CN105210138A - 集成的补偿数据通道 - Google Patents

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Abstract

一种方法，其用于同时补偿多个劣化现象，其中所述多个劣化现象会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响。各所述像素电路都包括被驱动晶体管驱动的发光器件(诸如有机发光二极管或OLED)。所述多个劣化现象包括：非均匀性现象(其是由工艺非均匀性导致的)、时间依赖性老化现象、以及可能由像素电路中的驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象。

Description

集成的补偿数据通道
著作权声明
本专利申请文件的公开内容的一部分包含受到著作权保护的材料。随着本专利申请的公开内容出现在专利商标局的专利案卷或档案中，著作权拥有人并不反对任何人得到该公开内容的复制本，但是在其他方面则无论如何都保留所有的著作权权利。
技术领域
本发明涉及在显示器中使用的电路，且更具体地，涉及对多个劣化现象的补偿。
背景技术
正如在以前的文件和专利中所讨论的，IGNISMaxlifeTM技术能够补偿包括老化、非均匀性、及温度等等的OLED(有机发光二极管)和背板(backplane)问题。
发明内容
代替分别用于各补偿阶段的离散步骤的使用，集成的补偿会导致更加有效的实施。因此，本发明的一个方面旨在提供一种方法，其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象。各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件。所述方法包括：利用一个或多个控制器，在第一表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第一现象的多个第一因子，且在第二表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第二现象的多个第二因子。所述方法还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，测量受到所述第一现象和所述第二现象之中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性；且响应于所述测量，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值，以产生第一调整值。所述方法还包括：响应于所述新值的所述确定，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者，以产生第二调整值；且利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中。所述方法还包括：响应于所述第一调整值和所述第二调整值的所述存储，根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器来依次驱动所述被选出的像素电路。
根据本发明的另一个方面，提供了一种方法，其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象。各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件。所述方法包括：利用一个或多个控制器，在功率因子表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的在各所述像素电路处的非均匀性现象的多个功率因子，所述非均匀性现象与所述有源矩阵显示器的制造中的工艺非均匀性相关。所述方法还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在比例因子表格中存储用来至少补偿所述多个劣化现象中的在所述像素电路的各个所述发光器件或所述驱动晶体管的至少一者处的时间依赖性老化现象的多个比例因子。所述方法还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在偏移因子表格中存储用来至少补偿所述多个劣化现象中的至少由各所述像素电路中的所述驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象的多个偏移因子。所述方法还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，测量受到所述非均匀性现象、所述老化现象或所述动态效应现象中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性。