CN104833849A - 石英晶体串联谐振频率测试方法 - Google Patents

石英晶体串联谐振频率测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104833849A
CN104833849A CN201510190831.4A CN201510190831A CN104833849A CN 104833849 A CN104833849 A CN 104833849A CN 201510190831 A CN201510190831 A CN 201510190831A CN 104833849 A CN104833849 A CN 104833849A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sinusoidal signal
resistor
frequency
quartz crystal
predetermined angular
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510190831.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104833849B (zh
Inventor
王晓飞
王艳林
李东
刘桂礼
朱爱发
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Information Science and Technology University
Original Assignee
Beijing Information Science and Technology University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Information Science and Technology University filed Critical Beijing Information Science and Technology University
Priority to CN201510190831.4A priority Critical patent/CN104833849B/zh
Publication of CN104833849A publication Critical patent/CN104833849A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104833849B publication Critical patent/CN104833849B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

一种石英晶体串联谐振频率测试方法可包括:将具有相同频率的第一和第二正弦信号分别施加到π网络和平衡电阻器,石英晶体插入π网络;使得第一正弦信号的相位比第二正弦信号超前第一预定角度,第一和第二正弦信号的输出频率从低到高变化,当π网络输出端的第一输出信号和平衡电阻器输出端的第二输出信号之间的相位差为零时,此时第一和第二正弦信号的频率为石英晶体的第一预定角度频率;使得第一正弦信号的相位比第二正弦信号落后第二预定角度,第一和第二正弦信号的输出频率从低到高变化,当第一和第二输出信号之间的相位差为零时,此时第一和第二正弦信号的频率为石英晶体的第二预定角度频率;根据第一和第二预定角度频率计算串联谐振频率。

