CN105117302A - 一种用于存储介质数据销毁的校验方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种用于存储介质数据销毁的校验方法，包括将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；根据目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；基于预设的加密算法，将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密，生成校验密文序列后写入目标存储介质中指定的校验存储区域；校验核查时，对校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与存储介质上的显性信息核对以验证目标存储介质的数据销毁信息。采用本发明提供的方法，通过技术手段，可以解决现有由于人工疏忽或者故意出现的校验不准确，导致数据外泄的问题。

Description

一种用于存储介质数据销毁的校验方法

技术领域

本发明实施例涉及数据销毁技术领域，尤其涉及一种用于存储介质数据销毁的校验方法。

背景技术

鉴于磁性介质的存储原理和数据读写方法，普通的低级格式化、数据删除等方法都无法彻底清除数据；操作系统和硬盘的隐性操作会产生残留数据，为了避免不法分子利用数据残留恢复出原始数据信息，造成安全泄密的风险，在硬盘报废或者送修、捐献前应按不同的保密等级对硬盘数据进行销毁处理。

目前，在磁性介质进行数据销毁后会生成一个对应的标签，标签上信息包括磁性介质的属性、规格以及是否已进行销毁处理等信息。后续的审核员根据标签信息对批量处理后的磁性介质进行统一处理。

但是在实际操作中，发现现有对存储介质数据销毁的校验方式存在几个问题：(1)存在人为失误或者主观故意误操作，将标签错贴乱贴，出现标签信息显示已销毁但实际并未进行销毁操作的问题，导致重要数据外泄；(2)标签信息为明文信息，容易导致磁性介质销毁信息暴露，若标签显示未完成销毁信息，则易被非法人员留意并窃取此磁性介质的信息；(3)审核员过于依赖标签信息，若在处理过程中，出现标签脱落或者损坏，则会导致审核员无法审核的问题。

发明内容

为解决现有存储介质数据销毁的校验方式存在的上述问题，本发明提供一种用于存储介质数据销毁的校验方法，通过在存储介质内写入校验密文序列的技术手段，实现校验核查时可以保证安全、无遗漏的验证存储介质数据销毁的状态信息。

本发明提供的一种用于存储介质数据销毁的校验方法的技术手段如下：

一种用于存储介质数据销毁的校验方法，包括：

将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；

根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；

基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；

校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

进一步地，在上述技术方案的基础上，将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理后，将生成的校验密文序列和数据销毁信息一并写入数据销毁报告并打印输出，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列以及数据销毁报告中的校验密文序列一并进行解密，并将解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

进一步地，在上述技术方案的基础上，在所述将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理之前，还包括：

对所述目标存储介质进行容量最大化处理以消除系统隐藏存储空间。

进一步地，在上述技术方案的基础上，对所述目标存储介质进行容量最大化处理之后，在将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理之前还包括：

检测所述目标存储介质是否存在不可或局部不可销毁的缺陷，若存在则发出告警提示信息。

进一步地，在上述技术方案的基础上，所述不可或局部不可销毁的缺陷至少包括：

所述目标存储介质中写磁头损坏或存在坏扇区映射。

进一步地，在上述技术方案的基础上，还包括：

将所述目标存储介质的显性信息生成二维码图形标签，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述二维码图形提取的信息进行核对。

进一步地，在上述技术方案的基础上，所述目标存储介质的数据销毁特征信息包括下述一种或多种的特征信息组合：

擦除开始时间、擦除完成时间、擦除完成状态、擦除标准或操作员编号。

进一步地，在上述技术方案的基础上，所述目标存储介质的固有属性信息包括下述一种或多种的属性信息组合：

存储介质系列号、存储介质容量、存储介质型号或存储介质版本号。

本发明实施例用于存储介质数据销毁的校验方法通过将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密，避免现有校验方法中靠单一依赖标签的明文信息进行校验，可以实现在校验核查时，通过对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，获取该存储介质的数据销毁信息以及固有属性信息，从而判断校验此存储介质的数据销毁的具体情况。通过上述技术手段，可以实现可靠的、无遗漏的校验，加强了对存储介质数据销毁处理的安全性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明用于存储介质数据销毁的校验方法实施例一的流程图；