所述方法还包括：响应于所述测量，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的功率因子、比例因子或偏移因子的新值，以产生第一调整值。所述方法还包括：响应于所述新值的所述确定，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述功率因子、所述比例因子和所述偏移因子中的另外两者，以产生第二调整值和第三调整值。所述方法还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，将所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值存储在所述功率因子表格、所述比例因子表格和所述偏移因子表格中的相应表格中。所述方法还包括：响应于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的所述存储，根据基于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的电流，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器依次驱动所述被选出的像素电路。前述的这些动作能够以任意顺序而被执行且能够补偿一个或多个现象的任意组合。
根据本发明的又一个方面，提供了一种显示系统，其用来补偿会对亮度性能产生不利影响的劣化现象。所述显示系统包括有源矩阵、处理器和存储器件。所述有源矩阵具有电流驱动型像素电路，各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件。所述存储器件具有已存储的指令，当所述已存储的指令被所述处理器执行时，所述已存储的指令就致使所述显示系统执行下列动作：在第一表格中存储用来补偿所述劣化现象中的第一现象的多个第一因子，且在第二表格中存储用来补偿所述劣化现象中的第二现象的多个第二因子。当所述已存储的指令被所述处理器执行时，所述已存储的指令进一步致使所述显示系统执行下列动作：测量受到所述第一现象和所述第二现象中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性；且响应于所述测量，确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值，以产生第一调整值。当所述已存储的指令被所述处理器执行时且响应于所述新值的所述确定，所述已存储的指令进一步致使所述显示系统执行下列动作：自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者，以产生第二调整值。当所述已存储的指令被所述处理器执行时，所述已存储的指令进一步致使所述显示系统执行下列动作：将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中；且响应于所述第一调整值和所述第二调整值的存储，根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性，依次驱动所述被选出的像素电路。前述的这些动作能够以任意顺序而被执行且能够补偿一个或多个现象的任意组合。
依据参照附图而做出的对各种各样的实施例的详细说明，本发明的额外的方面对于本领域的普通技术人员来说将会是显而易见的。下面提供了附图的简要说明。
附图说明
图1图示了用来监控像素中的劣化且因此提供补偿的系统的示例性构造。
图2是根据本发明一个方面的集成的补偿数据通道(integratedcompensationdatapath)的流程图。
图3图示了用来增大在低灰度级下的分辨率的非线性伽马曲线。
图4图示了使用比特分配(bitallocation)的压缩线性伽马曲线。
在附图中以举例的方式已经示出了本发明的具体实施例并且在这里将会详细地说明这些具体实施例，但是，本发明可以有各种各样的变形和替代方式。应当理解的是，本发明并不希望被局限于所披露的特定形式。相反，本发明理应涵盖落入到由随附的权利要求限定的本发明的要旨和范围内的所有变形、等同物和替代物。
具体实施方式
图1是示例性的显示系统50的图。显示系统50包括地址驱动器8、数据驱动器4、控制器2、记忆存储器6和显示面板20。显示面板20包括被布置在行和列中的像素10的阵列。各像素10是单独可编程的，以便发射具有单独可编程的亮度值的光。控制器2接收到表示要被显示于显示面板20上的信息的数字数据。控制器2将信号32发送到数据驱动器4，且将时序信号34发送到地址驱动器8，以便驱动显示面板20中的像素10从而显示所表示的信息。因此，与显示面板20相关的所述多个像素10包括如下的显示阵列(“显示屏幕”)：该显示阵列适合于动态地显示与由控制器2接收到的输入数字数据对应的信息。所述显示屏幕能够显示例如来自于由控制器2接收到的视频数据流的视频信息。电源电压14能够提供固定电压或可以是被来自于控制器2的信号控制着的可调电压源。显示系统50还能够包含来自于电流源(currentsource)或电流宿(currentsink)(未图示)的特征以便向显示面板20中的像素10提供偏置电流，由此减少了对于像素10的编程时间。
