CN105136743A - 一种基于微流控芯片粒子捕获式的单粒子散射测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于微流控芯片粒子捕获式单粒子散射测量方法,包括微流控芯片的设计制作、测量环境配置、对准、单粒子的捕获和单粒子环境的构建以及单粒子大角度的散射分布的测定等相关方法。与现有技术相比,由于结合了微流控芯片粒子捕获技术,克服了单粒子的大角度散射、大动态范围内的光散射特性测量方法的不足,实现了单粒子大角度散射分布的测量。
Description
技术领域
本发明属于光学与测量领域,更具体地,涉及一种基于微流控芯片粒子捕获式单粒子散射测量方法。
背景技术
光散射特性作为一种光电探测中一种重要的特性对探测结果的分析有着重要作用,广泛应用于光电探测的多个领域。对于微粒光散射特性的研究有着大量的相关理论与实验,诸如Mie散射理论、T矩阵方法、等相关理论方法能够对微粒表面形状、散射函数分布进行预测分析;与之相对应的微粒散射函数的测量方法也有较多的研究,如动态光散射发、激光诱导可见光法、消光测量法等。另外,许多粒子散射的测量装置和方法针对于群粒子进行,通过对粒子间作用的相关等效,进行群粒子整体散射特性的测量。
微流控芯片相比于大量化学溶液过程具有很多优势。因其体积小,反应速度快、样本消耗量小、易于做成便携设备用于现场测试。因此,微流控芯片可以在很多应用中高效利用,具体的应用包括临床快速诊断、细胞分析、核酸检测、药物代谢、蛋白质代谢物组学、环境分析、空间探测。具体有ATP探测的相关应用、水体亚硝酸盐磷酸盐金属探测、海水pH监测等应用。其中尤其在生物临床领域,这种技术的应用尤为突出。
光散射测量方面,有着多种方法。具体诸如动态光散射法、小角前向散射法、角散射法、全散射法等,而目前结合了微流控芯片技术进行粒子散射测量的技术也有着多种手段,基于CCD检测的小角度散射特性的测量,利用光束质量较好的氦氖激光器作为光源,经透镜系统耦合光束到单模光纤中入射球形单粒子中,检测端通过聚焦透镜系统将散射光投射与CCD,以此来进行散射特性测量。
然而,现有相关技术方法存在一定局限性,主要是针对单粒子的大角度散射、大动态范围内的光散射特性测量方法的不足,本发明针对上述不足,提出了基于微流控芯片的粒子捕获式单粒子散射测量方法。
发明内容
针对现有技术的缺陷,本发明的目的在于测量单粒子在平面内大角度范围的散射场分布,旨在解决原有方案单粒子环境构建问题以及无法进行大角度单粒子散射场测量的缺陷。
为实现上述目的,本发明提供了一种基于微流控芯片粒子捕获式的单粒子散射测量方法,其特征在于,其包括微流控芯片设计制作、测量环境配置、对准、单粒子捕获和单粒子环境构建、单粒子散射测量五个步骤;
(1)微流控芯片设计制作步骤:
(1.1)通过光刻工艺在单晶硅片上制作模板;所述模板上的芯片流道结构为一个开口圆环状流道,所述圆环状流道一端垂直于开口处切线方向延伸出作为输入流道,另一端垂直于开口处切线方向延伸作为输出流道;所述输入流道和所述输出流道平行,在所述输入和所述输出流道平行段之间,设有一个连通管道,使所述输入流道和所述输出流道连通,所述连通管道靠近输入流道端口径较大,靠近所述输出流道端口径较小,用于捕获测量样本的单粒子;流道截面尺寸和形状根据所要测量的单个粒子相适应,所述连通管道中心即为微流控芯片中心;
(1.2)将聚二甲基硅氧烷置入真空皿中,抽真空,静置8-24小时;
(1.3)用所述芯片模板对聚二甲基硅氧烷进行倒模,在50℃以上环境下烤制,直至其固化,得到微流控芯片;
(2)测量环境配置步骤:
(2.1)配置分光光路,用于将输入激光分成主光路和参考光路;所述主光路是粒子散射测量的光路,所述参考光路用于微流控芯片对准以及测量过程中对光源的监测;
(2.2)配置探测组件,所述探测组件包括光电传感器、示波器、显微镜和计算机;连接所述光电传感器输出端和示波器,用于光路辅助调节和测量散射光信号;连接所述显微镜输出端和计算机,用于观察微流控芯片状态;