图2为本发明用于存储介质数据销毁的校验方法实施例二的流程图；

图3为本发明用于存储介质数据销毁的校验方法实施例三的流程图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

图1为本发明用于存储介质数据销毁的校验方法实施例一的流程图，图1的执行主体是存储介质数据销毁设备和校验核查终端，具体如图1所示，包括：

步骤103、将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理，存储介质可以包括如：硬盘，U盘，移动硬盘，SD卡，CF卡等存储介质。数据销毁处理可以采用扇区进行物理清零和覆盖的方式，或者利用强磁对存储介质消磁和物理破坏。具体的选择的方式可根据数据销毁的要求而选定。

步骤105、根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；

本步骤中，优选地，所述目标存储介质的数据销毁特征信息可以包括下述一种或多种的特征信息组合：擦除开始时间、擦除完成时间、擦除完成状态、擦除标准或操作员编号，上述特征信息均与具体对目标存储介质数据销毁处理具有关联性。只要具有与目标存储介质数据销毁处理具有关联性的特征信息在此都可以作为提取生成第一加密电子特征码的基础，在此不做进一步限定。

所述目标存储介质的固有属性信息可以包括下述一种或多种的属性信息组合：存储介质系列号、存储介质容量、存储介质型号或存储介质版本号。上述属性信息均可以唯一标识此存储介质。

步骤107、基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；

本步骤具体实施时，可以根据需要选择是单独将第一加密电子特征码或者第二加密电子特征码进行加密，或者将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密。具体加密的校验密文序列可以按照目标存储介质的容量值的一定比例设定，指定的校验存储区域也不做限定，在实施时可以根据需要调整设定。且为了进一步保证安全性，对每个目标存储介质数据销毁时，均可以随机指定不同的区域，在解密时，再将生成的随机区域信息仅发送给校验终端，从而更进一步增加校验的安全性。

步骤109、校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

此步骤中，存储介质上的显性信息比如在存储介质上标签上显示的存储介质系列号。首先核对存储介质系列号是否与解密获取的存储介质系列号一致，如果不一致，说明此存储介质存在标签错误，就需要进一步进行核实和处理；如果一致，说明此解密结果即是该存储介质的相关信息，通过解密结果上显示的存储介质的数据销毁信息可以确认此存储介质的销毁状态，比如何时何地何人对此存储介质进行的销毁，销毁使用的标准以及销毁结果，都可以在解密结果中核对出来。

而现有的校验的方式是人工针对标签上的记录结果进行核对，如果标签上显示是已销毁或者未销毁，则审核员就按照此信息对存储介质进行分类处理。但是若存在人工疏忽或者故意，则会造成未被销毁的存储介质当作已销毁存储介质继续流向市场，则会导致里面的重要的数据外泄。而上述实施例提供的用于存储介质数据销毁的校验方法，因为对中间的销毁数据的状态以及存储介质均做了技术授权的加密，且存储在存储介质上，因此在校验时，可以直接使用手持的终端校验设备直接机器校验，即节省人力，又避免人工校验时存在的失误，可以实现100％的校验结果。

需要说明的是，上述实施中，为了进一步加强校验的安全性和一致性，在上述技术方案的基础上，还可以采用将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理后，将生成的校验密文序列和数据销毁信息一并写入数据销毁报告并打印输出，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列以及数据销毁报告中的校验密文序列一并进行解密，并将解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。上述校验密文序列也是根据所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密获得。此加密数据销毁报告外人不能判断此存储介质的数据销毁状态，只有审核时，根据解密的信息才可以获取，不但保证了从数据销毁到审核过程中对此存储介质数据销毁状态的保密措施，而且还可以将从数据销毁报告解密的结果，与从所述校验存储区域的校验密文序列的解密结果，以及所述存储介质上的显性信息三者进行核对，若一致，则可以保证数据销毁报告中的内容为100％本存储介质的数据销毁内容。且此方案具有在存储介质上的显性信息遭到破坏而无法显示的时候，只利用从数据销毁报告解密的结果以及从所述校验存储区域的校验密文序列的解密结果两者比较，也可以进行验证此存储介质的真实销毁状态。比如，若从数据销毁报告解密的结果与从所述校验存储区域的校验密文序列的解密结果一致，则可以认定此数据销毁报告中的内容为本存储介质的数据销毁信息。

