CN104978089A - 触控感测电路与方法 - Google Patents

Abstract

本发明揭示了一种触控感测电路及其方法，应用于一触控面板以产生一感测信号，其中该触控面板包含一感测元件，该触控感测电路包含：一干扰信号检测电路，用来检测该触控面板的一干扰信号，以产生一干扰信号检测结果；一控制信号产生单元，依据该干扰信号检测结果产生一控制信号；以及一感测值解析电路，于一第一时间区间对该感测元件充电，以及于一第二时间区间将该感测元件放电，并依据该感测元件的一感测值产生该感测信号，其中该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度是依据一控制信号而改变。

Description

触控感测电路与方法

技术领域

本发明是关于触控感测电路与方法，尤其是关于能够检测干扰信号，并且依据检测结果调整感测电路的充电与检测时间，以增加感测准确度的触控感测电路与方法。

背景技术

请参阅图1，其是已知触控感测电路的功能方块图。触控感测电路100包含感测元件110、感测值解析电路120、控制信号产生电路130以及判断单元140。对一个电容式的触控面板来说，在表面的玻璃覆盖层下方有许多透明电极，各透明电极与触控面板的基板之间等效形成电容元件，图1的感测元件110所包含的多个感测单元112即对应该些电容元件。当玻璃覆盖层的上方有触控事件发生时，透明电极与人体之间的等效电容将导致感测单元112的电容值的变化，也就是感测元件110所产生的感测值会因触控事件而发生变化，感测值解析电路120依据控制信号产生电路130的控制信号来解析感测值，并产生感测信号，最后判断单元140判断感测信号而决定触控事件的触控位置、次数以及时间长短等资讯。

请参阅图2，其是已知感测值解析电路120的细部电路图。感测值解析电路120包含开关元件121、122及123、运算放大器124及126以及电容125。开关元件121、122及123受控制信号产生单元130的控制信号CTRL的控制，呈现周期性的导通与开路，感测值解析电路120依据不同的导通路径对感测单元112进行充电及检测（或称为取样）。在充电阶段内，控制信号CTRL控制开关元件121及开关元件123导通，开关元件122开路，运算放大器124的输出端以电压V_ref1对感测元件112进行充电，同时电容125进行放电程序，当充电阶段结束，感测元件112的端电压被充电至V_ref1，电容125的电荷放尽；在随后的检测阶段内，控制信号CTRL控制开关元件121及123开路，开关元件122导通，此时感测单元112上的电荷会重新分布于感测单元112及电容125之上，因电容125的电容值及电压V_ref1、V_ref2为预先设定，所以判断单元140藉由检测运算放大器126输出端的电压变化即可推知感测单元112的电容值（即感测值）的变化，而得到触控资讯。

在实际应用上，触控面板可能因为外部信号的干扰导致检测结果不准确，例如品质不良的充电器将噪声耦合至触控面板，使触控面板的参考电平随噪声变化，对触控面板而言，此噪声形同透过人体耦合至感测元件112。请参阅图3，其是已知触控感测电路伴随噪声源的电路图。噪声源310透过感测元件112与地之间的接点耦合进触控面板，影响感测值解析电路120对感测元件112的充电及检测程序。请参阅图4，其是已知感测值解析电路120的充电阶段及检测阶段对应干扰信号的关系图。感测值解析电路120依据控制信号产生单元130的控制信号CTRL在充电阶段P内对感测元件112进行充电程序，以及在检测阶段S内对感测元件112进行检测程序。充电阶段P与检测阶段S间隔发生，并具有相同的时间（此例中为5μs）。曲线410为噪声源310的干扰信号，其在虚线框选的范围内有较剧烈的变化。当充电阶段P或是检测阶段S结束的瞬间，若干扰信号有较剧烈的变化，将导致感测元件112无法充电预设的电压V_ref1，并影响检测阶段S中电荷于感测元件112及电容125上的分布而影响最终的检测结果。

发明内容

鉴于先前技术的不足，本发明的一个目的在于提供一种触控感测电路与触控感测方法，以降低干扰信号对触控灵敏度的影响。

本发明揭示了一种触控感测电路，应用于一触控面板以产生一触控感测结果，其中该触控面板包含多个电容，该触控感测电路包含：一感测值解析电路，于一第一时间区间对该些电容充电，以及于一第二时间区间将该些电容放电，并依据该些电容的一电容量资讯产生一感测信号；以及一判断单元，依据该感测信号以产生该触控感测结果；其中，该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度依据一控制信号而改变。

