CN105047751A - 带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法 - Google Patents
带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法 Download PDFInfo
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- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 53
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 43
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 title claims abstract description 26
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 title abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 38
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 25
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 25
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 24
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- MTEJXFXMFQXLEI-UHFFFAOYSA-N [P].[Sb].[As].[In] Chemical compound [P].[Sb].[As].[In] MTEJXFXMFQXLEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 16
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000003708 ampul Substances 0.000 claims description 15
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 15
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 13
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910002059 quaternary alloy Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 10
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 claims description 5
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 claims description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 5
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 claims description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 5
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims description 5
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 5
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 10
- 238000004781 supercooling Methods 0.000 abstract 1
- 230000001988 toxicity Effects 0.000 abstract 1
- 231100000419 toxicity Toxicity 0.000 abstract 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 12
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 9
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 6
- NICDRCVJGXLKSF-UHFFFAOYSA-N nitric acid;trihydrochloride Chemical compound Cl.Cl.Cl.O[N+]([O-])=O NICDRCVJGXLKSF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 4
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PTSSSXKIBUUCSB-UHFFFAOYSA-N [Sb].[As].[P] Chemical compound [Sb].[As].[P] PTSSSXKIBUUCSB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000002242 deionisation method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 3
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 1
- 230000007096 poisonous effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/544—Solar cells from Group III-V materials
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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Abstract
本发明公开了一种带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法，该方法通过驱动马达将具有一定过冷度的各个生长源从砷化铟衬底表面推过，从而在衬底表明形成带势垒结构的砷化铟热光伏电池材料结构。本发明的制备方法更为简便，成本更为低廉，解决了现有技术高成本和高毒性的问题。
Description
技术领域
本发明涉及一种光伏电池，具体涉及一种带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法。
背景技术
热光伏电池能够将热辐射体发出的光或者是太阳光谱中的红外光通过半导体P-N结的光伏效应转换成电能[1-5]。其原理与太阳能电池相似，只是利用的辐射源不同而已。太阳能电池利用的光源是太阳光中的可见光波段，而热光伏电池利用的辐射源既可以是太阳光中的红外波段(太阳辐射光谱中约有43％的辐射能量在红外光谱区)，也可以是人为制造的温度在1000℃左右的热辐射体。由于热辐射体的温度远低于太阳温度，发射的大部分都是低能量红外光子，因此需要选择窄禁带半导体材料与之匹配。
砷化铟(INAs)为Ⅲ-Ⅴ族窄禁带半导体材料，室温下的禁带宽度为0.354eV，其禁带宽度正好位于1000℃温区对应的红外辐射能量范围，是带隙最为匹配的半导体材料之一。
传统的光伏电池设计为P-i-N结构[6，7]，如图2所示。这种设计结构的热光伏电池在室温下工作的缺陷是会产生较大的暗电流，从而降低了电池的效率和最终的输出功率。该结构探测器的暗电流主要由三种电流分量组成，分别为①反向扩散电流：起源于耗尽区边缘P区电子和N区空穴产生的少数载流子的扩散。②产生-复合电流：起源于耗尽区中热激发的载流子在电场下向势垒区两边的漂移运动以及材料中的缺陷、杂质、位错等禁带中的深能级捕获或发射载流子形成的复合电流。③表面漏电流：与表面态相关的各种漏电流[8,9]。本发明专利设计了一种带势垒层的光伏电池结构，在传统的P-i-N结构中增加了一层宽禁带阻挡层材料，如图3a,3b所示：3a中的阻挡层阻挡了来自P区的电子扩散电流和表面电流，而3b中的阻挡层阻挡了来自N区的空穴扩散电流和表面电流。上述带势垒层的光伏电池结构有效抑制了该结构器件的暗电流，从而最终提高了热光伏电池的量子效率。
生长热光伏电池结构的方法有分子束外延以及低压-有机金属化学气相沉积等方法[10,11]，前者制备电池材料成本会比较高，与目前科技界主流大力发展低成本电池材料的努力方向相矛盾的。后者则由于使用的原材料均是有毒的有机金属源，且易于侵入人体，不利于相关操作人员的身体健康。
文献：
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发明内容
本发明的目的在于提供一种带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法，解决了现有技术高成本和高毒性的问题。
所述的光伏电池的结构为：在衬底上依次为宽禁带的阻挡层、砷化铟的吸收层、砷化铟的表面层；两个电极分别做在腐蚀后台面的衬底上以及砷化铟表面层上。
热光伏电池的液相外延制备方法如下：
(1)外延生长温度和生长源组分的确定
根据砷化铟二元化合物相图和铟砷锑磷四元合金相图确定外延生长温度点为550-555℃。砷化铟生长源中铟的摩尔百分比范围为0.8-0.9，砷的摩尔百分比为0.2-0.1；铟砷锑磷生长源中磷的摩尔百分比范围为0.001-0.0013，砷的摩尔百分比为0.01，锑的摩尔百分比范围为0.40-0.4217，铟的摩尔百分比范围为0.589-0.567。
(2)铟砷锑磷四元合金掺杂类型的确定
阻挡P区电子扩散电流的阻挡层铟砷锑磷四元合金的掺杂类型为Zn掺杂的P型；阻挡N区空穴扩散电流的阻挡层铟砷锑磷四元合金的掺杂类型为Te掺杂的N型。
(3)热光伏电池结构的生长
称量各生长源；打开石英管，将相应尺寸的砷化铟衬底，铟、锑金属以及砷化铟，磷化铟颗粒快速放入石墨舟相应的衬底槽和生长源槽中；生长源装好后，在氢气气氛650℃下恒温2小时使生长源充分溶解和均匀混合；恒温结束后，开始执行降温生长程序：降温速率为2℃/min,降温至557-562℃时，随后炉温以0.2℃/min的速率缓慢降至电池结构的实际生长温度550-557℃时，快速拉动装有砷化铟衬底的石墨舟托板与各个生长源接触：其中吸收层的生长时间120-150秒，阻挡层的生长时间为10-20秒，N型或P型表面层的生长时间为10-20秒。生长完毕后衬底拉离生长源位置；炉体断电并退出石英管，开启电风扇冷却石英管。
本发明的优点在于：制备方法更为简便，成本更为低廉，解决了现有技术高成本和高毒性的问题。
附图说明
图1为热光伏电池结构示意图。
图2为传统热光伏电池能带结构示意图。
图3为本发明专利中带阻挡层的热光伏电池能带结构示意图，(a)中的阻挡层阻挡来自P区的电子扩散电流和表面电流，(b)中的阻挡层阻挡来自N区的空穴扩散电流和表面电流。
图4为热光伏电池液相外延生长方法示意图。
具体实施方式
实施例1
1、生长源的配置
