CN105157955A - 一种led光源的测试装置和测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种LED光源的测试装置和测试方法，包括测试机构，测试机构包括承载台、基座、正顶针、负顶针和吸附装置，所述承载台位于所述测试机构的中部，所述基座位于所述测试机构的底部，所述正顶针、负顶针和吸附装置位于所述承载台和所述基座之间；所述承载台上具有镂空的安放区，所述安放区用于安放LED光源；所述吸附装置用于吸附所述LED光源，以使所述LED光源固定在所述承载台上；所述正顶针可与所述LED光源的正电极电连接，所述负顶针可与所述LED光源的负电极电连接，以使所述LED光源与电源连接，以便对所述LED光源进行测试，从而解决了现有的LED光源测试方法测试结果准确性较差的问题。

Description

一种LED光源的测试装置和测试方法

技术领域

本发明涉及LED光源技术领域，更具体地说，涉及一种LED光源的测试装置和测试方法。

背景技术

在电子应用技术智能化、多媒体化和网络化的发展趋势下，CSP(ChipScalePackage，晶片级封装)技术已经成为制造现代电子产品必不可少的技术之一。并且，CSP技术已经浸透到各个行业、各个领域，应用十分广泛。

在半导体领域，一种应用CSP技术的LED光源由于具有散热效果佳、流明密度高以及封装密度高等优点，受到了人们的广泛关注。虽然LED光源的封装密度越来越高、性能越来越好，但是，目前仍缺少针对LED光源尤其是CSP器件的比较成熟的测试方法。

现有的一种测试方法是在LED光源的顶面覆盖一个玻璃盖板来实现LED光源的固定，然后采用顶针与LED光源底面的电极进行电连接来进行测试。但是，由于玻璃盖板吸光严重，且易受污染，因此，会导致测试结果稳定性和准确性较差。

现有的另一种测试方法是采用吸光量固定的材料压住LED光源顶面的四个角来实现LED光源的固定，但是，这种方法同样会挡住LED光源顶面发出的部分光线，影响测试结果的准确性。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种LED光源的测试装置和测试方法，以解决现有的LED光源的测试方法测试准确性较差的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种LED光源的测试装置，包括测试机构，所述测试机构包括承载台、基座、正顶针、负顶针和吸附装置，所述承载台位于所述测试机构的中部，所述基座位于所述测试机构的底部，所述正顶针、负顶针和吸附装置位于所述承载台和所述基座之间；

所述承载台上具有镂空的安放区，所述安放区用于安放LED光源，所述LED光源底面具有正电极和负电极，其侧面和顶面中的至少一个面为出光面，其中，安放后的所述LED光源的底面朝向所述吸附装置、正顶针和负顶针；

所述吸附装置的底部与所述基座连接、顶部可与所述安放区的LED光源的底面接触，所述吸附装置用于吸附所述LED光源，以使所述LED光源固定在所述承载台上；

所述正顶针与电源的正极电连接，所述负顶针与电源的负极电连接，且所述正顶针可与所述LED光源的正电极电连接，所述负顶针可与所述LED光源的负电极电连接，以使所述LED光源与电源连接，以便对所述LED光源进行测试。

优选的，所述LED光源为CSP器件，所述CSP器件的顶面和四个侧面为出光面，所述CSP器件的底面具有正电极和负电极。

优选的，所述吸附装置包括吸管和位于所述吸管顶部的吸嘴，所述吸管和吸嘴均为中空结构，所述吸管的底部与所述基座连接，所述基座可带动所述吸管移动，使所述吸嘴与所述承载台上的LED光源的底面接触。

优选的，所述吸管的底部通过贯穿所述基座的管路与真空泵连接，所述真空泵用于抽出所述吸管内的气体，以使所述吸嘴吸附固定所述承载台上的LED光源。

优选的，所述吸管和吸嘴为一体结构，且所述吸管和吸嘴为电木或橡胶材质；

或者，所述吸管和吸嘴为可拆分的结构，所述吸管为金属材质，所述吸嘴为电木或橡胶材质。

优选的，所述吸管和吸嘴均为中空的圆柱体状结构；

或者，所述吸管为中空的圆柱体状结构，所述吸嘴为圆盘状结构或倒锥台状结构。

优选的，所述正顶针和所述负顶针固定在所述基座上，通过所述基座带动所述正顶针和负顶针移动，使正顶针与所述承载台上的LED光源的正电极电连接、所述负顶针与所述LED光源的负电极电连接。

