SRAM、传感器电路、信号调理电路、步进电机驱动芯片、CPLD模块、缓存SRAM、显存SRAM和LCD；

上述的第一从单片机和第二从单片机分别与主控单片机信号电连接；主控单片机分别与旋转编码开关和信号调理电路信号电连接；主控单片机与存储SRAM双向信号电连接；第一从单片机与步进电机驱动芯片控制信号电连接；步进电机驱动芯片与二相四线步进电机的电源端电连接；

上述的第二从单片机还与EEPROM模块信号电连接；CPLD模块和缓存SRAM分别与第二从单片机信号电连接；缓存SRAM和显存SRAM分别与CPLD模块双向信号电连接；LCD与CPLD模块信号电连接。

进一步的方案是：还包括外存储模块；上述的外存储模块与主控单片机信号电连接。

进一步的方案是：上述的第一从单片机和第二从单片机分别通过数据信号线、应答信号线以及片选信号线共三根总线与主控单片机信号电连接；主控单片机与第一从单片机和第二从单片机采用SPI通信。

进一步的方案是：上述的主控单片机和第二从单片机为STC12LE5A60S2的8051型号单片机；第一从单片机为内置PWM波发生器和AD转换的STC12LE5612AD的8051型号单片机。

进一步的方案是：上述的EEPROM模块为SST29LE020型号的电可擦可编程只读存储器；存储SRAM、缓存SRAM、显存SRAM为IS61LV5128AL型号的随机存取存储器；CPLD模块为XILINXXC95144XL型号的复杂可编程逻辑芯片；LCD为1024*768分辨率的液晶显示屏。

进一步的方案还有：上述的旋转编码开关为FORTUNE生产的F-12E系列的旋转编码开关；步进电机驱动芯片为SGS公司生产的高压、大电流双全桥式驱动器的L298型号的芯片。

一种上述的嵌入式条干均匀度测试装置的工作方法，包括以下步骤：

①参数选择：装置上电后自动完成初始化；LCD由主控单片机内置程序驱动自动显示测量主界面；根据检测内容，拨动旋转编码开关在LCD显示的测量主界面上选择和设定检测相关参数；

②检测启动：用旋转编码开关选中LCD15显示的测量主界面上设置的检测开始按钮并按下确认；主控单片机发送启动命令给第一从单片机；第一从单片机通过步进电机驱动芯片驱动二相四线步进电机转动；二相四线步进电机驱动试样牵引装置带动被测条干试样运动；

③实时检测：被测条干试样在试样牵引装置带动下穿过传感器电路的检测电容极板，穿过检测电容极板之间引起的电容的变化值由传感器电路的电容桥检测电路转化为实时的电压信号传输给信号调理电路；

④检测信号调理：信号调理电路对传感器电路发送的实时检测电压信号进行放大、整形及AD转换后处理后发送给主控单片机；

⑤检测信号实时计算处理：主控单片机接收信号调理电路发送的检测电压信号Vs，由其内置的依据检测标准编制的软件程序自动进行计算和处理：

第一步：主控单片机计算被测条干试样前8秒内的检测电压信号数据的平均值Vp，并将计算结果发送存储SRAM存储；

第二步：主控单片机对8秒以后接收的检测电压信号Vs首先采用公式

Vc＝(Vs-Vp)÷Vp计算相对误差Vc；然后再将相对误差Vc发送存储SRAM中存储；同时主控单片机通过第二从单片机将8秒以后接收的检测电压信号Vs数据发送给缓存SRAM存储；

第三步：主单片机将相对误差Vc按照其内置软件程序预设的疵点标准进行分类计数并发送存储SRAM中存储；

⑥实时绘制被测条干不匀曲线图：缓存SRAM通过第二从单片机接收主控单片机发送的8秒以后的检测电压信号Vs进行存储；主控单片机通过第二从单片机调用EEPROM模块中存储的字库文件，驱动CPLD模块将缓存SRAM中的数据调入显存SRAM中，同时CPLD模块将显存SRAM中的数据发送给LCD进行实时显示，并同时在LCD上绘制条干检测结果不匀曲线图；