(1)组分确定：根据砷化铟二元化合物相图和铟砷锑磷四元合金相图确定外延生长温度点为550℃。砷化铟生长源中铟的摩尔百分比范围为0.9，砷的摩尔百分比为0.1；铟砷锑磷生长源中磷的摩尔百分比为0.001，砷的摩尔百分比为0.01，锑的摩尔百分比范围为0.40，铟的摩尔百分比范围为0.589。本实施例中的铟砷锑磷阻挡层InAsSbP为P型掺杂。P型掺杂剂选用锌(Zn)元素，掺杂量占熔源总量的质量比为0.012％。
(2)生长源的称量：根据上述的计算，用微量天平准确地称出生长所需铟(In)量、锑(Sb)量以及砷化铟(InAs)量和磷化铟(InP)量。所用的铟(In)量、锑(Sb)源均为99.99999％(7N)的高纯单质源，砷化铟(InAs)量和磷化铟(InP)为单晶材料。
2、外延生长前的准备工作
(1)石墨舟处理。为避免生长源玷污，舟要非常干净，使用前要用王水浸泡24小时，去除杂质，然后用沸腾地去离子水煮至酸碱度为中性，再在真空下进行高温烘烤，温度在1000℃以上。
(2)石英管处理。用王水浸泡24小时，再用去离子水反复冲洗后烘干待用。
(3)设置炉温。使用自动控温程序，实现自动升温、恒温、降温。
(4)衬底准备。本实施例中采用P型(100)双面抛光InAs衬底，解理面积为12×12mm2,尺寸和厚度与石墨舟托板槽大小和深度相匹配。经酒精、丙酮、去离子水反复清洗，用盐酸腐蚀液(浓度25％)进行表面化学腐蚀抛光，再用去离子水反复清洗后备用。
3、外延生长
(1)装料。打开石英反应管，将处理好的InAs衬底片及称好的铟(In)源、锑(Sb)源以及砷化铟(InAs)源和磷化铟(InP)源快速装入石墨舟衬底槽和相应的生长源槽中。要求快速装源，以减少在空气中的氧化和沾污。
(2)外延生长。生长源装好后，在氢气气氛下600℃恒温下生长源1小时，以保证熔源的充分溶解和均匀混合恒温结束后，开始执行降温生长程序，降至550℃开始生长：电机照程序设定好的运动程序放置衬底的石墨舟滑板使衬底与液槽1中P型Zn掺杂的铟砷锑磷熔源接触10秒；电机程序继续运行拉动石墨滑板使衬底与液槽2中的InAs熔源接触100秒；电机继续运行拉动石墨舟滑板使其与液槽3中的N型Te掺杂的InAs熔源接触10秒后，电机运行拉动石墨舟滑板使衬底脱离熔源槽，此时生长完毕，炉体断电并退出石英管，开启电风扇冷却石英管。
(3)开炉取片。
实施例2
1、生长源的配置
(1)组分确定：根据砷化铟二元化合物相图和铟砷锑磷四元合金相图确定外延生长温度点为555℃。砷化铟生长源中铟的摩尔百分比范围为0.8，砷的摩尔百分比为0.2；铟砷锑磷生长源中磷的摩尔百分比为0.0013，砷的摩尔百分比为0.01，锑的摩尔百分比范围为0.4217，铟的摩尔百分比范围为0.567。本实施例中的铟砷锑磷阻挡层InAsSbP为N型掺杂。N型掺杂剂选用碲(Te)元素，掺杂量占熔源总量的质量比为0.012％。
(2)生长源的称量：根据上述的计算，用微量天平准确地称出生长所需铟(In)量、锑(Sb)量以及砷化铟(InAs)量和磷化铟(InP)量。所用的铟(In)量、锑(Sb)源均为99.99999％(7N)的高纯单质源，砷化铟(InAs)量和磷化铟(InP)为单晶材料。
2、外延生长前的准备工作
(1)石墨舟处理。为避免生长源玷污，舟要非常干净，使用前要用王水浸泡24小时，去除杂质，然后用沸腾地去离子水煮至酸碱度为中性，再在真空下进行高温烘烤，温度在1000℃以上。
(2)石英管处理。用王水浸泡24小时，再用去离子水反复冲洗后烘干待用。
(3)设置炉温。使用自动控温程序，实现自动升温、恒温、降温。
(4)衬底准备。本实施例中采用N型(100)双面抛光InAs衬底，解理面积为12×12mm2,尺寸和厚度与石墨舟托板槽大小和深度相匹配。经酒精、丙酮、去离子水反复清洗，用盐酸腐蚀液(浓度25％)进行表面化学腐蚀抛光，再用去离子水反复清洗后备用。
3、外延生长
(1)装料。打开石英反应管，将处理好的InAs衬底片及称好的铟(In)源、锑(Sb)源以及砷化铟(InAs)源和磷化铟(InP)源快速装入石墨舟衬底槽和相应的生长源槽中。要求快速装源，以减少在空气中的氧化和沾污。
(2)外延生长。生长源装好后，在氢气气氛下600℃恒温下生长源1小时，以保证熔源的充分溶解和均匀混合。恒温结束后，开始执行降温生长程序，降至555℃开始生长。电机照程序设定好的运动程序放置衬底的石墨舟滑板使衬底与液槽1中N型Te掺杂的铟砷锑磷熔源接触20秒；电机程序继续运行拉动石墨滑板使衬底与液槽2中的InAs熔源接触200秒；电机继续运行拉动石墨舟滑板使其与液槽3中的P型Zn掺杂的InAs熔源接触20秒后，电机运行拉动石墨舟滑板使衬底脱离熔源槽，此时生长完毕，炉体断电并退出石英管，开启电风扇冷却石英管。
(3)开炉取片。
实施例3
1、生长源的配置
(1)组分确定：根据砷化铟二元化合物相图和铟砷锑磷四元合金相图确定外延生长温度点为553℃。砷化铟生长源中铟的摩尔百分比范围为0.85，砷的摩尔百分比为0.15；铟砷锑磷生长源中磷的摩尔百分比为0.001，砷的摩尔百分比为0.01，锑的摩尔百分比范围为0.419，铟的摩尔百分比范围为0.57。本实施例中的铟砷锑磷阻挡层InAsSbP为P型掺杂。P型掺杂剂选用锌(Zn)元素，掺杂量占熔源总量的质量比为0.012％。
(2)生长源的称量：根据上述的计算，用微量天平准确地称出生长所需铟(In)量、锑(Sb)量以及砷化铟(InAs)量和磷化铟(InP)量。所用的铟(In)量、锑(Sb)源均为99.99999％(7N)的高纯单质源，砷化铟(InAs)量和磷化铟(InP)为单晶材料。
2、外延生长前的准备工作
(1)石墨舟处理。为避免生长源玷污，舟要非常干净，使用前要用王水浸泡24小时，去除杂质，然后用沸腾地去离子水煮至酸碱度为中性，再在真空下进行高温烘烤，温度在1000℃以上。
(2)石英管处理。用王水浸泡24小时，再用去离子水反复冲洗后烘干待用。
(3)设置炉温。使用自动控温程序，实现自动升温、恒温、降温。