实施例二

图2为本发明用于存储介质数据销毁的校验方法实施例二的流程图，实施例二在实施例一的基础上，增加对存储介质容量最大化处理的步骤，具体如图2所示，包括：

步骤101、对目标存储介质进行容量最大化处理以消除系统隐藏存储空间；

步骤103、将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；

步骤105、根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；

步骤107、基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；

步骤109、校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

本实施中将存储介质最大化容量的目的是防止因人为或其他因素将目标介质的容量值修改至较少容量值，比如100％的容量值，被修改至60％，其他40％的容量值所包含的数据将不会被发现被销毁。

实施例三

图3为本发明用于存储介质数据销毁的校验方法实施例三的流程图，实施例三在上述实施例的基础上，增加判断否存在不可或局部不可销毁的缺陷检测步骤，具体如图3所示，包括：

步骤101、对目标存储介质进行容量最大化处理以消除系统隐藏存储空间；

步骤102、检测所述目标存储介质是否存在不可或者局部不可销毁的缺陷，如不存在则执行步骤103，若存在，则执行步骤104，即发出告警提示信息，以确认是否要进行物理销毁彻底处理。

步骤103、将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；

步骤105、根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；

步骤107、基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；

步骤109、校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

上述实施例中，步骤102中，具体地，所述不可或局部不可销毁的缺陷至少包括：所述目标存储介质中写磁头损坏或存在坏扇区映射。具体实施时，可以包括两个步骤：

第一步，对目标存储介质按照其容量值的一定比例值取样写入特定数据，在写入数据进程完成后，读取所写入的数据并校验是否一致。如一致，则证明该销毁目标写通道正常，可以进行进一步的销毁进程；如不一致，则证明该销毁目标存在电子设备不可销毁的可能。将警告操作者并要求其对该销毁目标做物理性破坏。例如写磁头损坏的硬盘，该类硬盘可以运行ATA擦除指令，但并无实际上擦除数据，且无出错提示，此类硬盘且可读取数据.

第二步检测该目标存储介质是否存在被映射后的数据，例如存在坏扇区的硬盘，硬盘固件会在使用过程中映射坏扇区，被映射掉的坏扇区有可能读出数据。

在通过不可或局部不可销毁的缺陷检测后，本实施例可以将对目标存储介质进行多重覆盖的数据销毁操作或者直接进行物理性破坏，以避免现有技术中因存在不可或者局部不可销毁的缺陷导致的无法彻底进行数据销毁的问题。

在上述任意实施例的基础上，为了进一步保证核查员直接识别标签上的明文导致的盲目和失误，将所述目标存储介质的显性信息生成二维码图形标签，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述二维码图形提取的信息进行核对。采取上述技术手段，使得审核员必须对二维码图形进行扫描，获取其中的明文信息再进行核对，避免审核员直接面对标签上的明文，造成的视觉错误而造成的核准不准确的问题。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，包括：

将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；

根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；

基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；

校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

2.根据权利要求1所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理后，将生成的校验密文序列和数据销毁信息一并写入数据销毁报告并打印输出，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列以及数据销毁报告中的校验密文序列一并进行解密，并将解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。

3.根据权利要求1或2所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，在所述将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理之前，还包括：

对所述目标存储介质进行容量最大化处理以消除系统隐藏存储空间。

4.根据权利要求3所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，对所述目标存储介质进行容量最大化处理之后，在将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理之前还包括：

检测所述目标存储介质是否存在不可或局部不可销毁的缺陷，若存在则发出告警提示信息。

5.根据权利要求4所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，所述不可或局部不可销毁的缺陷至少包括：

所述目标存储介质中写磁头损坏或存在坏扇区映射。

6.根据权利要求1或2所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，还包括：

将所述目标存储介质的显性信息生成二维码图形标签，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述二维码图形提取的信息进行核对。

7.根据权利要求6所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，所述目标存储介质的数据销毁特征信息包括下述一种或多种的特征信息组合：

擦除开始时间、擦除完成时间、擦除完成状态、擦除标准或操作员编号。

8.根据权利要求6所述的用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，所述目标存储介质的固有属性信息包括下述一种或多种的属性信息组合：

存储介质系列号、存储介质容量、存储介质型号或存储介质版本号。