⑦重复步骤③至步骤⑥，直至一管被测条干试样检测结束；

⑧检测结果计算与显示：本次测试结束后，主单片机对相应数据做如下处理：

第一步：主单片机调用存储SRAM中存储的相对误差Vc数据做CV值运算，,其中，为相对误差Vc数据序列的第K个数据，N为本次检测相对误差Vc数据的个数，将运算得到的CV值即条干不匀变异系数发送给存储SRAM（6）存储；主控单片机调用存储SRAM中存储的CV值通过第二从单片机发送给缓存SRAM存储，用于显示被测条干试样的CV值；

第二步：主控单片机调用存储SRAM中存储的被测条干试样疵点分类计数的数据通过第二从单片机发送给缓存SRAM存储，用于显示被测条干试样的各类疵点数；

第三步：主单片机调用存储SRAM中存储的相对误差Vc数据序列，通过离散傅里叶变换提取不同波长的相对误差值，并通过第二从单片机将不同波长的相对误差值数据发送给缓存SRAM存储，用于显示被测条干试样的波谱图；

第四步：主控单片机通过第二从单片机调用EEPROM模块中的字库文件，驱动CPLD模块将缓存SRAM中的数据调入显存SRAM中；同时CPLD模块将显存SRAM中的CV值、各类疵点、不同波长的相对误差值数据发送给LCD进行显示，并同时在LCD上绘制被测条干试样的波谱图。

进一步的方案是：上述的步骤⑤中，主控单片机内置的软件程序所用的检测标准根据国标GB/T3292.1-2008确定。

本发明具有积极的效果：（1）本发明的嵌入式条干均匀度测试装置，其采用低成本、低功耗的三片采用主从模式结构的嵌入式单片机通过SPI通信方式协同工作，替代传统测试装置中的计算机或工控计算机；采用旋转编码开关替代传统测试装置中计算机输入装置，从而使得本发明的装置较之于现有技术而言，实现了整个测试装置的结构简单化、小型化、智能化，大幅度降低了条干测试装置的硬件成本，使得本发明的装置较之于现有技术的装置，性价比更高，市场竞争能力更强。（2）本发明的嵌入式条干均匀度测试装置，采用嵌入式结构，较之于现有技术，更为适合于湿度大、粉尘多的应用环境，故障发生率大为降低。（3）本发明的嵌入式条干均匀度测试装置，其在使用时，工作方法简洁有效，可靠性好。

附图说明

图1为本发明装置的结构示意框图；

图2为本发明的工作方法流程示意图。

上述附图中的附图标记如下：

第一从单片机1，第二从单片机2，主控单片机3，EEPROM模块4，旋转编码开关5，存储SRAM6，传感器电路7，信号调理电路8，步进电机驱动芯片9，二相四线步进电机10，试样牵引装置11，CPLD模块12，缓存SRAM13，显存SRAM14，LCD15，外存储模块16。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

（实施例1）

见图1，本实施例的嵌入式条干均匀度测试装置，其主要由第一从单片机1、第二从单片机2、主控单片机3、EEPROM模块4、旋转编码开关5、存储SRAM6、传感器电路7、信号调理电路8、步进电机驱动芯片9、二相四线步进电机10、试样牵引装置11、CPLD模块12、缓存SRAM13、显存SRAM14、LCD15和外存储模块16组成。