本发明另揭示了一种触控感测方法，应用于一触控面板以产生一触控感测结果，该触控面板包含多个电容，该方法包含：于一第一时间区间对该些电容充电；于一第二时间区间对该些电容放电；依据该些电容的一电容量以产生一感测信号；以及依据该感测信号以产生该触控感测结果；其中，该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度依据一控制信号而改变。

本发明另揭示了一种触控感测电路，应用于一触控面板以产生一感测信号，其中该触控面板包含一感测元件，该触控感测电路包含：一干扰信号检测电路，用来检测该触控面板的一干扰信号，以产生一干扰信号检测结果；一控制信号产生单元，依据该干扰信号检测结果产生一控制信号；以及一感测值解析电路，于一第一时间区间对该感测元件充电，以及于一第二时间区间将该感测元件放电，并依据该感测元件的一感测值产生该感测信号，其中该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度依据一控制信号而改变。

本发明的触控感测电路与触控感测方法能够检测干扰信号的变化，在干扰信号相对较大时，适时调整触控感测电路的充电阶段与检测阶段的时间，以减少干扰信号对触控灵敏度的影响。

有关本发明的特征、实作与功效，兹配合附图作较佳实施例详细说明如下。

附图说明

图1为已知触控感测电路的功能方块图；

图2为已知感测值解析电路的细部电路图；

图3为已知触控感测电路伴随噪声源的电路图；

图4为已知感测值解析电路的充电阶段及检测阶段对应干扰信号的关系图；

图5为本发明触控感测电路的功能方块图；

图6为本发明感测值解析电路及干扰信号检测电路的详细电路图；

图7为本发明感测值解析电路的充电阶段及检测阶段对应干扰信号与干扰信号检测结果的关系图；

图8为本发明感测值解析电路及干扰信号检测电路的另一实施例的详细电路图；

图9为本发明感测值解析电路的充电阶段及检测阶段对应干扰信号与干扰信号检测结果的另一关系图；

图10为本发明感测值解析电路及干扰信号检测电路的另一实施例的详细电路图；

图11为本发明感测值解析电路的充电阶段及检测阶段对应干扰信号与干扰信号检测结果的另一关系图；以及

图12为本发明的触控感测方法的一实施例的流程图。

符号说明

100、500   触控感测电路

110、510   感测元件

112、512   感测单元

120、520、620、820、1020   感测值解析电路

130、530   控制信号产生单元

140、540   判断单元

121、122、123、512、522、523   开关元件

124、126、524、526   运算放大器

125、525   电容

310   噪声源

550   干扰信号检测电路

527、528   电阻

555   比较器

S1210～S1260   步骤

具体实施方式

以下说明内容的技术用语是参照本技术领域的习惯用语，如本说明书对部分用语有加以说明或定义，该部分用语的解释以本说明书的说明或定义为准。

本发明的揭露内容包含触控感测电路与触控感测方法，能够检测干扰信号，以降低干扰信号对触控灵敏度的影响。该触控感测电路与触控感测方法可应用于电容式的触控面板，在实施为可能的前提下，本技术领域具有通常知识者能够依本说明书的揭露内容来选择等效的元件或步骤来实现本发明，亦即本发明的实施并不限于后叙的实施例。由于本发明的触控感测电路所包含的部分元件单独而言可能为已知元件，因此在不影响该装置发明的充分揭露及可实施性的前提下，以下说明对于已知元件的细节将予以节略。此外，本发明的触控感测方法可藉由本发明的触控感测电路或其等效装置来执行，在不影响该方法发明的充分揭示及可实施性的前提下，以下方法发明的说明将着重于步骤内容而非硬件。