为了解释的目的，图1中的显示系统50被图示为在显示面板20中只有四个像素10。当然，显示系统50能够被实施成具有如下的显示屏幕：该显示屏幕包括诸如像素10等类似像素的阵列，但该显示屏幕并不局限于特定的像素行数和像素列数。例如，显示系统50能够被实施成具有如下的显示屏幕：该显示屏幕中的像素行数和像素列数可普遍使用于移动设备、电视、数码相机或其他基于监控器的设备、和/或投影设备的显示器中。
像素10是利用通常包括驱动晶体管和发光器件的驱动电路(“像素电路”)而被操作的。以下，像素10可以称为像素电路。所述发光器件视需要而言可以是有机发光二极管，但是本发明的实施方式适用于具有其他电致发光器件(包括电流驱动型发光器件)的像素电路。像素10中的驱动晶体管视需要而言可以是n型或者p型的非晶硅或多晶硅薄膜晶体管，但是本发明的实施方式不局限于其中晶体管呈现为特定极性的像素电路，或不局限于仅仅是具有薄膜晶体管的像素电路。像素电路10还可以包括储存电容器，该储存电容器用来储存编程信息且允许该像素电路10能够在被寻址之后驱动所述发光器件。因此，显示面板20可以是有源矩阵显示阵列。
如图1所示，显示面板20中的被图示为左上方像素的像素10被连接至选择线24j、电源线26j、数据线22i和监控线28i。在一个实施方式中，电源电压14还能够向像素10提供第二电源线。例如，各像素能够被连接至由Vdd充电的第一电源线和与Vss连接的第二电源线，且像素电路10能够被安置于第一电源线与第二电源线之间以便在该像素电路的发光阶段的期间内使这两个电源线之间的驱动电流变得更容易。显示面板20中的左上方像素10可以对应于该显示面板中的位于显示面板20的第“j”行第“i”列中的像素。类似地，显示面板20中的右上方像素10代表第“j”行第“m”列；左下方像素10代表第“n”行第“i”列；且右下方像素10代表第“n”行第“i”列。各像素10被连接至合适的选择线(例如，选择线24j和24n)、电源线(例如，电源线26j和26n)、数据线(例如，数据线22i和22m)以及监控线(例如，监控线28i和28m)。应当注意的是，本发明的各方面适用于具有额外连接(诸如与额外的选择线的连接等)的像素，并且适用于具有较少连接的像素(诸如不具备与监控线的连接的像素等)。
参照显示面板20中所示的左上方像素10，选择线24j由地址驱动器8提供，且选择线24j可以被用来例如通过激活用于允许数据线22i对像素10进行编程的开关或晶体管来使得像素10的编程操作得以执行。数据线22i把来自于数据驱动器4的编程信息传送给像素10。例如，数据线22i能够被用来向像素10施加编程电压或编程电流，以便对像素10进行编程从而使该像素发出所需量的亮度。由数据驱动器4经由数据线22i而提供过来的所述编程电压(或编程电流)是这样的电压(或电流)：其适合于致使像素10发射出具有与由控制器2接收到的数字数据对应的所需量的亮度的光。所述编程电压(或编程电流)能够在像素10的编程操作期间内被施加给像素10，以便对像素10内的储存器件(诸如储存电容器等)进行充电，由此使像素10能够在编程操作之后的发射操作期间内发射出具有所需量的亮度的光。例如，像素10中的所述储存器件能够在编程操作的期间内被充电，以便在发射操作的期间内向驱动晶体管的一个或多个栅极或源极端子施加电压，由此致使该驱动晶体管把与储存于所述储存器件上的电压对应的驱动电流传送得经过发光器件。
通常，在像素10中，在像素10的发射操作的期间内由驱动晶体管传送得经过发光器件的驱动电流是由第一电源线26j提供的且被排出至第二电源线(未图示)的电流。第一电源线22j和第二电源线被连接至电压电源14。第一电源线26j能够提供正的电源电压(例如，在电路设计中通常被称为“Vdd”的电压)，且第二电源线能够提供负的电源电压(例如，在电路设计中通常被称为“Vss”的电压)。本发明的实施方式能够在这两个电源线中的一者或另一者(例如，电源线26j)被固定至接地电压或另一个参考电压的情况下而被实现。
显示系统50还包括监控系统12，监控系统12经由各条监控线28而接收关于相应像素的被监控到的、或被测量出的、或被提取出的信息。再次参照显示面板20中的左上方像素10，监控线28i将该像素10连接至监控系统12。监控系统12能够与数据驱动器4集成在一起，或者可以是一个分离开的独立系统。特别地，监控系统12视需要能够通过在像素10的监控操作的期间内监控数据线22i的电流和/或电压而被实施，且监控线28i能够被完全地省略。此外，显示系统50能够在没有监控系统12或监控线28i的前提下被实施。监控线28i允许监控系统12测量与像素10相关的电流或电压，且由此提取出表示像素10的劣化的信息。例如，监控系统12能够通过监控线28i而提取流过像素10内的驱动晶体管的电流，由此基于被测量出的电流且基于在该测量期间内被施加给驱动晶体管的电压而确定该驱动晶体管的阈值电压或其漂移。