第一从单片机1和第二从单片机2分别通过数据信号线、应答信号线以及片选信号线共三根总线与主控单片机3信号电连接；主控单片机3与旋转编码开关5和信号调理电路8分别信号电连接；主控单片机3与存储SRAM6双向信号电连接；外存储模块16与主控单片机3信号电连接；第一从单片机1与步进电机驱动芯片9控制信号电连接；步进电机驱动芯片9的输出端与二相四线步进电机10的电源端电连接；二相四线步进电机10与试样牵引装置11传动连接；传感器电路7设置在试样牵引装置11处，用于对试样牵引装置11带动的被测试样进行检测，传感器电路7包括检测电容极板和与检测电容极板相连的电容桥检测电路，电容桥检测电路的输出端即为传感器电路7的输出端；传感器电路7的输出端与信号调理电路8的输入端电连接；第二从单片机2还与EEPROM模块4信号电连接；CPLD模块12和缓存SRAM13分别与第二从单片机2信号电连接；缓存SRAM13和显存SRAM14分别与CPLD模块12双向信号电连接；LCD15与CPLD模块12信号电连接。

前述的主控单片机3为整个嵌入式芯片系统的核心，内置有检测程序，能够自动对检测数据进行处理，并控制第一从单片机1和第二从单片机2协同工作。

第一从单片机1用于通过步进电机驱动芯片9控制二相四线步进电机10启动和停止，二相四线步进电机10驱动试样牵引装置11带动被测条干试样至传感器电路7进行检测。

第二从单片机2与CPLD模块12、EEPROM模块4、显存SRAM14、缓存SRAM13协同工作，驱动LCD15显示操作界面和测试结果，此种设计可以实现驱动最高分辨率为1440*900的19寸LCD显示工作；其中，EEPROM模块4用于存放显示用的字库文件。

LCD15（液晶显示屏）在装置开机时首先显示主操作界面，主操作界面由主控单片机3内置的程序确定，LCD15主操作界面上设置有包括检测项目类型选项、电机转速选项、存储文件名选项、检测开始按钮等内容。

旋转编码开关5用于和LCD15一起实现人机交互；通过拔动旋转编码开关5，能够将LCD15上的选择光标左右、上下移动进行内容选择，当选择内容确定后，旋转编码开关5按下确认键即可执行LCD15上选定的内容或动作。

本实施例中，主控单片机3和第二从单片机2优选采用型号为STC12LE5A60S2的8051单片机；第一从单片机1优选采用内置PWM波发生器和AD转换的STC12LE5612AD的8051单片机；EEPROM模块4优选采用型号为SST29LE020的电可擦可编程只读存储器；存储SRAM6、缓存SRAM13、显存SRAM14均优选采用型号为IS61LV5128AL的随机存取存储器，内存大小为512K；CPLD模块12优选采用型号为XILINXXC95144XL的CPLD（复杂可编程逻辑芯片）；LCD15优选采用分辨率为1024*768的LCD显示屏；旋转编码开关5优选采用FORTUNE生产的F-12E系列旋转编码开关；步进电机驱动芯片9优选采用SGS公司生产的高压、大电流双全桥式驱动器的L298型号的芯片；外部存储模块16优选采用通用的U盘。

参见图2，本实施例的嵌入式条干均匀度测试装置，其用于对纱线、条子等被测试样的条干均匀度检测时的工作方法，包括以下步骤：

①参数选择：装置上电后自动完成初始化；LCD15由主控单片机3内置程序驱动自动显示测量主界面；根据检测内容，拨动旋转编码开关5在LCD15显示的测量主界面上选择和设定检测相关参数；

②检测启动：用旋转编码开关5选中LCD15显示的测量主界面上设置的检测开始按钮并按下确认；主控单片机3发送启动命令给第一从单片机1；第一从单片机1通过步进电机驱动芯片9驱动二相四线步进电机10转动；二相四线步进电机10驱动试样牵引装置11带动被测条干试样运动；

③实时检测：被测条干试样在试样牵引装置11带动下穿过传感器电路7的检测电容极板，穿过检测电容极板之间引起的电容的变化值由传感器电路7的电容桥检测电路转化为实时的电压信号传输给信号调理电路8；