请参阅图5，其是本发明触控感测电路的功能方块图。触控感测电路500包含感测元件510、感测值解析电路520、控制信号产生单元530、判断单元540及干扰信号检测电路550。感测元件510包含多个感测单元512，每一感测单元512耦接感测值解析电路520且各自可等效为电容元件，其电容值随触控面板上的触控事件而变化。感测值解析电路520解析感测元件510所产生的感测值，更详细地说，解析每一感测单元512的电容值的变化，而产生感测信号。控制信号产生单元530耦接感测值解析电路520，感测值解析电路520依据控制信号产生单元530的控制信号CTRL决定其解析感测值的动作方式。干扰信号检测电路550耦接感测值解析电路520及控制信号产生单元530，其依据感测值解析电路520动作时的信号状态判断干扰信号是否过大，并且将得到的干扰信号检测结果传送至控制信号产生单元530，控制信号产生单元530依据干扰信号检测结果调整控制信号CTRL，亦即调整感测值解析电路520解析感测值时的动作方式。控制信号产生单元530可以利用逻辑电路，或是利用具有运算能力的处理单元以执行软件的方式，来依据干扰信号检测结果产生控制信号CTRL。判断单元540耦接感测值解析电路520，其可能利用模拟数字转换器将感测值解析电路520的感测信号先转换为数字的型态，再以预设的演算法判断出触控事件的位置、次数及时间长度等触控资讯。感测值解析电路520及干扰信号检测电路550的细部电路图及详细的动作方式将说明如下。

请参阅图6，其是本发明感测值解析电路520及干扰信号检测电路550的详细电路图。图5的感测值解析电路520可以感测值解析电路620来实作。感测值解析电路620包含开关元件521、522及523、运算放大器524及526、电容525以及电阻527。运算放大器524作为电压随耦器（voltage follower），目的为在输出端提供稳定的参考电压V_ref1。在充电阶段内，开关元件521及523依据控制信号CTRL的控制而导通，而开关元件522依据控制信号CTRL的控制呈开路状态，此时参考电压透过电阻527对感测单元512进行充电，另一方面，电容525则进行放电。在充电阶段中，噪声源310的干扰信号会透过感测单元512耦合至充电路径上，使充电路径上充电电流的大小发生变化，充电电流的变化反应在电阻527两端的电压差上，电压差的资讯由干扰信号检测电路550处理后产生干扰信号检测结果。当控制信号CTRL改变时，开关元件521及523开路，开关元件522导通，使感测值解析电路520结束充电阶段进入检测阶段时，此时运算放大器526将其反相输入端维持在稳定的参考电压V_ref2，使感测单元512上的电荷重新分布于感测单元512及电容525，因此对感测单元512而言，电容525及运算放大器526形同放电单元，感测单元512透过其与电容525相连接的放电路径放电。随着电荷重新分布，运算放大器526的输出端上的电压（即感测信号）也会跟着变化，判断单元540便可依据此电压变化来得知感测单元512的电容值（即感测值）。

干扰信号检测电路550包含比较器555，其将电阻527两端的电压差与一预设值做比较，并依据比较的结果产生干扰信号检测结果，例如以高电平的信号代表干扰信号的大小超过预设值，以低电平的信号代表干扰信号尚在可接受的范围内。上述的预设值可依据干扰信号的实际情况做调整。请参阅图7，其是本发明感测值解析电路620的充电阶段及检测阶段对应干扰信号与干扰信号检测结果的关系图。当干扰信号发生剧烈变化时，本实施例中干扰信号检测电路550对应输出高电平的干扰信号检测结果，控制信号产生单元530依据干扰信号检测结果调整控制信号CTRL，使感测值解析电路520的充电阶段的时间随着干扰信号而调整。举例来说，图7中的第一个充电阶段P原本应该在预设的5μs到达后就结束，但因为此时干扰信号检测结果指示有剧烈的干扰信号发生，因此控制信号产生单元530便延长开关元件521及523的导通时间，直到干扰信号检测结果指示干扰信号趋于稳定，才改变控制信号CTRL使感测值解析电路520离开充电阶段P进入检测阶段S，因此充电阶段P相较于预设的时间多延长T1的时间；同理，第二个充电阶段P也因为干扰信号而延长了T2的时间。上述的动作方式可以确保充电阶段P结束在干扰信号的变化量相对较小的时段内，以降低触控面板受干扰信号的影响程度。

上述的延长机制设定为当干扰信号的变化量超过预设值时就持续延长某充电阶段，直到干扰信号相对稳定时才结束延长。但为了避免延长的时间过长而造成触控面板的反应时间过慢，控制信号产生单元530可以设定一个等待的机制，当延长的时间超过预设的等待时间时，纵使干扰信号仍过大，亦强制改变控制信号CTRL，使感测值解析电路520离开充电阶段进入检测阶段。另一个方法是，当控制信号CTRL控制某个充电阶段P开始延长，控制信号产生单元530即每隔一段时间检查一次干扰信号检测结果，例如每1μs检查一次，当发现干扰信号检测结果未指示干扰信号过大时，即改变控制信号CTRL，使感测值解析电路520离开充电阶段进入检测阶段。