监控系统12还能够提取发光器件的工作电压(例如，当发光器件正在工作而发光时该发光器件两端的电压降)。然后，监控系统12能够将信号32传达给控制器2和/或存储器6，以使得显示系统50能够将所提取的劣化信息存储于存储器6中。在像素10的随后的编程和/或发射操作的期间内，所述劣化信息是由控制器2凭借存储器信号36而从存储器6中取回的，然后控制器2补偿在像素10的随后的编程和/或发射操作中的所提取的劣化信息。例如，一旦劣化信息被提取出来，那么经由数据线22i而被传输至像素10的编程信息就能够在像素10的随后的编程操作的期间内被适当地调整，以使得像素10发射出具有与像素10的劣化无关的所需量的亮度的光。在一个例子中，像素10内的驱动晶体管的阈值电压的增大能够通过使施加于像素10上的编程电压适当地增大而得到补偿。该补偿如下所述地而被确定且参照图2到图4而被图示。
集成的数据通道
根据本发明的一个方面，提供了一种同时补偿多个劣化现象的方法，其中这些劣化现象会对有源矩阵显示器(例如，显示面板20)中的电流驱动型像素(例如，图1中的像素10)的亮度性能产生不利影响。各像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件(诸如有机发光二极管或OLED)。劣化现象包括：非均匀性现象(其是由工艺非均匀性引起的)、温度现象、滞后现象、时间依赖性老化现象、以及可能由像素电路中的驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象。有时，这些现象在OLED技术中也被称为像素“参数”。
利用对于像素电路的通用类补偿方程，我们能够确认各现象(例如，OLED和TFT老化、非均匀性，等等)对各参数的影响。结果，当测量到某个现象时，受到这个现象影响的所有参数都被更新。
这个实施方式的一个例子基于如下的方程：
Ip(i,j)＝k’(i,j)·(Vg(i,j)-VT(i,j))α’(i,j)(1)
Ip是通过有源矩阵显示器中的给定的行和列(i,j)而引出的像素电流。VT(i,j)＝VT0(i,j)-ΔVT0(i,j)-KdynVOLED(i,j)，并且k’(i,j)＝kcomp(i,j)·β(i,j)。这里，VT0(i,j)是初始非均匀性偏移，ΔVT0(i,j)是老化偏移(agingoffset)，Kdyn是VOLED在所述偏移上的动态效应，kcomp(i,j)是OLED效率劣化在比例因子上的影响，且β(i,j)是像素非均匀性在比例因子上的影响。例如，如果OLED效率下降10％，那么使像素电流增大10％以便补偿该效率损失，这意味着Kcomp将会是1.1。字母i和j分别指的是正被测量的像素的列和行。
根据(1)来计算Vg(i,j)，就给出如下的方程：
Vg(i,j)＝k(i,j)IP(i,j)α(i,j)+VT(i,j)(2)
在方程(2)中，k(i,j)＝(1/k’(i,j))1/α’(i,j)，α(i,j)＝1/α’(i,j)。
在图2中，功率LUT106(查找表)指的是功率因子表格，它存储着用来补偿与在有源矩阵显示器的制造中的工艺非均匀性有关的非均匀性现象100的功率因子。比例LUT108指的是比例因子表格，它存储着用来补偿有源矩阵显示器的像素电路中的发光器件和/或驱动晶体管的时间依赖性老化现象102的多个比例因子。偏移LUT110指的是偏移因子表格，它存储着用来补偿至少由有源矩阵显示器的像素电路中的驱动晶体管的阈值电压的漂移VT而引起的动态效应现象104的多个偏移因子。块112、114、116中图示了例如电流和/或电压的测量。在图2中，星号(*)指的是：来自于一条监控线28的、且已经受到这里所说明的一个或多个现象的影响的被测量/被提取的信号(例如，电压、电流或电荷)的表示。
测量受到一个或多个劣化现象的影响的像素电路中的被选出的一个像素电路的特性。这个特性例如可以是：由驱动晶体管消耗的电流或该驱动晶体管两端的电压、由发光器件消耗的电流或该发光器件两端的电压、及驱动晶体管的阈值电压。一些劣化监控方案已被披露于美国专利申请公开案第2012/0299978号和美国专利申请公开案第2012/0299973号中。
利用上面的方程，被测量的特性被用来确定新值以便产生调整后的值，所述调整后的值产生新的功率因子、比例因子和/或偏移因子。无论哪一个因子被调整，另外两个因子都会自动且同时地利用上面的方程而被调整。调整后的因子被存储在相应的功率因子表格、比例因子表格和偏移因子表格中。补偿后的像素根据基于所述调整后的值的电流以及编程电流或电压而被驱动。
可供替代地和/或视需要可选地，在确定新值时被测量的现象的顺序可以发生改变，因此基于功率LUT106、比例LUT108和偏移LUT110而被确定的这些因子的任何顺序组合都是可能的。举例来说，基于比例LUT108的新的比例因子是第一个被确定的，基于功率LUT106的新的功率因子是第二个被确定的，且基于偏移LUT110的新的偏移因子是第三个被确定的。在另一个例子中，新的偏移因子是第一个被确定的，新的功率因子是第二个被确定的，且新的比例因子是第三个被确定的。