④检测信号调理：信号调理电路8对传感器电路7发送的实时检测电压信号进行放大、整形及AD转换后处理后发送给主控单片机3；

⑤检测信号实时计算处理：主控单片机3接收信号调理电路8发送的检测电压信号Vs，由其内置的依据检测标准编制的软件程序自动进行计算和处理：

第一步：主控单片机3计算被测条干试样前8秒内的检测电压信号数据的平均值Vp，并将计算结果发送存储SRAM6存储；

第二步：主控单片机(3)对8秒以后接收的检测电压信号Vs首先采用公式

Vc＝（Vs－Vp）÷Vp计算相对误差Vc；然后再将相对误差Vc发送存储SRAM6中存储；同时主控单片机3通过第二从单片机2将8秒以后接收的检测电压信号Vs数据发送给缓存SRAM13存储；

第三步：主单片机3将相对误差Vc按照其内置软件程序预设的疵点标准进行分类计数并发送存储SRAM6中存储；

⑥实时绘制被测条干不匀曲线图：缓存SRAM13通过第二从单片机2接收主控单片机3发送的8秒以后的检测电压信号Vs进行存储；主控单片机3通过第二从单片机2调用EEPROM模块4中存储的字库文件，驱动CPLD模块12将缓存SRAM13中的数据调入显存SRAM14中，同时CPLD模块12将显存SRAM14中的数据发送给LCD15进行实时显示，并同时在LCD15上绘制条干检测结果不匀曲线图；

⑦重复步骤③至步骤⑥，直至一管被测条干试样检测结束；

⑧检测结果计算与显示：本次测试结束后，主单片机3对相应数据做如下处理：

第一步：主单片机3调用存储SRAM6中存储的相对误差Vc数据序列做方差运算，,其中，为相对误差Vc数据序列的第K个数据，N为本次检测相对误差Vc数据的个数，将运算结果得到的CV值即条干不匀变异系数发送给存储SRAM6存储，主控单片机3调用存储SRAM6中存储的CV值通过第二从单片机2发送给缓存SRAM13存储，用于显示被测条干试样的CV值；

第二步：主控单片机3调用存储SRAM6中存储的被测条干试样疵点分类计数的数据通过第二从单片机2发送给缓存SRAM13存储，用于显示被测条干试样的各类疵点数；

第三步：主单片机3调用存储SRAM6中存储的相对误差Vc数据序列，通过离散傅里叶变换提取不同波长的相对误差值，并通过第二从单片机2将不同波长的相对误差值数据发送给缓存SRAM13存储，用于显示被测条干试样的波谱图即纱条的周期性变异；

第四步：主控单片机3通过第二从单片机2调用EEPROM模块4中的字库文件，驱动CPLD模块12将缓存SRAM13中的数据调入显存SRAM14中；同时CPLD模块12将显存SRAM14中的CV值、各类疵点、不同波长的相对误差值数据发送给LCD15进行显示，并同时在LCD15上绘制被测条干试样的波谱图。

标准的波谱图包络呈正态分布，任何波长的相对误差严重偏离正态分布包络的现象，均可反映试样生产过程存在工艺缺陷，需要停止该试样的生产设备工作，进行检修。

前述的步骤⑤中，主控单片机3内置的软件程序所用的检测标准根据国标（GB/T3292.1-2008）确定。

必要时，可通过外存储模块6通过主控单片机3获取检测数据和计算结果。

综上所述，本实施例的嵌入式条干均匀度测试装置，其采用低成本、低功耗的三片采用主从模式结构的嵌入式单片机通过SPI通信方式协同工作，替代传统测试装置中的计算机或工控计算机；采用旋转编码开关替代传统测试装置中计算机输入装置，实现了整个测试装置的结构简单化、小型化、智能化，大幅度降低了条干测试装置的硬件成本，性价比更高，市场竞争能力更强；同时装置更为适合于湿度大、粉尘多的应用环境，故障发生率大为降低；本实施例的嵌入式条干均匀度测试装置，其在使用时，工作方法简洁有效，可靠性好。