请参阅图8，其是本发明感测值解析电路520及干扰信号检测电路550的另一实施例的详细电路图。图5的感测值解析电路520可以感测值解析电路820来实作。在此实施例中，电阻527位于感测值解析电路820的放电路径上，因此在检测阶段，干扰信号检测电路550可以监测干扰信号的变化情形，并产生干扰信号检测结果。请参阅图9，其是本发明感测值解析电路820的充电阶段及检测阶段对应干扰信号与干扰信号检测结果的关系图。当控制信号CTRL控制开关元件522导通，感测值解析电路820进入检测阶段，同时干扰信号检测电路550开始检测干扰信号。在此实施例中，同样以高电平的干扰信号检测结果反应干扰信号有较大的变化。由图可见，由于第一个检测阶段S的结束时间点并未落于干扰信号检测结果第一次呈现高电平的期间，所以维持预设的时间长度；然而第二个检测阶段S结束时，干扰信号检测结果正好为高电平，所以控制信号CTRL延后切换时间，直到T3时间后干扰信号的变化较不剧烈时才控制第二个检测阶段S结束。

请参阅图10，其是本发明感测值解析电路及干扰信号检测电路的另一实施例的详细电路图。图5的感测值解析电路520可以感测值解析电路1020实作。感测值解析电路1020的充电及放电路径上分别包含电阻527及电阻528，干扰信号检测电路550分别将电阻527与电阻528的跨压与预设值比较，以得到干扰信号检测结果。更详细地说，在充电阶段P内，比较器555将电阻527的跨压与预设值比较，在检测阶段S内，比较器555将电阻528的跨压与预设值比较。本实施例的充电阶段P及检测阶段S对应干扰信号与干扰信号检测结果的关系图显示于图11，本技术领域具有通常知识者可由前揭的实施例了解各信号的变化及对应关系，故不再赘述。

请注意，在其他较佳的实施例中，图6的干扰信号检测电路550包含电阻527，而感测值解析电路620不包含电阻527。同理，图8的干扰信号检测电路550包含电阻527，而感测值解析电路820不包含电阻527，以及图10的干扰信号检测电路550包含电阻527及电阻528，而感测值解析电路1020不包含电阻527及电阻528。

请参阅图12，其是本发明的触控感测方法的一实施例的流程图。除前述的触控感测电路外，本发明亦相对应地揭示了一种触控感测方法，应用于电容式的触控面板，能够防止噪声的干扰。本方法由前揭触控感测电路500或其等效装置来执行。如图12所示，本发明触控感测方法的一实施例包含下列步骤：

步骤S1210：依据控制信号CTRL的控制，在充电阶段内对多个感测单元充电。对电容式的触控面板而言，感测单元等效上可以视为电容元件，其电容值因应触控事件会产生变化。为了检测电容值的变化情形，本步骤依据控制信号CTRL的控制，以一充电路径在预设时间内对感测元件充电，使其累积电荷；

步骤S1220：依据控制信号CTRL的控制，在检测阶段内对多个感测单元放电。在充电阶段结束后，控制信号CTRL使本感测方法进入检测阶段。在此步骤的检测阶段中，感测单元以一放电路径在预设时间内放电，使其部分电荷透过放电路径转移到另一电容；

步骤S1230：在充电阶段及/或检测阶段内，监控干扰信号的变化情形，以得到干扰信号检测结果。干扰信号检测结果可以利用电平的高低变化反应干扰信号的大小，例如利用高电平表示干扰信号的变动大小超过容忍范围。监控干扰信号的方式可以在步骤1210的充电路径及/或步骤1220的放电路径上设置电阻，干扰信号会在此电阻上产生电压变化，因此可以藉由将电阻的跨压与预设值比较来得知干扰信号是否过大。上述的电阻可以只设置在充电路径与放电路径的其中之一，或是同时设置于两者；

步骤S1240：控制信号CTRL依据干扰信号检测结果，适时调整充电阶段及/或检测阶段的时间。控制信号CTRL原本以预设的时间控制充电阶段与检测阶段交互切换，当预设时间到达后，即控制触控感测方法由一阶段切换至另一阶段。然而，若在切换的瞬间干扰信号变化过大，则触控感测方法很容易受干扰信号的影响而降低确准度，因此本发明的控制信号CTRL会依据干扰信号检测结果做调整。当充电阶段及/或检测阶段到达原本预设的时间，且此时干扰信号检测结果为高电平，控制信号CTRL便延长该阶段的时间，以降低干扰信号的影响，请对应参阅图7、图9及图11以了解各信号的变化及对应关系。延长的时间不限于待干扰信号的变化小于可接受的范围后才结束，其他延长控制信号的方式已揭示于前述的装置发明，故不再赘述；