优选的，所述正顶针和所述负顶针固定在弹性元件上，通过所述弹性元件的伸缩带动所述正顶针和负顶针沿所述吸附装置上下移动，使正顶针与所述承载台上的LED光源的正电极电连接、所述负顶针与所述LED光源的负电极电连接。

优选的，所述正顶针和所述负顶针与一个所述吸附装置对应设置，所述正顶针和所述负顶针位于所述吸附装置的内部。

优选的，所述正顶针与一个所述吸附装置对应设置，所述负顶针与另一个所述吸附装置对应设置，所述正顶针位于对应的所述吸附装置的内部，所述负顶针位于对应的所述吸附装置的内部。

一种LED光源的测试方法，应用于如上任一项所述的LED光源的测试装置，包括：

将LED光源安放在承载台的安放区，所述LED光源具有正电极和负电极的底面朝向吸附装置、正顶针和负顶针；

通过吸附装置吸附所述LED光源，使所述LED光源固定在所述承载台上；

通过正顶针使所述LED光源的正电极与电源的正极电连接，通过负顶针使所述LED光源的负电极与电源的负极电连接；

对所述LED光源进行测试。

与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点：

本发明所提供的LED光源的测试装置和测试方法，通过位于承载台下方的吸附装置给承载台的安放区上的LED光源一个向下的吸附力来将LED光源固定在承载台上，并且，固定后的LED光源的底部正电极与正顶针接触、负电极与负顶针接触，来实现LED光源与电源的电连接，进而可以对LED光源进行测试，从而避免了通过按压LED光源顶面来固定LED光源导致的LED光源测试结果准确性较差的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明的一个实施例提供的一种LED光源的测试装置；

图2为本发明的一个实施例提供的另一种LED光源的测试装置；

图3为本发明的另一实施例提供的LED光源的测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的一个实施例提供了一种LED光源的测试装置，该测试装置用于在LED光源投入使用之前，对LED光源的光学性能和电学性能进行测试，以避免LED光源在使用的过程中出现问题，影响相关电子器件的使用。

本实施例中的测试装置包括测试机构，图1为该测试机构的剖面图，如图1所示，该测试机构包括承载台1、基座2、吸附装置4、一个正顶针5和一个负顶针6。当然，在本发明的其他实施例中测试机构可以包括多个正顶针以及多个负顶针，且正顶针和负顶针一一对应。

具体地，承载台1位于测试机构的中部，基座2位于测试机构的底部，吸附装置4、正顶针5和负顶针6位于承载台1和基座2之间，即吸附装置4、正顶针5和负顶针6位于承载台1的下方以及基座2的上方。

其中，承载台1上具有镂空的安放区，该安放区用于安放LED光源3。在将LED光源3放置在安放区时，需保证LED光源3具有正电极和负电极的一面朝向承载台1下方，例如朝向承载台1下方的吸附装置4、正顶针5和负顶针6。

吸附装置4的底部与基座2连接、顶部可与安放区的LED光源3的底面接触，吸附装置4用于吸附LED光源3，以使LED光源3固定在承载台1上。

正顶针5和负顶针6相互绝缘，正顶针5与电源的正极电连接，负顶针6与电源的负极电连接，且正顶针5可与LED光源3的正电极电连接，负顶针可与LED光源3的负电极电连接，以使LED光源3与电源连接，以便对LED光源3进行测试。

本实施例中的LED光源3底面具有正电极和负电极、侧面和顶面中的至少一个面为出光面。可选的，本实施例中的LED光源3是具有五个出光面的CSP器件。其中，CSP器件的顶面和四个侧面为出光面，底面具有正电极和负电极。当然，本发明并不对LED光源3的具体结构进行限定。

