CN104849544A - 一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法 - Google Patents
一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104849544A CN104849544A CN201510054098.3A CN201510054098A CN104849544A CN 104849544 A CN104849544 A CN 104849544A CN 201510054098 A CN201510054098 A CN 201510054098A CN 104849544 A CN104849544 A CN 104849544A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- network
- frequency
- crystal
- radio
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Abstract
本发明提供一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法，其特征在于包括射频开关、π网络、测量探针、测量晶体承放盘，所述外部控制信号及外部射频信号与射频开关连接，所述射频开关和π网络连接，所述π网络内连接有测量探针，本发明改变现有的晶体测量方式，通过外部控制信号及RF（Radio Frequency）switch实现通道切换，测量方法简单方便。由于RF中寄生参数对晶体测量有很大影响，采用改善走线方式，阻抗匹配等方法，来减小其对测量参数的影响。
Description
技术领域
本发明涉及晶体测试领域，尤其涉及一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法。
背景技术
随着现代通信和计算机技术的发展，电子设备的生产已离不开石英晶体这一重要元件。其生产过程中除了需要精确的切割工艺外，还需要能够在生产过程中对石英晶体元件实现实时监控和成品检测的测量仪器。π网络测量方法是IEC(国际电工委员会)推荐的石英晶体元件测量方法。但市场上的晶体测试多为单个π网络测量，对于日益增加的市场需求是远远不够的。
发明内容
根据以上技术问题，本发明提供一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法，其特征在于包括射频开关、π网络、测量探针、测量晶体承放盘，所述外部控制信号及外部射频信号与射频开关连接，所述射频开关和π网络连接，所述π网络内连接有测量探针，所述测量探针一侧放置有测量晶体承放盘，所述测量晶体承放盘两侧放置有多个π网络，每两个π网络和一个射频开关连接。
一种多路π网络石英晶体测试方法，其具体步骤为：
（1）首先进行射频开关即RF switch选型，
a.由于测量的晶体频率集中在1MHz~200MHz，所以在选择芯片时要求其频率范围大于此范围；
b.由于RF input 信号强度在22dBm，要求芯片可承受的输入功率要大于25dBm；c.芯片在上述频带内插入损耗要小于0.5dB ，回波损耗小于-10dB。(确保到达晶体的信号强度及波形完整性)；
d.选择I/O 为50Ω阻抗的芯片，减小信号反射；
e.选择CMOS芯片，避免晶体振荡信号对控制的干扰；
（2）将多路π网络石英晶体测试系统进行连接，然后将石英晶体放入测量晶体承放盘内准备测量；
（3）外部控制信号控制射频开关，并将外部射频信号传送至射频开关，射频开关将信号传送给π网络，π网络对石英晶体进行测试；
（4）根据π网络画出原理图及版图，并用ADS软件仿真来观测波形的失真情况，并通过改变走线等方式来改善失真问题。
所述π网络作为输入输出衰减器，主要是使晶体阻抗与有关设备实现匹配，并衰减来自有关设备的反射信号。
所述探针为镀金探针。
本发明的有益效果为：本发明在现有的单个π网络测量方法上进行改进，变成多个π网络测量，本发明主要解决单个π网络测量效率低下的问题，在确保晶体测量参数差异较小的前提下，提高晶体生产效率。本发明改变现有的晶体测量方式，通过外部控制信号及RF（Radio Frequency）switch实现通道切换，测量方法简单方便。由于RF中寄生参数对晶体测量有很大影响，采用改善走线方式，阻抗匹配等方法，来减小其对测量参数的影响。
附图说明
图1为4路π网络测试方法示意图；
图2为π网络基本原理示意图；
图3为晶体等效电路图；
如图，Y11’为输入端口；Y22’为输出端口；R1、R2、R3构成输入端口π网络；R4、R5、R6构成输出端口π网络；Y1为石英晶体。
具体实施方式
根据图1所示，对本发明进行进一步说明：
实施例1
本发明为一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法，射频开关、π网络、测量探针、测量晶体承放盘，外部控制信号及外部射频信号与射频开关连接，射频开关和π网络连接，π网络内连接有测量探针，测量探针一侧放置有测量晶体承放盘，测量晶体承放盘两侧放置有多个π网络，每两个π网络和一个射频开关连接。
实施例2
一种多路π网络石英晶体测试方法，其具体步骤为：
（1）首先进行射频开关即RF switch选型，