步骤S1250：依据放电后感测单元的电荷分布产生感测信号。如步骤S1220所述，放电后感测单元上的电荷会重新分布于感测单元及另一电容上，该电容的端电压的变化即可代表感测单元的感测值（即电容值）的变化情形，也就是说电容的端电压可以作为解析感测单元的感测值所生成的感测信号；以及

步骤S1260：判断感测信号以得到触控感测结果。感测信号可以先经由模拟数字转换器转换为数字格式，再以预设的演算法判断出触控事件的位置、次数及时间长度等触控资讯。

由于本技术领域具有通常知识者可藉由图5至图11的装置发明的揭示内容来了解图12的方法发明的实施细节与变化，因此，为避免赘文，在不影响该方法发明的揭露要求及可实施性的前提下，重复的说明在此予以节略。请注意，前揭图示中，元件的形状、尺寸、比例以及步骤的顺序等仅为示意，仅供本技术领域具有通常知识者了解本发明之用，非用以限制本发明。另外，本技术领域人士可依本发明的揭露内容及自身的需求选择性地实施任一实施例的部分或全部技术特征，或者选择性地实施多个实施例的部分或全部技术特征的组合，藉此增加本发明实施时的弹性。本发明的触控感测电路与方法适用于自电容型（self capacitance）与互电容型（mutual capacitance）的触控面板。

虽然本发明的实施例如上所述，然而该些实施例并非用来限定本发明，本技术领域具有通常知识者可依据本发明的明示或隐含的内容对本发明的技术特征施以变化，凡此种种变化均可能属于本发明所寻求的专利保护范畴，换言之，本发明的专利保护范围须视本说明书的申请专利范围所界定者为准。

Claims (20)

1.一种触控感测电路，应用于一触控面板以产生一触控感测结果，其中该触控面板包含多个电容，该触控感测电路包含：

一感测值解析电路，于一第一时间区间对该些电容充电，以及于一第二时间区间将该些电容放电，并依据该些电容的一电容量资讯产生一感测信号；以及

一判断单元，依据该感测信号以产生该触控感测结果；

其中，该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度是依据一控制信号而改变。

2.如权利要求1所述的触控感测电路，其特征在于，还包含：

一干扰信号检测电路，耦接该感测值解析电路，用来检测该触控面板的一干扰信号，以产生一干扰信号检测结果；以及

一控制信号产生单元，依据该干扰信号检测结果产生该控制信号。

3.如权利要求2所述的触控感测电路，其特征在于，该感测值解析电路包含：

一充电单元，透过一充电路径对该些电容充电；以及

一电阻，位于该充电路径上；

并且该干扰信号检测电路包含：

一比较单元，耦接该电阻，将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

4.如权利要求2所述的触控感测电路，其特征在于，该感测值解析电路包含：

一放电单元，透过一放电路径使该些电容放电；以及

一电阻，位于该放电路径上；

并且该干扰信号检测电路包含：

一比较单元，耦接该电阻，将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

5.如权利要求2所述的触控感测电路，其特征在于，该感测值解析电路包含：

一充电单元，透过一充电路径对该些电容充电；

一放电单元，透过一放电路径使该些电容放电；

一第一电阻，位于该充电路径上；以及

一第二电阻，位于该放电路径上；

并且该干扰信号检测电路包含：

一比较单元，耦接该第一电阻及该第二电阻，用来将该第一电阻的跨压与一第一预设值做比较以及将该第二电阻的跨压与一第二预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

6.如权利要求2所述的触控感测电路，其特征在于，该控制信号产生单元依据一第一预设时间及该干扰信号检测结果决定该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度，其中，当该预设时间到达时若该干扰信号检测结果指示有干扰产生，则该控制信号产生单元透过该控制信号使该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度延长一第二预设时间。

7.如权利要求6所述的触控感测电路，其特征在于，该控制信号产生单元于该第二预设时间到达后，依据该干扰信号检测结果透过该控制信号选择性地再将该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度延长该第二预设时间。