根据另一个可供替代的和/或视需要可选的特征，使各参数发生改变的起源可以除了包括图2中所示的那些起源以外还包括其他参数，或者使各参数发生改变的起源可以不包括图2中所示的那些起源而是包括其他参数。举例来说，在确定依据功率LUT106、比例LUT108和/或偏移LUT110而被确定的那些因子中的任意因子时，可以包括非均匀性、温度、滞后、OLED老化和动态效应中的任意一个或多个起源。例如，为了确定用于功率LUT106的新的功率因子，除了使用非均匀性现象以外还使用温度现象、滞后现象、OLED老化现象和动态效应现象中的至少一者，或者不使用非均匀性现象而是使用温度现象、滞后现象、OLED老化现象和动态效应现象中的至少一者。
根据又一个可供替代的和/或视需要可选的特征，各参数阶段被划分为多个阶段。例如，在确定用于比例LUT106的新的比例因子时的阶段包括具有多个新的比例因子的两个以上子阶段。因此，以具体例子来说，第一比例子阶段基于非均匀性来确定第一新的比例因子，第二比例子阶段基于温度来确定第二新的比例因子，第三比例子阶段基于滞后来确定第三新的比例因子，以此类推。可供替代地，参照上面的具体例子，新的比例因子是被依次确定的。例如，基于滞后的第三新的比例因子是第一个被确定的，且基于非均匀性的第一新的比例因子是第二个被确定的。
根据再一个可供替代的和/或视需要可选的特征，除了包括图2中所示的阶段以外还包括额外的阶段，或者不包括图2中所示的阶段而是包括其他的阶段。例如，除了包括用来确定新的功率因子、比例因子和偏移因子的这些阶段以外，或用来代替这些阶段的是，包括用来确定亮度控制因子、对比度控制因子等的至少一个阶段。
伽马调整
为了既能测量又能补偿，在低灰度级下期望具有更高的分辨率。虽然在对液晶显示器(LCD：liquidcrystaldisplay)面板进行驱动时使用非线性伽马曲线是传统的，但是对于OLED来说，由于非线性像素行为，所以通常是不需要使用非线性伽马曲线的。结果，OLED显示器提供了独有的能够避免非线性伽马的机会，这使得系统变得更简单。然而，如图3所示，非线性伽马120是预期的用来增大在低灰度级下的分辨率的方法。
在外部补偿中，通过设计而要求源极驱动器电压具有更大的峰值储备(headroom)。虽然在面板(即，有源矩阵显示器)老化开始的时候，需要较小的峰值电压来获得目标亮度，且随着面板继续老化，峰值电压就需要增大，但是同时，用于目标黑(targetblack)的最大电压由于偏移漂移(offsetshift)而增大。
因此，使用了源极驱动器电压的压缩范围，其小于源极驱动器电压。如图4所示且如下面通过举例所说明的，该范围能够取决于面板状态而上移或下移。
参照图4，压缩线性伽马曲线(compressed-lineargammacurve)使用了比特分配。虚线130表示源极驱动器(SDVDD)的可用范围，其从该源极驱动器的GND(接地)到VDD(电源)。粗线132表示通过将源极驱动器的参考电压配置成使得10比特的规模适用于如粗体所示的范围而被设定的范围。视需要可选地，图3中的非线性伽马120方法和图4中的压缩线性伽马方法可以被合并，从而提供其中至少一些比特分配与非线性伽马曲线120对应且至少一部分与压缩线性伽马曲线130、132对应的组合。
图2至图4中所示的、在这里以举例的方式而被说明的那些块中的一些块或所有块代表着如下的一个或多个算法：所述算法对应于由用于执行所公开的功能或步骤的一个或多个控制器执行的至少一些指令。这里所说明的方法、算法或功能中的任意一者可以包括由一个或多个处理器或控制器和/或任何其他的适当处理器件执行的机器或计算机可读指令。这里所公开的任何算法、软件或方法能够被体现为具有一个或多个非暂时性有形介质或媒介的计算机程序产品，诸如闪存、CD-ROM、软盘、硬盘驱动器、数字通用光用盘(DVD：digitalversatiledisk)或其他存储器件(例如，图1中的存储器6)，但是本领域的普通技术人员应当容易理解的是，可供替代地，该整个算法和/或该算法的某些部分可以利用除了控制器以外的器件而被执行，和/或能够被体现为固件或专用硬件(例如，其能够利用特定用途集成电路(ASIC：applicationspecificintegratedcircuit)、可编程逻辑器件(PLD：programmablelogicdevice)、现场可编程逻辑器件(FPLD：fieldprogrammablelogicdevice)、离散逻辑等等而被实现)。以举例的方式，这些方法、算法和/或功能可以包括由在上面参照图1所图示且说明的控制器2和/或监控系统12执行的机器或计算机可读指令。
这些实施例及其明显的变型例中的各者被视为落入在随附权利要求中所要求保护的本发明的要旨和范围内。此外，本概念显然包括前述的各要素和方面的任意及全部组合和次组合。