a.由于测量的晶体频率集中在1MHz~200MHz，所以在选择芯片时要求其频率范围大于此范围；
b.由于RF input 信号强度在22dBm，要求芯片可承受的输入功率要大于25dBm；c.芯片在上述频带内插入损耗要小于0.5dB ，回波损耗小于-10dB。(确保到达晶体的信号强度及波形完整性)；
d.选择I/O 为50Ω阻抗的芯片，减小信号反射；
e.选择CMOS芯片，避免晶体振荡信号对控制的干扰；
（2）将多路π网络石英晶体测试系统进行连接，然后将石英晶体放入测量晶体承放盘内准备测量；
（3）外部控制信号控制射频开关，并将外部射频信号传送至射频开关，射频开关将信号传送给π网络，π网络对石英晶体进行测试，当给石英晶体加上一交变电场时, 其等效电路如图3所示，电路中串一个由电阻、电容和电感组成的回路，此等效电路有一个固有串联谐振频率, 达到此频率点时,石英晶体对外呈纯电阻状态, 此时石英晶体对应的等效阻抗为最小值，π网络法是将石英晶体置于π网络的串联支路中,当石英晶体达到谐振状态时, π网络为一个纯电阻网络, 且相位差为零, 压降最小, 这样就可以将石英晶体参数的测量简化为对π网络阻抗的测量；
（4）根据π网络画出原理图及版图，并用ADS软件仿真来观测波形的失真情况，并通过改变走线等方式来改善失真问题。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出的是，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
Claims (3)
1.一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法，其特征在于包括射频开关、π网络、测量探针、测量晶体承放盘，所述外部控制信号及外部射频信号与射频开关连接，所述射频开关和π网络连接，所述π网络内连接有测量探针，所述测量探针一侧放置有测量晶体承放盘，所述测量晶体承放盘两侧放置有多个π网络，每两个π网络和一个射频开关连接，
一种多路π网络石英晶体测试方法，其具体步骤为：
（1）首先进行射频开关即RF switch选型，
a.由于测量的晶体频率集中在1MHz~200MHz，所以在选择芯片时要求其频率范围大于此范围；
b.由于RF input 信号强度在22dBm，要求芯片可承受的输入功率要大于25dBm；c.芯片在上述频带内插入损耗要小于0.5dB ，回波损耗小于-10dB
(确保到达晶体的信号强度及波形完整性)；
d.选择I/O 为50Ω阻抗的芯片，减小信号反射；
e.选择CMOS芯片，避免晶体振荡信号对控制的干扰；
将多路π网络石英晶体测试系统进行连接，然后将石英晶体放入测量晶体承放盘内准备测量；
外部控制信号控制射频开关，并将外部射频信号传送至射频开关，射频开关将信号传送给π网络，π网络对石英晶体进行测试；
根据π网络画出原理图及版图，并用ADS软件仿真来观测波形的失真情况，并通过改变走线等方式来改善失真问题。
2.按照权利要求1所述的一种多路π网络石英晶体测试方法，其特征在于所述π网络作为输入输出衰减器，主要是使晶体阻抗与有关设备实现匹配，并衰减来自有关设备的反射信号。
3.按照权利要求1所述的一种多路π网络石英晶体测试系统，其特征在于所述探针为镀金探针。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510054098.3A CN104849544B (zh) | 2015-02-02 | 2015-02-02 | 一种多路π网络石英晶体测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510054098.3A CN104849544B (zh) | 2015-02-02 | 2015-02-02 | 一种多路π网络石英晶体测试系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN104849544A true CN104849544A (zh) | 2015-08-19 |
| CN104849544B CN104849544B (zh) | 2019-03-29 |
Family
ID=53849335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201510054098.3A Active CN104849544B (zh) | 2015-02-02 | 2015-02-02 | 一种多路π网络石英晶体测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN104849544B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109490663A (zh) * | 2018-10-26 | 2019-03-19 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种晶体谐振器测试系统及校准方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201477155U (zh) * | 2009-09-25 | 2010-05-19 | 惠州市九联科技有限公司 | 一种晶振频率测试装置 |