(3)对准步骤:
(3.1)将激光投射到所述分光光路,通过调节分光光路使主光路和参考光路交会,将比色皿安放在主光路和参考光路交会处,比色皿轴心置于交会点上;安装金属丝于比色皿轴心,将所述探测组件对准比色皿轴心的主光路和参考光路交会处,用于接收金属丝散射光信号;遮挡参考光路,调节所述分光光路的主光路,通过所述探测组件,找出交会点上金属丝散射光信号极大值时主光路空间位置状态并固定;遮挡主光路,调节所述分光光路的参考光路,通过所述探测组件,找出交会点上金属丝散射光信号极大值时参考光路空间位置状态并固定;
(3.2)安装所述微流控芯片到比色皿中,调节微流控芯片空间位置,使其中心处于主光路和参考光路的交会点上,将光电传感器位置固定接收微流控芯片散射光,通过示波器读取主光路上微流控芯片散射光信号读数,找出极大散射值空间位置,将所述微流控芯片中心固定于该极大值位置;
(4)单粒子捕获和单粒子环境构建步骤:
(4.1)通过微流泵,向所述微流控芯片流道泵入去离子水清洁流道;然后注入溶有待测粒子样品的样品溶液,所述样品溶液质量密度为1.08g/cm3,其中加入的样品溶液中待测粒子溶液与样品溶液的体积比为1:100-1:10000;
(4.2)通过所述探测组件,观测微流控芯片连接通道中心是否捕获到单个粒子,是则转(4.3),否则继续泵入溶有待测粒子样品的溶液,直至单个粒子捕获成功;
(4.3)向所述微流控芯片流道和所述比色皿注入折射率匹配液,以淹没微流控芯片为限;所述匹配液由甘油、去离子水混合而成,甘油、去离子水各自所占比例以混合后的液体折射率等于微流控芯片本身折射率为准则;
(5)单粒子散射测量步骤:
(5.1)转动所述探测组件的光电传感器位置,测量主光路上不同光接收角度下探测组件接收到的已捕获单粒子的微流控芯片中心散射光强度,得到光入射角度与示波器接收光强度关系曲线,完成粒子散射分布测量;
(5.2)泵入去离子水清洁流道,移除捕获的单粒子,测量微流控芯片中心散射光强度,得到入射角度与所述光电传感器接收光强度关系曲线,完成粒子背景光散射分布;
(5.3)在各个散射角度下,用粒子散射强度减去背景光散射强度,得到单粒子散射分布。
进一步的,在所述的单粒子散射测量方法的微流控芯片设计步骤中,输入流道可分为多个子流道,子流道个数所泵入的液体数量相同,以便于不同液体的注入。
进一步的,所述显微镜为配置了CCD图像采集系统的电子显微镜,可以将图像信号传输到计算机实时显示。所述对准步骤中,包含了光路位置对准和微流控芯片的位置对准两个方面,中心位置的寻找通过金属丝和定位圆盘配合位置调节装置实现。
通过本发明所构思的以上技术方案,与现有技术相比,由于结合了微流控芯片粒子捕获技术,解决了单粒子环境的建立、单粒子捕获方法以及微流控芯片设计等问题,实现了单粒子大角度散射分布的测量。
附图说明
图1是微流控芯片结构图;
图2是测量系统方法流程图;
图3是具体实施方式系统配置示意图。
图中,1A-激光器调节具,1B-全反镜调节具,1C-传感器调节具,2-分光镜,3-全反镜,4-光电传感器,5-显微镜,6-机械圆盘,7-微流控芯片,8-微流泵,9-示波器,10-计算机,11-比色皿。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明所涉及的测量方法包括微流控芯片设计、测量环境配置、对准、单粒子捕获和单粒子环境构建、单粒子散射测量五个步骤,分别介绍如下。
其中,微流控芯片设计,本实施例中包含以下步骤。
(1)通过光刻工艺在单晶硅片上制作芯片模板;所述芯片流道结构为一个开口圆环状流道,圆环一端垂直于开口处切线方向延伸出作为输入流道;圆环另一端垂直于开口处切线方向延伸作为输出流道;输入流道和输出流道平行,在输入和输出流道平行段之间,设有一个连通管道,使输入流道和输出流道连通,所述连通管道靠近输入流道端口径较大,靠近输出流道端口径较小,用于捕获测量样本的单粒子;流道截面尺寸和形状根据所要测量的粒子选取,连通管道中心即为微流控芯片中心;本实施例,在输入流道端设置了三个输入子流道,以便于泵送不同的液体;粒子为聚苯乙烯材质的标准球形颗粒,粒径20.42um;流道尺寸40um,连通管道尺寸较宽处20-30um,较窄处10um;其中,所述微流控芯片尺寸规格在30×10×8mm范围左右;