Claims (20)

1.一种方法，其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象，各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件，所述方法包括：
利用一个或多个控制器，在第一表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第一现象的多个第一因子；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在第二表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的第二现象的多个第二因子；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，测量受到所述第一现象和所述第二现象之中的被检测到的一个现象的影响的被选出的一个所述像素电路的特性；
响应于所述测量，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值，以产生第一调整值；
响应于所述新值的所述确定，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者，以产生第二调整值；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中；以及
响应于所述第一调整值和所述第二调整值的所述存储，根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器来依次驱动所述被选出的像素电路。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述像素电路特性包括下列中的至少一者：所述驱动晶体管消耗的电流、所述驱动晶体管两端的电压、所述驱动晶体管的阈值电压、所述发光器件消耗的电流、所述发光器件两端的电压。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个劣化现象包括非均匀性现象、时间依赖性老化现象、动态效应现象、温度现象和温度现象。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一表格和所述第二表格是从由功率因子表格、比例因子表格和偏移因子表格组成的群组中选出的。
5.根据权利要求4所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在所述功率因子表格中存储用来补偿与所述有源矩阵显示器的制造中的工艺非均匀性相关的非均匀性现象的功率因子。
6.根据权利要求4所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在所述比例因子表格中存储用来补偿所述发光器件和所述驱动晶体管中的至少一者的时间依赖性老化现象的比例因子。
7.根据权利要求4所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在所述偏移因子表格中存储用于至少由所述驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象的偏移因子。
8.根据权利要求1所述的方法，其还包括：利所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，使分辨率依据非线性伽马曲线而增大。
9.根据权利要求1所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，选择源极驱动器电压的沿着压缩线性伽马曲线的压缩范围。
10.根据权利要求1所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，将源极驱动器的参考电压配置成能够实现沿着非线性伽马曲线和压缩线性伽马曲线中的至少一者的一部分的比特分配。
11.一种方法，其用于补偿会对有源矩阵显示器中的电流驱动型像素电路的亮度性能产生不利影响的多个劣化现象，各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件，所述方法包括：
利用一个或多个控制器，在功率因子表格中存储用来补偿所述多个劣化现象中的在各所述像素电路处的非均匀性现象的多个功率因子，所述非均匀性现象与所述有源矩阵显示器的制造中的工艺非均匀性相关；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在比例因子表格中存储用来至少补偿所述多个劣化现象中的在所述像素电路的各个所述发光器件或所述驱动晶体管的至少一者处的时间依赖性老化现象的多个比例因子；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，在偏移因子表格中存储用来至少补偿所述多个劣化现象中的至少由各所述像素电路中的所述驱动晶体管的阈值电压的漂移而引起的动态效应现象的多个偏移因子；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，测量受到所述非均匀性现象、所述老化现象或所述动态效应现象中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性；