(4)衬底准备。本实施例中采用N型(100)双面抛光InAs衬底，解理面积为12×12mm2,尺寸和厚度与石墨舟托板槽大小和深度相匹配。经酒精、丙酮、去离子水反复清洗，用盐酸腐蚀液(浓度25％)进行表面化学腐蚀抛光，再用去离子水反复清洗后备用。
3、外延生长
(1)装料。打开石英反应管，将处理好的InAs衬底片及称好的铟(In)源、锑(Sb)源以及砷化铟(InAs)源和磷化铟(InP)源快速装入石墨舟衬底槽和相应的生长源槽中。要求快速装源，以减少在空气中的氧化和沾污。
(2)外延生长。生长源装好后，在氢气气氛下600℃恒温下生长源1小时，以保证熔源的充分溶解和均匀混合。恒温结束后，开始执行降温生长程序，降至553℃开始生长。电机照程序设定好的运动程序放置衬底的石墨舟滑板使衬底与液槽1中P型Te掺杂的铟砷锑磷熔源接触20秒；电机程序继续运行拉动石墨滑板使衬底与液槽2中的InAs熔源接触200秒；电机继续运行拉动石墨舟滑板使其与液槽3中的P型Zn掺杂的InAs熔源接触20秒后，电机运行拉动石墨舟滑板使衬底脱离熔源槽，此时生长完毕，炉体断电并退出石英管，开启电风扇冷却石英管。
(3)开炉取片。
Claims (1)
1.一种带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法，所述的砷化铟热光伏电池的结构为：在衬底上依次为宽禁带的阻挡层、砷化铟的吸收层、砷化铟的表面层；两个电极分别做在腐蚀后台面的衬底上以及砷化铟表面层上；其特征在于，砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法包括以下步骤：
(1)外延生长温度和生长源组分的确定
1)根据砷化铟二元化合物相图和铟砷锑磷四元合金相图确定外延生长温度点为550-555℃，砷化铟生长源中铟的摩尔百分比范围为0.8-0.9，砷的摩尔百分比为0.2-0.1；铟砷锑磷生长源中磷的摩尔百分比范围为0.001-0.0013，砷的摩尔百分比为0.01，锑的摩尔百分比范围为0.4-0.4217，铟的摩尔百分比范围为0.589-0.567。
(2)铟砷锑磷四元合金掺杂类型的确定
阻挡P区电子扩散电流的阻挡层铟砷锑磷四元合金的掺杂类型为Zn掺杂的P型；阻挡N区空穴扩散电流的阻挡层铟砷锑磷四元合金的掺杂类型为Te掺杂的N型；
(3)热光伏电池结构的生长
称量各生长源；打开石英管，将相应尺寸的砷化铟衬底，铟、锑金属以及砷化铟，磷化铟颗粒快速放入石墨舟相应的衬底槽和生长源槽中；生长源装好后，在氢气气氛650℃下恒温2小时使生长源充分溶解和均匀混合；恒温结束后，开始执行降温生长程序：降温速率为2℃/min,降温至557-562℃时，随后炉温以0.2℃/min的速率缓慢降至电池结构的实际生长温度550-555℃时，快速拉动装有砷化铟衬底的石墨舟托板与各个生长源接触：其中吸收层的生长时间100-150秒，阻挡层的生长时间为10-30秒，N型或P型表面层的生长时间为10-30秒。生长完毕后衬底拉离生长源位置；炉体断电并退出石英管，开启电风扇冷却石英管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510296009.6A CN105047751B (zh) | 2015-06-02 | 2015-06-02 | 带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN105047751A true CN105047751A (zh) | 2015-11-11 |
| CN105047751B CN105047751B (zh) | 2017-01-18 |
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|---|---|---|---|
| CN201510296009.6A Active CN105047751B (zh) | 2015-06-02 | 2015-06-02 | 带势垒层结构的砷化铟热光伏电池的液相外延制备方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105047751B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109560119A (zh) * | 2017-09-25 | 2019-04-02 | 新唐科技股份有限公司 | 高压半导体元件 |
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| CN301924147S (zh) * | 2011-11-14 | 2012-05-23 | 浙江萨帕斯工具制造有限公司 | 热水泵（ae1375） |
| CN102732952A (zh) * | 2012-06-25 | 2012-10-17 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种用于超薄外延层生长的液相外延石墨舟及其生长方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101924147A (zh) * | 2010-04-02 | 2010-12-22 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种InAs红外光伏电池及液相外延的制备方法 |
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| CN109560119A (zh) * | 2017-09-25 | 2019-04-02 | 新唐科技股份有限公司 | 高压半导体元件 |
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|---|---|
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