(2)聚二甲基硅氧烷置入真空皿中,抽真空,静置8-24小时;
(3)用所述芯片模板对其进行倒模,在50℃以上环境下烤制,直至其固化,得到微流控芯片7;
其中,测量环境配置,本实施例中包括以下步骤:
(1)配置分光光路,本实施例中,分光光路包含分光镜2用于将输入激光分成主光路和参考光路,全反镜3用于改变参考光路方向使之入射到比色皿中心,实践中也可以采用其它激光器和分光器件;所述主光路是粒子散射测量的光路,所述参考光路用于芯片对准以及测量过程中对光源的监测;
(2)配置探测系统,本实施例中探测系统包括光电传感器4、示波器9、显微镜5和计算机10;光电传感器4用于探测测量信号;示波器9用来显示测量结果;显微镜5和计算机10用于观察微流控芯片系统状态;本实施例中,光电传感器分别是PIN管和光电倍增管PMT,其中PIN管用于在测量时固定在参考光路上监测光源稳定性,PMT用于在测量阶段接收散射光信号;前者用于监测对象的稳定强度大等特性选择PIN管作为传感器,后者由于测量的属于微弱信号,选用PMT探测较为合适。
其中,对准步骤,本实施例中测量对准系统包括金属丝11、定位圆片12、激光器调节具1A、全反镜调节具1B、传感器调节具1C、机械圆盘6、比色皿11和微流控芯片7;金属丝11穿过定位圆片12置于比色皿11轴心上,比色皿11固定于机械圆盘6上,用于定位对准;全反镜调节具1B、激光器调节具1A、传感器调节具1C安装于分光光路中全反镜、激光器和PMT处用于调节机械位置,分别用于调整全反镜角度、激光器垂直于光轴的横向位置和PMT相对于光轴的角度;同时测量对准系统中包含光电传感器4,对准过程中,传感器固定于机械圆盘上固定位置,用于接收散射光信号;本方法实施中也可以采用其它光学定位系统以实现对准;本实施例采用氦氖激光器为光源,对准包含以下步骤:
(1)将激光投射到所述分光光路,通过调节分光光路使主光路和参考光路交会,将比色皿11安放在主光路和参考光路交会处,固定比色皿11轴心于交会处;定位圆片12分为上定位圆片和下定位圆片,分别嵌在比色皿顶部和底部,金属丝通过上定位圆片的圆心,穿过比色皿11圆轴中心,到下定位圆片圆心固定;遮挡参考光路,调节所述分光光路的主光路,通过所述PMT接入示波器读数,找出主光路上金属丝散射光信号极大值时主光路空间位置状态并固定;遮挡主光路,调节所述分光光路的参考光路,通过所述PMT接入示波器读数,找出参考光路上金属丝散射光信号极大值时参考光路空间位置状态并固定;其中示波器与PMT相连,示波器读数为PMT探测的光强值;
(2)安装微流控芯片,通过调节具调节其位置,其中调节具为三轴调节具,可以调节微流控芯片X、Y、Z三轴位置,分别对三轴位置进行调节,每次调节时,PMT输出信号接入示波器,通过示波器读数,找出极大值位置,调节微流控芯片中心位置至此极大值位置,三轴都调节结束时,完成微流控芯片位置的对准;
其中,单粒子捕获和单粒子环境构建方法,本实施例中包括以下步骤:
(1)通过微流泵先后向所述微流控芯片7的三个输入子流道之一泵入去离子水清洁流道,直至输出流道以及其他子流道均有去离子水流出,然后向其中一个子流道泵入溶有待测粒子样品的溶液;所述溶液质量密度为1.08g/cm3,所述溶液中加入少量样品粒子溶液,保持加入的样品粒子溶液与原溶液体积比在1:100-1:10000范围内;
(2)通过显微镜5接入计算机10,观测微流控芯片7连接通道是否捕获到单个粒子,是则转(3)进行折射率匹配,否则继续泵送测量样本,直至捕获成功;
(3)进行折射率匹配,通过微流泵先后向所述微流控芯片7的三个输入子流道中(1)中使用的子流道泵入折射率匹配液,所述匹配液由甘油、去离子水混合而成,甘油、去离子水所占比例以混合后的液体折射率等于微流控芯片7折射率为准则;