Description

石英晶体串联谐振频率测试方法
技术领域
本发明涉及石英晶体电参数测试领域,更具体地讲,涉及一种石英晶体谐振频率测试方法。
背景技术
石英晶体谐振器(以下简称石英晶体)是一种广泛应用于通信、计算机、电子仪表、家用电器等各个领域的元件。石英晶体具有频率稳定性好、品质因数高、成本低等优点。随着电子信息产业的飞速发展,尤其是数字电子技术的广泛应用,石英晶体的市场需求快速增长,石英晶体生产行业发展迅速。石英晶体串联谐振频率是石英晶体最重要的电参数,石英晶体的很多其它电参数(例如动态电容、动态电感等)均是基于串联谐振频率的值而测得的。
因此需要一种有效、准确的石英晶体串联谐振频率测试方法。
发明内容
本发明提供一种石英晶体串联谐振频率测试方法,该方法包括:将具有相同预定频率的第一正弦信号和第二正弦信号分别施加到π网络和平衡电阻器,其中,π网络连接到石英晶体的两端;使得第一正弦信号的相位比第二正弦信号的相位超前第一预定角度,第一正弦信号和第二正弦信号的输出频率按照预定频距从低到高同步变化,检测π网络输出端的第一输出信号的相位和平衡电阻器输出端的第二输出信号的相位,当第一输出信号和第二输出信号之间的相位差为零时,此时第一正弦信号和第二正弦信号的频率为石英晶体的第一预定角度频率;使得第一正弦信号的相位比第二正弦信号的相位落后第二预定角度,第一正弦信号和第二正弦信号的输出频率按照预定频距从低到高同步变化,检测π网络输出端的第一输出信号的相位和平衡电阻器输出端的第二输出信号的相位,当第一输出信号和第二输出信号之间的相位差为零时,此时第一正弦信号和第二正弦信号的频率为石英晶体的第二预定角度频率;根据石英晶体的第一预定角度频率和第二预定角度频率计算石英晶体串联谐振频率。
第二预定角度可与第一预定角度在绝对值上相等。
石英晶体串联谐振频率可等于第一预定角度频率和第二预定角度频率的平均值。
第一预定角度可在30°-60°的范围内,第二预定角度可在30°-60°的范围内。
第一预定角度可为45°,第二预定角度可为45°。
π网络可包括:第一电阻器,第一正弦信号施加到第一电阻器;第二电阻器,与第一电阻器并联;第三电阻器,连接在第一电阻器和第二电阻器之间;第四电阻器,与第二电阻器并联;第五电阻器,与第四电阻器并联;第六电阻器,连接在第四电阻器和第五电阻器之间,
石英晶体可连接在第二电阻器和第三电阻器之间的节点与第四电阻器和第六电阻器之间的节点之间,第五电阻器和第六电阻器之间的节点可作为π网络输出端。
可通过多通道直接数字频率合成器来产生同频且彼此相位差可变的第一正弦信号和第二正弦信号。
附图说明
通过结合附图,从下面的实施例的描述中,本发明这些和/或其它方面及优点将会变得清楚,并且更易于理解,其中:
图1是根据本发明的石英晶体串联谐振频率测试原理框图;
图2是根据本发明的石英晶体串联谐振频率测试方法的流程图。
具体实施方式
以下,参照附图来详细说明本发明的实施例。
图1是根据本发明的石英晶体串联谐振频率测试原理框图。
参照图1,Y为被测石英晶体,Vsin1和Vsin2是两个同频正弦信号源,能够输出具有预定频率的正弦信号。石英晶体Y插入到π网络中,π网络连接到石英晶体Y的两端。第一正弦信号源Vsin1将第一正弦信号S1施加到π网络。R7是平衡电阻器,第二正弦信号源Vsin2将第二正弦信号S2施加到平衡电阻器R7。第一正弦信号S1和第二正弦信号S2同频,第一正弦信号S1和第二正弦信号S2之间的相位关系可以根据需要被设定。
第一正弦信号源Vsin1和第二正弦信号源Vsin2可以是多通道直接数字频率合成器(DDS)的不同输出端口。多通道直接数字频率合成器可产生同频且彼此相位差可变的多路正弦信号,多路正弦信号之间的相位可根据需要被设定。
矢量电压表用于测试π网络输出端的输出信号和平衡电阻器R7输出端的输出信号之间的零相位。
π网络可以是纯阻抗网络。π网络可包括:第一电阻器R1,连接到第一正弦信号源Vsin1;第二电阻器R2,与第一电阻器R1并联;第三电阻器R3,连接在第一电阻器R1和第二电阻器R2之间;第四电阻器R4,与第二电阻器R2并联;第五电阻器R5,与第四电阻器R4并联;第六电阻器R6,连接在第四电阻器R4和第五电阻器R5之间。石英晶体连接在第二电阻器R2和第三电阻器R3之间的节点与第四电阻器R4和第六电阻器R6之间的节点之间。第五电阻器R5和第六电阻器R6之间的节点可作为π网络输出端。电阻器R1、R2、R3以及电阻器R4、R5、R6构成两个对称π型电阻网络。V1是π网络输出端的输出信号,是矢量电压信号。π网络输出端的输出信号V1输入到矢量电压表。
例如,第一电阻器至第六电阻器的各个电阻值为R1=R5=159Ω,R2=R4=14.2Ω,R3=R6=66.2Ω。
平衡电阻器R7的输出端的输出信号V2输入到矢量电压表。例如,R7=1000Ω(1KΩ)。
下面描述石英晶体串联谐振频率测试原理。
首先将石英晶体Y接入π网络,第一正弦信号源Vsin1和第二正弦信号源Vsin2可分别输出同频的第一正弦信号S1和第二正弦信号S2
第一正弦信号S1和第二正弦信号S2之间的相位关系如下:首先使得第一正弦信号S1的相位比第二正弦信号S2的相位超前第一预定角度(第一预定角度可以在30°-60°的范围内,优选为45°),然后保持第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的频率相同,相位关系不变,输出频率按照预定频距从低到高同步变化,并分别激励π网络和平衡电阻器R7,矢量电压表同步测试π网络输出端的输出信号V1的相位和平衡电阻器R7输出端的输出信号V2的相位,当输出信号V1和V2之间的相位差为零时,此时第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的频率即为石英晶体的第一预定角度频率(例如-45°频率),记为F1
接着,使得第一正弦信号S1的相位比第二正弦信号S2的相位落后第二预定角度,第二预定角度可与第一预定角度在绝对值上相等(第二预定角度可以在30°-60°的范围内,优选为45°),然后保持第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的频率相同,相位关系不变,输出频率按照预定频距从低到高同步变化,并分别激励π网络和平衡电阻器R7,矢量电压表同步测试π网络输出端的输出信号V1的相位和平衡电阻器R7输出端的输出信号V2的相位,当输出信号V1和V2之间的相位差为零时,此时第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的频率即为石英晶体的第二预定角度频率(例如45°频率),记为F2
最后,根据石英晶体的第一预定角度频率和第二预定角度频率计算石英晶体串联谐振频率Fr。具体地,在第二预定角度与第一预定角度在绝对值上相等的情况下,石英晶体串联谐振频率Fr等于第一预定角度频率和第二预定角度频率的平均值,即,Fr=(F1+F2)/2。
下面参照图2描述根据本发明的石英晶体串联谐振频率测试方法。图2是根据本发明的石英晶体串联谐振频率测试方法的流程图。
参照图2,在步骤201,将具有相同预定频率的第一正弦信号S1和第二正弦信号S2分别施加到π网络和平衡电阻器,其中,π网络连接到石英晶体的两端。
在步骤202,使得第一正弦信号S1的相位比第二正弦信号S2的相位超前第一预定角度,第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的输出频率按照预定频距从低到高同步变化,检测π网络输出端的第一输出信号V1的相位和平衡电阻器输出端的第二输出信号V2的相位,当第一输出信号V1和第二输出信号V2之间的相位差为零时,此时第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的频率为石英晶体的第一预定角度频率F1
在步骤203,使得第一正弦信号S1的相位比第二正弦信号S2的相位落后第二预定角度,第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的输出频率按照预定频距从低到高同步变化,检测π网络输出端的第一输出信号V1的相位和平衡电阻器输出端的第二输出信号V2的相位,当第一输出信号V1和第二输出信号V2之间的相位差为零时,此时第一正弦信号S1和第二正弦信号S2的频率为石英晶体的第二预定角度频率F2
在步骤204,根据石英晶体的第一预定角度频率F1和第二预定角度频率F2计算石英晶体串联谐振频率Fr
如上所述,在第二预定角度与第一预定角度在绝对值上相等的情况下,石英晶体串联谐振频率Fr等于第一预定角度频率和第二预定角度频率的平均值,即,Fr=(F1+F2)/2。
需要指出的是,现有的石英晶体串联谐振频率测试方法通常采用直接测量(而非计算)串联谐振频率的方法。当石英晶体谐振时,石英晶体表现出纯阻抗性质,石英晶体只有阻抗分量,而石英晶体的容抗分量和感抗分量之和为零,因此石英晶体两端的相位差为零。因此,在现有的石英晶体串联谐振频率测试方法中,将具有预定频率的正弦信号施加到π网络两端(石英晶体插入到π网络中),然后改变正弦信号的频率,同时检测π网络两端的相位差,当π网络两端的相位差为零时,此时施加的正弦信号的频率即为石英晶体串联谐振频率。
然而,在本发明中,先测量石英晶体的多个预定角度频率,根据测量的多个预定角度频率来计算石英晶体串联谐振频率,可避免偶然误差,提高测试精度。
因此,根据本发明的石英晶体串联谐振频率测试方法可有效、准确地测试石英晶体的串联谐振频率。
虽然本发明是参照其示例性的实施例被具体描述和显示的,但是本领域的普通技术人员应该理解,在不脱离由权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下,可以对其进行形式和细节的各种改变。

