CN104994264B - 一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法 - Google Patents

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Abstract

在摄像头模组生产过程中，需要快速有效的得到被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的精确位置。目前未有公开技术可以方便的得到该精确位置。本发明公开了一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法，通过对标准产品图片中传感器表面区域进行着色，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和其它辅助定位方法，较好的解决了这个问题。

Description

一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法
技术领域
本发明用于摄像头模组生产过程中，摄像头相关特征的光学检查。
背景技术
在摄像头模组生产过程中，需要检查摄像头传感器表面是否有刮伤，落尘，油污等瑕疵，同时还需要检查摄像头芯片上其它诸如邦定是否良好，镜座放置是否偏移太大等项目。由于摄像头传感器表面特征相对固定，成为基于计算机视觉的自动化检测的重要参数。如何快速有效的检测出摄像头传感器表面区域变得十分重要。目前没有已知技术可以方便的得到被测摄像头的传感器表面的特征。本发明公开了一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法。
发明内容
本发明公开了一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法，包括：(1)对标准产品图片中传感器表面区域进行着色，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，计算出被测产品图片中传感器表面区域的长宽；(2)利用被测产品图片中传感器表面区域的颜色，被测产品图片中传感器表面区域和相邻非传感器表面区域的色差信息计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置A；(3)利用标准产品图片和被测产品图片中摄像头芯片四周边缘在图片中的位置，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和标准产品图片中摄像头芯片传感器表面区域的位置，计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置B；(4)利用标准产品图片和被测产品图片中摄像头芯片上焊盘及上面附着金属的位置，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和标准产品图片中摄像头芯片传感器表面区域的位置，计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置C；(5)利用以上得到的三个初步位置ABC和被测产品图片中传感器表面区域的长宽，得到被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的精确位置。在着色时，用固定的一种颜色对标准产品图片中，摄像头芯片传感器表面区域的四周进行着色标记。标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值是通过如下两种方法中的任意一种得到的：(a)不改变图像采集系统的放大倍数，从而得到标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，其值为1；(b)人工对标准产品图片和被测产品图片几何特征进行测量和计算，得到放大比例值。
具体实施方式
一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法，包括：(1)对标准产品图片中传感器表面区域进行着色，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，计算出被测产品图片中传感器表面区域的长宽；(2)利用被测产品图片中传感器表面区域的颜色，被测产品图片中传感器表面区域和相邻非传感器表面区域的色差信息计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置A；(3)利用标准产品图片和被测产品图片中摄像头芯片四周边缘在图片中的位置，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和标准产品图片中摄像头芯片传感器表面区域的位置，计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置B；(4)利用标准产品图片和被测产品图片中摄像头芯片上焊盘及上面附着金属的位置，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和标准产品图片中摄像头芯片传感器表面区域的位置，计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置C；(5)利用以上得到的三个初步位置ABC的长宽比值和被测产品图片中传感器表面区域的长宽比值进行比较，取最接近的两个位置；对该两个位置相应坐标数值进行算术平均，得到被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的精确位置。在着色时，用固定的一种颜色对标准产品图片中，摄像头芯片传感器表面区域的四周进行画线标记。标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值是通过不改变图像采集系统的放大倍数，从而得到标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，其值为1。

Claims (3)

1.一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法，其特征是：(1)对标准产品图片中传感器表面区域进行着色，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，计算出被测产品图片中传感器表面区域的长宽；(2)利用被测产品图片中传感器表面区域的颜色，被测产品图片中传感器表面区域和相邻非传感器表面区域的色差信息计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置A；(3)利用标准产品图片和被测产品图片中摄像头芯片四周边缘在图片中的位置，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和标准产品图片中摄像头芯片传感器表面区域的位置，计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置B；(4)利用标准产品图片和被测产品图片中摄像头芯片上焊盘及上面附着金属的位置，通过标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，和标准产品图片中摄像头芯片传感器表面区域的位置，计算出被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的初步位置C；(5)利用以上得到的三个初步位置ABC的长宽比值和被测产品图片中传感器表面区域的长宽比值进行比较，取最接近的两个位置；对该两个位置相应坐标数值进行算术平均，得到被测产品图片中传感器表面区域在被测产品图片中的精确位置。
2.按照权利要求1所述的一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法，其特征是：用固定的一种颜色对标准产品图片中，摄像头芯片传感器表面区域的四周进行着色标记。
3.按照权利要求1所述的一种摄像头芯片传感器表面区域的标定方法，其特征是：标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值是通过如下两种方法中的任意一种得到的：(a)不改变图像采集系统的放大倍数，从而得到标准产品图片和被测产品图片几何特征放大比例值，其值为1；(b)人工对标准产品图片和被测产品图片几何特征进行测量和计算，得到放大比例值。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1735799A (zh) * 2002-11-13 2006-02-15 庄臣及庄臣视力保护公司 彩色眼镜部件的自动检测
CN102436637A (zh) * 2010-09-29 2012-05-02 中国科学院计算技术研究所 从头部图像中自动分割头发的方法及其系统
CN104063890A (zh) * 2013-03-22 2014-09-24 中国移动通信集团福建有限公司 一种人脸卡通动漫形象化方法及系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070065004A1 (en) * 2005-08-01 2007-03-22 Topcon Corporation Three-dimensional measurement system and method of the same, and color-coded mark

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1735799A (zh) * 2002-11-13 2006-02-15 庄臣及庄臣视力保护公司 彩色眼镜部件的自动检测
CN102436637A (zh) * 2010-09-29 2012-05-02 中国科学院计算技术研究所 从头部图像中自动分割头发的方法及其系统
CN104063890A (zh) * 2013-03-22 2014-09-24 中国移动通信集团福建有限公司 一种人脸卡通动漫形象化方法及系统

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