CN105158665B - 一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，试验前对绝缘子做预处理，通过测量与控制绝缘子表面温度，控制受潮环境温度与湿度，人为造成绝缘子表面污层冷凝受潮，达到加速绝缘子表面污层受潮的目的。

Description

一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法

技术领域

本发明涉及一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，属于电网信息安全检测与防御技术领域。

背景技术

随着我国经济的发展，环境污染问题越发严重，对输电线路、变电站的绝缘设备的外绝缘特性造成了很大的影响，导致电网的污闪事故，影响电网的安全运行。在实验室开展研究是探索高电压外绝缘问题的有效手段，模拟绝缘子饱和受潮状态是其中的重要研究内容。由于自然污秽绝缘子其成分组成复杂，多数条件下会存在二价盐，同时其结构致密，受潮速度明显慢于人工污秽绝缘子。为使自然污秽绝缘子迅速达到饱和受潮，需要改变绝缘子的受潮方式，如延长受潮时间，但延长受潮时间可能会带来污秽的流失，引起试验结果失真。

发明内容

目的：为了克服现有技术中存在的不足，解决现有智能变电站网络安全监控和异常行为检测的不足等问题，本发明提供一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法。

技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)试验流程：

(1)测定绝缘子初始温度T₀；

(2)设定冰室温度T_fri；

(3)将绝缘子置于冰室中，处理时间t₁；

(4)设定雾室温度T_cha、相对湿度100％；

(5)将绝缘子取出，置于雾室中，受潮时间t₂；

(6)受潮结束，开展试验；

2)参数设定：

降温阶段绝缘子温度常数为τ₁，处理时间为t₁，处理接受后绝缘子温度为T₁；雾室受潮阶段绝缘子温度常数为τ₂，受潮时间为t₂，处理接受后绝缘子温度为T₂；则有

为保证在绝缘子受潮阶段t₂时间范围内绝缘子温度均低于环境露点，冰室中的处理时间应不低于t₁

所述的污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于：XWP2-160型双伞形瓷绝缘子，其绝缘子温度降温阶段温度常数τ₁＝26.5；升温阶段温度常数τ₂＝43.7。

有益效果：本发明提供的污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，试验前对绝缘子做预处理，通过测量与控制绝缘子表面温度，控制受潮环境温度与湿度，人为造成绝缘子表面污层冷凝受潮，达到加速绝缘子表面污层受潮的目的。

附图说明

图1是试验过程中绝缘子表面温度变化曲线。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。

污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于，包括如下步骤：

1、试验流程：

(1)测定绝缘子初始温度T₀；

(2)设定冰室温度T_fri；

(3)将绝缘子置于冰室中，处理时间t₁；

(4)设定雾室温度T_cha、相对湿度100％；

(5)将绝缘子取出，置于雾室中，受潮时间t₂；

(6)受潮结束，开展试验；

2、参数设定：

降温阶段绝缘子温度常数为τ₁，处理时间为t₁，处理接受后绝缘子温度为T₁；雾室受潮阶段绝缘子温度常数为τ₂，受潮时间为t₂，处理接受后绝缘子温度为T₂；则有

试验过程中的绝缘子表面温度变化曲线如图1所示。

为保证在绝缘子受潮阶段t₂时间范围内绝缘子温度均低于环境露点，冰室中的最短处理时间为

对常见的XWP2-160型双伞形瓷绝缘子，其绝缘子温度降温阶段温度常数τ₁＝26.5；升温阶段温度常数τ₂＝43.7。

实施例1：处理前绝缘子温度为40℃；设定冰柜设定温度为7℃；设定雾室温度为20℃，相对湿度100％；设定在雾室15min受潮时间内绝缘子温度低于19.5℃以保证绝缘子充分受潮；绝缘子温度降温阶段温度常数τ₁＝26.5；升温阶段温度常数τ₂＝43.7。

则在冰箱中的最短处理时间为

该过程中：在冰柜中处理时间为27.5min；处理完成后置于雾室中受潮，15min后绝缘子温度为19.5℃，满足试验要求。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (2)

1.一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)试验流程：

(1)测定绝缘子初始温度T₀；

(2)设定冰室温度T_fri；

(3)将绝缘子置于冰室中，处理时间t₁；

(4)设定雾室温度T_cha、相对湿度100％；

(5)将绝缘子取出，置于雾室中，受潮时间t₂；

(6)受潮结束，开展试验；

2)参数设定：

降温阶段绝缘子温度常数为τ₁，处理时间为t₁，处理接受后绝缘子温度为T₁；雾室受潮阶段绝缘子温度常数为τ₂，受潮时间为t₂，处理接受后绝缘子温度为T₂；则有

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为保证在绝缘子受潮阶段t₂时间范围内绝缘子温度均低于环境露点，冰室中的处理时间应不低于t₁

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2.根据权利要求1所述的污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于：XWP2-160型双伞形瓷绝缘子，其绝缘子温度降温阶段温度常数τ₁＝26.5；升温阶段温度常数τ₂＝43.7。