Claims (8)

1.一种石英晶体串联谐振频率测试方法,包括:
将具有相同预定频率的第一正弦信号和第二正弦信号分别施加到π网络和平衡电阻器,其中,π网络连接到石英晶体的两端;
使得第一正弦信号的相位比第二正弦信号的相位超前第一预定角度,第一正弦信号和第二正弦信号的输出频率按照预定频距从低到高同步变化,检测π网络输出端的第一输出信号的相位和平衡电阻器输出端的第二输出信号的相位,当第一输出信号和第二输出信号之间的相位差为零时,此时第一正弦信号和第二正弦信号的频率为石英晶体的第一预定角度频率;
使得第一正弦信号的相位比第二正弦信号的相位落后第二预定角度,第一正弦信号和第二正弦信号的输出频率按照预定频距从低到高同步变化,检测π网络输出端的第一输出信号的相位和平衡电阻器输出端的第二输出信号的相位,当第一输出信号和第二输出信号之间的相位差为零时,此时第一正弦信号和第二正弦信号的频率为石英晶体的第二预定角度频率;
根据石英晶体的第一预定角度频率和第二预定角度频率计算石英晶体串联谐振频率。
2.根据权利要求1所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,第二预定角度与第一预定角度在绝对值上相等。
3.根据权利要求1所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,石英晶体串联谐振频率等于第一预定角度频率和第二预定角度频率的平均值。
4.根据权利要求2所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,第一预定角度在30°-60°的范围内,第二预定角度在30°-60°的范围内。
5.根据权利要求4所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,第一预定角度为45°,第二预定角度为45°。
6.根据权利要求1所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,π网络包括:第一电阻器,第一正弦信号施加到第一电阻器;第二电阻器,与第一电阻器并联;第三电阻器,连接在第一电阻器和第二电阻器之间;第四电阻器,与第二电阻器并联;第五电阻器,与第四电阻器并联;第六电阻器,连接在第四电阻器和第五电阻器之间。
7.根据权利要求6所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,石英晶体连接在第二电阻器和第三电阻器之间的节点与第四电阻器和第六电阻器之间的节点之间,第五电阻器和第六电阻器之间的节点作为π网络输出端。
8.根据权利要求1所述的石英晶体串联谐振频率测试方法,其中,通过多通道直接数字频率合成器来产生同频且彼此相位差可变的第一正弦信号和第二正弦信号。
CN201510190831.4A 2015-04-21 2015-04-21 石英晶体串联谐振频率测试方法 Expired - Fee Related CN104833849B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510190831.4A CN104833849B (zh) 2015-04-21 2015-04-21 石英晶体串联谐振频率测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510190831.4A CN104833849B (zh) 2015-04-21 2015-04-21 石英晶体串联谐振频率测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104833849A true CN104833849A (zh) 2015-08-12
CN104833849B CN104833849B (zh) 2017-10-20