本实施例的一个具体实施方式中，吸附装置4固定在基座2上，正顶针5和负顶针6也固定在基座2上，此时，可通过基座2带动吸附装置4、正顶针5和负顶针6移动，以使吸附装置4位于安放区的LED光源3的正下方、正顶针5位于该LED光源3的正电极的正下方、负顶针6位于该LED光源3的负电极的正下方。之后，通过基座2带动吸附装置4、正顶针5和负顶针6向上移动，使吸附装置4的顶部与该LED光源3的底面接触、正顶针5与LED光源3的正电极接触、负顶针6与LED光源3的负电极接触。

或者，基座2固定在承载台1的正下方，且固定在基座2上的吸附装置4位于安放区的LED光源3的正下方、正顶针5位于该LED光源3的正电极的正下方、负顶针6位于该LED光源3的负电极的正下方，并且，将LED光源3放置在安放区之后，吸附装置4的顶部就能与LED光源3的底面接触、正顶针5与LED光源3的正电极接触、负顶针6与LED光源3的负电极接触。

吸附装置4的顶部与该LED光源3的底面接触之后，吸附装置4会吸附LED光源3的底面，给LED光源3一向下的力，从而将LED光源3固定在承载台1上。其中，LED光源3的大小需与安放区的大小相匹配，从而保证固定后的LED光源3的顶面和四个侧面暴露在承载台1的上方，以避免承载台1遮挡LED光源3的出光面，影响其光学测试的结果。

正顶针5与LED光源3的正电极接触、负顶针6与LED光源3的负电极接触之后，正顶针5与LED光源3的正电极形成电连接、负顶针6与LED光源3的负电极形成电连接。由于正顶针5与电源的正极电连接、负顶针6与电源的负极电连接，因此，可将LED光源3与电源电连接，从而可以通过电源向LED光源3提供工作电压，使LED光源3发光，进而可以对LED光源3进行光学性能和电学性能的测试。

其中，在基座2上设置正顶针5和负顶针6时，需保证二者之间的距离与LED光源3的正电极和负电极之间的距离对应，以确保正顶针5与正电极接触时，负顶针6也与负电极接触。同时，还需确保正顶针5与正电极接触、负顶针6与负电极接触时，吸附装置4能够吸附LED光源3的底面。

如图1所示，优选的，正顶针5和负顶针6位于吸附装置4的内部，并且，一个正顶针5和一个负顶针6与同一个吸附装置4对应设置。此外，如图2所示，一个正顶针5可以与一个吸附装置40对应设置，一个负顶针6可以与另一个吸附装置41对应设置，进一步地，正顶针5可以设置在吸附装置40的内部，负顶针6可以设置在吸附装置41的内部。

在其他实施方式中，正顶针5和负顶针6还可以固定在弹性元件上，并且，在弹性元件处于非压迫状态时，需保证正顶针5和负顶针6的顶部不低于吸附装置4的顶部。基于此，当吸附装置4给LED光源3一个向下的吸附力时，LED光源3也会给正顶针5和负顶针6一个向下的力，同时弹性元件会给正顶针5和负顶针6一个向上的力传递到LED光源，这样一方面保证了LED光源受力平衡，实现了LED光源的固定，另一方面能使正顶针5与LED光源3的正电极紧密接触、负顶针6与LED光源3的负电极紧密接触，从而能够防止顶针与电极接触不良的现象发生。

在上述任一实施方式的基础上，吸附装置4可以为包括吸管和位于吸管顶部的吸嘴的装置，并且，吸管的底部与基座2连接，以便基座2能够带动吸管移动，使吸嘴与承载台1上的LED光源3的底面接触。

其中，吸管和吸嘴均为中空的结构，这样就可以通过抽出吸管和吸嘴内部的空气，来使吸附装置4给LED光源3一个向下的吸附力，使LED光源3固定在承载台1上。当然，本发明并不仅限于此，在其他实施例中，可以采用胶性材质来制作吸嘴，这样吸嘴与LED光源3的底面接触后，就能粘贴在LED光源3的底面上，同样能够实现吸附固定LED光源的作用。