以上实施例是对本发明的具体实施方式的说明，而非对本发明的限制，有关技术领域的技术人员在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变换和变化而得到相对应的等同的技术方案，因此所有等同的技术方案均应该归入本发明的专利保护范围。

Claims (8)

1.一种嵌入式条干均匀度测试装置，包括传感器电路（7）、信号调理电路（8）、二相四线步进电机（10）和试样牵引装置（11），所述的信号调理电路（8）与传感器电路（7）信号电连接；二相四线步进电机（10）与试样牵引装置（11）传动连接；传感器电路（7）设置在试样牵引装置（11）处，用于对试样牵引装置（11）带动的被测试样进行检测；传感器电路（7）包括检测电容极板和与检测电容极板相连的电容桥检测电路；其特征在于：

还包括第一从单片机（1）、第二从单片机（2）、主控单片机（3）、EEPROM模块（4）、旋转编码开关（5）、存储SRAM（6）、传感器电路（7）、信号调理电路（8）、步进电机驱动芯片（9）、CPLD模块（12）、缓存SRAM（13）、显存SRAM（14）和LCD（15）；

所述的第一从单片机（1）和第二从单片机（2）分别与主控单片机（3）信号电连接；主控单片机（3）分别与旋转编码开关（5）和信号调理电路（8）信号电连接；主控单片机（3）与存储SRAM（6）双向信号电连接；第一从单片机（1）与步进电机驱动芯片（9）控制信号电连接；步进电机驱动芯片（9）与二相四线步进电机（10）的电源端电连接；

所述的第二从单片机（2）还与EEPROM模块（4）信号电连接；CPLD模块（12）和缓存SRAM（13）分别与第二从单片机（2）信号电连接；缓存SRAM（13）和显存SRAM（14）分别与CPLD模块（12）双向信号电连接；LCD（15）与CPLD模块（12）信号电连接。

2.根据权利要求1所述的嵌入式条干均匀度测试装置，其特征在于：还包括外存储模块（16）；所述的外存储模块（16）与主控单片机（3）信号电连接。

3.根据权利要求1所述的嵌入式条干均匀度测试装置，其特征在于：所述的第一从单片机（1）和第二从单片机（2）分别通过数据信号线、应答信号线以及片选信号线共三根总线与主控单片机（3）信号电连接；主控单片机（3）与第一从单片机（1）和第二从单片机（2）采用SPI通信。

4.根据权利要求1所述的嵌入式条干均匀度测试装置，其特征在于：所述的主控单片机（3）和第二从单片机（2）为STC12LE5A60S2的8051型号单片机；第一从单片机（1）为内置PWM波发生器和AD转换的STC12LE5612AD的8051型号单片机。

5.根据权利要求1所述的嵌入式条干均匀度测试装置，其特征在于：所述的EEPROM模块（4）为SST29LE020型号的电可擦可编程只读存储器；存储SRAM（6）、缓存SRAM（13）、显存SRAM（14）为IS61LV5128AL型号的随机存取存储器；CPLD模块（12）为XILINXXC95144XL型号的复杂可编程逻辑芯片；LCD（15）为1024*768分辨率的液晶显示屏。

6.根据权利要求1所述的嵌入式条干均匀度测试装置，其特征在于：所述的旋转编码开关（5）为FORTUNE生产的F-12E系列的旋转编码开关；步进电机驱动芯片（9）为SGS公司生产的高压、大电流双全桥式驱动器的L298型号的芯片。

7.一种由权利要求1所述的嵌入式条干均匀度测试装置的工作方法，其特征在于：包括以下步骤：

①参数选择：装置上电后自动完成初始化；LCD（15）由主控单片机（3）内置程序驱动自动显示测量主界面；根据检测内容，拨动旋转编码开关（5）在LCD（15）显示的测量主界面上选择和设定检测相关参数；