(4)向比色皿中注入所述折射率匹配液;
本实施例中单粒子捕获和单粒子环境构建,需要的主要设备为微流泵、微流控芯片、注射器、显微镜、计算机,所用材料包括甘油、去离子水、氯化钠、牛血清白蛋白。芯片要通过微流泵先后通入去离子水、样品粒子溶液、折射率匹配液,在这样的进液顺序下,每种液体的作用分别为:去离子水清洁流道;折射率匹配液匹配芯片材料聚二甲基硅氧烷(PDMS)折射率,实现单粒子环境;粒子样品悬浊液完成粒子样品注入,其中所述溶液中加入少量样品粒子溶液,保持加入的样品粒子溶液与原溶液体积比在1:100-1:10000范围内;其中折射率匹配液有去离子水和甘油按比例混合组成,折射率与微流控芯片折射率相同已完成折射率的匹配;所述样品粒子悬浊液是含有粒子的密度匹配液(组分有去离子水、氯化钠、牛血清白蛋白),密度为1.08g/cm3,其中,氯化钠与去离子水实现密度匹配,牛血清蛋白起到润滑流道的作用;最后重新泵入微流控芯片的折射率匹配液依然是保证匹配掉PDMS,实现单粒子环境。整个捕获过程通过显微镜实时显示在计算机上,观察粒子捕获情况,待粒子捕获完成后撤去观察的显微镜,进行散射测量实验。
其中,单粒子大角度散射分布测量,本实施例中包括以下步骤:
测量不同角度下单粒子散射光强度,具体为:参考光路上固定光电传感器PIN管监测光源稳定性情况,主光路是用来测量散射的光路,光电传感器PMT固定于机械圆盘上,可随圆盘转动,接收来自微流控芯片的散射光信号,测量过程中,通过圆盘上的角度标记,每1°进行一次测量,即圆盘每旋转1°进行一次PMT的测量,测量范围从主光路的前向散射至主光路的后向散射,范围角度在160°-170°内,得到角度与传感器PMT接收光强度关系曲线,完成粒子散射分布测量;移除捕获的单粒子,测量散射光强度,与之前的测量过程相同,得到角度与传感器接收光强度关系曲线,完成粒子背景光散射分布;在各个散射角度下,用粒子散射强度减去背景光散射强度,得到单粒子散射分布;测量过程中,PIN管安装于参考光路位置并固定,实时监测光源的光强值,监测光源的稳定性,保证实验的科学性。
所述的单粒子散射场测量步骤,更具体的在于在成功捕获粒子、匹配掉环境材料实现单粒子环境后,对粒子的散射分布进行测量,光源产生的光束经分光镜后形成主光路和参考光路两路光,主光路是粒子散射测量的光路,参考光路主要完成芯片对准以及测量过程中对光源的监测;光电传感器部分是散射光的探测接收单元,具体使用光电倍增管(PMT)和PIN管,PMT用来探测单粒子散射光,PMT前为4F光学系统,设计收光角在1°范围内,保证PMT接受光范围尽可能接近芯片尺寸范围内;其中,所述的4F光学系统构成由两片焦距相同的凸透镜和一小孔光阑,一透镜前焦点与另一透镜后焦点重合,小孔光阑置于重合的焦点上,三者处于同一光轴上,组成4F光学系统;后端通过数据采集装置接入电脑,完成PMT探测数据的采集;PIN在参考光路上,用来对光源进行监测;测量环节首先进行捕获单粒子后散射光的分布测量,在去除粒子后进行环境背景散射光的分布测量,前者减去后者为目标单粒子的散射光分布。
本发明的特点:本发明方案通过捕捉单微粒实现对其光散射特性的测量,可以真正实现探测区域内只有一个微粒,从原理上消除了群微粒散射中多径散射现象,突破传统的使用群微粒光散射对单微粒光散射进行近似和估计的方法,通过实际测量结果同经典理论分析结果的对比将证明该方法的可行性和准确性;单微粒在微流芯片内捕获后其相对位置便已完全确定,能够保证测量到感兴趣的接收面上的大角度范围的散射分布;微流芯片设计工艺可以拓展应用于任意尺度、任意形状微粒的捕捉和光散射测量,针对微粒在微流道中的流体力学设计和仿真技术能够保证设计出的微流芯片能够有针对性的捕获特定尺度的微粒,芯片制造材料的选择技术和折射率匹配技术使得针对特定折射率颗粒在特定折射率液体中的体散射函数测量成为可能。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种单粒子散射测量方法,其特征在于,其包括微流控芯片设计制作、测量环境配置、对准、单粒子捕获和单粒子环境构建、单粒子散射测量五个步骤;