响应于所述测量，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器确定用于所述被检测到的一个现象的相应的功率因子、比例因子或偏移因子的新值，以产生第一调整值；
响应于所述新值的所述确定，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器自动地计算所述功率因子、所述比例因子和所述偏移因子中的另外两者，以产生第二调整值和第三调整值；
利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，将所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值存储在所述功率因子表格、所述比例因子表格和所述偏移因子表格中的相应表格中；以及
响应于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的所述存储，根据基于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的电流，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器依次驱动所述被选出的像素电路。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述电流是所述驱动晶体管消耗的电流和所述发光器件消耗的电流中的至少一者。
13.根据权利要求11所述的方法，其还包括：响应于所述第一调整值、所述第二调整值和所述第三调整值的所述存储，根据从由所述驱动晶体管消耗的电流、所述驱动晶体管两端的电压、所述驱动晶体管的阈值电压、所述发光器件消耗的电流、所述发光器件两端的电压组成的群组中选出的一个或多个像素电路特性，利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器来驱动所述被选出的像素电路。
14.根据权利要求11所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，使分辨率依据非线性伽马曲线而增大。
15.根据权利要求11所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，选择源极驱动器电压的沿着压缩线性伽马曲线的压缩范围。
16.根据权利要求1所述的方法，其还包括：利用所述一个或多个控制器中的至少一个控制器，将源极驱动器的参考电压配置成能够实现沿着非线性伽马曲线和压缩线性伽马曲线中的至少一者的一部分的比特分配。
17.一种显示系统，其用来补偿会对亮度性能产生不利影响的劣化现象，所述显示系统包括：
有源矩阵，所述有源矩阵具有电流驱动型像素电路，各所述像素电路包括被驱动晶体管驱动的发光器件；
处理器；和
存储器件，所述存储器件存储有指令，当所述指令被所述处理器执行时，就致使所述显示系统执行下列动作：
在第一表格中存储用来补偿所述劣化现象中的第一现象的多个第一因子；
在第二表格中存储用来补偿所述劣化现象中的第二现象的多个第二因子；
测量受到所述第一现象和所述第二现象中的被检测到的一个现象的影响的所述像素电路中的被选出的一个像素电路的特性；
响应于所述测量，确定用于所述被检测到的一个现象的相应的第一因子和第二因子的新值，以产生第一调整值；
响应于所述新值的所述确定，自动地计算所述第一因子和所述第二因子中的另一者，以产生第二调整值；
将所述第一调整值和所述第二调整值存储在所述第一表格和所述第二表格中的相应表格中；以及
响应于所述第一调整值和所述第二调整值的所述存储，根据基于所述第一调整值和所述第二调整值的像素电路特性，依次驱动所述被选出的像素电路。
18.根据权利要求17所述的显示系统，其中，所述像素电路特性包括下列中的至少一者：所述驱动晶体管消耗的电流、所述驱动晶体管两端的电压、所述驱动晶体管的阈值电压、所述发光器件消耗的电流、所述发光器件两端的电压。
19.根据权利要求17所述的显示系统，其中，所述劣化现象包括非均匀性现象、时间依赖性老化现象、动态效应现象、温度现象和温度现象。
20.根据权利要求17所述的显示系统，其中，所述第一表格和所述第二表格是从由功率因子表格、比例因子表格和偏移因子表格组成的群组中选出的。
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