②检测启动：用旋转编码开关（5）选中LCD15显示的测量主界面上设置的检测开始按钮并按下确认；主控单片机（3）发送启动命令给第一从单片机（1）；第一从单片机（1）通过步进电机驱动芯片（9）驱动二相四线步进电机（10）转动；二相四线步进电机（10）驱动试样牵引装置（11）带动被测条干试样运动；

③实时检测：被测条干试样在试样牵引装置（11）带动下穿过传感器电路（7）的检测电容极板，穿过检测电容极板之间引起的电容的变化值由传感器电路（7）的电容桥检测电路转化为实时的电压信号传输给信号调理电路（8）；

④检测信号调理：信号调理电路（8）对传感器电路（7）发送的实时检测电压信号进行放大、整形及AD转换后处理后发送给主控单片机（3）；

⑤检测信号实时计算处理：主控单片机（3）接收信号调理电路（8）发送的检测电压信号Vs，由其内置的依据检测标准编制的软件程序自动进行计算和处理：

第一步：主控单片机（3）计算被测条干试样前8秒内的检测电压信号数据的平均值Vp，并将计算结果发送存储SRAM（6）存储；

第二步：主控单片机（3）对8秒以后接收的检测电压信号Vs首先采用公式

Vc＝（Vs－Vp）÷Vp计算相对误差Vc；然后再将相对误差Vc发送存储SRAM（6）中存储；同时主控单片机（3）通过第二从单片机（2）将8秒以后接收的检测电压信号Vs数据发送给缓存SRAM（13）存储；

第三步：主单片机（3）将相对误差Vc按照其内置软件程序预设的疵点标准进行分类计数并发送存储SRAM（6）中存储；

⑥实时绘制被测条干不匀曲线图：缓存SRAM（13）通过第二从单片机（2）接收主控单片机（3）发送的8秒以后的检测电压信号Vs进行存储；主控单片机（3）通过第二从单片机（2）调用EEPROM模块（4）中存储的字库文件，驱动CPLD模块（12）将缓存SRAM（13）中的数据调入显存SRAM（14）中，同时CPLD模块（12）将显存SRAM（14）中的数据发送给LCD（15）进行实时显示，并同时在LCD（15）上绘制条干检测结果不匀曲线图；

⑦重复步骤③至步骤⑥，直至一管被测条干试样检测结束；

⑧检测结果计算与显示：本次测试结束后，主单片机（3）对相应数据做如下处理：

第一步：主单片机（3）调用存储SRAM（6）中存储的相对误差Vc数据做CV值运算，,其中，为相对误差Vc数据序列的第K个数据，N为本次检测相对误差Vc数据的个数，将运算得到的CV值即条干不匀变异系数并发送给存储SRAM（6）存储；主控单片机（3）调用存储SRAM（6）中存储的CV值数据通过第二从单片机（2）发送给缓存SRAM（13）存储，用于显示被测条干试样的CV值；

第二步：主控单片机（3）调用存储SRAM（6）中存储的被测条干试样疵点分类计数的数据通过第二从单片机（2）发送给缓存SRAM（13）存储，用于显示被测条干试样的各类疵点数；

第三步：主单片机（3）调用存储SRAM（6）中存储的相对误差Vc数据序列，通过离散傅里叶变换提取不同波长的相对误差值，并通过第二从单片机（2）将不同波长的相对误差值数据发送给缓存SRAM（13）存储，用于显示被测条干试样的波谱图；

第四步：主控单片机（3）通过第二从单片机（2）调用EEPROM模块（4）中的字库文件，驱动CPLD模块（12）将缓存SRAM（13）中的数据调入显存SRAM（14）中；同时CPLD模块（12）将显存SRAM（14）中的CV值、各类疵点、不同波长的相对误差值数据发送给LCD（15）进行显示，并同时在LCD（15）上绘制被测条干试样的波谱图。

8.一种由权利要求7所述的嵌入式条干均匀度测试装置的工作方法，其特征在于：所述的步骤⑤中，主控单片机（3）内置的软件程序所用的检测标准根据国标GB/T3292.1-2008确定。