(1)微流控芯片设计制作步骤:
(1.1)通过光刻工艺在单晶硅片上制作模板;所述模板上的芯片流道结构为一个开口圆环状流道,所述圆环状流道一端垂直于开口处切线方向延伸出作为输入流道,另一端垂直于开口处切线方向延伸作为输出流道;所述输入流道和所述输出流道平行,在所述输入和所述输出流道平行段之间,设有一个连通管道,使所述输入流道和所述输出流道连通,所述连通管道靠近输入流道端口径较大,靠近所述输出流道端口径较小,用于捕获测量样本的单粒子;流道截面尺寸和形状根据所要测量的单个粒子相适应,所述连通管道中心即为微流控芯片中心;
(1.2)将聚二甲基硅氧烷置入真空皿中,抽真空,静置8-24小时;
(1.3)用所述芯片模板对聚二甲基硅氧烷进行倒模,在50℃以上环境下烤制,直至其固化,得到微流控芯片;
(2)测量环境配置步骤:
(2.1)配置分光光路,用于将输入激光分成主光路和参考光路;所述主光路是粒子散射测量的光路,所述参考光路用于微流控芯片对准以及测量过程中对光源的监测;
(2.2)配置探测组件,所述探测组件包括光电传感器、示波器、显微镜和计算机;连接所述光电传感器输出端和示波器,用于光路辅助调节和测量散射光信号;连接所述显微镜输出端和计算机,用于观察微流控芯片状态;
(3)对准步骤:
(3.1)将激光投射到所述分光光路,通过调节分光光路使主光路和参考光路交会,将比色皿安放在主光路和参考光路交会处,比色皿轴心置于交会点上;安装金属丝于比色皿轴心,将所述探测组件对准比色皿轴心的主光路和参考光路交会处,用于接收金属丝散射光信号;遮挡参考光路,调节所述分光光路的主光路,通过所述探测组件,找出交会点上金属丝散射光信号极大值时主光路空间位置状态并固定;遮挡主光路,调节所述分光光路的参考光路,通过所述探测组件,找出交会点上金属丝散射光信号极大值时参考光路空间位置状态并固定;
(3.2)安装所述微流控芯片到比色皿中,调节微流控芯片空间位置,使其中心处于主光路和参考光路的交会点上,将光电传感器位置固定接收微流控芯片散射光,通过示波器读取主光路上微流控芯片散射光信号读数,找出极大散射值空间位置,将所述微流控芯片中心固定于该极大值位置;
(4)单粒子捕获和单粒子环境构建步骤:
(4.1)通过微流泵,向所述微流控芯片流道泵入去离子水清洁流道;然后注入溶有待测粒子样品的样品溶液,所述样品溶液质量密度为1.08g/cm3,其中加入的样品溶液中待测粒子溶液与样品溶液的体积比为1:100-1:10000;
(4.2)通过所述探测组件,观测微流控芯片连接通道中心是否捕获到单个粒子,是则转(4.3),否则继续泵入溶有待测粒子样品的溶液,直至单个粒子捕获成功;
(4.3)向所述微流控芯片流道和所述比色皿注入折射率匹配液,以淹没微流控芯片为限;所述匹配液由甘油、去离子水混合而成,甘油、去离子水各自所占比例以混合后的液体折射率等于微流控芯片本身折射率为准则;
(5)单粒子散射测量步骤:
(5.1)转动所述探测组件的光电传感器位置,测量主光路上不同光接收角度下探测组件接收到的已捕获单粒子的微流控芯片中心散射光强度,得到光入射角度与示波器接收光强度关系曲线,完成粒子散射分布测量;
(5.2)泵入去离子水清洁流道,移除捕获的单粒子,测量微流控芯片中心散射光强度,得到入射角度与所述光电传感器接收光强度关系曲线,完成粒子背景光散射分布;
(5.3)在各个散射角度下,用粒子散射强度减去背景光散射强度,得到单粒子散射分布。
2.根据权利要求1所述的单粒子散射测量方法,其特征在于,所述的微流控芯片设计步骤中,输入流道分为多个子流道,子流道个数与所泵入的液体类型数量相同。
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