| US20120036947A1 (en) * | 2010-08-13 | 2012-02-16 | Tektronix, Inc. | Multi-channel frequency domain test and measurement instrument |
| CN103001627A (zh) * | 2012-11-22 | 2013-03-27 | 北京信息科技大学 | 石英晶体谐振频率微调控制系统 |
| CN103983854A (zh) * | 2014-04-30 | 2014-08-13 | 北京信息科技大学 | 石英晶体电参数测试系统 |
-
2015
- 2015-02-02 CN CN201510054098.3A patent/CN104849544B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201477155U (zh) * | 2009-09-25 | 2010-05-19 | 惠州市九联科技有限公司 | 一种晶振频率测试装置 |
| US20120036947A1 (en) * | 2010-08-13 | 2012-02-16 | Tektronix, Inc. | Multi-channel frequency domain test and measurement instrument |
| CN103001627A (zh) * | 2012-11-22 | 2013-03-27 | 北京信息科技大学 | 石英晶体谐振频率微调控制系统 |
| CN103983854A (zh) * | 2014-04-30 | 2014-08-13 | 北京信息科技大学 | 石英晶体电参数测试系统 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109490663A (zh) * | 2018-10-26 | 2019-03-19 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种晶体谐振器测试系统及校准方法 |
| CN109490663B (zh) * | 2018-10-26 | 2021-03-19 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种晶体谐振器测试系统及校准方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN104849544B (zh) | 2019-03-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN202002984U (zh) | 多频段无源互调测试仪 | |
| CN107576879B (zh) | 扫频测量装置及估算电缆属性的方法 | |
| CN104519503B (zh) | 一种用于移动通信终端测试的射频链路切换装置 | |
| CN208272981U (zh) | Trea多通道测试装置 | |
| CN102608513B (zh) | 射频开关芯片的在片测试结构和测试方法 | |
| CN102004190A (zh) | 低压电力载波信道阻抗测试装置 | |
| CN104515907A (zh) | 一种散射参数测试系统及其实现方法 | |
| CN107526000A (zh) | 非入户不断电电能表错接线检测的可调注入方案 | |
| CN108287283A (zh) | 一种工业环境下的回路阻抗的测试设备及传导抗扰度测试方法 | |
| CN205246774U (zh) | 一种多端口扩展测试装置 | |
| CN106771554A (zh) | 多端口微波器件测试系统及方法 | |
| CN206292301U (zh) | 多端口微波器件测试系统及多端口微波器件 | |
| CN203643514U (zh) | 用于测量散射参数的耦合组件和数据测定装置 | |
| CN104377412B (zh) | 基于mems开关的程控步进衰减器 | |
| CN202068407U (zh) | 矢量天线调谐器 | |
| CN103728502B (zh) | 一种天线测试的方法和系统、以及无线终端 | |
| CN103792435A (zh) | 用于测量散射参数的耦合组件、数据测定装置及方法 | |
| EP3176591B1 (en) | Measurement apparatus | |
| CN103983371A (zh) | 基于声表面波的变压器引线接头运行温度测量方法 | |
| CN104849544A (zh) | 一种多路π网络石英晶体测试系统及其测试方法 | |
| CN105137243A (zh) | 一种测定低噪放退化功率阈值和损伤功率阈值的方法 | |
| CN103297154B (zh) | 一种驻波比检测方法和装置 | |
| CN103472376B (zh) | 变压器局部放电特高频定位分析器及其定位分析方法 | |
| CN204479681U (zh) | 台区识别仪 | |
| CN103176056B (zh) | 基于矢量网络分析仪的贴片电容测试装置及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |