CN104853187A - 测试电子设备启动性能的方法、装置及系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试电子设备启动性能的方法、装置及系统，解决了由于人工测试而导致测试结果的准确性较低的技术问题。具体公开的方法包括：启动继电器以控制电子设备启动；检测电子设备发送的启动消息；响应于在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间；基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。本申请简化了测试步骤，同时增加了测试结果的准确性。

Description

测试电子设备启动性能的方法、装置及系统

技术领域

本申请涉及电子设备测试领域，具体涉及测试电子设备启动性能的方法、装置及系统。

背景技术

在生产机顶盒的过程中，为了保证机顶盒的启动系能，通常需要对机顶盒的启动性能进行测试。

现有技术中，通常采用人工方式对机顶盒的启动性能进行测试，进而得到机顶盒的启动时间、启动失败率以及启动成功率等。具体的，在人为开启机顶盒之后，测试人员计时，如果测试人员在预定时间内检测到机顶盒成功开启，则记录机顶盒启动成功一次，并根据计时数据获取启动时间，如果测试人员在预定时间内未检测到机顶盒成功开启，则记录机顶盒启动失败一次。之后，关闭机顶盒，并依照上述步骤反复进行测试。

上述测试方法不仅耗费人工，而且由于人工计时存在误差，因此，导致测试结果的准确性较低。

发明内容

针对上述问题，本申请提供了一种测试电子设备启动性能的方法、装置及系统。解决了由于人工测试而导致测试结果的准确性较低的技术问题。

第一方面，提供了一种测试电子设备启动性能的方法，包括：

启动继电器以控制电子设备启动；

检测所述电子设备发送的启动消息；

响应于在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；

基于获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能。

第二方面，提供了一种测试电子设备启动性能的装置，包括：

启动单元，配置用于启动继电器以控制电子设备启动；

检测单元，配置用于检测所述电子设备发送的启动消息；

获取单元，配置用于响应于所述检测单元在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；

测试单元，配置用于基于所述获取单元获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能。

第三方面，提供了一种测试电子设备启动性能的系统，包括：

测试设备、继电器以及电子设备；所述测试设备与所述继电器连接；所述继电器控制所述电子设备启动；

其中，所述测试设备，配置用于启动所述继电器以控制所述电子设备启动；检测所述电子设备发送的启动消息；响应于在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；基于获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能；

所述继电器，配置用于响应于所述继电器启动，控制所述电子设备启动；

所述电子设备，配置用于响应于所述电子设备启动，生成并向所述测试设备发送所述启动消息。

在本申请的实施例中，测试设备启动继电器以控制电子设备启动，检测电子设备发送的启动消息，响应于在预定时间段内检测到电子设备发送的启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间，基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。与现有技术采用人工方式获取电子设备的启动时间相比，本申请可以由测试设备、继电器等自动对电子设备的启动性能进行测试，简化了测试步骤，同时增加了测试结果的准确性。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的方法的一种实施例的示意性流程图；

图2示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的方法的另一种实施例的示意性流程图；

图3示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的装置的一种实施例的结构示意图；

图4示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的系统的一种实施例的结构示意图；

图5示出了本申请提供的计算机系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

为了解决现有技术中，对电子设备进行测试不仅耗费人工，而且由于人工测试存在误差，进而导致测试结果的准确性较低的技术问题，本申请的实施例提供了继电器，用于控制待测试的电子设备的启动和关闭，同时，由测试设备控制继电器的或关闭，以控制电子设备的启动和关闭。由此，本申请的实施例可以通过继电器启动电子设备，并根据接收的电子设备的启动消息获取电子设备的启动时间，以实现测试电子设备的启动性能。

基于上述内容，本申请的实施例提供了一种测试电子设备启动性能的方法。该方法可以应用于测试设备中，测试设备可以为任一用于测试的设备中，如，电脑、移动终端等。图1示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的方法的一种实施例的示意性流程图。如图1所示，该方法可以包括步骤110至步骤140。