8.一种触控感测方法，应用于一触控面板以产生一触控感测结果，该触控面板包含多个电容，该方法包含：

于一第一时间区间对该些电容充电；

于一第二时间区间对该些电容放电；

依据该些电容的一电容量以产生一感测信号；以及

依据该感测信号以产生该触控感测结果；

其中，该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度系依据一控制信号而改变。

9.如权利要求8所述的触控感测方法，其特征在于，还包含：

检测该触控面板的一干扰信号，以产生一干扰信号检测结果；以及

依据该干扰信号检测结果产生该控制信号。

10.如权利要求9所述的触控感测方法，其特征在于，该对该些电容充电的步骤透过一充电路径对该些电容充电，该充电路径包含一电阻，并且该检测该触控面板的该干扰信号以产生该干扰信号检测结果的步骤包含：

将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

11.如权利要求9所述的触控感测方法，其特征在于，该对该些电容放电的步骤透过一放电路径对该些电容放电，该放电路径包含一电阻，并且该检测该触控面板的该干扰信号以产生该干扰信号检测结果的步骤包含：

将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

12.如权利要求9所述的触控感测方法，其特征在于，该对该些电容充电的步骤透过一充电路径对该些电容充电，该充电路径包含一第一电阻，且该对该些电容放电的步骤透过一放电路径对该些电容放电，该放电路径包含一第二电阻，并且该检测该触控面板的该干扰信号以产生该干扰信号检测结果的步骤包含：

将该第一电阻的跨压与一第一预设值做比较以及将该第二电阻的跨压与一第二预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

13.如权利要求9所述的触控感测方法，其特征在于，还包含：

计数一第一预设时间；以及

当该第一预设时间到达时若该干扰信号检测结果指示有干扰产生，则将该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度延长一第二预设时间。

14.如权利要求13所述的触控感测方法，其特征在于，还包含：

于该第二预设时间到达后，依据该干扰信号检测结果选择性地再将该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度延长该第二预设时间。

15.一种触控感测电路，应用于一触控面板以产生一感测信号，其中该触控面板包含一感测元件，该触控感测电路包含：

一干扰信号检测电路，用来检测该触控面板的一干扰信号，以产生一干扰信号检测结果；

一控制信号产生单元，依据该干扰信号检测结果产生一控制信号；以及

一感测值解析电路，于一第一时间区间对该感测元件充电，以及于一第二时间区间将该感测元件放电，并依据该感测元件之一感测值产生该感测信号，其中该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度依据一控制信号而改变。

16.如权利要求15所述的触控感测电路，其特征在于，该感测元件包含多个电容，该感测值解析电路包含：

一充电单元，依据该控制信号透过一充电路径对该些电容充电；以及

一电阻，位于该充电路径上；

并且该干扰信号检测电路包含：

一比较单元，耦接该电阻，将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

17.如权利要求15所述的触控感测电路，其特征在于，该感测元件包含多个电容，该感测值解析电路包含：

一放电单元，依据该控制信号透过一放电路径对该些电容放电；以及

一电阻，位于该放电路径上；

并且该干扰信号检测电路包含：

一比较单元，耦接该电阻，将该电阻的跨压与一预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

18.如权利要求15所述的触控感测电路，其特征在于，该感测元件包含多个电容，该感测值解析电路包含：

一充电单元，依据该控制信号透过一充电路径对该些电容充电；以及

一放电单元，依据该控制信号透过一放电路径对该些电容放电；

一第一电阻，位于该充电路径上；以及

一第二电阻，位于该放电路径上；

并且该干扰信号检测电路包含：

一比较单元，耦接该第一电阻及该第二电阻，将该第一电阻的跨压与一第一预设值做比较以及将该第二电阻的跨压与一第二预设值做比较以产生该干扰信号检测结果。

19.如权利要求15所述的触控感测电路，其特征在于，该控制信号产生单元依据一第一预设时间及该干扰信号检测结果决定该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度，其中当该第一预设时间到达时若该干扰信号检测结果指示有干扰产生，则该控制信号产生单元利用该控制信号使该感测值解析电路将该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度延长一第二预设时间。

20.如权利要求19所述的触控感测电路，其特征在于，该控制信号产生单元于该第二预设时间到达后，依据该干扰信号检测结果利用该控制信号使该感测值解析电路选择性地再将该第一时间区间与该第二时间区间其中之一的长度延长该第二预设时间。