Family

ID=53811858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510190831.4A Expired - Fee Related CN104833849B (zh) 2015-04-21 2015-04-21 石英晶体串联谐振频率测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104833849B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106053958A (zh) * 2016-05-20 2016-10-26 上海交通大学 基于FPGA的压电陀螺等效电路的π网络等相位测试法及装置
CN110813773A (zh) * 2019-10-23 2020-02-21 台晶(宁波)电子有限公司 一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备
US11137373B2 (en) * 2018-05-24 2021-10-05 Hf Scientific, Inc. QCM measurement of scale formation

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5893054A (en) * 1993-09-07 1999-04-06 Boeing North American, Inc. Amplitude detection and automatic gain control of a sparsely sampled sinusoid by computation including a hilbert transform
US6292002B1 (en) * 1999-08-16 2001-09-18 The B. F. Goodrich Company Crystal resonant frequency sensor
CN103983854A (zh) * 2014-04-30 2014-08-13 北京信息科技大学 石英晶体电参数测试系统

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5893054A (en) * 1993-09-07 1999-04-06 Boeing North American, Inc. Amplitude detection and automatic gain control of a sparsely sampled sinusoid by computation including a hilbert transform
US6292002B1 (en) * 1999-08-16 2001-09-18 The B. F. Goodrich Company Crystal resonant frequency sensor
CN103983854A (zh) * 2014-04-30 2014-08-13 北京信息科技大学 石英晶体电参数测试系统

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘解华等: "石英晶体元件串联谐振频率快速测量技术的研究", 《中国测试技术》 *
宋新菊等: "用于石英晶体——频率测试相位检测技术研究", 《传感器世界》 *
鲁恭诚等: "石英晶体谐振器负载谐振频率测量技术研究", 《北京机械工业学院学报》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106053958A (zh) * 2016-05-20 2016-10-26 上海交通大学 基于FPGA的压电陀螺等效电路的π网络等相位测试法及装置
US11137373B2 (en) * 2018-05-24 2021-10-05 Hf Scientific, Inc. QCM measurement of scale formation
CN110813773A (zh) * 2019-10-23 2020-02-21 台晶(宁波)电子有限公司 一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备
CN110813773B (zh) * 2019-10-23 2023-06-16 台晶(宁波)电子有限公司 一种用于镀膜后的石英芯片的频率自动测量设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN104833849B (zh) 2017-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106093593B (zh) 电容式电力设备介质损耗在线检测方法和系统
CN105958621B (zh) 一种用于电容器组桥差保护不平衡电流调平方法
CN103001627B (zh) 石英晶体谐振频率微调控制系统
CN104679959B (zh) 1000kV特高压电容分压器宽频等效电路建模方法
CN101419253A (zh) 一种特高压输电线路正序、零序参数测量方法及系统
CN104833849A (zh) 石英晶体串联谐振频率测试方法
CN104914393A (zh) 一种用于梳状谱发生器相位谱校准的装置及方法
CN105487034A (zh) 一种0.05级电子式互感器校验方法及系统
CN105229644A (zh) 电容器的仿真方法及电容器的非线性等效电路模型
CN102368086A (zh) 一种惠斯通电桥补偿电阻的测试方法
WO2020095471A1 (ja) インピーダンス測定装置
CN104237832B (zh) 一种复阻抗标准器的校准方法及装置
CN107449949B (zh) 施加直流偏置电压于交流正弦波信号源的装置
CN113721071A (zh) 一种测量非介入式对地电压的系统和方法
CN109406877B (zh) 电容式电压互感器谐波传递系数的测量方法及装置
CN104698305A (zh) 一种电容检验方法
JPH11142451A (ja) コンデンサの測定端子接触検出方法
CN103983854A (zh) 石英晶体电参数测试系统
CN105372498B (zh) 用于暂态电流测定的分流器阻抗参数确定方法
CN104734824A (zh) 强噪声背景下混沌同步检测微弱周期信号的方法
CN101750544A (zh) 一种测量石英晶体静电容的新方法
CN103197153B (zh) 一种基于矢量三角形的电容电感参数测量电路及其测量方法
CN105004259A (zh) 一种电容式mems传感器检测电路
CN105425199B (zh) 一种电能表直流偶次谐波影响实验的装置及方法
CN111044782B (zh) 一种测量电容分压器频率特性的系统和方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
EXSB Decision made by sipo to initiate substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20171020

Termination date: 20180421