其中，在步骤110中，启动继电器以控制待测试的电子设备启动。

继电器是一种电控制器件，是当输入量的变化达到规定要求时，在输出电路中使被控量发生预定的阶跃变化的一种电器。具体是一种具有隔离功能的“自动开关”。

在本实施例中，测试设备通过继电器控制待测试的电子设备的启动或者关闭。继电器具体可以设置在测试设备中，或者，还可以设置在电子设备中，或者，还可以为独立于测试设备和电子设备设置的。

可选地，继电器可以通过USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)等连接方式与测试设备和电子设备相连接。

在步骤120中，检测电子设备发送的启动消息。

在继电器触发电子设备启动后，电子设备会生成启动消息，并可以将启动消息发送至测试设备中；测试设备可以每隔预定时间段检测启动消息。其中，启动消息可以包括但不限于：生成启动消息的时间、电子设备标识等。

在步骤130中，响应于在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间。在步骤140中，基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。

如果在预定时间段内检测到启动消息，则可以说明电子设备启动成功，如果未在预定时间段内检测到启动消息，则可以说明电子设备启动失败。在本实施例中，测试设备至少可以通过电子设备的启动时间来测试电子设备的启动性能，由此，测试设备可以响应于在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间，并基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。具体的，测试设备可以将启动消息中携带的生成启动消息的时间确定为电子设备的启动时间。

本实施例对测试设备测试电子设备启动性能的参数不作限定，不限于本实施例提供的启动时间，还可以包括其他参数，具体可以根据实际需要进行设定。另外，基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能的方法为本领域技术人员熟知的技术，在此不作赘述。

在本实施例中，测试设备启动继电器以控制电子设备启动，检测电子设备发送的启动消息，响应于在预定时间段内检测到电子设备发送的启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间，基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。与现有技术采用人工方式获取电子设备的启动时间相比，本申请可以由测试设备、继电器等自动对电子设备的启动性能进行测试，简化了测试步骤，同时增加了测试结果的准确性。

在进一步的实施例中，请参考图2，其示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的方法的另一种实施例的示意性流程图。如图2所示，图1所示的步骤120“检测电子设备发送的启动消息”进一步可以包括步骤210。

其中，在步骤210中，通过调试工具检测启动消息。

在进一步的实施例中，调试工具可以包括但不限于adb(AndroidDebug Bridge，安卓调试桥)。adb为多种用途的工具，起到调试桥的作用，通过adb可以在Eclipse(集成开发环境)中通过DDMS(DalvikDebug Monitor Service，Dalvik(用于安卓平台的虚拟机)虚拟机调试监控服务)来调试安卓程序。

在本实施例中，启动消息可以包括但不限于电子设备启动后最先生成的消息。

在电子设备启动之后，电子设备通过启动器应用(Launcher App)生成消息，其中，将Launcher App最先生成的消息确定为启动消息；测试设备通过adb捕获启动消息。

本实施例对adb及其获取启动消息的方法不作限定，具体为本领域技术人员熟知的技术，在此不作赘述。

在进一步的实施例中，在步骤120“检测电子设备发送的启动消息”之后，进一步还可以包括步骤220和步骤230。值得说明的是，本实施例中的步骤220可以执行在步骤120之后且执行在步骤130之前，或者还可以执行在步骤130之后，或者可以与步骤130同时执行。本实施例以步骤220执行在步骤130之后为例进行说明。

其中，在步骤220中，响应于在预定时间段内检测到启动消息，记录电子设备启动成功一次。在步骤230中，响应于在预定时间段内未检测到启动消息，记录电子设备启动失败一次。

例如，以预定时间段为5秒为例。测试设备在启动继电器之后进行计时，如果在5秒内检测到电子设备发送的启动消息，则说明电子设备启动成功，由此测试设备记录电子设备启动成功一次；如果在5秒内未检测到电子设备发送的启动消息，则说明电子设备启动失败，由此测试设备记录电子设备启动成功一次。

在本实施例中，上述记录步骤具体可以通过计数方式实现，或者，可以通过记录标识的方式实现。

例如，如果采用计数方式，则当测试设备在预定时间段内检测到启动消息时，对与电子设备启动成功对应的计数数值进行预定运算；当测试设备在预定时间段内未检测到启动消息时，对与电子设备启动失败对应的计数数值进行预定运算。其中，预定运算可以包括以下至少一项：加法、减法、乘法等。这样，可以根据记录的计数数值确定电子设备启动成功的次数和启动失败的次数，进而可以获取电子设备启动的成功率和/或失败率，以供测试电子设备的启动性能。即测试设备可以根据启动时间、成功率和/或失败率测试电子设备的启动性能。

又如，如果采用记录标识的方式，则当测试设备在预定时间段内检测到启动消息时，在与电子设备启动成功对应的存储区域中存入一个标识；当测试设备在预定时间段内未检测到启动消息时，在与电子设备启动失败对应的存储区域中存入一个标识。这样，可以根据在相应存储区域中存入的标识的数量，确定电子设备启动成功的次数和启动失败的次数，进而可以获取电子设备启动的成功率和/或失败率，以供测试电子设备的启动性能。

本实施例对记录电子设备启动成功一次和记录电子设备启动失败一次的方法不作限定，不限于上述列举的方法，具体可以根据实际需要进行设定，在此不作赘述。

在进一步的实施例中，当测试设备完成对电子设备的一次测试后，可以关闭继电器以控制电子设备关闭。

基于上述内容，请参考图2，在步骤120“检测电子设备发送的启动消息”之后，进一步还可以包括步骤240至步骤250。在本实施例中，步骤240和步骤250具体可以执行在步骤220或步骤230之后。

其中，在步骤240中，基于启动消息确定是否满足预定条件。在步骤250中，响应于确定满足预定条件，关闭继电器以控制电子设备关闭。

在本实施例中，预定条件可以包括以下任一项：在预定时间段内检测到启动消息、超过预定时间段且未检测到启动消息。其中，预定时间段具体可以根据实际需要进行设定，如，5秒、10秒等，在此不作赘述。

例如，以预定时间段为5秒为例。测试设备在启动继电器之后进行计时，如果在5秒内检测到电子设备发送的启动消息，则说明电子设备启动成功，由此测试设备可以关闭继电器以控制电子设备关闭，以结束本次测试；如果当前已超过5秒且未检测到电子设备发送的启动消息，则说明电子设备启动失败，由此测试设备也可以关闭继电器以控制电子设备关闭，以结束本次测试。

在进一步的实施例中，测试设备可以按照上述测试步骤对电子设备进行多次测试。

基于上述内容，请参考图2，在步骤250“响应于确定满足预定条件，关闭继电器以控制电子设备关闭”之后，进一步还可以包括步骤260。

其中，在步骤260中，确定是否达到预定测试次数，响应于确定未达到预定测试次数，启动继电器以再次对电子设备的启动性能进行测试，即重复执行步骤110；如果确定达到预定测试次数，则执行步骤140。步骤140进一步可以包括：基于获取的启动时间、记录的启动成功次数以及记录的启动失败次数等测试电子设备的启动性能。

本实施例对测试次数不作限定，具体可以根据实际需要进行设定，如，1万次等，在此不作赘述。

在进一步的实施例中，本实施例提供的电子设备可以包括但不限于机顶盒等。

作为对上述方法实施例的实现，本申请提供一种用于实现上述方法实施例的测试电子设备启动性能的装置。请参考图3，其示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的装置的一种实施例的结构示意图。

如图3所示，测试电子设备启动性能的装置300可以包括：启动单元310，配置用于启动继电器以控制电子设备启动；检测单元320，配置用于检测电子设备发送的启动消息；获取单元330，配置用于响应于检测单元320在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间；测试单元340，配置用于基于获取单元获取的启动时间测试电子设备的启动性能。

在进一步的实施例中，检测单元320可以按如下检测电子设备发送的启动消息：通过调试工具检测启动消息；启动消息包括电子设备启动后最先生成的消息。

在进一步的实施例中，调试工具可以包括但不限于adb调试桥。

在进一步的实施例中，测试电子设备启动性能的装置300还可以包括：记录单元350，配置用于在检测单元320检测电子设备发送的启动消息之后，响应于在预定时间段内检测到启动消息，记录电子设备启动成功一次；响应于在预定时间段内未检测到启动消息，记录电子设备启动失败一次。

在进一步的实施例中，测试电子设备启动性能的装置300还可以包括：关闭条件确定单元360，配置用于在检测电子设备发送的启动消息之后，基于启动消息确定是否满足预定条件；关闭单元370，配置用于响应于关闭条件确定单元360确定满足预定条件，关闭继电器以控制电子设备关闭；其中，预定条件包括以下任一项：在预定时间段内检测到启动消息、超过预定时间段且未检测到启动消息。

在进一步的实施例中，测试电子设备启动性能的装置300还可以包括：测试次数确定单元380，配置用于在关闭单元370关闭继电器以控制电子设备关闭之后，确定是否达到预定测试次数；启动单元310，还配置用于响应于测试次数确定单元380确定未达到预定测试次数，启动继电器以再次对电子设备的启动性能进行测试。

在进一步的实施例中，电子设备可以包括机顶盒。

在本实施例中，启动单元启动继电器以控制电子设备启动；检测单元检测电子设备发送的启动消息；获取单元响应于检测单元在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间；测试单元基于获取单元获取的启动时间测试电子设备的启动性能。与现有技术需要采用人工方式获取电子设备的启动时间相比，本申请可以由测试设备、继电器等自动对电子设备的启动性能进行测试，简化了测试步骤，同时增加了测试结果的准确性。

作为对上述方法实施例的实现，本申请提供一种上述方法实施例所应用的测试电子设备启动性能的系统。请参考图4，其示出了本申请提供的测试电子设备启动性能的系统的一种实施例的结构示意图。

如图4所示，测试电子设备启动性能的系统400包括：测试设备410、继电器420以及电子设备430；测试设备410与继电器420连接；继电器420控制电子设备430启动。

其中，测试设备410，配置用于启动继电器420以控制电子设备430启动；检测电子设备430发送的启动消息；响应于在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备430的启动时间；基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。继电器420，配置用于响应于继电器420启动，控制电子设备430启动；基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能。电子设备430，配置用于响应于电子设备430启动，生成并向测试设备410发送启动消息。

在本实施例中，测试设备启动继电器以控制电子设备启动；检测电子设备发送的启动消息；响应于在预定时间段内检测到启动消息，根据启动消息获取电子设备的启动时间；基于获取的启动时间测试电子设备的启动性能；继电器响应于继电器启动，控制电子设备启动；电子设备响应于电子设备启动，生成并向测试设备发送启动消息。与现有技术需要采用人工方式获取电子设备的启动时间相比，本申请可以由测试设备、继电器等自动对电子设备的启动性能进行测试，简化了测试步骤，同时增加了测试结果的准确性。

本申请还提供一种用于实施上述方法实施例的终端设备的计算机系统。请参考图5，其示出了本申请提供的用于实施方法实施例的终端设备的计算机系统的结构示意图。

如图5所示，计算机系统500包括中央处理单元(CPU)510，其可以根据存储在只读存储器(ROM)520中的程序或者从存储部分580加载到随机访问存储器(RAM)530中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 530中，还存储有系统500操作所需的各种程序和数据。CPU 510、ROM 520以及RAM 530通过总线540彼此相连。输入/输出(I/O)接口550也连接至总线540。

以下部件连接至I/O接口550：包括键盘、鼠标等的输入部分560；包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分570；包括硬盘等的存储部分580；以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分590。通信部分590经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器5100也根据需要连接至I/O接口550。可拆卸介质5110，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器5100上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分580。

特别地，根据本公开的实施例，上文参考图2描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的实施例包括一种计算机程序产品，其包括有形地包含在机器可读介质上的计算机程序，计算机程序包含用于执行图2所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分590从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质5110被安装。

附图中的流程图和框图，图示了按照本发明各种实施例的方法、装置和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

描述于本申请实施例中所涉及到的单元或模块可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。所描述的单元或模块也可以设置在处理器中，例如，可以描述为：一种处理器包括获取单元、配置单元。其中，这些单元或模块的名称在某种情况下并不构成对该单元或模块本身的限定，例如，检测单元还可以被描述为“用于检测启动消息的单元”。

作为另一方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是上述实施例中所述装置中所包含的计算机可读存储介质；也可以是单独存在，未装配入设备中的计算机可读存储介质。计算机可读存储介质存储有一个或者一个以上程序，所述程序被一个或者一个以上的处理器用来执行描述于本申请的公式输入方法。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (15)

1.一种测试电子设备启动性能的方法，其特征在于，所述方法包括：

启动继电器以控制电子设备启动；

检测所述电子设备发送的启动消息；

响应于在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；

基于获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测所述电子设备发送的启动消息包括：

通过调试工具检测所述启动消息；

所述启动消息包括所述电子设备启动后最先生成的消息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调试工具包括adb调试桥。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述检测所述电子设备发送的启动消息之后，所述方法还包括：

响应于在所述预定时间段内检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动成功一次；

响应于在所述预定时间段内未检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动失败一次。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述检测所述电子设备发送的启动消息之后，所述方法还包括：

基于所述启动消息确定是否满足预定条件；

响应于确定满足所述预定条件，关闭继电器以控制所述电子设备关闭；

其中，所述预定条件包括以下任一项：在所述预定时间段内检测到所述启动消息、超过所述预定时间段且未检测到所述启动消息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述关闭继电器以控制所述电子设备关闭之后，所述方法还包括：

确定是否达到预定测试次数；

响应于确定未达到所述预定测试次数，启动所述继电器以再次对所述电子设备的启动性能进行测试。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述电子设备包括机顶盒。

8.一种测试电子设备启动性能的装置，其特征在于，所述装置包括：

启动单元，配置用于启动继电器以控制电子设备启动；

检测单元，配置用于检测所述电子设备发送的启动消息；

获取单元，配置用于响应于所述检测单元在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；

测试单元，配置用于基于所述获取单元获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述检测单元按如下检测所述电子设备发送的启动消息：

通过调试工具检测所述启动消息；

所述启动消息包括所述电子设备启动后最先生成的消息。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述调试工具包括adb调试桥。

11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

记录单元，配置用于在所述检测单元检测所述电子设备发送的启动消息之后，响应于在所述预定时间段内检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动成功一次；响应于在所述预定时间段内未检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动失败一次。

12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

关闭条件确定单元，配置用于在所述检测所述电子设备发送的启动消息之后，基于所述启动消息确定是否满足预定条件；

关闭单元，配置用于响应于所述关闭条件确定单元确定满足所述预定条件，关闭继电器以控制所述电子设备关闭；

其中，所述预定条件包括以下任一项：在所述预定时间段内检测到所述启动消息、超过所述预定时间段且未检测到所述启动消息。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试次数确定单元，配置用于在所述关闭单元关闭继电器以控制所述电子设备关闭之后，确定是否达到预定测试次数；

所述启动单元，还配置用于响应于所述测试次数确定单元确定未达到所述预定测试次数，启动所述继电器以再次对所述电子设备的启动性能进行测试。

14.根据权利要求8至13中任一项所述的装置，其特征在于，所述电子设备包括机顶盒。

15.一种测试电子设备启动性能的系统，包括：测试设备、继电器以及电子设备；所述测试设备与所述继电器连接；所述继电器控制所述电子设备启动；

其中，所述测试设备，配置用于启动所述继电器以控制所述电子设备启动；检测所述电子设备发送的启动消息；响应于在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；基于获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能；

所述继电器，配置用于响应于所述继电器启动，控制所述电子设备启动；

所述电子设备，配置用于响应于所述电子设备启动，生成并向所述测试设备发送所述启动消息。