此外，本实施例中的吸管和吸嘴可以为一体结构，也可以为可拆分的结构，也就是说，吸嘴可从吸管上拆卸下来进行更换。其中，吸管和吸嘴为一体结构时，吸管和吸嘴可以为电木或橡胶材质；吸管和吸嘴为可拆分的结构时，吸管可以为金属材质，吸嘴可以为电木或橡胶材质。

本实施例中，吸管的底部通过贯穿基座2的管路与真空泵连接，通过真空泵抽出吸管和吸嘴内的气体，来使吸嘴吸附固定承载台1上的LED光源3。图1和图2中的基座仅为示意图，在实际应用中，基座的内部可以为中空的，以便放置与真空泵连接的管路等。当然，还可以采用其他方式抽出吸管和吸嘴内的气体，本发明并不对此进行限定。

本发明任一实施例中的LED光源的测试装置还包括采光装置和测试装置，采光装置用于采集工作的LED光源3发出的光，测试装置用于根据采光装置的采集结果进行光学性能和电学性能的测试。

本实施例提供的LED光源的测试装置，通过位于承载台下方的吸附装置给承载台的安放区上的LED光源一个向下的吸附力来将LED光源固定在承载台上，并且，固定后的LED光源的底部正电极与正顶针接触、负电极与负顶针接触，来实现LED光源与电源的电连接，进而可以对LED光源进行测试，从而避免了通过按压LED光源顶面来固定LED光源导致的LED光源测试结果准确性较差的问题。

本发明的另一个实施例提供了一种LED光源的测试方法，应用于上述任一实施例提供的LED光源的测试装置，该方法的流程图如图3所示，包括：

S301：将LED光源安放在承载台的安放区，所述LED光源具有正电极和负电极的底面朝向吸附装置、正顶针和负顶针；

LED光源的测试装置包括承载台、基座、吸附装置、正顶针和负顶针。其中，承载台上具有镂空的安放区，该安放区用于安放LED光源。在将LED光源放置在安放区时，需保证LED光源具有正电极和负电极的一面朝向承载台下方，例如朝向承载台下方的吸附装置、正顶针和负顶针。

本实施例中的LED光源底面具有正电极和负电极、侧面和顶面中的至少一个面为出光面。可选的，本实施例中的LED光源是具有五个出光面的CSP器件。其中，CSP器件的顶面和四个侧面为出光面，底面具有正电极和负电极。当然，本发明并不对LED光源的具体结构进行限定。

S302：通过吸附装置吸附所述LED光源，使所述LED光源固定在所述承载台上；

S303：通过正顶针使所述LED光源的正电极与电源的正极电连接，通过负顶针使所述LED光源的负电极与电源的负极电连接；

S304：对所述LED光源进行测试。

本发明的一种实施方式中，吸附装置固定在基座上，正顶针和负顶针也固定在基座上，此时，可通过基座带动吸附装置、正顶针和负顶针移动，以使吸附装置位于安放区的LED光源的正下方、正顶针位于该LED光源的正电极的正下方、负顶针位于该LED光源的负电极的正下方。之后，通过基座带动吸附装置、正顶针和负顶针向上移动，使吸附装置的顶部与该LED光源的底面接触、正顶针与LED光源的正电极接触、负顶针与LED光源的负电极接触。

或者，基座2固定在承载台1的正下方，且固定在基座2上的吸附装置4位于安放区的LED光源3的正下方、正顶针5位于该LED光源3的正电极的正下方、负顶针6位于该LED光源3的负电极的正下方，并且，将LED光源3放置在安放区之后，吸附装置4的顶部就能与LED光源3的底面接触、正顶针5与LED光源3的正电极接触、负顶针6与LED光源3的负电极接触。

吸附装置的顶部与该LED光源的底面接触之后，吸附装置会吸附LED光源的底面，给LED光源一向下的力，从而将LED光源固定在承载台上。

正顶针与LED光源的正电极接触、负顶针与LED光源的负电极接触之后，正顶针与LED光源的正电极形成电连接、负顶针与LED光源的负电极形成电连接。由于正顶针与电源的正极电连接、负顶针与电源的负极电连接，因此，可将LED光源与电源电连接，从而可以通过电源向LED光源提供工作电压，使LED光源发光，进而可以进入步骤304，即对LED光源进行光学性能和电学性能的测试。

本实施例提供的LED光源的测试方法，通过位于承载台下方的吸附装置给承载台的安放区上的LED光源一个向下的吸附力来将LED光源固定在承载台上，并且，固定后的LED光源的底部正电极与正顶针接触、负电极与负顶针接触，来实现LED光源与电源的电连接，进而可以对LED光源进行测试，从而避免了通过按压LED光源顶面来固定LED光源导致的LED光源测试结果准确性较差的问题。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (11)

1.一种LED光源的测试装置，其特征在于，包括测试机构，所述测试机构包括承载台、基座、正顶针、负顶针和吸附装置，所述承载台位于所述测试机构的中部，所述基座位于所述测试机构的底部，所述正顶针、负顶针和吸附装置位于所述承载台和所述基座之间；

所述承载台上具有镂空的安放区，所述安放区用于安放LED光源，所述LED光源底面具有正电极和负电极，其侧面和顶面中的至少一个面为出光面，其中，安放后的所述LED光源的底面朝向所述吸附装置、正顶针和负顶针；

所述吸附装置的底部与所述基座连接、顶部可与所述安放区的LED光源的底面接触，所述吸附装置用于吸附所述LED光源，以使所述LED光源固定在所述承载台上；

所述正顶针与电源的正极电连接，所述负顶针与电源的负极电连接，且所述正顶针可与所述LED光源的正电极电连接，所述负顶针可与所述LED光源的负电极电连接，以使所述LED光源与电源连接，以便对所述LED光源进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述LED光源为CSP器件，所述CSP器件的顶面和四个侧面为出光面，所述CSP器件的底面具有正电极和负电极。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述吸附装置包括吸管和位于所述吸管顶部的吸嘴，所述吸管和吸嘴均为中空结构，所述吸管的底部与所述基座连接，所述基座可带动所述吸管移动，使所述吸嘴与所述承载台上的LED光源的底面接触。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述吸管的底部通过贯穿所述基座的管路与真空泵连接，所述真空泵用于抽出所述吸管内的气体，以使所述吸嘴吸附固定所述承载台上的LED光源。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述吸管和吸嘴为一体结构，且所述吸管和吸嘴为电木或橡胶材质；

或者，所述吸管和吸嘴为可拆分的结构，所述吸管为金属材质，所述吸嘴为电木或橡胶材质。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述吸管和吸嘴均为中空的圆柱体状结构；

或者，所述吸管为中空的圆柱体状结构，所述吸嘴为圆盘状结构或倒锥台状结构。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述正顶针和所述负顶针固定在所述基座上，通过所述基座带动所述正顶针和负顶针移动，使正顶针与所述承载台上的LED光源的正电极电连接、所述负顶针与所述LED光源的负电极电连接。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述正顶针和所述负顶针固定在弹性元件上，通过所述弹性元件的伸缩带动所述正顶针和负顶针沿所述吸附装置上下移动，使正顶针与所述承载台上的LED光源的正电极电连接、所述负顶针与所述LED光源的负电极电连接。

9.根据权利要求7或8所述的测试装置，其特征在于，所述正顶针和所述负顶针与一个所述吸附装置对应设置，所述正顶针和所述负顶针位于所述吸附装置的内部。

10.根据权利要求7或8所述的测试装置，其特征在于，所述正顶针与一个所述吸附装置对应设置，所述负顶针与另一个所述吸附装置对应设置，所述正顶针位于对应的所述吸附装置的内部，所述负顶针位于对应的所述吸附装置的内部。

11.一种LED光源的测试方法，应用于权利要求1～10任一项所述的LED光源的测试装置，其特征在于，包括：

将LED光源安放在承载台的安放区，所述LED光源具有正电极和负电极的底面朝向吸附装置、正顶针和负顶针；

通过吸附装置吸附所述LED光源，使所述LED光源固定在所述承载台上；

通过正顶针使所述LED光源的正电极与电源的正极电连接，通过负顶针使所述LED光源的负电极与电源的负极电连接；

对所述LED光源进行测试。